意味 | 例文 (562件) |
X-ray inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 562件
To provide an X-ray inspection device which simply performs processing up to detection of minute foreign matter and certainly detects the minute foreign matter.例文帳に追加
微小異物を検出するまでの処理を簡易に行うことができ、当該微小異物の検出を確実に行うことが可能なX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device assuring the reliability of post-conversion luminance-by-luminance data in cases where the luminance-by-luminance data are converted from those of high gradations into those of low gradations.例文帳に追加
輝度毎データを高階調から低階調へ変換する場合でも、変換後の輝度毎データの信頼性を確保することができるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To suppress defectiveness of an abnormal article passing through a sorting part without stopping and being regarded as a normal article while securing a certain degree of conveying speed of articles in an X-ray inspection device.例文帳に追加
X線検査装置において、ある程度の物品の搬送速度を確保しつつ、異常品が振分部を素通りして正常品と見なされてしまう不具合を抑える。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device, which uses an X-ray flat panel detector, performing complementary processing even with respect to a clustered flaw, capable of preventing the occurrence of an error in the decision of quality by an operator even if a false image is produced by the complementary processing and capable of using the X-ray flat panel detector over a long period of time in its turn.例文帳に追加
X線フラットパネル検出器を用いたX線検査装置において、クラスタ状の欠陥についても補完処理を行い、しかも、その補完処理により擬似的な像が生じても、オペレータによる良/不良判定に誤りが生じることを防止することができ、ひいては長期にわたってX線フラットパネル検出器を使用することのできるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
Additionally, the X-ray photographing control section 111 acquires the information of one of available units (cassette 116-A) of the plurality of X-ray photographic units as status, and changes the order of photographing in the inspection informant maintained according to the status acquired.例文帳に追加
そして、X線撮影制御部111は、複数のX線撮影ユニットのうち、撮影可能な状態の1つのX線撮影ユニット(カセッテ116−A)の情報をステータスとして取得し、取得したステータスに応じて、保持されている検査情報の撮影オーダにおける撮影順序を変更する。 - 特許庁
In electron beam type automatic defect inspection equipment comprising an X-ray detector, the X-ray spectrum and image of a dust generated on a wafer for process QC are registered as reference data and defects occurring on the process wafer are sorted with reference to the reference data.例文帳に追加
X線検出器を備えた電子線式自動欠陥検査装置において、プロセスQC用ウエーハ上に生じた異物のX線スペクトルと画像とを参照用データとして登録し、前記参照用データを照会してプロセスウエーハ上に生じた欠陥を分類する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection apparatus capable of grasping the position of an inspecting object where an X-ray fluoroscopic image is photographed, even if many members having the same shape such as many solder balls in a BGA package are lined up on the inspecting objects, with less labor and time required for making a master image or the like.例文帳に追加
マスター画像等を作成するような手間をかけさせず、BGAパッケージの多数のハンダボールのように被測定物に同一形状の部材が多数個並んでいても、透視X線像が撮影されている被測定物の位置を把握させることができるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
A control unit 60 operatively commands the at least one of the first and second positioning systems in order to maintain a predetermined spatial relationship between the X-ray source and the X-ray detector for each of the first and second directional ranges in relation to the inspection region.例文帳に追加
制御ユニット60が、検査領域との関係における第1及び第2の方向性の範囲の各々についてX線源とX線検出器の間の予め定められた空間的関係を維持するべく第1及び第2の位置決めシステムのうちの少なくとも1つを作動的に指令する。 - 特許庁
The protection plates 113, which are inserted between inner wall surfaces of the metal case 111 and the electronic circuit board 112, can distort an MRI image and cause reduced contrast and increased noise of an X-ray inspection image even through MRI and X-ray inspections to ensure a tamperproof property.例文帳に追加
