「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for ion adhesion mass spectrometry with enhanced measuring sensitivity, by improving efficiency for transporting metal ions to an ion adhering region, by improving efficiency for making the metal ions adhere to a sample gas, and by improving efficiency for transporting adhesion ions to a mass spectrograph, and also to provide an ionizing device and an ionizing method.例文帳に追加

金属イオンの付着領域への輸送効率、金属イオンと試料ガスの付着効率、付着イオンの質量分析器への輸送効率を改善し、測定感度を高めたイオン付着質量分析装置、イオン化装置およびイオン化方法を提供する。 - 特許庁

The present invention provides the method for holding the solid sample for the secondary ion mass analysis, which is capable of easily securing the solid sample to the solid sample holder, in order to accurately measure the fragile solid sample at high reproducibility with a secondary ion mass analyzer.例文帳に追加

本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。 - 特許庁

The ion implanting device is provided with a park electrode 26 as a deflection means which is arranged in a section between an exit of a mass spectrometry electromagnet unit 22 through a bean line in front of a mass spectrometry slit 28 and deflects the ion beam out of a beam line in a predetermined direction.例文帳に追加

質量分析磁石装置２２の出口から質量分析スリット２８手前のビームライン区間に配置されて電界の作用によりイオンビームをビームライン上から外れた所定の向きに偏向させる偏向手段としてパーク電極２６を備える。 - 特許庁

To provide an atmospheric pressure ionization mass spectrograph capable of guiding the ions generated by an atmospheric pressure ion source and introduced into an intermediate exhaust chamber via a guide port into a mass spectrometry section with high passing efficiency over a wide mass range.例文帳に追加

大気圧イオン源で生成され導入口を介して中間排気室に導入されたイオンを、広い質量範囲にわたり、高い通過効率で質量分析部へ導くことのできる大気圧イオン化質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The detection data contained in the total ionic strength corresponding to each peak of the chromatogram are added in each ion of the same mass so as to be arranged in the order of the mass, first added mass spectrums of the respective samples are created, and their difference is compared with each other.例文帳に追加

前記クロマトグラムの各ピークに対応するトータルイオン強度に含まれる前記検出データを同一質量のイオン毎に合算し、質量順に配列して各試料の第１の合算マススペクトルを作成し、その異同を相互に比較する。 - 特許庁

Between a first time-of-flight mass spectrometer and a second time-of-flight mass spectrometer, ion orbits of both time-of-flight mass spectrometers are coupled, and an interface composed of a reflecting place to compress the kinetic energy of the ions is installed.例文帳に追加

第１の飛行時間型質量分析装置と第２の飛行時間型質量分析装置の間に、両飛行時間型質量分析装置のイオン軌道を連結し、イオンの運動エネルギーを圧縮する反射場から成るインターフェイスを設けた。 - 特許庁

A desired ion species is selected by a mass spectrometry slit 118, put into an angle correction apparatus 120, changed into a w_2 width ribbon form ion beam parallel in a horizontal plane (xz plane), and ion implantation is carried out to a workpiece 124 in an end station 122.例文帳に追加

所望のイオン種を質量分析スリット１１８で選別し、角度補正装置１２０に入れ、水平面（ｘｚ面）内で平行な幅w_2のリボン形イオンビームに変換して、エンドステーション１２２内の加工物１２４にイオン注入する。 - 特許庁

In measurement of fragment ion using TOF-SIMS (time-of flight secondary ion mass spectrometry), the ratio I_D/I_T of fragment ion strength I_D originated from the diamide derivative to the total value I_T of all fragment ions to be detected is 0.1×10^-2 to 0.3×10^-2.例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳを用いたフラグメントイオンの測定において、検出されるすべてのフラグメントイオンの強度の合計値Ｉ_Tに対するジアミド誘導体に由来するフラグメントイオン強度Ｉ_Dの比率Ｉ_D／Ｉ_Tが０．１×１０^-2〜０．３×１０^-2である。 - 特許庁

