「defective detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a dot line printer which eliminates defects such as a drop in detection accuracy and defective printing in a detection mark section and makes an improvement in a stain by ribbon and a life while preventing the ink in the joint part of an endless ink ribbon from transferring to a printing paper and improving the life of the joint part.例文帳に追加

エンドレスインクリボンの継ぎ目部分のインクが印字用紙へ転写することを防ぎ、継ぎ目の寿命向上の目的を満足しつつ、検出精度の低下や検出マーク部の印刷不良といった欠点をなくし、リボンによる汚れ、寿命向上を達成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a detection method which improves the detection precision of a single crystal diameter, and to provide a method for producing a single crystal and a device therefor by which diameter control is precisely performed based on the detected result, and a non-defective crystal is industrially stably grown in a high yield.例文帳に追加

単結晶直径の検出精度を向上させる検出方法、及びその検出結果に基づいて精度良く直径制御を行い、無欠陥結晶の育成を歩留まり良く、工業的に安定して育成する単結晶の製造方法及びその製造装置を提供する。 - 特許庁

The imaging apparatus is provided with the imaging element for imaging an object image, and a storage part for dividing the imaging region of the imaging element into a plurality of regions and storing the address of a pixel judged as the defective pixel by the detection of a detection level different for each region on the basis of imaging element output.例文帳に追加

被写体像を撮像する撮像素子と、撮像素子の撮像領域を複数の領域に分割し、撮像素子出力に基づいて、各領域ごとに異なる検出レベルの検出により欠陥画素と判断された画素のアドレスを記憶する記憶部とを備える。 - 特許庁

Similarly, when a voltage across an LED lamp 110A having a disconnection fault therein rises, causing a differential voltage between a first detection voltage VS1 and the second detection voltage VS2 to exceed an upper limit, the control unit 5 determines that the LED lamp 110A is defective and stops the power conversion unit 2.例文帳に追加

同様に、断線故障が生じているＬＥＤランプ110Aの両端電圧が上昇して第１の検出電圧VS1と第２の検出電圧VS2の差電圧が上限値を超えると、制御部５がＬＥＤランプ110Aの故障と判断して電力変換部２を停止させる。 - 特許庁

Thereby, when the current flowing into the motor 10 becomes excessive and when the current flowing into the power supply interruption device 40 is not excessive, the current detection part is decided to be defective, the current detection part being constituted of the shunt resistors 31 to 33, the operation amplifiers 34 to 36 and the arithmetic unit 60.例文帳に追加

これによって、モータ１０に流れる電流が過大となっている場合で、かつ、電源遮断機４０に流れる電流は過大でない場合、シャント抵抗３１〜３３、オペアンプ３４〜３６、及び、演算装置６０で構成される電流検出部の故障と判断する。 - 特許庁

Meanwhile, when the prepit detection signal is defective, the information signal is recorded on the recording medium at record timing according to the auxiliary block signal of a fixed phase having the same period as that of a block length.例文帳に追加

一方、上記プリピット検出信号が不良である場合には、上記ブロック長と同一周期を有する固定位相の補助ブロック信号に応じた記録タイミングで情報信号を記録媒体に記録する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus and a control method thereof for automatically detecting noise information without the need for carrying out operations for executing the detection processing of the noise information such as defective pixel or the like.例文帳に追加

欠陥画素等のノイズ情報の検出処理を実行させるための操作を行う必要がなく、自動的にノイズ情報の検出処理が行われる撮像装置およびその制御方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten decoding processing time of one image by shortening time required for the reprocessing of decoding of an image-deteriorated block before an error detection block in an input image and the processing of a defective block.例文帳に追加

入力画像内でエラー検出ブロック以前の画質劣化ブロックに対する復号の再処理と欠損ブロックに対する処理に要する時間をできるだけ削除し、１画像の復号処理時間を短縮する。 - 特許庁

On the basis of a detection position information signal (e) from the pixel defect detecting means 17, a defect correcting means 18 replaces the signal level of a defective pixel with a signal picked up with the other normal light receiving pixel.例文帳に追加