この防護板113が、金属ケース111の内壁面と電子回路基板112の間に挿入されているため、MRI検査やX線検査をしても、MRI画像は歪むと共に、X線検査画像のコントラストは低下しノイズが増加する結果、耐タンパー性能を確保することができる。 - 特許庁
The problem can be solved by forming an accurate inspection vessel recognition signal by calculating by a general control part various parameters such as the size of an inspection vessel 2 or the distance between the position of an X-ray sensor 6 and the position of an X-ray generation part 3 based on a pulse signal for showing a unit moving distance outputted from a conveyor encoder 13.例文帳に追加
上記課題は、被検査容器2の寸法、X線センサ6の位置とX線発生部3の位置との距離という各種パラメータをコンベアエンコーダ13から出力される単位移動距離を示すパルス信号を統括制御部が算出することにより、正確な被検査容器認識信号を作り出すことにより解決される。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device capable of reducing the overlap effect of objects to be inspected to the utmost as compared with a conventional inspection device of this kind without altering a way for supplying the objects to be inspected to the surface of a feed device.例文帳に追加
被検査物の搬送装置上への供給の仕方を変更することなく、従来のこの種の検査装置に比して被検査物の重なりの影響を可及的に少なくすることのできるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device which automatically and properly sets various parameters by simple operation without setting various parameters for image processing by a user and simplifies setting work before inspection.例文帳に追加
ユーザが画像処理のための各種パラメータを設定することなく、簡単な操作によって自動的に各種パラメータが適切に設定され、検査前の設定作業を簡略化することのできるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection apparatus, capable of obtaining clearly a fluoroscopic image over a wide range direction for an inspection subject, such as an IC device having the tendency of further miniaturization, other devices, and contributing to miniaturization of the device.例文帳に追加
益々微細化の傾向にあるICデバイスやその他のデバイスなどの被検査対象物に対して広範囲な方向の透視画像を鮮明に得ることができ、しかも装置の小型化にも寄与するX線検査装置を提供すること。 - 特許庁
Two rows of cylindrical ionization chambers 24(1)-24(m), 25(1)-25(n) are arranged with a fixed pitch in the width direction just below the inspection surface 5 of the ionization chamber type X-ray foreign matter detector 1.例文帳に追加
電離箱型X線異物検出装置1の検査面5の真下には幅方向に一定のピッチで2列に筒状電離箱24(1)〜24(m)、25(1)〜25(n)が配列されている。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection system capable of certainly distributing even an article the content of which is offset in a feed direction by specifying the offset center position of the content.例文帳に追加
内容物の偏り中心位置を特定することにより、内容物が搬送方向に偏った物品であっても、これを確実に振り分けることができるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
An X-ray detector for detecting the fan beam 22 transmitted through the subject is incorporated inside an inspection part 14 cantilever-supported by a support arm part 16 extending upwards from the body part 12.例文帳に追加
被検体を透過したファンビーム22を検出するX線検出器は、本体部12から上方に延びる支持アーム部16により片持ち支持される検査部14内に内蔵されている。 - 特許庁
The image acquisition control mechanism 30 acquires image data detected by the X-ray detectors 23, and a computing section 70 reconstructs the images of the inspection area based on the image data.例文帳に追加
画像制御取得機構30はX線検出器23が検出した画像データを取得し、演算部70はその画像データに基づき検査エリアの画像の再構成を行なう。 - 特許庁
In this X-ray inspection device equipped with a tilting/rotating mechanism, images from each rotation angle are enumeratively displayed, to facilitate and improve visual observation by the inspector.例文帳に追加
傾動/回動機構を備えたX線検査装置において、各回動角度からの画像を列挙表示することにより、検査者による目視観察を容易かつ良好なものとする。 - 特許庁
The image corresponding to the X-ray image transmitted through the inspection target 12 is photographed by a camera means 18 to stored in the memory 30 of the camera control unit 19 and the image stored in the memory 30 is taken in the image capture part 20.例文帳に追加
