tPI testとは 意味・読み方・使い方

A method for designing a semiconductor integrated circuit is based on a TPI (Test Point Insertion) method.例文帳に追加

本発明によれば、ＴＰＩ（Test Point Insertion）手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁

According to the present invention, a design method for semiconductor integrated circuit based on TPI (test point insertion) technique is provided.例文帳に追加

本発明によれば、ＴＰＩ手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁

In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加

ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁

The test circuit TC includes a transmission buffer TXB for test to accumulate transmission data signals from a test input terminal TPI at a frequency CF2 lower than at the frequency CF1, and a reception buffer RXB for test to output the reception data signals to a test output terminal TPO at the frequency CF3 lower than at the frequency CF1.例文帳に追加

テスト回路ＴＣは、テスト入力端子ＴＰＩからの送信データ信号をＣＦ１よりも遅い周波数ＣＦ２で蓄積するテスト用送信バッファＴＸＢと、受信データ信号をＣＦ１よりも遅い周波数ＣＦ３でテスト出力端子ＴＰＯに出力するテスト用受信バッファＲＸＢを含む。 - 特許庁