「defect-inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method of a flat sample capable of inspecting with high sensitivity a defect not only on the surface of the flat sample but also inside or on the rear.例文帳に追加

平板状試料の表面のみならず、内部、裏面の欠陥に対して、感度良く検査することができる平板状試料の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an array substrate and an inspection device thereof, which allow a disconnection defect of a gate line to be detected even when potential is applied from both ends of the gate line.例文帳に追加

ゲート線の両端から電位を印加してもゲート線の断線不良を検知できるアレイ基板の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To keep detection precision as to foreign matter, a defect, etc., uniform above a constant level and to enable highly reliable inspection.例文帳に追加

異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持できるようにすると共に、信頼性の高い検査をできるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of obtaining a matrix number accurately at high speed, and not requiring a complicated operation such as designation of a retrieval range.例文帳に追加

正確かつ高速に行列番号を求めることができ、かつ検索範囲を指定する等の煩雑な操作が不要になる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To enable to easily determine whether the reason for causing a failure is due to a panel failure or a contact failure, when a lighting defect occurs during a lighting inspection.例文帳に追加

点灯検査時に点灯不良が生じたとき、それがパネル不良に起因するものかコンタクト不良に起因するものかを容易に判断できるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.例文帳に追加

エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspecting apparatus that has less erroneous detection and enables relatively easy defect inspection even in a wiring pattern having different wiring widths.例文帳に追加

異なる配線幅からなる配線パターンであっても、誤検出が少なく、比較的容易な欠陥検査を可能とするパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce errors in a defect position produced by positional displacement by a driving mechanism of a stage without extending total processing time required for substrate inspection.例文帳に追加

基板検査に要するトータルの処理時間が長くすることなく、ステージの駆動機構による位置ずれによって生じる欠陥位置の誤差を低減する。 - 特許庁

The plate patterns 24 and the reference data patterns 26 are compared in the subsequent pattern inspection step S28 and the dissidence of both patterns is defected as the defect patterns.例文帳に追加

その後のパターン検査工程Ｓ２８にて、プレートパターン２４と基準データパターン２６とを比較して、両パターンの不一致を欠陥パターンとして検出する。 - 特許庁

CONSTANT OF CIRCUIT ELEMENT, CONSTANT DIFFERENCE DETECTING CIRCUIT, POSITION DETECTOR USING IT, IDENTIFICATION INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OR EXISTENCE/NONEXISTENCE OF CONDUCTOR, AND TORQUE SENSOR例文帳に追加

回路素子の定数及び定数差検出回路及びそれを用いた位置検出装置及び導体の欠陥或いは有無の識別検査装置及びトルクセンサ - 特許庁

An automated defect inspection system (10) has been invented and is used to inspect patterned wafers, whole wafers, broken wafers, partial wafers, waffle packs, MCMs, and the like.例文帳に追加

自動化欠陥検査システム（１０）が発明され、これはパターン化されたウェハ、全ウェハ、破損ウェハ、部分ウェハ、ワッフルパック、ＭＣＭなどを検査するために使用される。 - 特許庁

NG surface information obtained in the defect inspection process of a magnetic disk substrate is drawn onto the magnetic disk substrate to be discriminated in a subsequent film-forming process.例文帳に追加

磁気ディスク基板の欠陥検査工程で得られたＮＧ面情報を磁気ディスク基板に描画して後の成膜工程で判別できるようにする。 - 特許庁

To solve the problem that there is no ultrasonic flaw detecting device which can easily determine a defect, in the case where the inspection result, in ultrasonic flaw detection by TOFD method, is evaluated.例文帳に追加

ＴＯＦＤ法による超音波探傷において、その検査結果を評価する場合に、容易に欠陥を判定できる超音波探傷装置がない。 - 特許庁

A defect ratio related to an inspection target, and a covering rate showing a ratio of an executed test amount of the whole test amount are measured by measurement means 3a, 3b.例文帳に追加

検査対象に係る不良比率と、全テスト量のうち実行されたテスト量の割合を示す網羅率を、計測手段３ａ、３ｂにより計測する。 - 特許庁

In the defect detection method, a captured image creating process S1 of an inspection region captures an image of a to-be-inspected object and creates a captured image.例文帳に追加