被検査物12を透過したX線像に対応した画像をカメラ手段18で撮影し、カメラコントロールユニット19のメモリ30に保存し、メモリ30に保存した画像を画像取込部20に取り込む。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device capable of inspecting accurately and more inexpensively the mounting state on a substrate, of an electronic component such as BGA or CSP, having a tendency of miniaturization or densification.例文帳に追加
小型・高密度化するBGAやCSPなどの電子部品の基板への実装状態の検査をより精度良く、より安価で行うことのできるX線検査装置を提供すること。 - 特許庁
An imaging device 2 of this radiation inspection device 1 has many detector units 4, an annular detector support member 8 and an X-ray source peripheral direction moving device 13.例文帳に追加
本発明の放射線検査装置1の撮像装置2は、多数の検出器ユニット4,環状の検出器支持部材8及びX線源周方向移動装置13を有する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection method capable of easily extracting a defect and can detect it in a short time even when the slender defect such as a crack is orthogonal to a fault surface.例文帳に追加
クラックなどの細長い欠陥が断層面と直交している場合でも、その欠陥を容易に抽出でき、しかも短時間で検査を行い得るX線検査方法を提供する。 - 特許庁
An imaging device 2 of this radiation inspection device 1 has many detector units 4, a ring detector support member 8 and an X-ray source peripheral direction moving device 13.例文帳に追加
本発明の放射線検査装置1の撮像装置2は、多数の検出器ユニット4,環状の検出器支持部材8及びX線源周方向移動装置13を有する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device capable of checking a conveyance state of an article being an object to be inspected in a chassis, and of rapidly sensing an abnormal conveyance state of the article.例文帳に追加
検査対象となる物品の筐体内における搬送状態を確認して、物品の搬送状態の異常を早急に検知することが可能なX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray microinspection apparatus that extremely quickly enables non-destructive inspection with a high resolution of 0.1 μm or less and is capable of greatly contributing to the field of nanotechnology.例文帳に追加
0.1μm以下の高分解能で且つ非常に短時間での非破壊検査を可能とし、ナノテクノロジーの分野に大きく貢献することができるX線顕微検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device capable of inputting each measuring point by simple input operation without requiring teaching, when successively measuring measuring objects that have identical shape.例文帳に追加
同一形状の被測定物を次々測定する際に、ティーチングを行う必要なく簡単な入力操作で各測定点を入力することがX線検査装置を提供する。 - 特許庁
This defect inspection device 100 includes a stage 3 for supporting the semiconductor substrate 2, an electron beam irradiation part 7, a CL detector 14, an X-ray detector 19 and a data processing part 22.例文帳に追加
欠陥検査装置100は、半導体基板2を支持するステージ3と、電子線照射部7と、CL検出器14と、X線検出器19と、データ処理部22とを備える。 - 特許庁
(f) Among non-destructive inspection devices that are capable of inspecting defects three-dimensionally and use ultrasound or X-ray tomography, those designed for inspecting composite materials 例文帳に追加
ヘ 三次元的に欠陥を検査することができる非破壊検査装置であって、超音波又はエックス線断層撮影法を用いるもののうち、複合材料を検査するように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a nonaqueous electrolyte secondary battery inspection device capable of detecting bubbles and a foreign matter having a low X-ray absorbance existing between electrodes inside a nonaqueous electrolyte secondary battery.例文帳に追加
非水電解質二次電池内部の電極間に存在する気泡およびX線吸収率の低い異物を検出することができる非水電解質二次電池検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection apparatus capable of appropriately inspecting stockout or crack of not only an article having a substantially constant shape but also an article having irregular shape.例文帳に追加
概ね一定の形状を有する物品だけでなく、不定形状の物品についても適切に欠品あるいは割れ欠けの検査を行うことができるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray foreign matter inspection apparatus which is high in detection of foreign matters contained in a test object sealed in a container without being influenced by the container and is rapid.例文帳に追加
容器に密封された検査対象物に含まれた異物の検出を容器の影響を受けずに高い検出能力で、かつ高速で可能なX線異物検査装置を提供する。 - 特許庁