欠陥補正手段１８は、画素欠陥検出手段１７からの検出位置情報信号ｅに基づいて欠陥画素についてはその信号レベルを他の正常な受光画素で撮像した信号と置き換える。 - 特許庁

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3).例文帳に追加

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。 - 特許庁

To provide an X-ray photographing device capable of preventing excessive registration of defective pixels resulting from the leak of current to the downstream side of a data bus line, and a missing detection method of a two-dimensional array X-ray detector.例文帳に追加

データバスラインの下流側への電流のリークに起因する欠損画素の過剰登録を防止することが可能なＸ線撮影装置および二次元アレイＸ線検出器の欠損検出方法を提供する。 - 特許庁

Also, a means for carrying out failure detection in the components between the sub-elements or by majority between the sub-elements, and for carrying out the stop of self-operations makes it possible to secure the accuracy of the operation stop of the defective elements.例文帳に追加

また、複数のサブ要素間で、または、サブ要素間の多数決で構成要素内の故障検知を行い、自己動作の停止を行う手段により、故障要素の動作停止の確実性を確保できる。 - 特許庁

To provide a high frequency heating apparatus and a core degradation detection method wherein, when a core is deteriorated, a quantitative exchange timing of the core is determined and occurrence and outflow of a defective product due to degradation of the core is prevented.例文帳に追加

コアが劣化した場合、定量的なコアの交換時期を決定できて、コア劣化による製品の不良品の発生・流出を防止できる高周波加熱装置およびコア劣化検知方法を提供する。 - 特許庁

When a voltage across an LED lamp 110B having a short-circuit fault therein drops, causing a second detection voltage VS2 to fall below a lower limit, a control unit 5 determines that the LED lamp 110B is defective and stops a power conversion unit 2.例文帳に追加

短絡故障が生じているＬＥＤランプ110Bの両端電圧が下降して第２の検出電圧VS2が下限値を下回ると、制御部５がＬＥＤランプ110Bの故障と判断して電力変換部２を停止させる。 - 特許庁

To avoid a possibility of erroneously evaluating adhesiveness when an arrangement place is defective in evaluation when evaluating the adhesiveness of an eddy current flaw detection probe to a body to be inspected by the amount of lift-off.例文帳に追加

渦電流探傷プローブの被検査体への密着性をリフトオフ量で評価する際に、その評価時に配置場所に欠陥がある場合、密着性を誤評価する可能性があるので、これを回避する。 - 特許庁

To provide a defect detection method, capable of precisely, easily, and quickly confirming and evaluating a defective part of a transparent gas barrier film, having a transparent inorganic oxide evaporation layer laminated on a transparent plastic base member.例文帳に追加

透明プラスチック基材に透明無機酸化物蒸着層を積層した透明ガスバリアフィルムの欠陥箇所を、正確に、簡便且つ迅速に確認し、評価することができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

A detection means 101 detects a defective pixel candidate from among a plurality of pixels for each or several frames based on a signal difference between each pixel of an imaging element 107 and a peripheral pixel thereof.例文帳に追加

検出手段１０１が、撮像素子１０７の各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う。 - 特許庁

The defect pixel detection method for the solid-state image pickup element compares a mean value of pixel data of pixels around a target pixel with pixel data of the target pixel so as to discriminate whether or not the target pixel is defective.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素検出方法において、注目画素の周囲の画素データの平均値と、注目画素の画素データとを比較することによって、注目画素が欠陥画素である否かを判定する。 - 特許庁

To provide a sliding bearing device with a rotation detection function which can be easily disassembled, and in which only defective components, such as any of a sliding bearing unit or a sensor mounting board, is exchanged and other components are reusable.例文帳に追加

容易に分解できて、滑り軸受部かセンサ実装基板のいずれか等の不良発生部品のみを交換し、他の部分を再利用可能とした回転検出機能付き滑り軸受装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device, image processing method and a computer program enabling highly accurate detection of surface irregularity and existence of defects in vicinity of a contour line, as well as enabling secure determination on non-defective items.例文帳に追加

表面の凹凸、輪郭線近傍の欠陥等の存在を高い精度で検出することができ、良品判定を確実に行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