本発明の欠陥検出方法において、検査領域の撮像画像作成工程Ｓ１は、検査対象物を撮像し、撮像画像を作成する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus or the like capable of eliminating the influence of the optical characteristics of the apparatus on the inspection without requiring complicated work.例文帳に追加

煩雑な作業を要することなく、装置の光学特性の検査への影響を排除することができる欠陥検査装置等を提供する。 - 特許庁

A defect such as a chip or crack is detected based on the variation of the first and second detection positions when the inspection part is scanned along the edge.例文帳に追加

そしてエッジに沿って検査部位を走査したときの第１および第２の検出位置の変化から欠けやひび割れ等の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device having the most simple and rational constitutions of an irradiation system and an imaging system, and capable of conducting highly reliable inspection, in the surface defect inspection device provided with the irradiation system comprising a plurality of light emitting elements arranged with a prescribed lay-out pattern, and an imaging camera for imaging an inspected face receiving irradiation light emitted from the irradiation system.例文帳に追加

所定のレイアウトパターンで配置された複数の発光素子からなる照射系と、その照射系から照明される照射光を受けた被検査面を撮像する撮像カメラとを備える表面欠陥検査装置において、照射系と撮像系との構成が最も合理的かつシンプルであり、信頼性の高い検査を行うことが可能なものを得る。 - 特許庁

An internal defect 5 dominantly appears as difference of surface temperature because a heat quantity of heat 3 given to an inspection object 1 larger than a heat quantity of heat 7 considerably raises the surface temperature of the inspection object 1, and a heat flow generated thereby is reflected in the internal defect 5, which raises the temperature of a surface 2 of the inspection object 1.例文帳に追加

内部欠陥５が表面温度の差として顕著に表れているのは、被検査体１に対して与えられる熱３の熱量が熱７の熱量よりも大きいため、被検査体１の表面温度が大きく上昇し、これによって生じた熱流が内部欠陥５において反射することによって、被検査体１の表面２の温度を上昇させているためである。 - 特許庁

Record of an inspection result in the preceding process is displayed on the outside development displayed for the input, and the display of the input of the outside inspection result of the defect in the own process is made different from the display of the inspection result in the preceding process such that the operator can decide whether the defect inputted in the own process is generated in the own process or in the preceding process.例文帳に追加

入力用として表示してなる外観展開図上に、前工程における検査結果の記録を表示しておき、前記オペレータが自工程で入力する欠陥について、自工程で発生したものか、前工程で発生したものかを判別できるように、自工程での欠陥の外観検査結果の入力を、前工程での検査結果の表示とは異なる表示とする。 - 特許庁

To provide a device capable of detecting surely a projecting defect on a cylindrical inspection object, even in a case where the attitude of the cylindrical inspection object is tilted by a setting error at the positioning time or rotation deflection, when inspecting the cylindrical inspection object, especially both ends of a photosensitive body drum.例文帳に追加

円筒状被検査物、特に、感光体ドラム両端部の検査時に、位置決め時のセッティング誤差や回転振れにより円筒状被検物の姿勢が傾いた場合においても、円筒状被検物上の凸欠陥を確実に検出することができる装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a gray tone mask by which performance evaluation and defect inspection of a gray tone mask can be preferably carried out, to provide a method for manufacturing a gray tone mask for manufacturing a liquid crystal device by using the inspection method of a gray tone mask, and to provide a pattern transfer method.例文帳に追加

グレートーンマスクの性能評価及び欠陥検査を良好に行うことができるグレートーンマスクの検査方法を提供し、また、このグレートーンマスクの検査方法を用いた液晶装置製造用グレートーンマスクの製造方法及びパターン転写方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

To make a condition set efficiently, to shorten an inspection time, and to enhance reliability of inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting a defect, a foreign matter, a residue or the like in the same design pattern of a semiconductor device on a wafer under a production process for the semiconductor device, by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a method of digestive tract X-ray inspection solving the problem of diagnosis by conventional pretreatment defect of enema X-ray inspection, increasing the convenience of dosing and alleviating a burden to patients especially those handicapped or aged, and a drug for pretreatment to be used for the inspection.例文帳に追加

