operation defectとは 意味・読み方・使い方

The comparison and determination part 7 compares the defect probability of the semiconductor integrated circuit chip with the prescribed defect rate, and determines as an operation timing quality product when the defect probability is lower than the prescribed defect rate, and determines as an operation timing defective product, when the defect probability is higher.例文帳に追加

比較判定部７は、半導体集積回路チップの不良確率を所定の不良率と比較し、所定の不良率よりも低ければ動作タイミング良品と判定し、高ければ動作タイミング不良品と判定する。 - 特許庁

Therein, an excess defect part is immersed in a defect removal accelerator 4, thereby, the chemical dissolution operation acts between the defect removal accelerator 4 and the excess defect 3, while the operation is acting, the machine grinding by pressing the probe 1 against the excess defect is performed, whereby the working operation can be accelerated.例文帳に追加

この時余剰欠陥部分が欠陥除去促進剤４に浸るようにすることで、除去促進剤４と余剰欠陥３との間に化学的溶解作用が働いている中、探針１を押しつけることによる機械研磨を併用させることにより、加工作用を増速させることができる。 - 特許庁

As a result of the operation, there could possibly some memory defect.例文帳に追加

《手術によって 記憶障害などが 出てくる可能性もあります》 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a press apparatus where the generation of forming defect based on operation defect is prevented, and to provide a method for controlling the same.例文帳に追加

操作不良に基づく成形不良の発生を防止するプレス装置とその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detecting circuit which can detect, with high accuracy, defect existing in timing at which operation of an optical disk apparatus is switched from recording operation to reproducing operation or from reproducing operation to recording operation.例文帳に追加

光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へ切り替わるタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能なディフェクト検出回路を提供する。 - 特許庁

To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.例文帳に追加

ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁

The defect detection and correction part executes at least either of operation for selecting a prescribed defect detection mode from among a plurality of the defect detection modes and operation for selecting a prescribed defect correction mode from among a plurality of the defect correction modes on the basis of mode switching conditions after acquiring the mode switching conditions for switching at least either of the defect detection modes and the defect correction modes.例文帳に追加

欠陥検出モード及び欠陥修正モードの少なくとも一方を切換えるためのモード切換条件を取得して、モード切換条件に基づいて、複数の欠陥検出モードから所定の欠陥検出モードを選択することと、複数の欠陥修正モード中から所定の欠陥修正モードを選択することの少なくとも一方を行う。 - 特許庁