「diffusion calculation」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

In the plasma processing equipment having the porous plate 4 installed between a plasma generator 8 and 7 and the substrate 2 to be treated, the shape and arrangement of pores of the porous plate is determined from the calculation of active species distribution and diffusion in the plasma generator, so that the plasma active species may have a desired density and distribution near the substrate.例文帳に追加

プラズマ発生部８、７と被処理基板２との間に多孔板４を設けたプラズマ処理装置において、前記多孔板の孔の形と配置を、基板近傍のプラズマ活性種を所望の密度と分布とするように、プラズマ発生部の活性種分布と拡散計算から決定する。 - 特許庁

The optimum value of the free parameter ε introduced when constituting a calculation scheme in this way, is analytically set as functions of a transport speed, a diffusion coefficient, and local information quantity of temporal-spatial mesh width from the viewpoints of stability and accuracy.例文帳に追加

このように計算スキームを構成する際に導入したフリーパラメータεを、安定性と精度の観点からその最適値を、輸送速度、拡散係数、時間・空間メッシュ幅の局所情報量の関数として、解析的に設定することにより、上記課題を解決するもので、この点に本発明の特徴がある。 - 特許庁

A main scanning error calculation circuit 9 calculates corrected data D9 by calculating accumulated error data D9a on the basis of an error diffusion coefficient corresponding to the color components of the pixel data D8 and error data D10e from the quantization circuit 10 to add the accumulated error data D9a to the pixel data D8 on the basis of the switch control signal S7.例文帳に追加

主走査誤差算出回路９は、切換制御信号Ｓ７に基づいて、画素データＤ８の色成分に対応する誤差拡散係数及び量子化回路１０からの誤差データＤ１０ｅに基づいて累積誤差データＤ９ａを算出して画素データＤ８に加算することにより補正後データＤ９を算出する。 - 特許庁

The residual two sides of the quadrangular region extend in the directions of two pixels 76, 77 out of preceding pixels from a second vertex out of the two vertexes so that all the preceding pixels where the diffusion error is used for calculation of a value for a second pixel 62 located at the second vertex fit in the quadrangular region.例文帳に追加

また、四角形領域の残りの２つの辺は、２つの頂点のうちの第２頂点から、第２頂点に位置する第２画素６２についての値の演算のために拡散誤差が使用される先行画素がすべて四角形領域に入るように、先行画素のうちの２つの画素７６，７７の方向に延びている。 - 特許庁

The delay time calculating device is provided with a resistance capacity specification part 25 which specifies source resistance and diffusion capacity before process fluctuation at the gate as an object of delay time calculation and specifies the wiring resistance and wiring capacity of wiring connected with the gate after the process fluctuation and calculates the delay time of the gate on the basis of the specification contents by the resistance capacity specification part 25.例文帳に追加

遅延時間計算対象のゲートにおけるプロセス変動前のソース抵抗と拡散容量を特定するとともに、そのゲートに接続されている配線のプロセス変動後の配線抵抗と配線容量を特定する抵抗容量特定部２５を設け、その抵抗容量特定部２５による特定内容に基づいて当該ゲートの遅延時間を計算する。 - 特許庁