「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加

２次イオン質量分析装置 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加

二次イオン質量分析装置 - 特許庁

ION SOURCE OF ION ADHESION MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

イオン付着質量分析装置のイオン源 - 特許庁

ION MASS SEPARATION APPARATUS, ION IMPLANTER, AND ION MASS SEPARATION METHOD例文帳に追加

イオン質量分離装置、イオン注入装置、及びイオン質量分離方法 - 特許庁

ION SOURCE FOR MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析計用イオン源 - 特許庁

ION TRAP MASS SPECTROMETRY APPARATUS例文帳に追加

イオントラップ質量分析装置 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析方法 - 特許庁

ION RESONANCE TYPE SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

イオン共振型二次イオン質量分析装置 - 特許庁

ION TRAP MASS SPECTROMETRY AND ION TRAP MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ質量分析方法およびイオントラップ質量分析計 - 特許庁

ION TRAP MASS SPECTROMETRY AND ION TRAP MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ質量分析方法並びにイオントラップ質量分析計 - 特許庁

ION TRAP MASS SPECTROMETRIC METHOD例文帳に追加

イオントラップ質量分析方法 - 特許庁

ION TRAP TYPE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ型質量分析計 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROGRAPH AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

２次イオン質量分析装置及び２次イオン質量分析方法 - 特許庁

SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY METHOD例文帳に追加

２次イオン質量分析方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS SECONDARY ION MASS例文帳に追加

二次イオン質量分析方法および装置 - 特許庁

MASS FILTER FOR ION BEAM AND ION BEAM DEVICE例文帳に追加

イオンビーム用質量フィルタ及びイオンビーム装置 - 特許庁

ION TRAP, MASS SPECTROMETER, ION MOBILITY ANALYZER例文帳に追加

イオントラップ、質量分析計、イオンモビリティ分析計 - 特許庁

ION SOURCE FOR MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析装置用イオン源 - 特許庁

ION ATTACHMENT MASS SPECTROMETRIC DEVICE例文帳に追加

イオン付着質量分析装置 - 特許庁

ION ATTACHMENT MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオン付着質量分析方法 - 特許庁

PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置 - 特許庁

ION TRAP MASS SPECTROSCOPE DEVICE例文帳に追加

イオントラップ型質量分析装置 - 特許庁

LINEAR ION TRAP MASS SPECTROMETER例文帳に追加

リニアイオントラップ質量分析装置 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROGRAPH AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

２次イオン質量分析装置および分析方法 - 特許庁

ION RESONANCE TYPE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオン共振型質量分析計 - 特許庁

MASS SPECTROSCOPE AND ION SOURCE例文帳に追加

質量分析装置及びイオン源 - 特許庁

ION SOURCE AND MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

イオン源および質量分析装置 - 特許庁

ION TRAP TYPE MASS SPECTROMETER AND ION TRAP MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオントラップ型質量分析装置およびイオントラップ質量分析方法 - 特許庁

ION SOURCE, MASS SPECTROMETRIC METHOD, AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオン源、質量分析方法及び質量分析計 - 特許庁

HIGH-PRECISION SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

高精度二次イオン質量分析法 - 特許庁

ION ATTACHMENT MASS SPECTROMETER AND ION ATTACHMENT MASS SPECTROMETRY METHOD THEREOF例文帳に追加

イオン付着質量分析装置及びそのイオン付着質量分析方法 - 特許庁

MASS SPECTROMETER AND ITS ION SOURCE例文帳に追加

質量分析計及びそのイオン源 - 特許庁

ION MASS SEPARATION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

イオン質量分離方法及び装置 - 特許庁

PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROMETER AND ION HOLDING MECHANISM例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置およびイオン保持機構 - 特許庁

ION TRAP, MASS SPECTROMETER, AND ION MOBILITY ANALYZER例文帳に追加

イオントラップ、質量分析計およびイオンモビリティ分析計 - 特許庁

ION DISCHARGING MECHANISM AND ION DEPOSITION MASS SPECTROGRAPH例文帳に追加

イオン放出機構及びイオン付着質量分析装置 - 特許庁

ION SOURCE PART IN MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析計におけるイオン源部 - 特許庁

ION SOURCE POWER SUPPLY FOR MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析装置用イオン源電源 - 特許庁

PRECISE SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

高精度二次イオン質量分析方法 - 特許庁

ION SOURCE, MASS SPECTROSCOPE AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオン源および質量分析装置および質量分析方法 - 特許庁

ION MASS SEPARATION METHOD AND DEVICE, AND ION DOPING DEVICE例文帳に追加

イオン質量分離方法及び装置、並びにイオンドーピング装置 - 特許庁

ION TRAP TOF MASS SPECTROSCOPE AND ION TRAP METHOD例文帳に追加

イオントラップＴＯＦ質量分析装置及びイオントラップ方法 - 特許庁

ION FILTER, MASS SPECTROMETRY SYSTEM, AND ION MOBILITY SPECTROMETER例文帳に追加

イオンフィルタ、質量分析システムおよびイオン移動度分光計 - 特許庁

ION GUIDE DEVICE, ION GUIDE METHOD, AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオンガイド装置、イオン誘導方法、及び、質量分析方法 - 特許庁