LSSDとは 意味・読み方・使い方

MICROCOMPUTER, AND LSSD SCANNING TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

マイクロコンピュータ及びそのＬＳＳＤスキャンテスト方法 - 特許庁

LSSD is a kind of scan design which uses separate system and scan clocks to distinguish between normal and test mode.発音を聞く 例文帳に追加

LSSDはスキャン設計の一種であり、正常モードとテストモードとを区別するのにシステムクロックとスキャンクロックを別々に使う。 - コンピューター用語辞典

To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.例文帳に追加

ＬＳＳＤスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト（実動作テスト、At speed test）を実現する。 - 特許庁

The gating signal thus causes the power gating circuit to enable electrical current to reach the LSSD latch circuits.例文帳に追加

従って、ゲート信号は、電力ゲート回路に、電流がＬＳＳＤラッチ回路に到達することを可能にさせる。 - 特許庁

To debug by reading or rewriting contents of an arbitrary register in an SoC by an an LSSD scan test.例文帳に追加

ＬＳＳＤスキャンテストによりＳｏＣ内部の任意のレジスタの内容を読み取り、あるいは書き換えて、デバッグを実現する。 - 特許庁

The gating signal thus causes the power gating circuit to prevent the electrical current from reaching particular logic circuits (e.g., scan logic) within the LSSD latch circuits, thereby conserving power within the ASIC by preventing current leakage and heat generation in the LSSD latch circuit.例文帳に追加

従って、ゲート信号は、電力ゲート回路に、電流がＬＳＳＤラッチ回路内の特定の論理回路（例えば、スキャン論理）に到達するのを防止させ、それにより、ＬＳＳＤラッチ回路内の漏電電流及び発熱を防ぐことによってＡＳＩＣ内の電力を節約する。 - 特許庁

A method of preventing current leakage in logic circuits within level sensitive scan design (LSSD) latch circuits in an application specific integrated circuit (ASIC) 100 is provided.例文帳に追加

特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）におけるレベル・センシティブ・スキャン設計（ＬＳＳＤ）ラッチ回路内部の論理回路内の漏電電流を防ぐ方法を提供する。 - 特許庁