Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
RU2189007C2 - Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании - Google Patents
[go: Go Back, main page]

RU2189007C2 - Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании - Google Patents

Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании Download PDF

Info

Publication number
RU2189007C2
RU2189007C2 RU99127414/28A RU99127414A RU2189007C2 RU 2189007 C2 RU2189007 C2 RU 2189007C2 RU 99127414/28 A RU99127414/28 A RU 99127414/28A RU 99127414 A RU99127414 A RU 99127414A RU 2189007 C2 RU2189007 C2 RU 2189007C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
thickness
frequency
dielectric coating
oscillator
reference sample
Prior art date
Application number
RU99127414/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU99127414A (ru
Inventor
С.Е. Лантарев
В.Г. Саиткулов
Original Assignee
Казанский государственный технический университет им. А.Н.Туполева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Казанский государственный технический университет им. А.Н.Туполева filed Critical Казанский государственный технический университет им. А.Н.Туполева
Priority to RU99127414/28A priority Critical patent/RU2189007C2/ru
Publication of RU99127414A publication Critical patent/RU99127414A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2189007C2 publication Critical patent/RU2189007C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

Способ относится к измерительной технике и может быть использован для измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании. Вихретоковый преобразователь устанавливают на ту сторону эталонного образца, на которой покрытие отсутствует, и измеряют частоту автогенератора. Затем преобразователь устанавливают на ту сторону эталонного образца, на которой нанесено покрытие заданной толщины, и вновь измеряют частоту автогенератора. После этого преобразователь отводят от эталонного образца и других проводящих предметов на расстояние, превышающее диаметр преобразователя не менее чем в пять раз, и измеряют частоту автогенератора. По измеренным значениям частот и толщине покрытия эталонного образца вычисляют коэффициенты аппроксимирующей кривой. Толщину покрытия исследуемого образца определяют по аппроксимирующей кривой и значению частоты автогенератора. В описании приведены зависимости для определения коэффициентов аппроксимирующей кривой и ее формула. Способ позволяет применять только один эталонный образец и повысить точность измерений, снизив при этом их трудоемкость. 3 ил.

Description

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании.
Известен вихретоковый способ определения толщины диэлектрического покрытая на электропроводящем основании, заключающийся в том, что вихретоковый преобразователь, включенный в колебательный контур автогенератора гармонических колебаний, устанавливают на контролируемое диэлектрическое покрытие. Измеряют амплитуду сигнала генератора и по ней судят о толщине покрытия [Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник. В 2-х книгах. Кн. 2/Под ред. В. В. Клюева, - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Машиностроение, 1986, 352 с., ил.].
Недостатком данного способа является низкая точность измерения толщины, обусловленная отсутствием калибровки и сильной зависимостью результатов измерений от значения удельной электропроводности материала основания и температуры.
В качестве прототипа способа выбран вихретоковый способ определения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании частотным методом, заключающийся в том, что вихретоковый преобразователь, включенный в колебательный контур автогенератора гармонических колебаний, устанавливается на контролируемое диэлектрическое покрытие. Измеряют частоту генератора и по градуировочной характеристике определяют толщину покрытия [Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник. В 2-х книгах. Кн 2/Под ред. В. В. Клюева, - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Машиностроение, 1986, 352 с., ил.].
Недостаток данного способа состоит в том, что для обеспечения точности измерения необходимо проводить калибровку устройства по трем эталонным образцам толщины покрытия на электропроводящем основании. Необходимость применения не менее трех эталонных образцов вызвана нелинейностью зависимости частоты автогенератора от толщины диэлектрического покрытия. Но использование трех различных эталонных образцов приводит к уменьшению точности за счет разброса удельной электропроводности оснований образцов.
Решаемая техническая задача заключается в повышении точности определения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании при вихретоковом измерении толщины покрытия частотным методом.
Решаемая техническая задача в способе вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, включающим установку вихретокового преобразователя, включенного в колебательный контур автогенератора, на измеряемое диэлектрическое покрытие, нанесенное на электропроводящее основание, измерение значения частоты автогенератора f, и по измеренному значению частоты автогенератора f определяют толщину диэлектрического покрытия h, достигается тем, что предварительно устанавливают вихретоковый преобразователь на эталонный образец, представляющий собой пластину, выполненную из электропроводящего материала, на одну сторону которой нанесено диэлектрическое покрытие заданной толщины hk, сначала на сторону, где диэлектрическое покрытие отсутствует, измеряют и запоминают частоту автогенератора f1, затем на сторону с диэлектрическим покрытием заданной толщины hk измеряют и запоминают частоту автогенератора f2, затем отводят вихретоковый преобразователь от эталонного образца и других электропроводящих предметов на расстояние, не менее чем в пять раз превышающее диаметр вихретокового преобразователя, измеряют и запоминают частоту автогенератора f3, вычисляют коэффициенты аппроксимирующей кривой К1, К2, К3:

