「defective detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an indicator for judging the stock removal of a liquid crystal display panel which can simplify stock removal detection when polishing the edge of a unit liquid crystal display panel obtained by cutting each liquid crystal display panel manufactured on a large-sized mother substrate into the individual unit liquid crystal display panel, and to provide a method for detecting defective polishing using the same.例文帳に追加

大面積の母基板上に製作された各液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、単位液晶表示パネルの縁部を研磨するのにおいて、その研磨量検出を単純化し得る液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法を提供しようとする。 - 特許庁

In the imaging apparatus (camera apparatus) employing the imaging element 13 of a CCD type or a CMOS type, a defect detection circuit 24 detects a defect by using a luminance level of the imaging element 13 when a lens 11 is in an out of focus state, a system controller 26 stores an address of the detected defective pixel and the defect is corrected at the address position.例文帳に追加

ＣＣＤ型やＣＭＯＳ型などの撮像素子１３を用いてなる撮像装置（カメラ装置）において、レンズ１１が非合焦状態にあるときの撮像素子１３の輝度レベルを用いて欠陥検出回路２４で欠陥検出を行い、その検出した欠陥画素のアドレスをシステムコントローラ２６内に保持し、そのアドレス位置で欠陥補正を行うようにする。 - 特許庁

Further, a defect is detected by a missing component and/or presence of a defect identification mark for the component mounting region positioned at the defective component detection position, whereby an operation of stamping out the component on the component mounting region is skipped when the region detected as the one including the missing component or the defect identification mark is positioned at the stamping position.例文帳に追加

さらに、不良品検出位置において位置決めされた部品搭載領域に対して、部品の欠損及び／又は不良品識別マークの有無により不良を検出することで、部品欠損あるいは不良品識別マーク有りと検出された部品搭載領域が打ち抜き位置に位置された際に、その部品搭載領域に対する部品打ち抜き動作をスキップさせる。 - 特許庁

A bearing self-diagnostic structure 10 of an angle detector is a fixed structure in an angle detector 6 using ball bearings 8, 9 as bearings, and is composed of a bearing fixing plate 1 on which the bearing 9 is fixed and acceleration sensors 3A, etc. arranged on the bearing fixing plate 1 to perform one-axis detection of vibration generated at the occurrence of defective rotating operation.例文帳に追加

角度検出器の軸受自己診断構造１０は、軸受としてボールベアリング８、９を使用する角度検出器６における一定の構造であって、軸受９の設けられた軸受固定板１と、軸受固定板１上に設けられていて回転動作不良発生時に生じる振動を一軸検出するための加速度センサ３Ａ等とからなる構成とする。 - 特許庁

The fixing device for carrying a sheet on which an unfixed image is formed, while nipping the sheet by a pair of rollers 50, 60, heating the sheet and fixing the unfixed image is provided with a fixing separation claw 54 for abutting against at least one of the rollers 50, 60 and a jam detection sensor lever 55, integrally formed with the fixing separation claw 54 to detect the defective carrying of the sheet.例文帳に追加

未定着画像が形成されたシートを、ローラ対によりニップして搬送するとともに加熱することにより、前記未定着画像を定着する定着装置において、前記ローラ対50，60の少なくとも一方のローラに当接する定着分離爪54と、定着分離爪54と一体的に形成され、シートの搬送不良を検知するためのジャム検知センサレバー55とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The defect detector comprises: XY coordinate transformation means 112 as coordinate transformation means for exciting an epitaxial growth substrate 17 where a compound semiconductor layer is grown epitaxially on a single crystal substrate by applying exciting light from above and then mapping the light emission intensity of photoluminescence over the whole epitaxial growth substrate; and defect detection means 113 for sequentially detecting defective pixels by using the difference between multiple pixels divided into coordinates by the coordinate transformation means 112 and multiple pixels adjacent thereto.例文帳に追加

単結晶基板上に化合物半導体層をエピタキシャル成長させたエピタキシャル成長基板１７の上方より励起光を照射して励起した後に、フォトルミネッセンスによる発光強度のマッピングをエピタキシャル成長基板全体に渡って行う座標変換手段としてのＸＹ座標変換手段１１２と、座標変換手段１１２により座標に分割された複数のピクセルのそれぞれとこれに隣接する複数ピクセルとの差を用いて、欠陥検出すべきピクセルが欠陥ピクセルかどうかを順次検出する欠陥検出手段１１３とを有している。 - 特許庁