x-ray polarizationとは 意味・読み方・使い方

The film thickness of the oxide film is instantiated by an elliptic polarization analytical method or an X-ray photoelectron spectroscopy.例文帳に追加

前記酸化膜の膜厚は楕円偏光解析法またはＸ線光電子分光法が例示される。 - 特許庁

To obtain an X-ray inspection apparatus capable of avoiding the lowering of a detection capacity by eliminating the problem of polarization on the assumption of the use of a direct conversion type X-ray sensor.例文帳に追加

直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、分極の問題を解消して検出性能の低下を回避し得る、Ｘ線検査装置を得る。 - 特許庁

The ceramic sintered compact has a perovskite structure, wherein a (002)/(200) ratio by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.0 and a half-value width of (002) by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.2.例文帳に追加

ペロブスカイト型構造を有するセラミックス焼結体であって、分極を施した後のＸ線回折による（００２）／（２００）比が１．０以上であり、又分極を施した後のＸ線回折による（００２）の半値幅が１．２以上である焼結体。 - 特許庁

To obtain an X-ray inspection device capable of properly dealing with the lowering problem of a detection capacity caused by polarization without stopping the operation of a production line on the assumption that a direct conversion type X-ray sensor is used.例文帳に追加

直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、Ｘ線検査装置を得る。 - 特許庁

To obtain an X-ray inspection apparatus capable of properly coping with the lowering problem of a detection capacity caused by polarization without stopping the operation of a manufacturing line on the assumption of the use of a direct conversion type X-ray sensor.例文帳に追加

直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、Ｘ線検査装置を得る。 - 特許庁

To obtain an article inspection device avoiding the lowering of inspection precision caused by polarization without stopping the application of bias voltage to an X-ray conversion film.例文帳に追加

Ｘ線変換膜へのバイアス電圧の印加を停止することなく、分極に起因する検査精度の低下を回避し得る、物品検査装置を得る。 - 特許庁

In this method, the structure factor tensor can be determined without using the ellipsometric crystal, by measuring and analyzing incidence polarization dependency of scattered X-ray intensity from a sample.例文帳に追加

試料からの散乱Ｘ線強度の入射偏光依存性を測定・解析することで、偏光解析結晶を使用することなく構造因子テンソルを決定する方法。 - 特許庁