To provide a field-ion microscope for atom probes in which evaporated atomic elements from a sample by application of electric field are always drawn to a mass spectrometry system.例文帳に追加

試料から電界蒸発した原子が常に質量分析系に導かれるアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope equipped with a field desorption ion source capable of controlling an ionizing volume of a sample in a simple method.例文帳に追加

簡単な方法で試料のイオン化量を制御することのできる電界脱離イオン源を備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

A detection section 60 detects the ion pulse passed through the mass spectrometric section 30 and outputs an analog signal corresponding to a detection strength.例文帳に追加

検出部６０は、質量分析部３０を通過したイオンパルスを検出し、検出強度に応じたアナログ信号を出力する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer capable of carrying out a measurement without generating any droplet at the tip of a needle of an ion source.例文帳に追加

イオン源のニードルの先端に液滴を生成させることなしに、測定が可能な質量分析装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an ion guide which can easily be assembled and arranged and has a small diameter, and a mass spectrometer using this.例文帳に追加

組立・調整が容易にでき、しかも小径であるイオンガイドおよびそのようなイオンガイドを用いた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

An ion trap type mass spectrometry portion 14 is used, and a resonance voltage is applied between its end cap electrodes.例文帳に追加

また、イオントラップ型質量分析部１４を用い、そのエンドキャップ電極３０８、３０９の間に共鳴電圧３１０を印加する。 - 特許庁

Ions contained in the plasma generated from the sputter source of HIPIMS are subjected to TOF mass spectroscopy, and distribution of ion generation is detected.例文帳に追加

ＨＩＰＩＭＳのスパッタ源で発生したプラズマに含まれるイオンをＴＯＦ質量分析にかけて、イオンの生成分布を検出する。 - 特許庁

Then, at the analyzing section 20, the ion image of the sample is maintained as it is, and mass separation is performed on the ions of the sample.例文帳に追加

その後、分析部２０では、上記試料の上記試料のイオン像をそのまま維持し、上記試料のイオンの質量分離を行う。 - 特許庁

To provide a method for analyzing impurity profiles to easily perform secondary ion mass spectrometry with high resolution in the depth direction.例文帳に追加

深さ方向の分解能の高い２次イオン質量分析を行うことが容易な不純物プロファイルの分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry device capable of easily forming an ion guide for forming a DC electric field having an inclined potential in axial direction with high precision.例文帳に追加

軸方向に傾斜電位を有する直流電場を形成するためのイオンガイドを容易に且つ高い精度で以て形成する。 - 特許庁

To provide a long-life lithium ion secondary battery suitable for mass productivity, and having a high output characteristic even at low temperatures.例文帳に追加

本発明は、量産性に適しており、低温でも出力特性が高く、長寿命のリチウムイオン二次電池を実現することにある。 - 特許庁

Field-evaporated ions are detected by a position sensing type ion detector 11 or a reflectron type mass analyzer 13 and identified.例文帳に追加

電界蒸発したイオンは、位置感知型イオン検出器１１又はリフレクトロン型質量分析器１３により検出され、同定される。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometer capable of analyzing in the depth direction with high sensitivity as well as high depth-resolution.例文帳に追加

高い深さ分解能と同時に高感度で深さ方向分析を行うことができる二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ion generating device in which ions of large mass can be formed continuously by forming water molecules in lump-like shape to which electrons are bonded.例文帳に追加

電子が結合する水分子を塊状に生成して大質量のイオンを連続して生成できるイオン発生装置を提供する。 - 特許庁

At least two samples are compared, relative to ion intensity corresponding to a retention time and a mass-to-charge ratio obtained as a result of chromatography mass spectrometry of each sample including a plurality of components.例文帳に追加

複数成分が含まれている試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量電荷比に対応するイオン強度について、少なくとも２つの試料を比較する。 - 特許庁

