「evaluation accuracy」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

This evaluation method is used to evaluate misalignment of a bonding which is carried out to bond an integrated circuit chip to a board (multi-chip module, dissimilar integrated circuit chip or the like) in a flip-chip connection manner, where the resistance of a fine wire resistor is evaluated, and an alignment accuracy is obtained resting on a change in resistance.例文帳に追加

本発明では、集積回路チップと基板（マルチチップモジュール、異種の集積回路チップなど）をフリップチップ接続した際のアライメントずれを評価する方法として、細線抵抗の抵抗値を評価することにより、その抵抗値の変化から、アライメント精度を求める。 - 特許庁

To provide a ground coil device with a surface protective layer of a superconducting magnetically levitated railroad, and an evaluation method for positioning accuracy of a protective plate thereof, capable of nondestructively positively verifying a position of the protective plate, made of nonferrous material of the surface protective layer of the ground coil device of the superconducting magnetically levitated railroad.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道の地上コイルの表面保護層の非金属材料からなる保護板の位置を非破壊で確実に確認することができる超電導磁気浮上式鉄道の表面保護層付地上コイル装置及びその位置決め精度評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for comprehensively evaluating the charging performance of toner with high accuracy by measuring the height of a toner layer on a developing roller and the charge amount of the toner that has passed through a roller type regulating member, and to provide a method for producing toner by using the evaluation method.例文帳に追加

ローラ状規制部材を通過した後の現像ローラ上のトナー層の高さおよびそのトナーの電荷量を測定し、トナー帯電能を総合的に、しかも高精度に評価する評価装置、評価方法およびその評価方法を用いたトナーの製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a test piece preparation method that, even when metal plates to be jointed together differ in strengths, is able to evaluate the corrosion resistance of a mating structural part obtained with high accuracy, by jointing the processed metal plates together for use, and to provide a corrosion resistance evaluation method that uses the test piece.例文帳に追加

接合する金属板の強度が異なる場合においても、加工を受けた金属板を接合して用いる場合の合わせ構造部における耐食性を精度良く評価することが可能な試験片の作製方法およびその試験片を用いた耐食性評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method, program and an image evaluation apparatus for extraction of an area of interest which can carry out extraction of the area of interest more speedily and with more accuracy and also carry out extraction of the practical area of interest even in a bult-in environment of a digital still camera or the like.例文帳に追加

より高速な注目領域の抽出を、より高精度に行うことができ、デジタルスチルカメラ等の組み込み環境下においても実用的な注目領域の抽出を行うことが可能な注目領域抽出方法、プログラム、及び、画像評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining an ink-plating amount with property close to an ink plate resulting from existent color decomposition, and to provide a method and apparatus for determining decomposed four primary color components having accuracy sufficient for practical use based on evaluation in accordance with actual how-to-look of colors for human eyes.例文帳に追加

既存の色分解で得られる墨版に近い特性を持った墨版量の決定方法を提供し、実際の人間の色の見え方に沿った評価に基づく、実用上十分な精度を持った分解４原色量を決定する方法および装置を提供する。 - 特許庁

Using the class discriminator candidates generated, it is detected whether or not there is the subject of detection among a group of images for evaluation (S130-S190), and if the detection accuracy thereof is less than a predetermined value (S200:NO), images causing worsening among the group of positive images for learning are replaced with unused positive images.例文帳に追加

その生成されたクラス識別器候補を用いて、評価用画像群から検出対象の有無を検出した結果（Ｓ１３０〜Ｓ１９０）、その検出精度が所定値未満であれば（Ｓ２００：ＮＯ）、学習用ポジティブ画像群中の悪化要因画像を未使用ポジティブ画像と入れ替える。 - 特許庁

To first improve the degree of accuracy for evaluation of a catalyst contained in a catalyst electrode layer, and to second make it easy to evaluate the catalyst contained in the catalyst electrode layer, regarding the catalyst electrode layer included in a fuel battery cell.例文帳に追加

本発明は、触媒電極層に含まれる触媒を評価する精度の向上を図ることを第１の目的とし、燃料電池セルに含まれる触媒電極層について、触媒電極層に含まれる触媒の評価を容易にすることを第２の目的とする。 - 特許庁

Patterns 30 for dense line evaluation are formed in such a way that patterns 31 as length measuring objects are surely included in them, even when detection visual fields 21 are set in any positions in a range 32 decided on the basis of a stage positioning accuracy 22 and the detection visual fields 21 of the length measuring SEM 10 on the substrate.例文帳に追加

