spring testerとは 意味・読み方・使い方

This probe device for connecting the connector of the inspection object 100 having a circuit and the connector 104 to be connected to the circuit, to the terminal of the tester for inspecting the circuit operation of the inspection object is equipped with a spring probe 31 to be in contact with the connector.例文帳に追加

回路及び回路に接続されるコネクタ104を有する被検査物100のコネクタと、被検査物の回路の動作を検査するテスタの端子と、を接続するプローブ装置であって、コネクタに接触するスプリングプローブ31を備える。 - 特許庁

A drop tester is equipped with a rebounding preventing means 5 and arranged so as to prevent the rebounding of the test object W by grasping the test object, which collides with the landing surface 6f in a free dropping state to spring up, in the air by the rebounding preventing means.例文帳に追加

落下試験装置は、リバウンド防止手段５を備えており、自由落下状態で着地面６ｆに衝突して跳ね上がった試験対象物Ｗをリバウンド防止手段にて空中で把持することによりリバウンドを防止できるようにしている。 - 特許庁

The molding has <2% permanent compression set prescribed by JIS-K 6301 and 20-50 hardness by using a spring type hardness tester A prescribed by JIS-K 6301.例文帳に追加

］を混合し反応させて得られる熱硬化性ポリウレタンエラストマー成形品であって、ＪＩＳ Ｋ ６３０１で規定される圧縮永久歪みが２％未満、かつＪＩＳ Ｋ ６３０１で規定されるスプリング式硬さ試験機のＡ型による硬度が２０〜５０である熱硬化性ポリウレタンエラストマー成形品。 - 特許庁

The materials which are ≤70° in JIS A hardness (the hardness by the A-shaped spring type hardness tester stipulated in JIS K 6301) and is ≤50 μm in the variation of thicknesses (the difference between the maximum value and minimum value in one sheet of the buffer material) are used as the buffer materials 31 and 32.例文帳に追加

特には、緩衝材３１，３２として、ＪＩＳ Ａ硬さ（ＪＩＳ Ｋ ６３０１に規定するＡ形スプリング式硬さ試験機による硬さ）が７０度以下であって、厚みのバラツキ（一枚の緩衝材中での最大値と最小値との差）が５０μｍ以下であるものを用いる。 - 特許庁

The backing material for the piezoelectric vibrator for an acoustic wave measuring instrument is composed of a rubber compound material which has hardness from A70 in a type-A durometer to D70 in a type-D durometer in JIS K6253 compliant spring hardness tester (durometer hardness), and in which the specific gravity is from 1.21 to 7.0.例文帳に追加

本発明は、ＪＩＳ Ｋ６２５３に準拠したスプリング硬さ試験機（デュロメータ硬さ）におけるタイプＡデュロメータでＡ７０からタイプＤデュロメータでＤ７０までの硬さを有し、且つ比重が１．２１〜７．０であるゴム系複合材料から成る超音波測定機器用の圧電振動子用バッキング材に関する。 - 特許庁

The probe 10 for a semiconductor device comprises a double- conical test pin 1 to contact a semiconductor wafer, a lead pin arm 2 for rotatably supporting the test pin 1 and electrically connecting to the test pin 1, a frame 3 for turnably supporting the lead pin arm 2 with a spring 4 and a lead wire 5 for electrically connecting the lead pin arm 2 to a tester.例文帳に追加

半導体ウェーハに接触させるそろばん珠形状のテストピン１と、テストピン１を回転自在に支持するとともに、テストピン１と電気的接続をとるためのリードピンアーム２と、リードピンアーム２を回動自在に支持するフレーム３およびバネ４と、リードピンアーム２とテスター装置との電気的接続をとるためのリード線５と、からなる半導体用プローブ１０。 - 特許庁