yield predictionとは 意味・読み方・使い方

A yield is calculated using a monthly fatal defect density in the period when a yield prediction subject lot of prediction subject products is processed.例文帳に追加

予測対象製品の歩留り予測対象ロットが処理された時期の月別致命欠陥密度を用いて歩留りを算出する。 - 特許庁

To make the prediction of a crop yield of a field crop, especially a short-term prediction of crop yield of the field crop.例文帳に追加

本発明の目的は、農作物の収穫量の予測、とりわけ、農作物の収穫量の短期予測を正確に行うことにある。 - 特許庁

In this case, the foreign matter generation state is estimated so that the actual yield of a specific product may match a prediction yield, thereby improving the yield prediction accuracy for the other products.例文帳に追加

この際、特定の製品の実績歩留りと予測歩留りとが一致するように、製造ラインの異物発生状況を推定することで、他の製品に対しての歩留り予測精度を向上させる。 - 特許庁

To achieve an improved method for product yield prediction of an integrated circuit product.例文帳に追加

集積回路製品の歩留まり予測のための改良型の方法を実現する。 - 特許庁

To provide a yield prediction system that predicts a yield with high precision using manufacture data measured through sampling inspection on intermediate products.例文帳に追加

中間製品に対する抜き取り検査にて測定した製造データを用いて歩留まりを高精度で予測する歩留まり予測システムを提供する。 - 特許庁

Products having a problem in which the actual yield has not reached the prediction yield are extracted, and defective rate peculiar to the products such as characteristic factors in the problematic products is estimated.例文帳に追加

実績歩留りが予測歩留りに到達していない問題製品を抽出して、その問題製品における特性起因などの製品固有の不良率を推定する。 - 特許庁

To execute an accurate defect fatalness evaluation, a yield prediction and a fault position specification in an in-line defect checking step.例文帳に追加

インラインの欠陥検査工程において、高精度な欠陥致命性評価、歩留まり予測、故障個所特定を行うこと。 - 特許庁

Further, the yield prediction system 11 is equipped with a defective sense area calculator 50 which calculates defective sense area from the pieces 41 to 46 of yield factor information; and a predicted yield value calculator 60 which acquires yield factor information corresponding to a chip from the factor information management 40, and calculates the predicted yield value according to the yield factor information and effective sense area.例文帳に追加

更に、歩留り予測システム１１は、歩留り要因情報４１〜４６から欠陥感知面積を算出する欠陥感知面積算出部５０と、チップに対応する歩留り要因情報を管理部４０から取得し、該歩留り要因情報と欠陥感知面積により予測歩留り値を算出する予測歩留り値算出部６０とを備えた。 - 特許庁