H scanとは 意味・読み方・使い方

A control signal SG becomes in an active state (H level) only for a prescribed time in scan driving periods of respective horizontal scanning periods to make the switch 22 to be in an ON state.例文帳に追加

制御信号ＳＧは、各水平走査期間の走査駆動期間中の所定時間だけアクティブ状態（Ｈレベル）となって、スイッチ２２をオン状態にする。 - 特許庁

Consequently, when one beam β deviates from the object range H during a deflecting operation for one scan by the polygon mirror 4, the object range H is scanned with the other beam α, so the object range H can continuously be scanned.例文帳に追加

これにより、ポリゴンミラー４によって偏向される一走査分の偏向動作中で一方ビームβが走査対象範囲Ｈから外れるときに他方のビームαが走査対象範囲Ｈ内で走査されるので、走査対象範囲Ｈを連続的に走査させることができる。 - 特許庁

In the case of displaying a pixel 100 in black, if a first data line 114A is set to an H level and a second data line 114B is set to an L level when a scan line 112 is at an H level, a TFT 131 is turned on and a TFT 132 is turned off.例文帳に追加

画素１００を黒の表示にする場合、走査線１１２がＨレベルである時に第１データ線１１４ＡをＨレベル、第２データ線１１４ＢをＬレベルにすると、ＴＦＴ１３１はオンとなり、ＴＦＴ１３２はオフとなる。 - 特許庁

In the case of displaying the pixel 100 in white, if the first data line 114A is set to an L level and the second data line 114B is set to an H level when the scan line 112 is at an H level, the TFT 131 is turned off and the TFT 132 is turned on.例文帳に追加

画素１００を白の表示にする場合、走査線１１２がＨレベルである時に第１データ線１１４ＡをＬレベル、第２データ線１１４ＢをＨレベルにすると、ＴＦＴ１３１はオフとなり、ＴＦＴ１３２はオンとなる。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン１１に‘Ｈ’レベルの信号Ａを入力して内部回路１２をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路１３により内部ピン１４ａを経由してセル１４の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路１２に印加してＩＤＤＱテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁

The horizontal scan period H includes a data output period, and the data output period includes selection periods from first to a-th corresponding to each of the a pieces of data lines blocked.例文帳に追加

水平走査期間Ｈはデータ出力期間を含み、当該データ出力期間は、前記ブロック化されたａ本のデータ線の各々に対応した第１〜第ａ番目の選択期間を含む。 - 特許庁

An electro-optical device 100 includes data lines 16 blocked in each of a pieces of data lines, pixel circuits U arranged in response to each intersection with scan lines 120, selection parts MP arranged in response to blocks, and a drive circuit 20 for driving each pixel circuit U in a cycle of horizontal scan period H.例文帳に追加

電気光学装置１００は、ａ本毎にブロック化されたデータ線１６と、走査線１２０との各交差に対応して配置された画素回路Ｕと、ブロックに対応して配置される選択部ＭPと、各画素回路Ｕを水平走査期間Ｈの周期で駆動する駆動回路２０とを備える。 - 特許庁

A gradation potential VDATA is supplied to each signal line 14 in a time-division manner in a period h1 within a unit period H[i], and also, the scan line 12 is selected in a period h2 after a lapse of the period h1.例文帳に追加

単位期間Ｈ[i]内の期間ｈ1にて各信号線１４に時分割で階調電位ＶDATAを供給するとともに期間ｈ1の経過後の期間ｈ2にて走査線１２を選択する。 - 特許庁