Based on the defective distribution, the main control system 20 selects a mark for instrumentation from marks formed on the wafer W, and location information of the selected mark for instrumentation is measured by using an alignment detection system AS.例文帳に追加

この欠陥分布に基づいて主制御系２０はウエハＷに形成されたマークから計測対象マークを選択し、選択した計測対象マークの位置情報をアライメント検出系ＡＳを用いて計測する。 - 特許庁

Generation of a large amount of defective products based on abnormal discharge can be prevented through interlocking by turning off the switch of a high frequency power supply to stop the operation of a sputter etching apparatus 100 based on detection of such abnormal discharge.例文帳に追加

かかる異常放電の検知に基づき、高周波電源のスイッチをオフにする等してインターロックをかけ、スパッタエッチング装置１００の停止を行い、異常放電に基づく不良の大量作り込みを防止する。 - 特許庁

In addition, the defective pixel detection processing includes the step of determining whether a length of the abnormal pixel block continuing in parallel in the longitudinal/lateral direction of an image is smaller than a first threshold value Th1 and is greater than a second threshold value Th2 (152), and whether no other abnormal pixel block is found (154) on the same line.例文帳に追加

また、画像の縦／横方向に平行に連続した異常画素塊の長さが第１閾値Th1より小かつ第２閾値Th2かつ大で(152)、同一ラインに他の異常画素塊が無い(154)か否か判定する。 - 特許庁

The light emission quantity adjusting means of the exposure device specifies a light emission defective elements whose light emission quantity deviates from a specified range among the light emitting elements according to the detection result of the light emission quantity detecting means and adjusts electric power supplied to the light emitting element group that the light emission defective element belongs to so the surface to be exposed is exposed substantially uniformly.例文帳に追加

この露光装置において、発光量調整手段は、発光量検出手段の検出結果に基づいて、発光素子の中から、発光量が所定範囲から逸脱している発光不良素子を特定し、露光対象面を実質的に均一に露光するように、発光不良素子が属する発光素子群への供給電力を調整する。 - 特許庁

The repair circuit comprises: a repair address detection part for determining the presence of a defect on the basis of a plurality of test data signals output from a memory block and storing an address corresponding to a memory block determined to be defective; and an anti-fuse part for electrically programming repair addresses stored in the repair address detection part.例文帳に追加

メモリブロックから出力される複数のテストデータ信号によって不良の可否を判断し、不良と判断されたメモリブロックに該当するアドレスを格納するリペアアドレス検出部と、リペアアドレス検出部に格納されたリペアアドレスを電気的にプログラミングするアンチヒューズ部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

An abnormal inspection system 100 (detection device) comprises: a light source unit 10 and a detection unit 20 for imaging an inspected object 3; an analysis unit 30 for analyzing with a support vector machine a spectrum image obtained by imaging and detecting foreign materials or defective products mixed in the inspected object 3.例文帳に追加

異状検査システム１００（検出装置）は、検査対象物３を撮像する光源ユニット１０及び検出ユニット２０と、撮像により得られたスペクトル画像をサポートベクターマシンを用いて解析し検査対象物３中に混在する異物または不良品を検出する分析ユニット３０と、を備える。 - 特許庁

In this embodiment, irradiation position marks 33 and 35 and detection position marks 34 and 36 corresponding to measuring positions where the result of the automatic gain is defective, are blinked, while irradiation position marks 33 and 35 and detection position marks 34 and 36 corresponding to measuring positions where the result of the automatic gain is good are lighted.例文帳に追加

この例では、自動ゲインの結果が不良であった計測位置に対応する照射位置マーク３３，３５及び検出位置マーク３４，３６が点滅表示され、自動ゲインの結果が良であった計測位置に対応する照射位置マーク３３，３５及び検出位置マーク３４，３６が点灯表示される。 - 特許庁

To provide an image pickup apparatus and an imaging method capable of always maintaining a high-quality image without defect and preventing a photographing chance from being missed by providing a means of performing defect detection based on user's intention by a user's operation, in the detection of defective pixels in an image pickup element such as a CCD image sensor.例文帳に追加

