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GAS3の意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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GAS3とは 意味・読み方・使い方

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遺伝子名称シソーラスでの「GAS3」の意味

GAS3

human遺伝子名GAS3
同義語(エイリアス)peripheral myelin protein 22; GAS-3; CMT1E; Peripheral myelin protein 22; CMT1A; PMP-22; MGC20769; HMSNIA; HNPP; PMP22; Sp110
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:Q01453
EntrezGeneのIDEntrezGene:5376
その他のDBのIDHGNC:9118
mouse遺伝子名GAS3
同義語(エイリアス)Peripheral myelin protein 22; PMP-22; Tr; Growth-arrest-specific protein 3; HNPP; Pmp-22; Gas-3; peripheral myelin protein; Pmp22; trembler
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:P16646
EntrezGeneのIDEntrezGene:18858
その他のDBのIDMGI:97631
rat遺伝子名Gas-3
同義語(エイリアス)peripheral myelin protein 22; CD25 protein; SAG; Peripheral myelin protein; Schwann cell membrane glycoprotein; Peripheral myelin protein 22; Cd25; PMP-22; SR13 myelin protein; Pmp-22; Pmp22
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:P25094
EntrezGeneのIDEntrezGene:24660
その他のDBのIDRGD:3359
yeast遺伝子名GAS3
同義語(エイリアス)Glycolipid-anchored surface protein 3 precursor; YMR215W; YM8261.09
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:Q03655
EntrezGeneのIDEntrezGene:855255
その他のDBのIDSGD:S000004828

本文中に表示されているデータベースの説明

SWISS-PROT
スイスバイオインフォマティクス研究所欧州バイオインフォマティクス研究所によって開発運営されているタンパク質アミノ酸配列データベース
EntrezGene
NCBIによって運営されている遺伝子データベース染色体上の位置配列発現構造機能、ホモロジーデータなどが含まれている
HGNC
HUGO遺伝子命名法委員会により運営されるヒト遺伝子に関するデータベース
MGI
様々なプロジェクトによる研究マウス遺伝的生物学的なデータを提供するデータベース
RGD
ウィスコンシン医科大学により運営されるラット遺伝子ゲノム情報データベース
SGD
スタンフォード大学医学部運営されている出芽酵母の一種Saccharomyces cerevisiae生態遺伝子情報に関するデータベース

「GAS3」を含む例文一覧

該当件数 : 5



例文

The GAS3 is the gas including carbon atom, for instance, C_2H_2.例文帳に追加

GAS3はカーボン原子を含むガス、例えばC_2H_2である。 - 特許庁

The gas GAS3 includes silicon atoms and is, for example, Si_2H_6.例文帳に追加

GAS3はシリコン原子を含み、例えばSi2H6である。 - 特許庁

The processing gases GAS1 to GAS3 are used in the step of processing the wafers 200.例文帳に追加

ウェハ200を処理する工程では、処理ガスGAS1〜GAS3を用いる。 - 特許庁

The wafers 200 are processed by supplying a plurality processing gases GAS1 to GAS3 from gas introducing tubes 241a to 241c into the processing chamber 201.例文帳に追加

ガス導入管241a〜241cから処理室201内に複数種の処理ガスGAS1〜GAS3を供給してウェハ200を処理する。 - 特許庁

例文

A first silicon film including phosphorus atoms is formed on wafers 200 by supplying at least gasses GAS1 and GAS2 to the wafers 200, and then, the reaction chamber is set to a lower temperature and a second silicon film including no impurity atoms or having an impurity concentration lower than that of the first silicon film is formed on at least the first silicon film by supplying at least the gas GAS3.例文帳に追加

ウェーハ200に対して少なくともGAS1とGAS2とを供給して、ウェーハ200にリン原子を含む第一シリコン膜を成膜し、その後、反応室を低温化させ、少なくともGAS3を供給して、少なくとも第一シリコン膜上に不純物原子を含まないか、または第一シリコン膜よりも不純物濃度が低い第二シリコン膜を成膜する。 - 特許庁

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