基板上の、測長ＳＥＭのステージ位置決め精度２２及び検出視野２１に基づいて決定された範囲３２に、どの位置に検出視野２１が設定されたとしても、その中に必ず被測長物たるパタン３１が含まれるような、密集線評価用パターン３０を形成する。 - 特許庁

To aim at reduction of man-hours by automatic measurement by taking a device capable of conveying a semiconductor chip element after being packaged by an insulating resin into automatic test equipment (ATE) for semiconductor wafer measurement, and to reduce man-hours and to heighten accuracy of electric test evaluation of the semiconductor chip element after being packaged.例文帳に追加

絶縁性樹脂によるパッケージ後の半導体チップ素子を半導体ウェハ測定用の自動試験装置（ＡＴＥ）に搬送できる工夫を取り入れ、自動測定による工数削減を狙うものであり、パッケージ後の半導体チップ素子の電気的試験評価の工数削減及び高精度化を図る。 - 特許庁

To provide a drive method and a driving device for a solid-state image pickup element that can enhance accuracy of defect inspection and function evaluation of received pixels by storing signal charges and providing an output at inspection or the like and can prevent read of the signal charges or inspection from being disabled.例文帳に追加

検査時などに信号電荷の蓄積およびその出力を行って受光画素の欠陥検査や機能評価の精度を向上することができると共に、信号電荷の読み出しや検査を行うことができなくなることを解消することができる固体撮像素子の駆動方法および駆動装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image evaluation chart which can improve accuracy of focus adjustment and efficiency of an adjustment process, a focus deviation direction/amount measuring device of a camera module, a lens position adjusting device of the camera module, a focus adjusting device of the camera module, a pallet for loading the camera module and an adhesive applying device for the camera module.例文帳に追加

ピント調整の精度の向上や調整工程の効率化を図ることができる、画像評価用のチャート、カメラモジュールのピントずれ方向・量測定装置、カメラモジュールのレンズ位置調整装置、カメラモジュールのピント調整装置、カメラモジュール搭載用のパレット、カメラモジュール用接着剤塗付装置を提供すること。 - 特許庁

The subject sight line measuring accuracy evaluation device determines a range in a space occupied by respective objects comprising a structure, which is formed by disposing the plurality of objects, prevents the object displacement to a user, instructs the user to closely observe the object and obtains the object which the user closely observes in response thereto.例文帳に追加

複数の対象物の配置されたものを構成する各対象物の空間中に占める領域を決定して、その対象物配置をユーザに提示して対象物を注視させるように指示し、これに応答して、ユーザが対象物を注視することになるので、その対象物を取得する。 - 特許庁

To provide a reliability evaluation device 10 or the like capable of immediately calculating the reliability of the accuracy of an estimated value based on an output factor of a neural network section 41, for example a residual life estimated value of an oil immersed transformer, even when data out of the range of the data used for modeling the neural network section 41 is input.例文帳に追加

ニューラルネットワーク部４１のモデル化に用いたデータの範囲外のデータが入力された場合でも、ニューラルネットワーク部４１の出力因子に基づく推定値、例えば油入変圧器の余寿命推定値の精度の信頼度を直ちに算出できる信頼度評価装置１０等を提供する。 - 特許庁

To solve the problems that the absence of materials to judge the gaps of the results of the measurement and the evaluation generated by an answer which is far from the present situation due to the misrecognition of the actual health situation or the like in a self inspection method of the health situation by SF-36 or the like makes it difficult to judge the validity and accuracy of the results.例文帳に追加

ＳＦ−３６などによる健康状態の自己点検方法では、実際の健康状態についての誤認識などによる現状と乖離した回答により生じる測定、評価結果のずれを判断する材料がなく、その妥当性や正確性を判断することが困難である、という課題である。 - 特許庁

Since the points to indicate the symbolized answer and the satisfaction level should basically overlap each other on the superimposed axes, the answer matches the present situation and the results of the measurement and the evaluation can be judged to have the validity and the accuracy when both the points overlap each other.例文帳に追加

これは指標化された回答と満足度とを示す点は上記重なった軸においては本来重なり合うべきであるので、その双方の点が重なり合っていればその回答は現状に合った回答であり、したがって測定、評価結果は妥当性、正確性がある判断することができるからである。 - 特許庁

To prevent leakage of a sample and to enhance a kneading accuracy by forming a neck at a rotor and engaging a predetermined circular ring with the neck in a kneading apparatus made by fitting a rotor in a stator to be used for an evaluation of physical properties such as dispersibility, compatibility and the like in the case of developing a polymer blend, filler or the like.例文帳に追加

