end of line testとは 意味・読み方・使い方

In this frame relay line test method, a test packet generated by an identification code, a sequence number, and test data by a different pattern is outputted to one end line 2a test data of this output packet and the sequence number are stored.例文帳に追加

試験用パケットであることを示す識別コード、シーケンス番号、異なるパターンの試験用データによって生成した試験用パケットを一方の末端回線２ａに出力するとともに、この出力パケットの試験用データとシーケンス番号とを記憶する。 - 特許庁

The center monitoring device and the line remote end monitoring device have test circuits transferring a test signal with opposite devices through the telephone lines and detecting the fault of the telephone line.例文帳に追加

また、センター監視装置及び回線遠端監視装置はそれぞれ、各電話回線を介して対向する装置との間で試験信号を授受し、電話回線の障害を検出可能な試験回路を有する。 - 特許庁

Only in such a memory cell 3 for test, the floating gate 18 is connected in the direction of a bit line by a ground gate line 10, the ground gate line 10 is grounded at its end part.例文帳に追加

このようなテスト用のメモリセル３においてのみ、フローティングゲート１８が接地ゲート線１０によってビット線方向に接続され、接地ゲート線１０はその端部で接地されている。 - 特許庁

An inkjet image forming device records a test pattern 901 composed of a plurality of lines running along a nozzle array, at least one end positions of the lines being shifted in increments of one unit amount, using a first line recording head 202.例文帳に追加

第１のライン記録ヘッド２０２で、少なくとも一端の位置が単位量ずつ変化する、ノズル列に沿った複数のラインからなるテストパターン９０１を記録する。 - 特許庁

To provide an in-band ringer by which a loopback test compensating a line loss from both the in-band ringer and an opposite in-band ringer can be executed and that can optically set the execution and the end of the loopback test.例文帳に追加

対向するインバンドリンガー双方から線路損失を補償した折り返し試験が実施出来、折り返し試験の実施、終了を任意に設定できるインバンドリンガーを提供することを目的とする。 - 特許庁

In addition to a 1st loop back point that loops back the test data as they are at a remote end of a speech line, a 2nd loop back point and a 3rd loop back point are provided in a high efficiency code CODEC 4.例文帳に追加

通話路の遠端において試験データをそのまま折り返す第１折り返しポイントの他に、高能率符号ＣＯＤＥＣ４内に第２折り返しポイントと第３折り返しポイントを設ける。 - 特許庁

The serial data TMcodeSD are inputted to a serial-parallel converter circuit 26 adjacent to test code latch circuits 23A,..., 23F distributively arranged on a semiconductor chip via a very long single serial data line 27 extending from the end to the other end of the semiconductor chip.例文帳に追加

シリアルデータＴＭｃｏｄｅＳＤは、半導体チップの端から端まで延びる非常に長い１本のシリアルデータ線２７を経由して、半導体チップ上に分散配置されたテストコードラッチ回路２３Ａ，・・・２３Ｆに近接するシリアル・パラレル変換回路２６に入力される。 - 特許庁

One end of a power source line for each memory cell arranged in the direction of row of a memory cell group arranged in a matrix state is connected to two first and second power source supply ends each independent of the other through two switching means on-off-controlled by inverse logic based on a test mode switching signal for switching a test mode or a normal mode.例文帳に追加

マトリックス状に配置されたメモリセル群の行方向に配列された各々のメモリセル用電源線の一端は、テストモードと通常モードを切り替えるためのテストモード切替信号に基づき互いに反転論理でオン／オフ制御される２つのスイッチング手段を介してそれぞれ独立した２つの第１と第２の電源供給端に接続する。 - 特許庁