本発明は、CCDイメージセンサーなどの撮像素子の欠陥画素の検出において、ユーザー操作によりユーザーの意思で欠陥検出をおこなう手段を提供することにより、常に欠陥のない高品質な画像を維持できると共に、撮影機会を損ねることがない撮像装置及び撮像方法を提供する。 - 特許庁

Using a defect detection sensitivity correction standard substrate including a pattern 8 and pseudo-defective sections 7 that are cone defects differing in size and are randomly formed on a silicon substrate 1, defect detection sensitivity is used in product management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a lamp 21a in a lighting section 21 of a defect detecting device is replaced.例文帳に追加

パターン８と、サイズの異なるコーン欠陥であり、シリコン基板１上にランダムに形成された擬似欠陥部７とを備えた欠陥検出感度校正標準基板を用いて、欠陥検査装置の照明部２１におけるランプ２１ａの交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁

In order to nondestructively inspect whether the semiconductor element formed on a pixel part of the element substrate operates or not, the element substrate and a counter detection electrode are immersed into an electrolyte, the value of electric current that flows between the pixel electrode on the element substrate and the counter detection electrode is measured and, thereby, the normal/defective condition of the element substrate is decided.例文帳に追加

素子基板の画素部に形成された半導体素子が動作するかどうかの検査を非破壊で行うために、電解液に素子基板および対向検出電極を浸し、素子基板上の画素電極および対向検出電極の間に流れる電流値を測定することにより素子基板の良否を判別する。 - 特許庁

To provide a leakage detection device for hermetically sealed enclosure, capable of detecting the existence of a seal defective part smaller than before, without reducing the conveying speed of the sealed enclosure, capable of improving the leakage detection precision and the efficiency of detecting operation, without reducing the production efficiency of the hermetically sealed enclosure filled with the contents.例文帳に追加

密封容器搬送速度を低下させることなく従来よりも小さな密封不良部分の有無を確実に検出出来、漏れ検出精度と漏れ検出作業の効率とが向上し、内容物が充填された密封容器の生産効率を低下させない、密封容器の漏れ検出装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an electronic control device for a vehicle capable of detecting the abnormality (breakage and defective contact) of a ground line by using the abnormal detection system of the energization system of a relay coil and preventing the erroneous operation of a starter motor.例文帳に追加

リレーコイルの通電系統の異常検出系を用いて、接地ラインの異常（断線や接触不良）を検出することができるとともに、スタータモータの誤動作を防止することができる車両用電子制御装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which a DRAM refresh time can be easily monitored by an actual device, a optimal refresh time for power consumption and operation of a device can be set, and early detection of defective refreshing can be attained.例文帳に追加

実デバイスで容易にＤＲＡＭリフレッシュ時間のモニタができ、消費電力、デバイスの動作上に最適なリフレッシュ時間を設定できるとともに、リフレッシュ不良発生の早期発見が可能な半導体集積回路を得る。 - 特許庁

To provide a cutting method and a cutter in which any defective dimensions of a product can be eliminated by detecting the width of a work to be cut, or based on the detection of the width and the weight of the work to be cut, and the cutting efficiency is improved.例文帳に追加

加工すべきワークの幅を検出したり、ワークの幅の検出と重量を基にして製品寸法不良をなくし、かつ加工効率の向上を図るようにした切断方法およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

Error detection using the RS code word of redundant data for error correction is not performed but on the basis of the feature of a 2D code image, a defective code word is estimated as the error position of an encoded block (S1000).例文帳に追加

誤り訂正のための冗長データであるＲＳコードワードを用いた誤り検出を行わず、２次元コード画像の特徴に基づき、不具合のあるコードワードを、符号化されたブロックの誤り位置として推定する（Ｓ１０００）。 - 特許庁

To provide a scanning-probe inspection apparatus which has no limitation to the material of the probes, has a low detection cost, is capable of detecting an anomaly even with a low resistance value of the order of 10 Ω, and is capable of specifying the position of a defective through-hole.例文帳に追加

