TEST1とは 意味・読み方・使い方

A test mode decode & latch circuit 101 decodes an input signal based on a latch signal TMRS to generate a TEST1 signal.例文帳に追加

テストモードデコード＆ラッチ回路１０１は、ラッチ信号ＴＭＲＳに基づいて、入力信号をデコードし、ＴＥＳＴ１信号を発生する。 - 特許庁

An input signal of an input terminal IN and a signal applied to a test signal input terminal test1 are given to the OR circuit 22.例文帳に追加

オア回路２２には、入力端子ＩＮの入力信号とテスト信号入力端子ｔｅｓｔ1 に印加された信号とが入力される。 - 特許庁

A redundant row test activation signal TEST1 and a redundant column test activation signal TEST2 are activated in response to control signals /RAS, /CAS, /WE and address key signals A1-A5.例文帳に追加

制御信号／ＲＡＳ、／ＣＡＳ、／ＷＥ、アドレスキー信号Ａ１〜Ａ５に応答して冗長ロウテスト活性化信号ＴＥＳＴ１、冗長カラムテスト活性化信号／ＴＥＳＴ２が活性化される。 - 特許庁

A latch circuit 105 for latching the TEST1 signal outputted from the test mode decode & latch circuit 101 based on the latch signal TMRS is inserted into the low resistance interconnect portion.例文帳に追加

低抵抗配線部分には、ラッチ信号ＴＭＲＳに基づいて、テストモードデコード＆ラッチ回路１０１が出力するＴＥＳＴ１信号をラッチするラッチ回路１０５が挿入される。 - 特許庁

The data line driving circuit includes a bias circuit (22) for generating the bias signals and supplying the bias signals to the output circuit (21) through bias wiring (23), and a switch provided between the bias circuit (22) and the output circuit (21) for cutting off the bias wiring (23) in response to control signals (TEST1, TEST1B).例文帳に追加

そのデータ線駆動回路は、バイアス信号を生成し、バイアス配線（２３）を介してバイアス信号を出力回路（２１）に供給するバイアス回路（２２）と、バイアス回路（２２）と出力回路（２１）との間に設けられ、制御信号（ＴＥＳＴ１、ＴＥＳＴ１Ｂ）に応答してバイアス配線（２３）を遮断するスイッチを具備する。 - 特許庁

In a state in which a fuse judging signal S1 is high, first judgement is performed by making a test mode signal TEST1 'high', after that, in a state in which the fuse judging signal is 'high', a test mode signal TEST2 is made to be 'low', while second judgement is performed by making the test mode signal TEST2 'low'.例文帳に追加

ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ１をハイとして第１の判定を行い、その後、ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとすると共に、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとして第２の判定を行う。 - 特許庁

The medium is characterized by arranging a plurality of test areas (TEST1-TESTn) for writing on trial by the optical beam and a plurality of power setting information areas (PREC1-PRECn) which are disposed between the respective test areas to record an optimum power setting parameter and equipment identifying information of a recording device which performs writing on trial.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

This medium is arranged with a plurality of test areas (TEST1- TESTn) to which trial write operation is performed by a light beam, and a plurality of power setting information recording areas (PREC1-PRECn), positioned between each of a plurality of these test areas to record an optimal power setting parameter and device identification information for a recording device, to which the trial write operation is performed.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