To easily approach an image RT apparatus to a plurality of inspected objects arranged within a factory plot to carry out efficiently X-ray inspection work in a short time.例文帳に追加
工場敷地内に配置された複数の被検査体に対し、イメージRT装置を容易に接近できるようにし、X線検査作業を短時間に、かつ効率的に実施できるようにする。 - 特許庁
To provide an exposure dose calculator, capable of adding a function to compute an exposure dose to a conventional X-ray inspection device without changing its configuration.例文帳に追加
従来のX線検査装置に対してその構成に変更を加えることなく、被曝線量を演算する機能を付加することが可能な被曝線量演算装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray defect inspection device for determining normality/abnormality of inspection objects by determining the size or the volume from radiographic images of the inspection objects, capable of accurately inspecting each inspection object, even if the inspection objects are transported, in a state that a plurality of them are in contact with each other or are overlapped, and improving the yield of inspection, without performing special for transportation.例文帳に追加
被検査物のX線透過像からその大きさや体積を求め、正常/異常の判定を行うX線欠品検査装置において、被検査物が複数個接触した状態で搬送されたり、重なり合った状態で搬送されてきても、個々の被検査物について正しく検査することが可能で、検査の歩留りを向上させ、また、搬送に特別な工夫を施す必要のない装置提供する。 - 特許庁
The effect of the afterglow of the scintillator sheet contained in each of the pixel outputs of the X-ray detector 2 is removed by Formula (1) by using a preliminarily stored coefficient h[m] (m=1, 2, ..) and the inspection target is inspected to eliminate the occurrence of misdecision caused by the dynamic characteristics of the X-ray detector 2.例文帳に追加
X線検出器2の各画素出力に含まれるシンチレータシートの残光の影響を、あらかじめ記憶している係数h[m](m=1,2,・・)を用いた下記の式(1)により除去して検査に供することで、X線検出器の2の動特性に起因する誤判定の発生を解消する。 - 特許庁
The X-ray inspection device 100 detects a state of an article 600 by an X-ray irradiation device 200 and a line sensor 300, determines a state of the article 600 on the basis of detection levels of levels 1 to 5 by a control section 350, and outputs the determination results from an output section 355.例文帳に追加
X線検査装置100においては、X線照射装置200およびラインセンサ300により商品600の状態を検出し、制御部350により当該レベル1,〜,レベル5の検出レベルに基づいて商品600の状態を判断し、出力部355により当該判断結果を出力する。 - 特許庁
Protection plates 113 each comprise: ferromagnetic metal strips 113a having the characteristic of distorting an MRI image; and high X-ray attenuation coefficient metal strips 113b having the characteristic of causing reduced contrast and increased noise of an X-ray inspection image, the metal strips 113a and the metal strips 113b being resin-molded in a resin 113c.例文帳に追加
防護板113は、MRI画像を歪ませる特性を有している強磁性体の金属片113aと、X線検査画像のコントラスト低下やノイズ増加を招く特性を有しているX線減弱率の高い金属片113bを、樹脂113cに樹脂モールドして構成したものである。 - 特許庁
To select an additional filter capable of optimally reducing X-ray exposure to a subject without interrupting the inspection of the subject and without performing the work of selection by a doctor or a radiological technician.例文帳に追加
被検体の検査を中断することなく、かつ医師又は放射線技師による選択の作業をせずに、被検体に対して最適なX線被曝量に低減できる付加フィルタを選択すること。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device enhanced in operability by grasping not only the present position of a drive mechanism when input operation is performed but also the state reaching a limit position of the drive mechanism.例文帳に追加
入力操作を行う際に、駆動機構の現在位置を把握できるようにし、また、リミット位置に達したことを把握できるようにして、操作性を向上させたX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a rubber sealant easily detecting fragments formed by degradation of the rubber sealant and contaminating sealing fluid in a piping system of a beverage-manufacturing line by X-ray inspection.例文帳に追加
飲料製造ラインにおける配管系のシール流体中にゴムシール材の劣化による破片が異物として混入しても、それをX線検査により容易に検知可能としたゴムシール材を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method for determining a possibility of including lead in mounting solder and in a printed board mounting component by using a fluorescent X-ray excited by a fine beam.例文帳に追加