This prevention method comprises applying a treatment agent containing 1 to 95 parts by mass of a corrosive-ion adsorbent (b) with respect to 100 parts by mass of a binder (a), on the surface of the stainless steel so as to be 10 to 200 g/m^2 in solid content terms.例文帳に追加

ステンレス鋼表面に、（ａ）結合剤１００質量部に対し、（ｂ）腐食性イオン吸着剤を、１〜９５質量部含有する処理剤を、固形分換算で１０〜２００ｇ／ｍ^2塗布する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer and a mass spectrometry method having higher sensitivity than a guide method and a peak value recording method, and having no relation with a sampling period, without requiring improvement ion transmittance.例文帳に追加

イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。 - 特許庁

The partial pressure of the specific gas in a gas to be measured is detected by measuring the ion current value corresponding to the mass charge ratio of the specific gas using a quadrupole mass analyzer 10.例文帳に追加

四重極型質量分析計１０を用いて、特定ガスの質量電荷比に対応するイオン電流値を測定することにより、被測定ガス中の前記特定ガスの分圧を検出する方法である。 - 特許庁

To provide a toner for developing an electrostatic charge image, in which the secondary ion intensity value of an ionic functional group derived from a surfactant is ≤30,000 when measured by ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry).例文帳に追加

ＴｏＦ−ＳＩＭＳで測定した界面活性剤由来のイオン性官能基量がｉｎｔｅｎｓｉｔｙ値で３００００以下であることを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁

A w_1 width ribbon form ion beam is pulled out from an ion source 102 and put into a mass spectrometry magnet 110, made divergent in a non-dispersive plane (xz plane), and made convergent in a dispersive plane (xy plane).例文帳に追加

イオン源１０２から幅w_1のリボン形イオンビームを引き出して質量分析磁石１１０に入れ、非分散平面（ｘｚ面）内で発散させ、分散平面（ｘｙ面）内で集束させる。 - 特許庁

A neutral atom of the element contained in the hair is ionized in the ion source 40 by electron beam irradiation or light irradiation, to mass-analyze an ion obtained therein of the element contained in the hair, by the analytical part 50.例文帳に追加

イオン源４０では、毛髪含有元素の中性原子を電子線照射または光照射によってイオン化し、これにより得られる毛髪含有元素のイオンを分析部５０で質量分析する。 - 特許庁

The ratio of lithium fluoride to lithium hydroxide is in a range where a Li_2F^+/Li_2OH^+ peak intensity ratio obtained by a positive ion analysis by a time-of-flight type secondary ion mass spectrometer is set to 1 or more.例文帳に追加

フッ化リチウムと水酸化リチウムとの割合は、飛行時間型二次イオン質量分析装置による正イオン分析で得られるＬｉ_2 Ｆ^+ ／Ｌｉ_2 ＯＨ^+ ピーク強度比が、１以上となる範囲である。 - 特許庁

A magnetic field formation means 11 for superposing a deflection magnetic field is arranged in an electrostatic field of the ion optical system 7 for transporting ions emitted from an ionization chamber 4 being the ion source to the quadrupolar mass filter 9.例文帳に追加

イオン源であるイオン化室４を出発したイオンを四重極質量フィルタ９まで輸送するイオン光学系７の静電場に、偏向磁場を重畳する磁場形成手段１１を配置する。 - 特許庁

To provide an atmospheric pressure plasma ionizing source mass spectrometer which has an ion deflection lens system that has a high ion transmission efficiency and a simple structure, and further, can be controlled easily.例文帳に追加

高いイオン透過効率を有し、かつ簡単な構造であって、しかも簡単に制御することができるイオン偏向レンズ系を有する大気圧プラズマイオン化源質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The refractory for the furnace inner wall containing 95-99.5 mass% refractory main material (constituted of aluminum oxide or magnesium spinel) and 0.5-5 mass% binder externally contains 5-25 wt.% alkali aluminate (RAlO_2; R=potassium, rubidium or cesium) containing an alkali element R having large ion radius as an additive.例文帳に追加

