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test linesとは 意味・読み方・使い方
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「test lines」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 235件
In a test mode, the dummy word lines are turned on/off selectively instead of work lines.例文帳に追加
テストモードでは、ワード線に代わりダミーワード線が選択的にオン／オフされる。 - 特許庁
To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.例文帳に追加
ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁
A test data voltage is applied to the data lines through a data pad.例文帳に追加
データパッド部は、データラインに検査用データ電圧を印加する。 - 特許庁
To provide a portable universal type line test device that can easily test lines even when many numbers of the lines of test objects exist, and can conduct the test in a short time.例文帳に追加
試験対象となる回線数が多い場合でも、回線試験が容易で、試験に要する時間が短い携帯可能なユニバーサル型回線試験器を提供することを課題とする。 - 特許庁
To increase the number of word lines to be simultaneously started in a stress test.例文帳に追加
ストレステストにおいて同時に立ち上げるワード線の本数を増やす。 - 特許庁
To enable shortening a test time for word lines and bit lines even in a memory having a large capacity.例文帳に追加
大容量化するメモリに対してもワード線やビット線に対する検査時間の短縮を可能にする。 - 特許庁
Memory cells for test between bit lines 6 and 7 have the same structure as the memory cell 3 for test.例文帳に追加
ビット線６，７間のテスト用のメモリセルは全てテスト用のメモリセル３と同様の構造となっている。 - 特許庁
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「test lines」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 235件
Based on a test mode signal TEST inputted during a test mode, the decoder 5 activates all the drivers 4 and the decoder 6 selects prescribed word lines among the word lines connected to the drivers 4.例文帳に追加
テストモード時に入力されるテストモード信号TESTに基づいてメインワードデコーダ５は全てのワードドライバ４を活性化させるとともにサブワードデコーダ６はワードドライバ４に接続するワード線のうち所定のワード線を選択する。 - 特許庁
Memory power supply lines (MVDLa, MVDLb) are disconnected from a power supply node by using switch gates (15a, 15b) in a test operation, Voltages of the memory power supply lines are detected using detection holding circuits (16a, 16b).例文帳に追加
メモリ電源線（ＭＶＤＬａ，ＭＶＤＬｂ）を、スイッチゲート（１５ａ，１５ｂ）により、テスト動作時電源ノードから切離す。 - 特許庁
To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.例文帳に追加
ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁
To perform a test so that plural word lines are not select in a same block.例文帳に追加
同一ブロック内で複数のワード線が選択されないようにテストを行う。 - 特許庁
In the test mode, address lines on the upper side are output to a data line, for example.例文帳に追加
テストモードにおいては、例えばアドレス線の上位側をデータ線に出力する。 - 特許庁
The test print includes a plurality of sets of horizontal stripe test patterns comprising a plurality of horizontal lines extending in a main scanning direction formed by laser scanning exposure and a plurality of sets of vertical stripe test patterns comprising a plurality of vertical lines extending in a sub scanning direction formed by laser scanning exposure, wherein the horizontal stripe test patterns and the vertical stripe test patterns are alternately arranged.例文帳に追加
レーザ走査露光によって形成される主走査方向に延びる複数本の横ラインからなる横縞テストパターンと、レーザ走査露光によって形成される副走査方向に延びる複数本の縦ラインからなる縦縞テストパターンとが互いに複数組配置されているテストプリント。 - 特許庁
When the test pads 8, 9 are arranged apart from the transmission lines 4, 7, between the test pads 8, 9 and the transmission lines 4, 7 is connected through branch transmission lines 10, 11 whose transmission delay time is a (a≤Ls-Lt).例文帳に追加
テストパッド８，９を伝送線路４，７から離して配置する場合は、テストパッド８，９と伝送線路４，７との間を、伝送遅延時間がａ（ａ≦Ｌｓ−Ｌｔ）である分岐伝送線路１０，１１を介して接続する。 - 特許庁
Prior to the start of a breaking elongation test to the test piece, after measuring a distance between reference lines attached to the test piece as an initial inter-reference-line distance L0 (step S1), the breaking elongation test to the test piece is executed (step S2).例文帳に追加
試験片Ｓに対する破断伸び試験の開始に先立って該試験片に付された標線間の距離を初期標線間距離Ｌoとして計測した後（ステップＳ１）、試験片に対する破断伸び試験を実行する（ステップＳ２）。 - 特許庁
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