FT-IRとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 フーリエ変換赤外分光法
「FT-IR」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
INFRARED MICROSCOPIC FT-IR DEVICE AND ANALYZING METHOD OF RECORDING MEDIUM例文帳に追加
赤外顕微・FT—IR装置及び記録媒体の分析方法 - 特許庁
The FT-IR measurement is preferably performed by an ATR method.例文帳に追加
好ましくは、FT−IRの測定をATR法により行う。 - 特許庁
In this method, an FT-IR method is preferably used for measuring an infrared absorption spectrum.例文帳に追加
本方法は、赤外吸収スペクトルとしてFT-IR法を使用することが好ましい。 - 特許庁
The infrared absorption pattern of a film to be measured is measured by the FT-IR method.例文帳に追加
そして、FT−IR法により、被測定膜の赤外線吸収パターンを測定する。 - 特許庁
Thus, a nitride film having 3 to 5 NH/SiH (measured by FT-IR) is obtained.例文帳に追加
これにより、NH/SiH比(FT−IRによる測定値)が3〜5の範囲内の窒化膜が得られる。 - 特許庁
A process exhaust gas is sampled and a component thereof is analyzed by a Fourier-transform spectroscope (FT-IR) 26.例文帳に追加
プロセス排気ガスを採取してその成分をフーリエ変換分光器(FT−IR)26により分析する。 - 特許庁
By use of an FT-IR device from IR waveforms prior to hydrogen ions implanted into the semiconductor substrate, the IR waveform of an FZ crystal semiconductor substrate is acquired by a difference spectrum method (an FZ crystal corrected IR waveform prior to implantation of the hydrogen ions).例文帳に追加
FT−IR装置を利用し、半導体基板に水素イオンが注入される前のIR波形からFZ結晶半導体基板のIR波形を差スペクトル法により求める(水素イオン注入前のFZ結晶補正IR波形)。 - 特許庁
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Weblio英和対訳辞書での「FT-IR」の意味 |
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FTIR
Weblio例文辞書での「FT-IR」に類似した例文 |
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ft-ir
the batting order
パタス
uj
a rope
a dot written beside a Japanese character in order to modify the pronunciation
rudds
体育をやる.
「FT-IR」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
To provide a method for producing a monomer for vinylidene fluoride (VDF)-based curable fluoroelastomers having a glass transition temperature of lower than -35°C and an amount of -COF end groups in the polymer of not higher than the sensitivity limit of the method using FT-IR spectroscopy.例文帳に追加
-35℃よりも低いガラス転移温度を有し、FT-IR分光分析を用いる方法で感度限界以下の-COF末端基の量をポリマー中に有する、ビニリデンフルオライド(VDF)をベースとする硬化性フルオロエラストマー用モノマーの製造法を提供する。 - 特許庁
The polycrystalline silicon is characterized by having ≤1.0×10^17 atoms/cm^3 interlattice oxygen concentration measured by the FT-IR method (ASTM F121-79) and ≤3% reduction rate of the solar cell conversion efficiencies when using a polycrystalline silicon wafer as the substrate.例文帳に追加
本発明の多結晶シリコンは、FT−IR法(ASTM F121−79)で測定した格子間酸素濃度が1.0×10^17atoms/cm^3以下であり、該多結晶シリコンウェーハを基板として用いた太陽電池の変換効率の低下率が3%以下であることを特徴とする。 - 特許庁
To provide a method for more simply measuring each of PFC components in an exhaust gas with high reproducibility using FT-IR.例文帳に追加
FT−IRを用いて、排ガス中の各PFC成分をより簡便でかつ再現性良く測定する方法を提供する。 - 特許庁
The dielectric film has the dielectric powder, and the reflection spectrum of FT-IR at 30 cm^-1 is 30% or higher.例文帳に追加
誘電体膜は、この誘電体粉末を有し、かつFT−IRの30cm^−1における反射スペクトルが30%以上である。 - 特許庁
An incident angle θ of infrared rays to the prism is scanned, and a spectrum of infrared rays totally reflected by the sample surface is analyzed by the FT-IR device.例文帳に追加
プリズムに対する赤外光の入射角度θをスキャンし、サンプル表面で全反射した赤外光のスペクトルをFT−IR装置で解析する。 - 特許庁
The surface of rare earth system magnetic powder is measured by using an infrared spectroscopical(FT-IR) method, and rare earth system magnetic powder is provided as for the FT-IR spectrum in which siloxane bond is formed in a bonding condition that the peak top rate of 3100 to 2800cm^-1:1200 to 1000cm^-1 is 1:100 to 1:1.例文帳に追加
希土類系磁性粉末の表面を赤外分光(FT−IR)法を用いて測定し、該FT−IRスペクトルにおいて、3100〜2800cm^−1:1200〜1000cm^−1のピークトップ比が、1:100〜1:1の結合状態であるシロキサン結合が形成されている希土類系磁性粉末。 - 特許庁
To provide an optoelectronic device for infrared spectrum analysis mountable in a sample chamber of a widely-used FT-IR (fourier transform infrared) spectrometer, and to provide an optoelectronic image magnifying system.例文帳に追加
汎用のFT−IR分光計の試料室内に装着できる赤外スペクトル分析用光電子装置および光電子工学的像拡大システムを提供する。 - 特許庁
This insulating resin composition comprises (A) a thermoplastic resin and (B) an inorganic filler having an absorption peak within the wavelength range of 900-1,300 cm^-1 in the IR spectra by FT-IR (Fourier transformation infrared spectrophotometer).例文帳に追加
絶縁性樹脂組成物は、(A)熱可塑性樹脂と、(B)FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)による赤外線吸収スペクトルにおいて波数900〜1300cm^−1の範囲内に吸収ピークを持つ無機充填剤を含有する。 - 特許庁
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