Circuit testersとは 意味・読み方・使い方

Systems and methods for calibrating the timing of electronic circuit testers and verifying the timing calibration of electronic circuit testers are described.例文帳に追加

電子回路テスタのタイミングを校正し、該電子回路テスタのタイミング校正を検証するためのシステム及び方法を開示する。 - 特許庁

To provide a system for performing timing calibration and timing calibration verification of electronic circuit testers easily.例文帳に追加

電子回路テスタのタイミング校正および校正の検証を容易に行うためのシステムを提供すること。 - 特許庁

A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.例文帳に追加

テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁

In addition, high pin count electronic circuit testers may be calibrated by using a calibration board that is configured to calibrate only one subset of test channels at a time.例文帳に追加

加えて、テストチャネルの部分集合のみを一度に校正するように構成されたキャリブレーションボードを使用することにより、ピン数の多い電子回路テスタでも校正することができる。 - 特許庁

To prevent increase in test time accompanying scale enlargement of a circuit due to realizing individual test designs in a plurality of function circuit blocks (DRAM, logic, or the like) mounted on an LSI formed into one chip and sequentially testing them by using a plurality of testers.例文帳に追加

１チップ化されたＬＳＩに搭載された複数の機能回路ブロック（ＤＲＡＭ，ロジック等）には個別のテスト設計が実現され、テスタを使い分けて順次テストしていたため、回路の規模化に伴ってテスト時間が増大する。 - 特許庁

If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁

To provide a low-cost equipment operation support system supporting an interlock test of a sequence circuit of electric equipment, wherein a plurality of testers is not required to perform construction work of a trial condition on each target site electric test side.例文帳に追加

電気機器のシーケンス回路のインターロック試験を支援するシステムとして、安価なシステムで尚且つ、複数の試験員が各対象現場電気試験側で模擬条件の構築作業を行う必要がなくなる機器操作支援システムを提供する。 - 特許庁