「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image forming apparatus preventing an image defect result from image formation in a state wherein a transfer roller is mounted in a reverse direction.例文帳に追加

転写ローラが、正しい向きとは逆向きに装着された状態で画像形成がなされることを原因して生じる画像不良の発生を防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pinhole inspection device capable of detecting highly accurately a pinhole defect generated when manufacturing a folding sheet for folding granule or the like in a high temperature state.例文帳に追加

高温な状況下において粒体などを分包する分包シートを製造する際などに生じるピンホール欠陥を高精度で検出することができるピンホール検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which does not cause a transfer defect such as transfer deficiency or transfer unevenness by discharge whatever state a recording medium is in.例文帳に追加

本発明の課題は、記録媒体がどのような状態であっても、転写不足や放電によるムラといった転写不良を起こさない画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁

The state of the fitting of the temperature sensing part 13 to the metal mold can visually be confirmed through the through hole 15 to prevent a defect in contacting when the thermocouple 11 is fitted to the metal mold.例文帳に追加

感温部１３の金型への取付状況を透孔１５を通して目視で確認でき、熱電対１１の金型への取付における接触不良が防止できる。 - 特許庁

To provide a method for production of a rare earth vanadate single crystal which has no crystal defect, has high quality, is large-sized platy and is suitable for use in a semiconductor laser-excited solid-state laser.例文帳に追加

結晶欠陥がなく、高品質かつ大型の板状であり、半導体レーザ励起固体レーザ用途等に好適な希土類バナデイト単結晶を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide, at low cost, a structure which suppresses a defect in alignment state that a potential on a counter substrate side causes, is easily micromachined, and has superior flatness.例文帳に追加

対向基板側の電位が液晶の配向状態に与える不具合を抑制するとともに微細加工が容易で平坦性に優れた構造を低コストで実現することである。 - 特許庁

The sections 10, 20 each transmit a mask notification signal for inhibiting defect detection in a transient state to the section 30, and the section 30 stops detecting a defective state for a prescribed time, according to the mask notification signal and detects a defective state for the sections 10, 20 after the mask is released.例文帳に追加

被監視機能部１０，２０は過渡状態における不良検出を禁止するマスク通知信号を監視制御部３０に送信し、監視制御部３０は該マスク通知信号に従って不良状態検出を所定時間停止するが、マスク解除後に被監視機能部１０，２０に対する不良状態の検出を行う。 - 特許庁

Minute crystal defect caused by carbon is formed at a lamination interface by carrying out lamination in a state in which an organic substance exists on the surface of a wafer before lamination, and carrying out a bonding-enhancing heat treatment in a state in which the organic substance is confined in the lamination interface.例文帳に追加

貼り合わせ前のウェーハ表面に有機物が存在する状態で貼り合わせ、貼合せ界面に前記有機物を閉じこめた状態で接合強化熱処理を行うことにより、貼合せ界面に炭素に起因する微小な結晶欠陥を形成させる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an epitaxial semiconductor substrate, which can effectively getter metal impurity mixed while an epitaxial layer is formed, and to provide a solid-state image pickup device which can manufacture the solid-state image pickup device where a white blemish defect is reduced.例文帳に追加

エピタキシャル層形成中に混入する金属不純物を有効にゲッタリングすることができるエピタキシャル半導体基板の製造方法、及び白傷欠陥を低減した固体撮像装置を製造することができる固体撮像装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a Pachinko game machine capable of surely avoiding a defect of becoming a big win state despite having little expectation to produce a big win state and improving a game property by selectively executing a virtual consecutive display.例文帳に追加

選択的に擬似連続表示させることにより、大当たり状態が発生する期待度がほとんどないにも関わらず大当たり状態となってしまう不具合を確実に回避することができ、遊技性を向上させることができるパチンコ遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device inspecting defects with a change in the surface state including projection and recesses, transparent foreign matter, fish eyes and lines, and colored defects including very faint yellow defects without change in the surface state, such as burn and oil spots by a single series of optical systems.例文帳に追加

凹凸、透明異物、フィッシュアイ、スジなど表面状態が変化した欠陥と、焼け、油汚れなど表面状態が変化しない非常に淡い黄色などの有色欠陥を１系列の光学系で検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In judging the normal/defective state of cells, all cells are set in the high resistance state, the reference voltage generator 62 outputs voltage of 105% of the average value, the discriminator 61 discriminates the cell as defect when the bit line potential at the time of read is higher than this potential.例文帳に追加

