「probe operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a telescopic supporting device which is functionally connected to a workpiece engagement probe or a work contact element of a fastener driving tool so as to support a second highest fastener of an collated row or a strip, and a collated row disposed in a fastener tool magazine or remaining fasteners of the strip during the fastener driving operation.例文帳に追加

ファスナ駆動操作中において、照合された列又はストリップのファスナの二番目に最上のファスナと、ファスナ工具マガジン内に配置された照合された列又はストリップのファスナの残りのファスナを支持するように、ファスナ駆動工具のワークピース係合プローブ又はワーク接触要素に機能的に接続された、新規で改良されたテレスコープ式支持装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cast piece shape measurement device capable of measuring the shape of a cast piece underneath a mold without causing trouble due to burnout of an ultrasonic probe in a continuous casting facility and also of easily performing an automatic correction every finishing of casting or in an optional timing without involving any dangerous operation.例文帳に追加

連続鋳造設備において、超音波プローブの焼損によるトラブルを起こすことなくモールド直下の鋳片の形状測定を行うことができ、しかも危険な作業を伴うことなく鋳造終了毎または任意のタイミングで自動校正を容易に行うことができる鋳片の形状測定装置及びその使用方法並びに連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

A method for executing the diagnosis related to a medical imaging system (100) during the usual operation mode of the medical imaging system (100) includes the step of emitting a diagnostic spectrum by a probe (115), the step of recovering signal data on the basis of at least a part of a diagnostic vector and the step of processing the signal data to determine a diagnostic status.例文帳に追加

本発明のある種の実施形態は、医用撮像システム（１００）の通常動作モードの間に該撮像システム（１００）に関する診断を実施するための方法であって、探触子（１１５）によって診断ベクトルを発射する工程と、該診断ベクトルに少なくともその一部で基づいて信号データを回収する工程と、該信号データを処理して診断ステータスを決定する工程と、を含む方法を提供する。 - 特許庁

The manufacturing method of the semiconductor device comprises a step of forming, on the substrate 100 on which the circuit is formed, the electrode pad 200 having a protrusion part 201 connected to the circuit and protruded from the protection insulation film 300, a step of performing an operation test by contacting a probe terminal 500 with the electrode pad 200, and a step of polishing at least a surface of the protrusion part 201.例文帳に追加

また、このような半導体装置の製造方法は、回路が形成された基板１００上に、この回路に接続し、かつ、保護絶縁膜３００から突出した突出部２０１を有する電極パッド２００を形成する工程と、プローブ端子５００を電極パッド２００に接触させることにより、回路の動作テストを行う工程と、突出部２０１の少なくとも表面を研磨する工程と、有する。 - 特許庁

To provide both an optical probe with high accuracy and reproducibility having a hardly damageable micro aperture and capable of forming a small spot in the direction in parallel with the polarizing direction of incident light by interference between modes and the shape of the aperture, and implementing high efficiency and high-speed tracking operation, and to provide an optical pickup apparatus capable of easily achieving lightness in weight and compactness and highly accurate tracking control.例文帳に追加

本発明は、開口が破損しにくく、高い精度と再現性で微小な開口を有すると共に、モード間干渉と開口径形状により、入射光の偏光方向と平行な方向についての小スポット化と、更なる高効率化を実現でき、高速なトラッキング動作を可能にする光プローブと、軽量化及び小型化が容易に実現でき、精度の高いトラッキング制御ができる光ピックアップ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