従来の注腸Ｘ線検査前処置不良による診断の問題点を解消し、投薬の便宜性を高めかつ患者特に身体の不自由な患者や高齢者に負担をかけることのない消化管Ｘ線検査法及びそれに用いる前処置用薬剤を提供すること。 - 特許庁

Defect inspection, with high sensitivity, is made possible by irradiating the optical film, while scanning it with inspection light across the transparent film 30 to sense changes in intensity of reflected inspection light, is sensed, and determining the number of defects in the optical film plane, on the basis of information about changes in the intensity of reflected light.例文帳に追加

そして、光学膜に透明膜３０を介して検査光を走査させながら照射して検査光の反射光強度の変化を検知し、反射光強度の変化情報に基づいて光学膜面内の欠陥数を求めると、高感度での欠陥検査が可能となる。 - 特許庁

To improve efficiency of condition setting, to shorten inspection time, and to improve reliability of an inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting, with an electron beam, a defect, foreign substance, residue, or the like of the same design pattern of a semiconductor device on a wafer in a manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a highly reliable defect inspection device detecting defects without omission by forming, in a clear contrast image, an image of a rugged defect with small curvature changes formed on a transparent body sheet-like material surface.例文帳に追加

透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥を、最も鮮明な明暗像になる状態で結像させることにより、欠陥を漏れなく検出し、信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

This surface defect inspection device is equipped with an imaging part 2 for imaging a surface 1a of an inspected object 1 and a processing part 4 for detecting a defect in the surface 1a of the inspected object 1, based on an image acquired by the imaging part 2.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の表面１ａを撮像する撮像部２と、撮像部２により得られた画像に基づいて被検査物１の表面１ａの欠陥を検出する処理部４と、を備える。 - 特許庁

To provide a method for adjusting display luminance of a fluorescent display tube that simplifies inspection concerned with the luminance of the fluorescent display tube to eliminates the need of discriminating the defect of the fluorescent display tube itself and the defect of a VFD filter.例文帳に追加

本発明は、蛍光表示管の輝度に関する検査を簡略にし、蛍光表示管自身の不良とＶＦＤフィルタの不良との選別を不要とする蛍光表示管の表示輝度調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device having high detection precision, capable of preventing the influence of a formation spot of a test body, and detecting a defect even if the defect having very little difference in reflectance between itself and the test body exists.例文帳に追加

被検査体の地合い斑の影響を防止するとともに、被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、このような欠陥を検出可能な検出精度の高い検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus 1, using the coordinate table 6a, irradiates the laser light 5a to the predetermined position of the sample 20, in the predetermined order and detects a signal caused by a temperature change ΔT generated by the irradiation to inspect a defect.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、座標テーブル６ａを用い、レーザ光５ａを試料２０の所定位置に所定順序で照射し、照射によって生じる温度変化ΔＴに起因した信号を検出し、欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a positioning method of a color filter substrate for positioning a color filter substrate in a short time with good accuracy when a defect of the color filter substrate inspected by a defect inspection device is corrected by a color filter correction system.例文帳に追加

欠陥検査装置で検査されたカラーフィルタ基板の欠陥をカラーフィルタ修正装置にて修正する際、カラーフィルタ基板を精度良く、短時間に位置決めするためのカラーフィルタ基板の位置決め方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a program for determining the inspection timing for in-vessel structures which realize safe and economical operation of a reactor by omitting unnecessary defect tests, to determine the time the necessary defect tests are to be carried out.例文帳に追加

不必要な欠陥検査を省いて欠陥検査を実施する時期を決定することにより、安全かつ経済的な原子炉の運転を実現した炉内構造物の検査時期決定方法およびその決定プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a multilayered optical recording medium inspection method by which presence of a defect of each resin layer in a multilayered optical recording medium in which the plurality of resin layers are formed is inspected and the resin layer having the defect can be specified.例文帳に追加

複数の樹脂層が形成された多層光記録媒体における各樹脂層の欠陥の有無を検査すると共に欠陥が存在している樹脂層を特定し得る多層光記録媒体検査方法を提供する。 - 特許庁

To practically use a surface defect inspection device by robot grasping, by reducing rotation deflection in an open end when inspecting a defect while rotated under the condition where one side of an inspected object is grasped and where the other side is opened.例文帳に追加