耐火性主材９５〜９９．５ mass％（酸化アルミニウム、またはマグネシアスピネルとから構成される）と結合材０．５〜５ mass％を含む耐火材であって、イオン半径の大なるアルカリ元素Ｒを含むアルミン酸アルカリ（ＲＡｌＯ_２；Ｒ＝カリウム、ルビジウム、セシウム）を外掛けで５〜２５重量％添加材として含む炉内壁用耐火材。 - 特許庁

An ion screening electric field produced in proportion of the product of an ion screening waveform obtained by repetition of a waveform with a fixed magnitude and a constant pattern and a continuously changing magnitude signal waveform is impressed on the ion storage space of this ion storage device, and thereby ions in a range of a specific mass/charge ratio are screened.例文帳に追加

固定振幅で一定パターンの波形の繰り返しによるイオン選別用波形と、連続的に変化する振幅信号波形との積に比例して生成されるイオン選別用電界を、イオン蓄積装置のイオン蓄積空間に印加することにより、特定の質量／電荷比の範囲のイオンを選別する。 - 特許庁

An ion beam 32 which is incident from a main slit 14 is made incident on a main Faraday cup 43, a sub-slit 15 and an auxiliary Faraday cup 53 are formed in an ion current detector 10 for measuring ion current, and after the mass spectrometry analysis of an ion beam 33 incident from the sub-slit 15 is carried out, it is admitted into the auxiliary Faraday cup 53.例文帳に追加

主スリット１４から入射したイオンビーム３２を主ファラディカップ４３に入射させ、イオン電流を測定するイオン電流検出器１０に、副スリット１５と副ファラディカップ５３とを設け、副スリット１５から入射したイオンビーム３３を質量分析した後、副ファラディカップ５３に入射させる。 - 特許庁

This RNA sequence determination method comprises subjecting a sample containing RNA to a Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight mass spectrometer using 2,4-dihydroxyacetophenone as a matrix to obtain a fragment ion group originated from the RNA by ISD and then analyzing the sequence of the RNA on the basis of a mass difference between the ion peaks of the fragment ion group.例文帳に追加

ＲＮＡを含む試料を、２，４−ジヒドロキシアセトフェノンをマトリクスとしたマトリクス支援レーザー脱離イオン化−飛行時間型質量分析に供し、ＩＳＤにより前記ＲＮＡ由来のフラグメントイオン群を得て、前記フラグメントイオン群のイオンのピーク間の質量差に基づいて前記ＲＮＡの配列解析を行う、ＲＮＡ配列決定法。 - 特許庁

The mass spectrograph for halogenated compound comprises an emitter 12 for radiating metal ion, a reaction chamber 20 for introducing a gas to be detected and ionizing the gas by the metal ion, apertures 26, 27, etc., for guiding the molecules of the ionized gas to be detected, and a mass spectrometer 34 for measuring the introduced molecules.例文帳に追加

金属イオンを放出するエミッタ１２と、被検出ガスが導入されかつ金属イオンによって被検出ガスがイオン化される反応室２０と、イオン化された被検出ガスの分子を誘導するアパーチャ２６，２７等と、誘導された分子を測定する質量分析計３４を備える。 - 特許庁

Thus, since the collision-induced dissociation is executed in the multipolar ion collision part, after trapping and selecting the fragment ions subjected to the collision-induced dissociation in the ion trap part, the fragment ions in the low-mass number region can be detected by preventing the produced ions in the low-mass number region from being influenced by cutoff.例文帳に追加

これにより、イオントラップ部で衝突誘起解離したフラグメントイオンを捕捉選択後、多重極のイオン衝突部で衝突誘起解離するので、生成した低質量数域イオンがカットオフの影響を受けず低質量数域のフラグメントイオンの検出が可能になる。 - 特許庁

