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back defectsとは 意味・読み方・使い方
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「back defects」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 56件
To prevent defects generated on a back side of a surface improvement area.例文帳に追加
表面改質領域の背面の欠陥を防止する。 - 特許庁
To prevent defects generated on a back side of a surface improvement area.例文帳に追加
表面改質領域の背面に発生する欠陥を防止する。 - 特許庁
if there are any defects you should send it back to the manufacturer発音を聞く 例文帳に追加
もし欠陥があれば、製造業者にそれを送り返すべきである - 日本語WordNet
To provide a system which uses back-body radiation to detect the defects of covering objects.例文帳に追加
黒体発光を用いて、被覆された対象物の欠陥を検出する。 - 特許庁
To form a fluorescent surface with a metal back in a superior yield which has an excellent adhesiveness between the fluorescent material layer and the metal back layer, and which is superior in breakdown voltage characteristics without defects in the metal back layer.例文帳に追加
蛍光体層とメタルバック層との密着性が良く、かつメタルバック層の欠陥がなく耐圧特性に優れたメタルバック付き蛍光面を歩留り良く形成する。 - 特許庁
The defect-determining part 52 determines that there are the defects on the back face R, an intermediate part I or the back face H, when the captured image is an abnormal image including the defect Df, Dr, Di on the front face H, the back face R or the intermediate part I and the defects appear at one, two or three locations.例文帳に追加
欠陥判断部５２は、取り入れた画像が表面Ｈ、裏面Ｒ及び中間Ｉの欠陥Df,Dr,Diの何れかを含む異常画像であるときに、これが一ヶ所、二カ所又は三ヶ所に出たときにそれぞれＲ、Ｉ又はＨに欠陥があると判断する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an embedded diffusion silicon epitaxial wafer with no defects on the main back surface of a silicon monocrystalline substrate.例文帳に追加
シリコン単結晶基板の主裏面に欠陥がない埋込拡散シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁
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「back defects」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 56件
To use a simply constituted apparatus and discriminate defects on a surface and a back face and in the interior of a glass plate, such as a liquid crystal panel.例文帳に追加
簡単な構成の装置で液晶パネル等のガラス板の表面、裏面及び内部の欠陥を判別する。 - 特許庁
To reliably inspect the defects of the front and back surfaces and edge part of a strip of sheet with a small reflection factor.例文帳に追加
反射率の低い帯状シートの表面、裏面およびエッジ部の欠陥を高い信頼性のもとに検査できるようにする。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing absorbent articles in which indicator coating irregularity is hard to occur, and back sheets do not have defects.例文帳に追加
インジケータの塗工むらが生じ難く、バックシートに欠陥が生じていない吸収性物品の製造方法を提供する。 - 特許庁
To dissolve molding defects due to a back surface cloth in a pad for a seat constituted so as to embed an air bag device.例文帳に追加
エアバッグ装置が埋設されるように構成されたシート用パッドにおいて、裏面布に起因する成形不良を解消する。 - 特許庁
To provide a device capable of correctly discriminating the front and back of the button and defects even when there is no clear rudgedness or characteristic shape on the front and back of the button.例文帳に追加
ボタンの表裏にはっきりした凹凸や特徴的な形状が存在しなくてもボタンの表裏および欠損を正確に判別して分離することができる装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a new nondestructive measuring apparatus utilizing an electromagnetic induction phenomenon for precise and high-sensitivity measurement of defects on the back surfaces of metals.例文帳に追加
金属の裏面欠陥の高精度・高感度計測のため、電磁誘導現象を利用した新しい非破壊計測装置の提供 - 特許庁
To provide a polishing method of a semiconductor wafer capable of maintaining the back quality of the semiconductor wafer and reducing defects by polishing.例文帳に追加
半導体ウェハの裏面品質を維持できかつ研磨による欠陥を低減できる半導体ウェハの研磨方法を提供すること。 - 特許庁
This method for correcting luminescent spot defects is provided with a process of mounting a back light BL on the rear face side of a liquid crystal panel LCP and a process for emitting laser beams LB to luminescent spot defects included in the liquid crystal panel LCP from an image display side of the liquid crystal panel LCP after mounting the back light BL.例文帳に追加
本輝点欠陥の修正方法は、液晶パネルＬＣＰの裏面側にバックライトＢＬを取り付ける工程と、バックライトＢＬの取り付け後に、液晶パネルＬＣＰの画像表示側から、液晶パネルＬＣＰに含まれる輝点欠陥にレーザ光ＬＢを照射する工程とを備える。 - 特許庁
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