Figure 00000003

Figure 00000004

затем вычисляют толщину измеряемого диэлектрического покрытия h на электропроводящем основании по формуле:
Figure 00000005

где h - толщина диэлектрического покрытия,
f - частота автогенератора,
К1, К2, К3 - коэффициенты аппроксимирующей кривой,
f1 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной нулю,
f2 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной hk,
f3 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной бесконечности,
hk - толщина диэлектрического покрытия эталонного образца.
Предлагаемое техническое решение удовлетворяет критериям "новизны" и "изобретательскому уровню", так как предложенные признаки позволяют получить новое свойство - обеспечивает повышенную точность измерения толщины диэлектрического покрытия.
На фиг. 1 изображено устройство, с помощью которого может быть осуществлен данный способ.
На фиг. 2 изображен эталонный образец, по которому осуществляется калибровка устройства, реализующего данный способ измерения толщины.
На фиг. 3 изображена зависимость частоты автогенератора от толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании.
Устройство для измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, изображенное на фиг. 1, состоит из вихретокового преобразователя 1, включенного в параллельный колебательный контур автогенератора 2 и однокристального микроконтроллера 3, к которому подключен цифровой индикатор 4. В качестве эталонного образца, изображенного на фиг.2, была взята металлическая пластина, на одну сторону которой нанесено диэлектрическое покрытие заданной толщины hk. Алгоритм работы однокристального микроконтроллера 3 приведен в приложении (см. в конце текста).
Рассмотрим осуществление способа вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании с помощью устройства, изображенного на фиг.1. Сначала выполняют калибровку устройства по эталонному образцу. Устанавливают вихретоковый преобразователь 1 на эталонный образец с той стороны, где диэлектрический слой отсутствует. В однокристальный микроконтроллер 3 подается команда, по которой происходит измерение и запоминание частоты автогенератора 2 - f1. Устанавливают вихретоковый преобразователь 1 на диэлектрический слой заданной толщины hk, нанесенный на противоположную сторону эталонного образца. В однокристальный микроконтроллер 3 подается команда, по которой происходит измерение и запоминание частоты автогенератора 2 - f2. Отводят вихретоковый преобразователь 1 от эталонного образца и других электропроводящих предметов на расстояние, не менее чем в пять раз превышающее его диаметр. В однокристальный микроконтроллер 3 подается команда, по которой происходит измерение и запоминание частоты автогенератора 2 - f3. Затем в однокристальном микроконтроллере 3 осуществляется вычисление трех коэффициентов аппроксимирующей кривой К1, К2, К3:
Figure 00000006

Figure 00000007

Figure 00000008

Для измерения толщины контролируемого диэлектрического покрытия, нанесенного на электропроводящее основание, устанавливают вихретоковый преобразователь 1 в место определения толщины покрытия. Однокристальный микроконтроллер 3 осуществляет автоматическое измерение частоты генератора 2 - f, вычисление толщины диэлектрического покрытия h по формуле:
Figure 00000009

и вывод полученного результата на цифровой индикатор 4.
Таким образом, по сравнению с прототипом способ обеспечивает более высокую точность измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании. Применение всего одного эталонного образца для калибровки устройства позволило исключить погрешность, вызванную разбросом значения электропроводности при использовании двух и более эталонных образцов, а также уменьшить трудоемкость проведения измерений.
Были проведены эксперименты с использованием изготовленного опытного образца устройства, реализующего данный способ измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, получены экспериментальные зависимости частоты автогенератора от толщины покрытия в диапазоне толщин от 0 до 11 мм. Одна из таких зависимостей, полученная для частот автогенератора 200-500 кГц, приведена на фиг.3. Эксперименты показали, что использование предложенных формул для расчета толщины, позволяет проводить измерения с точностью не хуже 1% от максимального предела на всем диапазоне измеряемых толщин.

