in process testとは 意味・読み方・使い方

A test signal generating circuit 11 generates a test signal in a process of waveform adjustment.例文帳に追加

テスト信号発生回路１１は、波形調整の過程において、テスト信号を発生させる。 - 特許庁

First, a combination test confirmation extraction process 102 retrieves and extracts a process matching an input combination test confirmation process from program test patterns in a file 106.例文帳に追加

まず、組み合わせテスト確認抽出処理102は、入力された組み合わせテスト確認処理と一致する処理を、ファイル106内のプログラムテストパターンから検索・抽出する。 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND SOFTWARE FOR EVALUATING ADJUSTMENT FACTOR IN TEST PROCESS OR MONITOR PROCESS例文帳に追加

試験プロセス又は監視プロセスにおいて調整因子を評価する方法、システム及びソフトウェア - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

To obtain a wafer marking device being used in semiconductor wafer test process.例文帳に追加

半導体ウエハテスト工程にて使用されるウエハマーキング装置を得る。 - 特許庁