セルの良否判別時には、全セルを高抵抗状態にセットし、参照電圧発生器６２は前記平均値の105％の電圧を出力し、判別器61は、読み出し時のビット線電位がこの電位より高い場合はそのセルを不良と判定する。 - 特許庁

To provide an image pickup device capable of performing correction coping with an increase in flaws by the secular change of a solid-state image pickup device and temperature rise by detecting an image defect position on the solid-state image pickup device and occasionally updating the detection position information.例文帳に追加

従来は固体撮像素子の経年変化による画素欠陥や、製品内部の温度上昇、あるいは低輝度撮像時に映像信号の増幅率が増加した場合等、後天的な原因に基づく画素欠陥によるキズによる補正が難しい。 - 特許庁

To provide a silicon wafer and a method for manufacturing thereof, in which neither a COP nor a dislocation cluster is contained, a defect (grown-in defect containing oxide silicon) like oxygen precipitation nucleus which exists in an OSF nucleus and P_V region not actualized in an as-grown state is disappeared or reduced.例文帳に追加

ＣＯＰや転位クラスターが含まれず、ａｓ−ｇｒｏｗｎ状態では顕在化していないＯＳＦ核やＰ_V領域に存在する酸素析出核のような欠陥（酸化シリコンを含むｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥）が消滅もしくは低減されているシリコンウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To perform determination as efficiently as possible in a method for determining a drive unit for medium inspection by which the drive unit for medium inspection determines whether the drive unit for medium inspection normally detects a defect by inspecting a medium in which defect information representing the defective state of the medium is known.例文帳に追加

媒体の欠陥の状況を表す欠陥情報が既知の媒体を検査して、媒体検査用ドライブ装置が正常に欠陥を検出できたか否かの判定を上記媒体検査用ドライブ装置が行う媒体検査用ドライブ装置の判定方法において、判定をできるだけ効率的に行うことである。 - 特許庁

Since the substrate warp state in component mounting processes can be obtained from the substrate ID information and its approximate curved surface data when a substrate defect occurs as the years pass, it is possible to analyze the causal relationship of the defect and the substrate warp and take appropriate measures to meet the situation such as review of production conditions.例文帳に追加

経年的に基板に不具合が発生した場合に、基板のＩＤ情報に基づいて近似曲面データから実装過程における基板の反り状態を把握することができるので、不具合と基板の反りとの因果関係を解析し、生産条件の見直し等の有効な対策を講じることができる。 - 特許庁

When the cholesteric liquid crystal layer 20 to be inspected has a defect, the polarization state of light generates abnormality in the position where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, which generates irregularity in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L exiting from the second absorption type linearly polarizing layer 13.例文帳に追加

検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、第２の吸収型直線偏光層１３から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁

When the cholesteric liquid crystal layer 20 as the object has a defect, abnormality is generated in the polarization state of light at the spot where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, and this generates difference in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L emitted from the absorption type linearly polarizing layer 12.例文帳に追加

検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、吸収型直線偏光層１２から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic inspection device for accurately and easily detecting the defect and state of a pipe or a welded part regardless of, for example, eccentricity and biased thickness in the inner diameter of the pipe.例文帳に追加

たとえ管の内径に偏心や偏肉があっても、管またはその溶接部の欠陥や状態を高い精度で簡単に検出することができる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁

The bonding defect detector 1 includes a constant temperature means 3 capable of maintaining the substrate S in a constant temperature state, and a component heating means 5 capable of locally heating the package p2 of the electronic component P.例文帳に追加

接合不良検知装置１は、基板Ｓを恒温状態に維持可能な恒温手段３と、電子部品Ｐのパッケージ部ｐ２を局所的に加熱可能な部品加熱手段５とを備えている。 - 特許庁

In this state, since the plastic deformation of the amorphous nano-composite magnetic material powder 1 is restricted very much, dislocation (defect) is also restricted and an increase in a crystal nucleus generating site is prevented.例文帳に追加

この状態では、非晶質のナノコンポジット磁石原料粉末１は塑性変形が非常に制限されているので転位（欠陥）も制限され、結晶核の生成サイトの増加が防止される。 - 特許庁

To improve an operation rate of an inspection device by setting an inspection condition, in a state where an actual inspection object does not exist, in defect inspection that uses a substrate with a pattern as the inspection object.例文帳に追加

