AFM tipとは 意味・読み方・使い方

To provide a probe having both functions of the tip of an AFM and an optical probe, and capable of preventing lowering of resolution of an image, when the image is taken in an AFM mode.例文帳に追加

AFMのティップと光プローブの両方の機能を持ち、AFMモードでイメージを取る場合、像の分解能が低下しないプローブを提供する。 - 特許庁

First, the specific surface of an AFM cantilever tip is coated with a shielding film 130.例文帳に追加

まず、ＡＦＭカンチレバーチップの特定の表面を遮光膜１３０で被覆する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

This probe is characterized by being used in common as a cantilever for both an SNOM and the AFM, having an opening having a shorter diameter than a wavelength on a tip 3 part of the cantilever, and having a projection 3-3 for AFM measurement on a prescribed position apart from the opening, which is made from a carbon nanotube.例文帳に追加

SNOMとAFMの共用のカンチレバーであり、 カンチレバーのティップ3部分に波長より短い直径の開口を有し、この開口から所定の位置にAFM測定用の突起[3-3]を有し、この突起[3-3]がカーボンナノチューブであることを特徴とする。 - 特許庁

The combination between the probe and the holder tip shows a clear resonance peak in AFM in the tapping mode.例文帳に追加

プローブとホルダーチップの組み合わせは、タッピングモードのＡＦＭで明瞭な共振ピークを示す。 - 特許庁

Then, the tip of the CNT401 is made close to the sample surface, and the sample surface is AFM-observed in tapping mode.例文帳に追加

その後、ＣＮＴ４０１の先端を試料面に近接させ、タッピングモードによりＡＦＭ観察する。 - 特許庁

The pin retaining layer is extended from the ABS to the tip of the rear edge part of the AFM layer, and brought into contact with the first shield, and a path is provided for passing a detected current to the tunnel joined layer by bypassing the electric insulating AFM layer.例文帳に追加

ピン止め層はＡＢＳからＡＦＭ層の後縁部の先に延び第１のシールドに接触し、検知電流が電気絶縁ＡＦＭ層をバイパスしてトンネル接合層まで流れる経路を与える。 - 特許庁