プローブの材質に制約はなく、検出コストが低いと共に、１０Ω程度の低抵抗値の異常でも、検出することができ、しかも不良スルーホールの箇所の特定が可能である走査型プローブ検査装置を提供する。 - 特許庁

The defective ejection nozzle is judged by a difference between a value of a peak convex in the negative direction on a curve formed when the temperature measured by the temperature sensor is subjected to differentiation of second order with a time, and a threshold value determined on the basis of a detection time of the peak.例文帳に追加

温度センサにより測定された温度を時間で二階微分した曲線における負方向に凸となるピークの値とピークの検出時間に基づいて定められる閾値との差により吐出不良ノズルを判断する。 - 特許庁

To provide a process cartridge constitution in an image forming apparatus which prevents toner deviation therein, prevents defective development and erroneous detection about the remaining amount of waste toner etc., further, prevents the failure due to a change of cartridge attitude and enhances the operability when the cartridge is attached and detached.例文帳に追加

プロセスカートリッジ内のトナーの偏りを防止し、現像不良や廃トナー残量の誤検知を防止する等、カートリッジの姿勢の変化による不具合を防止するとともに、カートリッジ着脱時の操作性を向上させる。 - 特許庁

The difference detection circuit 11 compares two image signals and if the difference is larger than a specified value, a defect judging section 12 judges the chip defective based on the difference signal and the optimal threshold of a threshold register 14.例文帳に追加

差分検出回路１１では、２つの画像信号を比較し、その差が一定以上であるときには、その差分信号としきい値レジスタ１４の最適しきい値とに基づいて、欠陥判定部１２によって欠陥を判定する。 - 特許庁

If a spark is generated between the wiring patterns by voltage application, the spark is detected by a spark detection circuit 7, and the control part 6 determines the circuit board generating the spark to be a defective product without substrate determination based on the insulation resistance.例文帳に追加

電圧印加により配線パターン間にスパークが発生すると、スパーク検出回路７で検出し、制御部６は絶縁抵抗に基づく基板判定をすることなくスパークの発生した回路基板を不良品と判定する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of quickly detecting a defective region on the entire surface of a body to be inspected and reflecting the detection result on processes after the inspection process, and to provide an inspection method.例文帳に追加

本発明は、被検査体全面において短時間で不良領域を検出でき、かつ検出結果を検査工程以降の工程に反映することのできる検査装置及び検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a magnetic card reader and a magnetic card defect detection method capable of detecting that a magnetic card is defective when a folded or cracked magnetic card or a magnetic card to which a deposit adheres is used by a user.例文帳に追加

折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できる磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供する。 - 特許庁

A temperature sensor 12 is provided in the vicinity of a CCD 11, when a measured temperature exceeds a predetermined setting temperature at application or after application of power, a discrimination section 38 transmits an execution signal to a defective pixel detection section 39.例文帳に追加

温度センサ１２をＣＣＤ１１の近傍に設け、判定部３８が電源投入時又は投入後に、測定温度が予め決めた設定温度を超えている場合には、欠陥画素検出部３９に実行信号を送る。 - 特許庁

To provide a circuit board inspection method and device, capable of shortening an inspection time without degrading the detection rate of defective circuit boards by simultaneously carrying out an IC component reverse-mounting inspection and a short circuiting inspection.例文帳に追加

ＩＣ部品逆実装検査とショート検査とを同時に行うことが可能であり、不良回路基板の検出率を低下することなく、検査時間を短縮することのできる回路基板検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The apparatus 100 is an apparatus repairing the color filter 200 constructed by arranging coloring layers 20 on a transparent substrate 12 with a previously determined pattern and is provided with a detection part 8 to detect a defective part 20a of the coloring layers 20 and a discharge part to discharge a black material to the detected defective part 20a using an inkjet head 1.例文帳に追加

透明基板１２上に着色層２０を予め定められたパターンにて配列することによって構成されるカラーフィルタ２００を修復する装置１００であって、前記着色層２０の欠陥部分２０ａを検出する検出部８と、検出された前記欠陥部分２０ａに対してインクジェットヘッド１を用いて黒色材料を吐出する吐出部とを備える。 - 特許庁