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test eventとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 試験事象
「test event」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 93件
EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
イベント型半導体テストシステム - 特許庁
The radiation test comprises Single Event Upset, Single Event Latch-up, Micro Latch-up, and Gate Rupture Test.例文帳に追加
放射線試験は、シングルイベントアップセット(ＳＥＵ：Single Event Upset)、シングルイベントラッチアップ(ＳＥＬ：Single Event Latch-up)、マイクロラッチアップ(Micro Latch-up)、およびゲートラプチャ−テスト(Gate Rupture Test)を含む。 - 特許庁
(Example: Accidental event, a non-GLP test result, etc.)例文帳に追加
（例：事故事例や非 GLP 試験結果など） - 経済産業省
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「test event」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 93件
EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
イベント型半導体テスト装置およびイベント型半導体テスト方法 - 特許庁
TEST AND MEASUREMENT DEVICE AND EVENT RETRIEVAL METHOD例文帳に追加
試験測定装置及びイベント検索方法 - 特許庁
TEST INTERFACE FOR SOFTWARE-BASED SEQUENCE OF EVENT RECORDING SYSTEMS例文帳に追加
ソフトウェアベースのイベント列記録システムためのテストインタフェース - 特許庁
TRANSLATOR TOOL AND METHOD FOR CONVERTING TEST DATA ON EVENT BASE INTO TEST DATA ON CYCLE BASE例文帳に追加
イベントベースの試験データをサイクルベースの試験データに変換するトランスレータツール及び方法 - 特許庁
To provide an event type test system reducing size of memory by compressing and storing event data for generating an event to be used for a test of a tested semiconductor device (DUT).例文帳に追加
被試験半導体デバイス（ＤＵＴ）の試験に使用するイベントを生成するためのイベントデータを圧縮して格納することによりメモリのサイズを減少させるイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁
To perform a fault processing test even concerning a secondary event after a primary event is generated.例文帳に追加
１次事象が発生した後の２次事象についても障害処理試験を行うことができるようにする。 - 特許庁
In the event of the mode of the handheld device 102 being changed from the test mode to the non-test mode, the handheld device 102 generates a non-test mode signal.例文帳に追加
携帯装置１０２のモードがテストモードから非テストモードへ変更される場合、携帯装置１０２は非テストモード信号を生成する。 - 特許庁
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