Mass scanning is made by two different detection modes (molecule ion detection mode, fragment ion detection mode) (S2, S6), chromatogram data A(0) and A(1) are calculated for each detection mode, based on the acquired mass spectrum data (S4, S8), and A(0) and A(1) are added to acquire total chromatogram data At (S9).例文帳に追加

異なる２つの検出モード(分子イオン検出モード、フラグメントイオン検出モード)でそれぞれ質量走査を行い(S2, S6)、得られたマススペクトルデータに基づきそれぞれの検出モード毎にクロマトグラムデータA(0)及びA(1)を算出し(S4, S8)、A(0)とA(1)とを合算して合算クロマトグラムデータAtを得る(S9)。 - 特許庁

A secondary ion detector 6 of the ion nondestructive type is provided over the circumvolant orbit A, and a data processor 9 performs time/frequency conversion through the Fourier transform of the flight time spectrum data based on this detected signal to enable high mass resolution calculation of the mass quantity.例文帳に追加

周回軌道Ａ上にはイオン非破壊型の第２イオン検出器６を設けられ、データ処理部９ではこの検出信号に基づく飛行時間スペクトルデータをフーリエ変換して時間／周波数変換を行うことで、高質量分解能での質量数の算出を可能とする。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer using a digital ion trap which impresses a rectangular wave voltage on a ring electrode in order to form a high frequency electric field for ion trap, in which product ions of low mass generated at the time of MSn analysis can be captured and detected precisely.例文帳に追加

イオン捕捉用の高周波電場をイオントラップ内に形成するためにリング電極に矩形波電圧を印加するデジタルイオントラップを用いた質量分析装置において、ＭＳ^n分析の際に生成される低質量のプロダクトイオンを的確に捕捉し検出可能とする。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry and mass spectrograph for a halogenated compound capable of accurately measuring a fluorinated compound or the like affecting a large influence to a global warming issue by applying a Fujii's positive ion adhering method to the mass spectrometry of a halogenated compound.例文帳に追加

藤井式の正イオン付着法をハロゲン化化合物の質量分析に応用し、地球温暖化に大きな影響を及ぼすフッ化化合物等を正確に測定できるハロゲン化化合物の質量分析方法および質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To prevent an adverse effect of performance deterioration of a focusing lens, a Q-pole type mass spectrograph and an electron amplifier by an inexpensive device constitution without lowering measuring sensitivity when adhesive gas is analyzed mass-spectrometrically by a mass spectrograph with ion.例文帳に追加

イオン付着質量分析装置によって付着性ガス等を質量分析する場合に測定感度を低下させることなく、安価な装置構成で、集束レンズ、Ｑポール型質量分析器、電子増倍管の性能劣化という悪い影響を防止する。 - 特許庁

In the case of MS analysis, a pre-stage quadrupole 3 is driven to perform a mass scan and by applying to an ion guide 5 a DC bias voltage for accelerating ions, the ion selected by the pre-stage quadrupole 3 collides with a CID gas, thereby producing a product ion.例文帳に追加

MS分析時に、質量走査を行うように前段四重極３を駆動するとともに、イオンガイド５にはイオンを加速させる直流バイアス電圧を印加することで、前段四重極３で選択されたイオンをCIDガスに衝突させプロダクトイオンを生成する。 - 特許庁

To provide an ion attachment mass spectroscope which can form a state in which a metal ion attached to a specific molecule such as H_2O is desorbed and the metal ion is attached to a measuring gas only, thus improving the reliability of the measurement of the measuring gas.例文帳に追加

Ｈ_2Ｏなどの特定の分子に付着した金属イオンを脱離させ、被測定ガスのみに金属イオンを付着させた状態を形成することができ、被測定ガスの測定の信頼性を向上させるイオン付着質量分析装置を提供する。 - 特許庁