fault detection testとは 意味・読み方・使い方

Then the access server 6 reads and analyzes the fault information from the fault management database 8 and instructs a test detection circuit 7 for testing a subscriber line to perform a test according to the result of analysis.例文帳に追加

次に、故障情報を故障管理データベース８から読み出して分析し、分析結果に従って、加入者回線の試験を行う試験装置７へ試験実施の指示を行う。 - 特許庁

To shorten a fault monitoring time and to shorten monitoring intervals, and not to disturb speech communication during a test by automating fault monitoring of emergency telephones and improving precision of fault detection.例文帳に追加

非常電話の故障監視を自動化して、故障検出の精度を上げ、故障監視時間の短縮と監視間隔の短縮化すると共に、試験時において通話を妨げない。 - 特許庁

A fault detection rate calculation part 7 computes data indicating fault detectability in each combined circuit block with the input values input and determines external detectability of fault points included in the fault detectability data to calculate a fault detection rate 5 of a test pattern 3 for the test object logic circuit 2.例文帳に追加

故障検出率算出部７では、その入力値が入力される各組合せ回路ブロックにおける故障検出性を示すデータを求め、その故障検出性データに含まれる故障個所についての外部検出可能性を判断することにより、テスト対象論理回路２に対するテストパターン３の故障検出率５を算出する。 - 特許庁

The detection rate of a delay fault by a test circuit adopting a scan test method can be thus improved in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

これにより、スキャンテスト方式を採用するテスト回路を用いた半導体集積回路の遅延性故障の検出率を向上させることができる。 - 特許庁

This automatic diagnostic system 1 is provided with a fault detection unit 10 for detecting an individual fault and a test unit 13 for testing the cause of the individual fault concerning a network element 3N where the individual fault occurs.例文帳に追加

自動診断システム１は、個別的障害を検出するための障害検出ユニット１０と、個別的障害が発生したネットワーク・エレメント３−Ｎに関して個別的障害の原因を試験するための試験ユニット１３とを備えている。 - 特許庁

The test circuitry can be designed, to provide a high degree of fault detection range for the corresponding product circuitry generally, substantially without relating to the amount of silicon region that is required by the test circuitry.例文帳に追加

テスト回路は、該テスト回路により必要とされるシリコン領域の量にほぼ関係なく、対応する製品回路に関して高度の欠陥検出範囲を提供するよう設計可能である。 - 特許庁

To improve LSI quality by facilitating generation of a test pattern between a plurality of clock domains, and by improving a detection rate of a delay fault between the clock domains.例文帳に追加

複数のクロックドメイン間のテストパターンの生成の容易化およびクロックドメイン間の遅延故障の検出率の向上を図ることにより、ＬＳＩの品質向上を図ること。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