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alignment ruleとは 意味・読み方・使い方
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「alignment rule」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
To provide a slide rule for wheel alignment, capable of simply finding the outside diameter of a tire, whereby a tow angle can be converted to a tow distance.例文帳に追加
タイヤ外径を簡単に求めることができ、それによりト−角度をト−距離に変換できるようにしたホイ−ルアラインメント用計算尺を提供する。 - 特許庁
To improve an alignment margin between a plug of a lower layer and a plug of an upper layer without relaxing a layout rule in a semiconductor integrated circuit device having a stacked via structure.例文帳に追加
スタックトビア構造を有する半導体集積回路装置において、レイアウトルールを緩和することなく下層のプラグと上層のプラグとの合わせマージンを向上する。 - 特許庁
A memory stores at least one set of positions of substrate alignment marks or overlay metering targets can be used for selection, and a selection rule for selecting an appropriate substrate alignment mark or overlay metering target from the at least one set.例文帳に追加
メモリは、選択に使用可能な１つまたは複数のセットの基板アラインメントマークまたはオーバレイ計量目標の位置と、この少なくとも１つのセットから適切な基板アラインメントマークまたはオーバレイ計量目標を選択する選択規則とを記憶する。 - 特許庁
An attribute name, an attribute value and an attribute alignment of the attribute selected in step S101 are converted to the attribute name, the attribute value and the attribute alignment of a tabular drawing displayed by the drawing electronic data FC in reference to the conversion rule 182 to generate intermediate data FE (S102).例文帳に追加
変換ルール１８２を参照して、ステップＳ１０１により選択した属性の属性名、属性値及び属性配列を、図面電子データＦＣが表示する表形式の図面の属性名、属性値及び属性配列に変換した中間データＦＥを生成する（Ｓ１０２）。 - 特許庁
The selection rule is based on at least one of experimental and theoretical pieces of knowledge for optimizing the position of the substrate alignment mark or the overlay metering target according to at least one selection standard.例文帳に追加
選択規則は、１つまたは複数の選択基準に基づいて基板アラインメントマークまたはオーバレイ計量目標の位置が最適になる実験的および理論的知識のうち少なくとも１つに基づく。 - 特許庁
To provide a structure for fixing carrier of a measuring rule, capable of fixing the carrier at an attachment face using simple method and permitting defined positioning and alignment of the carrier.例文帳に追加
本発明の課題は、担持体が簡単な方法で取付け面で固定することができ、かつ担持体の明確な位置決めと整向を可能にする、測定尺の担持体を固定するための構造体を提供することにある。 - 特許庁
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「alignment rule」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
The metadata transfer apparatus 20 for transferring metadata over a communication network has a metadata accumulating part 203 for accumulating metadata provided from a metadata providing device 10; a rule accumulating part 205 for accumulating metadata alignment rules for aligning the metadata accumulated; an alignment part 202 for aligning the accumulated metadata according to the metadata alignment rules; and a communication part 208 for communicating the metadata aligned.例文帳に追加
通信ネットワークにおいてメタデータを転送するメタデータ転送装置（２０）は、メタデータ提供装置（１０）から提供されたメタデータを蓄積するメタデータ蓄積部（２０３）と、蓄積されたメタデータを整列するメタデータ整列規則を蓄積する規則蓄積部（２０５）と、蓄積されたメタデータをメタデータ整列規則に基づいて整列する整列部（２０２）と、整列されたメタデータを通信する通信部（２０８）とを有する。 - 特許庁
In a method for calculating an electric or magnetic field on different points from the electric or magnetic field sampled inside an opening 3, sampling points are aligned complying with an alignment rule having a non- translational symmetry.例文帳に追加
開口３内でサンプリングされた電場あるいは磁場から、異なる地点の電場あるいは磁場を計算する方法において、サンプリング点は、非並進対称性を持つ配列規則に従って配列されている電磁場シミュレーション法。 - 特許庁
To provide an electrooptical device of high definition and of high display quality by changing a rubbing direction to control alignment of an electrooptical substance such as liquid crystal molecules to transfer a disclination generating region and using a design rule of transparent electrodes corresponding thereto, in the electrooptical device.例文帳に追加
本発明は、電気光学装置において、電気光学物質、例えば、液晶分子の配向を制御するラビング方向を変更することにより、ディスクリネーションの発生領域を移動させ、それに対応した透明電極の設計ルールを用いることにより、高精細かつ表示品位の高い電気光学装置を提供するものである。 - 特許庁
On the basis of the amplitude component data of image data inputted from an image input unit 2100 and alignment information for detecting the geometrical transform of an image inputted from a registration rule input unit 2305, an embedding pattern generated in an envelope ring pattern generator 2111 is embedded into the amplitude component data.例文帳に追加
画像入力手段２１００から入力された画像データの振幅成分データと、レジストレーション規則入力手段２３０５から入力された画像の幾何変換を検知するための位置合わせ情報とに基づいて、包絡線リングパターン生成手段２１１１において生成された埋め込みパターンが振幅成分データに埋め込まれる。 - 特許庁
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