defect processとは 意味・読み方・使い方

PROCESS AND PRINTER WITH MASKING OF DEFECT例文帳に追加

欠陥をマスクすることを備える方法およびプリンタ - 特許庁

DEFECT ANALYSIS SYSTEM, RECORDING MEDIUM, DEFECT ANALYZING METHOD AND PROCESS CONTROLLING METHOD例文帳に追加

欠陥解析システム、記録媒体、欠陥解析方法、及び工程管理方法 - 特許庁

An irregular defect is detected in image data wherein the point/strain defect is repaired in the point/strain defect repair process ST200 (irregular defect detection process ST300).例文帳に追加

点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００にて点欠陥・シミ欠陥が修補された画像データにおいてムラ欠陥を検出する（ムラ欠陥検出工程ＳＴ３００）。 - 特許庁

In a semiconductor evaluating method 100, a defect condition detecting process 110, a defect position specifying process 120 and a defect factor analyzing process 130 are successively executed.例文帳に追加

半導体評価方法１００では，不良状況検出工程１１０と欠陥位置特定工程１２０と不良原因解析工程１３０とが順次実施される。 - 特許庁

PROCESS FOR IDENTIFYING DEFECT DISTRIBUTION IN SILICON SINGLE CRYSTAL INGOT例文帳に追加

シリコン単結晶インゴットの欠陥分布の識別方法 - 特許庁

a defect in a product resulting from an error in the manufacturing process発音を聞く 例文帳に追加

製造工程のミスに起因する商品の欠陥 - EDR日英対訳辞書

The method for handling the defect of the hard disk drive comprises a process of detecting a potential defect which can develop to a defect in the future and a process of alternating the potential defect to an alternate area.例文帳に追加

将来に欠陥に発展できる潜在的欠陥を検出する過程，及び潜在的欠陥を代替領域に代替する過程を含む欠陥処理方法である。 - 特許庁

DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCT MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

半導体製品製造工程における欠陥解析方法 - 特許庁