パターン付基板を検査対象とした欠陥検査において，実際の検査対象物物が存在しない状態で、検査条件を設定することにより、検査装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁

To provide a measurement and analysis method capable of acquiring accurately a true signal caused by a defect by preventing a measurement result from being influenced by the fluctuation of a measuring state, in a leakage flux flaw detection method.例文帳に追加

漏洩磁束探傷方法において、測定した結果が測定状態の変動に影響されることなく、欠陥による真の信号が精度良くとらえられる計測及び解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for examining cigarette paper sheets, with which the defect in the coating state of a low fire spreading substance (sodium alginate) applied to a long cigarette paper sheet wound in a roll form is simply and surely detected.例文帳に追加

ロール状に巻かれた長尺の巻紙に塗布された低延焼物質（アルギン酸ナトリウム）の塗布の欠陥を、簡易に、しかも確実に検出することができる巻紙検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solid state imaging device capable of reducing imaging defect (white spots) and suppressing rises in depletion voltage and shutter voltage, and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

撮像欠陥（白点）を低減させるとともに、空乏化電圧の上昇及びシャッター電圧の上昇を抑制することができる固体撮像装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for suppressing an image defect in a stripe state accompanied by unevenness of toner electrified amount without making structure on an intermediate transfer belt side complicated and without causing scattering of a toner image.例文帳に追加

中間転写ベルト側の構造を複雑化したり、トナー像の飛び散りを発生したりすることなく、トナー帯電量ムラを伴うスジ状の不良画像を抑制できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The defect of the printed matter is detected by viewing or reading the check pattern by a reading device from the paper side face in a state in which the paper is stacked.例文帳に追加

用紙の側面に特定のチェックパターンを印刷し、用紙が積んである状態で用紙側面から目視もしくは読み取り装置でそのチェックパターンを読み取ることによって、印刷物の不備を検出する。 - 特許庁

Article 2 (1) When damage to another person is caused because of a defect in the placement or administration of a road, river, or other public structure, the State or public entity shall assume the responsibility to compensate therefor. 例文帳に追加

第二条　道路、河川その他の公の営造物の設置又は管理に瑕疵があつたために他人に損害を生じたときは、国又は公共団体は、これを賠償する責に任ずる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a door controller capable of changing door holding torque to prevent emergency stop so that a containment trouble does not occur by immediately determining the state of a car door of an elevator resulting from the defect of the car door by an earthquake.例文帳に追加

地震等でエレベータかごドアの異常に起因するドア状態を直ちに判定してドア保持トルクを変更して非常停止を防止して閉じ込め故障のないドア制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a multilayer printed-wiring board, in which a developer can be sprayed equally on a substrate as a whole, in which an irregularity in developing state is eliminated and in which a connection defect such as a disconnection or the like is not produced.例文帳に追加

基板全体に現像液を均等に吹き付けることができ，現像状態のバラツキがなく，断線等の接続不良を起こさない多層プリント配線板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection equipment which detects a defect of a construct built in surroundings where not only the construct of dryness state but underwater surroundings or surroundings where an operator can not easily approach by a vacuum leak detection.例文帳に追加

乾燥状態の構造物だけでなく水中の環境または作業者が近付きにくい環境に構築された構造物を相手に真空漏洩探傷によって欠陥を検出する。 - 特許庁

The first light receiving system including a CCD line sensor 21 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by a surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state onto the substrate 1 surface.例文帳に追加

ＣＣＤラインセンサー２１を含む第１の受光系は、検査光が基板１の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板１の表面に焦点を合わせて受光する。 - 特許庁

Further, when the V1 abruptly drops due to the contact defect of the connector 11, the lowest value of the voltage V1 is not a stable value and the insulated state of the semiconductor device T1 is not held.例文帳に追加

更に、コネクタ１１の接触不良に起因して電圧Ｖ１が急激に低下した場合には、電圧Ｖ１の最低値が安定した値とならず、半導体素子Ｔ１の遮断状態は保持されない。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus and an image forming method which are free from image defect caused by faulty transfer and faulty electrification even when the apparatus is shipped in such a state that a cartridge is attached to an apparatus main body.例文帳に追加

カートリッジを本体に装着した状態で出荷した場合でも、転写不良、帯電不良による画像不良が発生しない画像形成装置と画像形成方法を提供することである。 - 特許庁

To obtain a catalyst composition improved in a filling property into a mold having a complex shape and a skin state, and capable of forming the subject foam having no bubble defect by mixing triethylenediamine with a specific substituted diamino-terminated compound and an imidazole compound.例文帳に追加