Claims (1)

  1. Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, заключающийся в том, что вихретоковый преобразователь, включенный в колебательный контур автогенератора, устанавливают на диэлектрическое покрытие, нанесенное на электропроводящее основание, и по измеренному значению частоты автогенератора f определяют толщину диэлектрического покрытия, отличающийся тем, что предварительно устанавливают вихретоковый преобразователь на эталонный образец, представляющий собой пластину, выполненную из электропроводящего материала, на одну сторону которой нанесено диэлектрическое покрытие заданной толщины hk, сначала на сторону, где диэлектрическое покрытие отсутствует, измеряют и запоминают частоту автогенератора f1, затем на сторону с диэлектрическим покрытием заданной толщины hk, измеряют и запоминают частоту автогенератора f2, затем отводят вихретоковый преобразователь от эталонного образца и других электропроводящих предметов на расстояние, не менее чем в пять раз превышающее диаметр вихретокового преобразователя, измеряют и запоминают частоту автогенератора f3, вычисляют коэффициенты аппроксимирующей кривой К1, К2, К3:
    Figure 00000010

    Figure 00000011

    Figure 00000012

    затем вычисляют толщину измеряемого диэлектрического покрытия h на электропроводящем основании по формуле
    Figure 00000013

    где h - толщина диэлектрического покрытия;
    f - частота автогенератора;
    К1, К2, К3 - коэффициенты аппроксимирующей кривой;
    f1 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной нулю;
    f2 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной hk;
    f3 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной бесконечности;
    hk - толщина диэлектрического покрытия эталонного образца.
RU99127414/28A 1999-12-21 1999-12-21 Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании RU2189007C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99127414/28A RU2189007C2 (ru) 1999-12-21 1999-12-21 Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99127414/28A RU2189007C2 (ru) 1999-12-21 1999-12-21 Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU99127414A RU99127414A (ru) 2001-10-10
RU2189007C2 true RU2189007C2 (ru) 2002-09-10

Family

ID=20228664

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99127414/28A RU2189007C2 (ru) 1999-12-21 1999-12-21 Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2189007C2 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2262658C1 (ru) * 2004-05-31 2005-10-20 Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН Способ определения толщины диэлектрического покрытия
RU2371672C2 (ru) * 2008-04-14 2009-10-27 Михаил Юрьевич Поляхов Способ контроля свойств объекта из электропроводящих материалов

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1416859A1 (ru) * 1986-08-05 1988-08-15 Львовский Лесотехнический Институт Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий
RU2129253C1 (ru) * 1997-09-19 1999-04-20 Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА" Электромагнитный толщиномер

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1416859A1 (ru) * 1986-08-05 1988-08-15 Львовский Лесотехнический Институт Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий
RU2129253C1 (ru) * 1997-09-19 1999-04-20 Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА" Электромагнитный толщиномер

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник. В 2-х кн./Под ред. В. В. Клюева. КН. 2. - М.: Машиностроение, 1976, с 130-131, рис. 48; ГЕРАСИМОВА В.Г. и др. Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами. - М: Энергия, 1978, с. 160-161, рис. 8.9, с. 196-187. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2262658C1 (ru) * 2004-05-31 2005-10-20 Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН Способ определения толщины диэлектрического покрытия
RU2371672C2 (ru) * 2008-04-14 2009-10-27 Михаил Юрьевич Поляхов Способ контроля свойств объекта из электропроводящих материалов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Grassini et al. Low-cost impedance spectroscopy system based on a logarithmic amplifier
CN100353169C (zh) 测试电子元件的方法及其仪器
Crescini et al. Application of an FFT-based algorithm to signal processing of LVDT position sensors
US5847562A (en) Thickness gauging of single-layer conductive materials with two-point non linear calibration algorithm
US7079961B2 (en) Method and apparatus for measuring impedance of electrical component under high interference conditions
RU2189007C2 (ru) Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании
US7358720B1 (en) Proximity sensor interface
CN109239463A (zh) 一种基于线性修正算法的介质损耗测量方法
Belloni et al. On the experimental calibration of a potential drop system for crack length measurements in a compact tension specimen
CA1330829C (en) Metal measuring method and apparatus
EP2228640A1 (en) Method for determining the moisture content of wood
Oldham et al. Exploring the low-frequency performance of thermal converters using circuit models and a digitally synthesized source
RU2456589C1 (ru) Способ вихретокового измерения толщины металлических покрытий
CN117092208A (zh) 一种用于裂纹检测的涡流无损检测系统及方法
RU2350899C1 (ru) Способ определения толщины диэлектрического покрытия
RU2193188C2 (ru) Способ определения диэлектрических характеристик полимеров
Tiwari et al. Kernel-Windowed SDFT Based Temperature Measurement System
RU2532858C2 (ru) Способ измерения толщины неферромагнитного электропроводящего покрытия стали
RU99127414A (ru) Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании и устройство для его осуществления
CN120064786B (zh) 一种基于电荷放大器的介电常数测试系统及测试方法
Baranov et al. Measurement of the current transfer function for power transducers of current to voltage
Baranov et al. Measurement of the current transfer ratio for current shunts
SU1608422A1 (ru) Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий
RU2803321C1 (ru) Способ обнаружения и оценки дефектов в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металлической подложке
RU2012871C1 (ru) Способ контроля параметров диэлектрика на металлическом основании

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20031222