PP2とは 意味・読み方・使い方

A movable guide member 24c is interposed between the first conveyance path PP1 and the second conveyance path PP2.例文帳に追加

第１搬送経路ＰＰ１と第２搬送経路ＰＰ２の間には、可動ガイド部材２４ｃが介装されている。 - 特許庁

Block definition is performed on an image part PP2 surrounded by the coupled line L2 of the second image P2 shown in (c) and the image part PP2 surrounded by a coupled line L1 at the same position and in the same shape as those of the coupled line L2 of the first image P1 shown in (d).例文帳に追加

（ｃ）に示す第２の画像Ｐ２の結合線Ｌ２で囲まれた画像部分ＰＰ２と、（ｄ）に示す第１の画像Ｐ１の前記結合線Ｌ２と同一位置同一形状の結合線Ｌ１で囲まれた画像部分ＰＰ２とを領域指定する。 - 特許庁

This causes ablation, resulting in emission of plume plasmas PP1 and PP2 from the curved surfaces 51a and 52a, respectively, of the solid targets 51 and 52, respectively.例文帳に追加

これにより、アブレーションが発生し、固体ターゲット５１，５２の湾曲面５１ａ，５２ａからプルームプラズマＰＰ１，ＰＰ２が放出される。 - 特許庁

A push-pull signal is obtained by PP=PP1-k×PP2, where signal PP1 denotes a difference signal between an added signal of P17 and P18 and an added signal of P12 and P11, and signal PP2 denotes a difference signal between an added signal of P13 and P14 and an added signal of P15 and P16.例文帳に追加

Ｐ１７とＰ１８の加算信号と、Ｐ１２とＰ１１の加算信号との差分信号を信号ＰＰ１とし、Ｐ１３とＰ１４の加算信号と、Ｐ１５とＰ１６の加算信号との差分信号を信号ＰＰ２とすると、ＰＰ＝ＰＰ１−ｋ・ＰＰ２の演算によりプッシュプル信号を求める。 - 特許庁

When a difference signal between an addition signal of P17, P18 and an addition signal of P11, P12 is denoted as PP1, and when a difference signal between an addition signal of P13, P14 and an addition signal of P15, P16 is denoted as PP2, a push-pull signal is obtained by calculating CPP=PPI+k×PP2.例文帳に追加

Ｐ１７とＰ１８の加算信号と、Ｐ１１とＰ１２の加算信号との差分信号を信号ＰＰ１とし、Ｐ１３とＰ１４の加算信号と、Ｐ１５とＰ１６の加算信号との差分信号を信号ＰＰ２とすると、ＣＰＰ＝ＰＰ１＋ｋ・ＰＰ２の演算によりプッシュプル信号を求める。 - 特許庁

The collision of the plume plasma PP1 and the plume plasma PP2 results in the production of the substance having the periodic microstructure (e.g. carbon nanotube).例文帳に追加

そして、プルームプラズマＰＰ１とプルームプラズマＰＰ２の衝突により、周期的微細構造を有する物質（例えば、カーボンナノチューブ）が生成される。 - 特許庁

In order to multiplex the different test structures TC1 and TC2 to the pads PP1 and PP2 adjacent to each other depending upon a probe voltage, the test selector is used.例文帳に追加

異なるテスト構造ＴＣ１、ＴＣ２を、プローブ電圧に依存して、隣接するプローブパッドＰＰ１、ＰＰ２に対し多重化するために、テストセレクタが用いられる。 - 特許庁

When the fault computer is found, the process FP searches for a back up computer C5 by using a back up computer searching part PP2 if the process FP is actuated by the computer C2.例文帳に追加

プロセスＦＰは故障した計算機を見つけると、計算機Ｃ２で起動されているならば、予備計算機探索部ＰＰ２を用いて予備計算機Ｃ５を探す。 - 特許庁