本発明の課題は、微小ビームで励起した蛍光X線を用いて、実装はんだ及びプリント板実装部品の鉛の含有可能性を判定するための検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
When a tape 22 is inspected optically and a flaw is decided as being present by optical inspection, X-ray photographing is performed, in order to confirm (verify) whether the flaw is adhesion of metal foreign matters.例文帳に追加
テープ22を光学的に検査し、光学的な検査で欠陥があると判断された場合に、欠陥が金属の異物の付着であるか否かの確認(ベリファイ)のためにX線撮影を行う。 - 特許庁
To provide an X-ray foreign matter inspection apparatus capable of accurately and reliably inspecting foreign matter in glass bottles without having to reduce manufacturing efficiency of bottled products or causing any dead angles.例文帳に追加
瓶詰め製品の製造能率を低下することなく、且つ、死角を生じないようにして正確且つ確実にガラス瓶内の異物を検査し得るようにしたX線異物検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray imaging processing apparatus capable of obtaining high speed properties capable of corresponding to in-line inspection by rapidly setting an imaging condition optimum at each time when an object is changed so as to make the same optimum to the object.例文帳に追加
対象物が変わる毎にその対象物に最適な撮像条件に迅速に切り換えて、インライン検査に対応できる高速性を得ることのできるX線撮像処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray CT apparatus capable of conducting an inspection in a short period of time by rapidly establishing an inclination angle of a slice surface and reducing the time for positioning a photographic site of an examee.例文帳に追加
スライス面の傾斜角度を迅速に設定することによって、被検体の撮影部位の位置決め時間を短縮して検査を短時間に行うことができるX線CT装置を提供する。 - 特許庁
To obtain an X-ray inspection apparatus capable of efficiently changing the setting of a reference value by providing a worker with an index when changing the setting of the reference value (threshold).例文帳に追加
基準値(しきい値)の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能な、X線検査装置を得る。 - 特許庁
To provide an X-ray computerized tomography diagnosis apparatus, where both of its optimum tomography timing function and complicated inspection process have been improved by optimizing tomography conditions based on contrast medium conditions.例文帳に追加
造影剤条件を基に、該撮影条件を最適化することにより最適なタイミングを合わせる機能と検査の煩雑化を改善したX線コンピュータ断層撮影診断装置を提供することである。 - 特許庁
The X-ray inspection device is provided with an HDD 25 having an image data file 26, and automatically stores the image data of a plurality of articles that have been judged to be non-conforming in the image data file 26.例文帳に追加
このX線検査装置は、画像データファイル26を有するHDD25を備えており、物品不良と判断された複数の物品の画像データを、自動的に画像データファイル26に記憶させる。 - 特許庁
The device is also provided with a belt conveyor which transports the object, an X-Y driving mechanism integrated with the belt conveyor, an X-ray source, and an X-ray detector; and is characterized in that a stamping mechanism which marks defective parts of the object to be inspected is provided in the X-ray inspection chamber.例文帳に追加
X線の漏洩防止を施した(X線遮蔽材を施した)筐体と、この筐体に検査物(例えば、プリント基板)を搬入する搬入口と、前記筐体から検査物(例えば、プリント基板)を搬出する搬出口と、検査物(例えば、プリント基板)を搬送するベルトコンベアと、このベルトコンベアと一体化されたX-Y駆動機構と、X線源と、X線検出器を備えたX線検査装置において、前記検査物の部品の不良部品にマーキングするスタンプ機構をX線検査室内に備えたことを特徴とする。 - 特許庁
To provide an inspection device of a container cargoes, capable of inspecting all of the containers unloaded from a ship or loaded into the ship so that a container hanger is taken in an inspection image, even when X-ray insepection is performed in a state with hung container.例文帳に追加
船舶から荷降ろしされるコンテナ又は船舶へ積込みされるコンテナを全て検査し、かつコンテナを吊った状態でX線検査が行われた場合でもコンテナ吊具が検査画像に写り込まないで検査を行えるコンテナ貨物の検査装置を提供する。 - 特許庁
意味 | 例文 (562件) |
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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