被検査物の一方を把持し、他方を開放した状態で回転させながら欠陥検査を行う上で、開放端側の回転振れを小さくし、ロボット把持による表面欠陥検査装置を実用化できるようにする。 - 特許庁

The solar battery inspection apparatus includes a defect position identifying means which applies a search window 43 to a cell image, representing an energized solar battery cell to identify the position of a strip-shaped defect in the solar battery cell.例文帳に追加

本発明の太陽電池の検査装置は、通電された状態の太陽電池セルを表すセル画像に探索窓４３を適用して、太陽電池セル内の帯状の欠陥の位置を特定する欠陥位置特定手段を備える。 - 特許庁

To provide an inspection method for a ceramic structure, capable of not only knowing a position and a size of an internal defect of the ceramic structure but also grasping an accurate position, shape and size of the internal defect, nondestructively and easily in a short time.例文帳に追加

非破壊、簡便且つ短時間で、セラミック構造体の内部欠陥の位置や大きさが分かるだけでなく、内部欠陥の正確な位置や形状及び大きさも把握することができるセラミック構造体の検査方法を提供する。 - 特許庁

A control computer 19 replaces the image of the wiring, which is not the object to be inspected and can be a noise source in the defect inspection, with the self-generated image, and inspects the defect of the wiring to be inspected based on the contrast image after the replacing process.例文帳に追加

制御用計算機１９は、欠陥検査においてノイズ源となる非検査対象の配線の画像を自己生成画像で置き換え、置換処理後のコントラスト画像に基づいて検査対象の配線の欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method or the like for a diaphragm part of a liquid droplet delivering head wherein defect inspection of the diaphragm part of a silicon base material having the diaphragm part for pressure buffering prepared therein can be efficiently, highly accurately and easily carried out.例文帳に追加

圧力緩衝用のダイアフラム部を設けたシリコン基材のダイアフラム部の欠陥検査を、効率よく、高精度かつ容易に行うことができる液滴吐出ヘッドのダイアフラム部の欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method for a film, capable of inspecting simply and easily an optical defect in the film to be inspected formed with an optical compensation layer having a double refraction characteristic, in a production line or the like.例文帳に追加

製造ライン等において、複屈折特性を有する光学補償層が形成された被検査フィルムの光学的欠陥検査を簡易かつ容易に行うことができるフィルムの欠陥検査装置よおび方法を提供する。 - 特許庁

In a defect inspection device 10, light-receiving directions of optical receivers 22, 24 are set at a light-receiving angle θ_1 (0°<θ_1≤60°, preferably 30°≤θ_1≤45°) having high light-receiving sensitivity to a minute defect which is present on a lower surface of a glass substrate G.例文帳に追加

欠陥検査装置１０は、ガラス基板Ｇの下面に存在している微細傷に強い受光感度を有する受光角度θ_１（０°＜θ１≦６０°、好ましくは３０°≦θ_１≦４５°）に、受光器２２、２４の受光方向を設定した。 - 特許庁

To provide a lens defect inspection device capable of forming many parallel light sources having prescribed angles by the use of an illumination means comprising surface illuminations and a louver layer, setting most suitably a focus position of an imaging means, imaging accurately a defect on a lens appearance by the imaging means, and automating inspection.例文帳に追加

面照明とルーバー層からなる照明手段の使用により所定の角度を持った平行光源を多数形成できると共に、撮像手段のフォーカス位置を最適に設定し、レンズの外観上の欠陥を撮像手段で精度良く撮像して検査の自動化を図ることが可能なレンズ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The light-emitting element inspecting device according to one embodiment includes an inspector for inspecting the presence of a defect by a vision inspection of a light-emitting element, and a defect rejector for discarding a light-emitting element determined as a defective element of the elements fed by the inspector, based on the inspection result by the inspector.例文帳に追加

本発明の一実施形態による発光素子検査装置は、発光素子のビジョン検査により不良の有無を検査する検査部と、前記検査部から供給された前記発光素子のうち、前記検査部の検査結果に基づいて不良と判定された発光素子を廃棄する不良リジェクト部とを含む。 - 特許庁