common defectとは 意味・読み方・使い方

To detect an open pin defect even if an input signal is used in common.例文帳に追加

入力信号を共通化した場合でも、オープンピン不良を検出すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING MASK COMMON DEFECTS, AND METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND ELIMINATING MASK COMMON DEFECT CHIPS例文帳に追加

マスク共通欠陥判定の方法および装置ならびにマスク共通欠陥チップ測定除外の方法および装置 - 特許庁

To provide an antireflection film detector capable of easily detecting a common defect of low contrast occurring in an antireflection film at a certain cycle, and furthermore, identifying a cause of the common defect.例文帳に追加

反射防止フィルムに一定周期で発生する低コントラストの共通欠陥を容易に検出し、更に共通欠陥の発生原因を同定可能な反射防止フィルム検出装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the overlook of a common defect in a die comparison system and a post-process due to double counting of the defect existing in a reference image after inspection and realize an efficient inspection.例文帳に追加

ダイ比較方式の共通欠陥の見逃し、及び参照画像に存在する欠陥のダブルカウントによる検査後処理を軽減し、効率的な検査を実現する。 - 特許庁

To provide a common mode noise filter in which the occurrence of an insulation defect is suppressed.例文帳に追加

本発明は、絶縁不良が発生するのを抑制できるコモンモードノイズフィルタを提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide technique for determining which of a defect of user facilities and a defect of common carrier facilities is causes fault, for example, disables communication, when ONU loop-back test is to be conducted.例文帳に追加

ONUループバック試験を実施するにあたり、通信不能等の故障時にユーザ設備の不良か通信事業者設備の不良かの切り分けができるようにする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device having such an excellent feature that a problem of a bright point defect due to an electric short circuit between a display electrode and a common electrode on an array substrate to be used for the liquid crystal display device is solved to turn the bright defect to a dark defect.例文帳に追加

液晶表示装置に用いられるアレー基板における表示電極と共通電極との電気的短絡による明点欠陥を解決し、暗点欠陥にできる優れた特徴をもつ液晶表示装置、およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for dispensing with gain adjustment of each camera by enabling stable inspection in common threshold setting in a plurality of different imaging systems.例文帳に追加

異なる複数の撮像系において、共通の閾値設定で安定した検査ができ、各カメラでのゲイン調整を不要とした欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