樹脂組成物を対象とするバッチ式混練装置として、昇降・回転可能な円筒状回転子（ローター）と、これに勘合する円筒状混練容器（ステーター）からなる形式の装置は試料の少量化、金型接続による混練物の直接成形などが可能で利点の多い装置である。 - 特許庁

In addition, time of ultrasonic propagation on each receiving element part 4a-4y is measured by means of a time measuring part 17 and attenuation rates on every receiving element parts 4a-4y are measured by means of an attenuation rate measuring part 19 and evaluation of an object to be tested can be safely and with high accuracy performed by means of an operation averaging part 18.例文帳に追加

また、時間計測部（１７）によって各受信素子部（４ａ〜４ｙ）毎の超音波の伝播時間を計測するとともに、減衰率測定部（１９）によって受信素子部（４ａ〜４ｙ）毎の測定し、演算平均化処理部（１８）によって被検体（Ｈ）の評価を安全で且つ高精度に行う。 - 特許庁

To enable high chromaticity detection accuracy by detecting accurate color information in a display color evaluation method of a display screen, to provide a display device having high color quality by preventing oversight of local irregular colors at the inspection, and to enable total or sampling inspection in a quantity production line by shortening an inspection time greatly.例文帳に追加

表示画面の表示色評価方法において、正確な色情報を検出して高い色度検出精度が得られるようにすること、および、検査時の局所的な色むらの見落としをなくし、色品質の高い表示装置を得ること、さらに、検査時間を大幅に短縮して量産ラインの中で全数又は抜き取りによる検査を可能にすること。 - 特許庁

To improve the electric conductivity of a nanotube probe by reducing the electric resistance of a carbon nanotube and further the electric resistance between a metal substrate and the carbon nanotube, achieve uniform diameters, and improve the measuring accuracy of a measuring apparatus in measuring apparatuses such as an electric conductivity characteristics evaluation apparatus and a probe microscope using a nanotube as a probe.例文帳に追加

ナノチューブを探針として用いた電気伝導特性評価装置・プローブ顕微鏡等の測定装置において、カーボンナノチューブの電気抵抗、さらに金属基材とカーボンナノチューブの間の電気抵抗を低減することにより、ナノチューブ探針の導電性を改善し、かつ一様な径を達成して、測定装置の測定精度を向上することにある。 - 特許庁

To provide a method of evaluating an eccentricity capable of evaluating an eccentricity of a placing position of a substrate with high accuracy and with ease in a high-temperature state where an epitaxial layer grows, and of suppressing increase in cost, and to manufacture an epitaxial wafer capable of improving a film thickness uniformity by correcting the placing position of the substrate depending on the eccentricity evaluated by the evaluation method.例文帳に追加

エピタキシャル層を成長させる際の高温状態で基板の載置位置の偏心量を高精度に簡便に評価でき、コストの増加を抑制できる偏心量の評価方法、及びこの評価方法で評価した偏心量に応じて基板の載置位置を補正することによって、膜厚均一性を向上できるエピタキシャルウェーハを製造することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor characteristic evaluation method and apparatus capable of evaluating a characteristic value of a semiconductor and a characteristic value distribution in an ingot with high accuracy in the ingot state before being sliced like a wafer, performing selective milling including various machining specifications at the stage before slicing, to thereby improve yield in manufacturing a wafer, and quickly performing feedback to a crystal growth process.例文帳に追加

ウエハ状にスライスする前のインゴット状態のままで、半導体の特性値およびインゴット内の特性値分布を高精度に評価し、スライス前の段階で各種の加工仕様を含めた選別スライス加工ができるようにして、ウエハの製造における歩留まりを向上させるとともに、結晶成長プロセスへのフィードバックを迅速に行い得る半導体の特性評価方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a focus evaluation value of appropriate property and to increase AF accuracy and rapidness by changing a low-pass side cut off frequency of an HPF for extracting a signal of high frequency components from a video signal based on the focal distance and the diaphragm value of a photographic lens, in an auto focus system for automatically focusing the photographic lens by introducing a contrast system automatic focusing method.例文帳に追加

コントラスト方式のオートフォーカスにより撮影レンズの自動ピント調整を行うオートフォーカスシステムにおいて、映像信号から高域周波数成分の信号を抽出するＨＰＦの低域側カットオフ周波数を撮影レンズの焦点距離や絞り値に基づいて変更することにより、好適な特性の焦点評価値を取得し、ＡＦの精度や迅速性等の向上を図るオートフォーカスシステムを提供する。 - 特許庁