複雑な形状等の成形金型での成形時に未充填部分がなくスキン状態が良好で、気泡欠損の発生がない靴底用ポリウレタンフォームの製造法を提供すること。 - 特許庁

To set an appropriate recording condition to perform recording in response to an inspection result by inspecting not only a difference in the composition and structure state of a recording film in an optical disk but a defect, stain, bend, or distortion, etc., before video-recording.例文帳に追加

光ディスクの記録膜の組成、構造の状態の違いだけでなく、傷、汚れ、反り、歪などを録画前に調査し、この結果に応じて適切な記録条件を設定して記録する。 - 特許庁

To reduce noise such as a smear output from a solid-state image sensor without being affected by a pixel defect nor arranging a special light quantity adjustment device.例文帳に追加

本発明の目的は、画素欠陥の影響を受けることなく、また、特殊な光量調節装置を設けることなく、固体撮像素子から出力されるスミア等の雑音を低減することにある。 - 特許庁

To provide a reflective liquid crystal display device dissolving a display defect in a bright state with respect to an observing direction and a viewing angle and further preventing display contrast from lowering even when driving voltage is lowered.例文帳に追加

観察方向や視角に対する明状態の表示不良を解消し、さらに、駆動電圧を低くしても表示コントラストが低下しない反射型液晶表示装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide the technique for avoiding a malfunction in a device by a data transfer defect caused by a meta stable state without enlarging a circuit scale in a boundary between an analog data processing part and a digital signal processing part.例文帳に追加

アナログデータ処理部とデジタル信号処理部の境界において、回路規模を増大をさせることなく、メタ・ステーブルによるデータ転送不良による装置の誤動作を回避する技術を提供する。 - 特許庁

The second light receiving system including a CCD line sensor 22 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by the surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state to the substrate 1 inside.例文帳に追加

ＣＣＤラインセンサー２２を含む第２の受光系は、検査光が基板１の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板１の内部に焦点を合わせて受光する。 - 特許庁

(i) the defect in such product could not have been discovered given the state of scientific or technical knowledge at the time when the manufacturer, etc. delivered the product; or 例文帳に追加

一　当該製造物をその製造業者等が引き渡した時における科学又は技術に関する知見によっては、当該製造物にその欠陥があることを認識することができなかったこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Defects can be detected efficiently by performing defect examination S22 detecting magnetization inversion part based on variation of a base line of a signal read out from the medium in this state.例文帳に追加

この状態にて媒体から読み出される信号のベースラインの変動に基づいて、磁化反転部分を検出する欠陥調査Ｓ２２を実施することで、欠陥を効率的に検出することができる。 - 特許庁

To provide a document reader by which the occurrence of an abnormal image is prevented by preventing the occurrence of defect due to paper powder, a dust or the like on a contact glass without largely changing the existing state of the constitution of a document reader.例文帳に追加

現状の原稿読取装置の構成を大きく変えることなく、コンタクトガラス上の紙粉・ゴミ等による不具合を防止し、異常画像の発生を防止できる原稿読取装置を提供する。 - 特許庁

By utilizing the charge by the electron beam irradiation, a defect is detected by performing inspection, by acquiring a potential contrast image in a state in which the difference in the electrical resistance value between the normal part and the defective part is increased sufficiently.例文帳に追加

電子ビーム照射による帯電を利用し、正常部と欠陥部の電気抵抗値の差を十分増大させた状態で電位コントラスト像を取得して検査を行い欠陥を検出する。 - 特許庁

In the step of predicting yield, a state of a defect existing in the substrate is acquired (S14), a defective chip region is specified among the plurality of chip regions based on the state of a defect (S16), data relating to the defective chip region is stored in a database (S17), and yield is calculated based on data relating to defective chip regions stored in the database (S18).例文帳に追加

前記歩留りを予測する工程では、前記基板に存在する欠陥の状態を把握し（Ｓ１４）、前記欠陥の状態に基づいて前記複数のチップ領域のうちから不良チップ領域を特定し（Ｓ１６）、前記不良チップ領域に関するデータをデータベースに格納し（Ｓ１７）、前記データベースに格納されている不良チップ領域に関するデータに基づいて歩留りを算出する（Ｓ１８）。 - 特許庁