LFSRとは 意味・読み方・使い方

The method as the means for processing the test response is applicable to not only an LFSR but also an MISR being intended to widely use.例文帳に追加

テスト応答処理手段として、ＬＦＳＲだけでなく、広く使用されようとしているＭＩＳＲにも適用可能である。 - 特許庁

In a method for generating PN series, an expanded pseudo noise series 10 is generated from two or more pseudo noise series by using an LFSR(linear feedback shift resistor) or another device of this kind.例文帳に追加

２つ以上の疑似雑音系列から、ＬＦＳＲまたは他のこのようなデバイスを用いて、拡大疑似雑音系列（１０）を発生する。 - 特許庁

In this stereoscopic vision device, an ultrasonic wave generator 4 generates an ultrasonic wave having an amplitude modulated according to a PN code from LFSR 11, and irradiates an object 6 therewith.例文帳に追加

この立体視装置では、超音波発生器４は、ＬＦＳＲ１１からのＰＮ符号に従って振幅変調された超音波を生成して対象物６に照射する。 - 特許庁

Accordingly the LFSR 100 can output the test pattern in consideration of matching with log_24 a test pattern automatically generated from ATPG by a smaller number of clocks.例文帳に追加

これにより、ＬＦＳＲ１００は、ＡＴＰＧから自動生成されたテストパターンとのマッチングを考慮したテストパターンを、より少ないクロック数で出力することができる。 - 特許庁

The frequency divider dynamically adjust the divisor of the LFSR component to overcome limitations in the divide resolution due to the series combination of dividers, giving even and odd divisor values.例文帳に追加

周波数分割器は、ＬＦＳＲコンポーネントの除数を動的に調整して、分割器の直列組み合わせによる分割解像度の制限を克服し、偶数および奇数の除数値を与える。 - 特許庁

LFSR 100 also includes a phase changing circuit capable of arbitrarily changing phases of the test pattern by entering a controlling signal having a maximum clock number 4 and average clock number log_24.例文帳に追加

また、ＬＦＳＲ１００には、最大クロック数４、平均クロック数ｌｏｇ_2４の制御信号の入力により、テストパターンの任意の位相変更をおこなうことができる位相変更回路が形成されている。 - 特許庁

A correlator 15 compares the phase of the electric signal generated by each of the plurality of unit capacitors with the phase of the PN code from the LFSR 11, and outputs a correlation value DATA corresponding to the comparison result.例文帳に追加

相関器１５は、複数の単位キャパシタの各々によって生成された電気信号の位相とＬＦＳＲ１２からのＰＮ符号の位相とを比較し、比較結果に応じて相関値ＤＡＴＡを出力する。 - 特許庁

The CDB processor may execute a plurality of data manipulation operations such as hashing, HMAC, fill pattern, LFSR, EEDP inspection, and EEDP generation while the data are led through the DMA controller.例文帳に追加

データがＤＭＡコントローラを通して導かれる間に、例えばハッシング、ＨＭＡＣ、フィルパターン、ＬＦＳＲ、ＥＥＤＰ検査、ＥＥＤＰ生成などの複数のデータ操作オペレーションをデータ上で同時に実行してもよい。 - 特許庁