non-destructive evaluationとは 意味・読み方・使い方

To provide a standardized measurement technique which can perform a direct evaluation of a thickness of an organic paint film using a non-destructive method.例文帳に追加

非破壊式方法を使用し有機塗膜の厚さを直接評価することが可能な標準化された測定技術を提供する。 - 特許庁

In the steel structure having the evaluation electrodes, the protectivity of the rust formed on the surface thereof can be easily evaluated in a non-destructive manner.例文帳に追加

また、この評価用電極を有する鋼構造物では、その表面に形成されたさびの保護性を非破壊的にかつ容易に評価することができる。 - 特許庁

NON-DESTRUCTIVE EVALUATION METHOD OF FRESHNESS OF PERISHABLE FISHES AND SHELLFISHES, ANIMAL MEAT OR POULTRY MEAT, ESTIMATION METHOD OF NUMBER OF EDIBLE RESIDUAL DAYS OF PERISHABLE FISHES AND KIT例文帳に追加

生鮮魚介類、獣肉または家禽肉の鮮度の非破壊的評価法、生鮮魚類の生可食残存日数の推定方法およびキット - 特許庁

To provide a method for non-contact and non-destructive evaluation of a multilayer coating film that measures and analyzes an internal structure and an internal defect of a multilayer coating film, non-destructively and easily without contacting, and a device using the same.例文帳に追加

複層塗膜の内部構造及び内部欠陥を、非接触非破壊且つ簡便に測定、解析することができる複層塗膜の非接触非破壊評価方法及びそれを用いた装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a crystallizability evaluation device of a polysilicon thin film capable of evaluating the crystal state of a polysilicon (p-Si) thin film sample with high precision in a non-destructive and non-contact state in a short time and capable of further evaluating the crystal state of a local region.例文帳に追加

ポリシリコン（ｐ−Ｓｉ）薄膜試料の結晶状態を、非破壊及び非接触で、かつ短時間で、かつ高精度で評価でき、さらに、局所領域の結晶状態を評価できること。 - 特許庁

To provide a scale thickness measuring apparatus which achieves a non-destructive evaluation of the thicknesses of scales deposited on the internal surface of an inspection object without cutting work or the like of the inspection object.例文帳に追加

被検査体の切断作業等を行わずに非破壊的に、被検査体内面に付着したスケールの厚さを評価できるスケール厚さ測定装置を提供することにある。 - 特許庁

To enhance the performance of a semiconductor manufacturing line by performing the evaluation of the region, of which the element composition is different from that of a substrate, present in or on the substrate in a non-destructive manner with high precision in a short time.例文帳に追加

基板中および基板上に存在する、基板とは元素組成が異なる領域の評価を、非破壊、高精度、短時間で行うことにより、半導体製造ラインの高性能化を計る。 - 特許庁

To provide an evaluation device capable of evaluating the initial state of a contactless IC tag such as an IC card and a product using them before they are mounted on the product, and precisely performing non-destructive performance evaluation after mount comparatively easily and inexpensively, and to provide an evaluation method using the evaluation device.例文帳に追加

ＩＣカードをはじめとする非接触型ＩＣタグおよびそれらを用いた製品について、製品に実装される前の初期状態だけでなく、実装後に、更には非破壊での正確な性能評価を行うに当たり、比較的容易かつ安価にそれを可能とする評価装置と、それを用いた評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