RU2189007C2 - Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании - Google Patents
Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании Download PDFInfo
- Publication number
- RU2189007C2 RU2189007C2 RU99127414/28A RU99127414A RU2189007C2 RU 2189007 C2 RU2189007 C2 RU 2189007C2 RU 99127414/28 A RU99127414/28 A RU 99127414/28A RU 99127414 A RU99127414 A RU 99127414A RU 2189007 C2 RU2189007 C2 RU 2189007C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- thickness
- frequency
- dielectric coating
- oscillator
- reference sample
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Способ относится к измерительной технике и может быть использован для измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании. Вихретоковый преобразователь устанавливают на ту сторону эталонного образца, на которой покрытие отсутствует, и измеряют частоту автогенератора. Затем преобразователь устанавливают на ту сторону эталонного образца, на которой нанесено покрытие заданной толщины, и вновь измеряют частоту автогенератора. После этого преобразователь отводят от эталонного образца и других проводящих предметов на расстояние, превышающее диаметр преобразователя не менее чем в пять раз, и измеряют частоту автогенератора. По измеренным значениям частот и толщине покрытия эталонного образца вычисляют коэффициенты аппроксимирующей кривой. Толщину покрытия исследуемого образца определяют по аппроксимирующей кривой и значению частоты автогенератора. В описании приведены зависимости для определения коэффициентов аппроксимирующей кривой и ее формула. Способ позволяет применять только один эталонный образец и повысить точность измерений, снизив при этом их трудоемкость. 3 ил.
Description
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании.
Известен вихретоковый способ определения толщины диэлектрического покрытая на электропроводящем основании, заключающийся в том, что вихретоковый преобразователь, включенный в колебательный контур автогенератора гармонических колебаний, устанавливают на контролируемое диэлектрическое покрытие. Измеряют амплитуду сигнала генератора и по ней судят о толщине покрытия [Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник. В 2-х книгах. Кн. 2/Под ред. В. В. Клюева, - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Машиностроение, 1986, 352 с., ил.].
Недостатком данного способа является низкая точность измерения толщины, обусловленная отсутствием калибровки и сильной зависимостью результатов измерений от значения удельной электропроводности материала основания и температуры.
В качестве прототипа способа выбран вихретоковый способ определения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании частотным методом, заключающийся в том, что вихретоковый преобразователь, включенный в колебательный контур автогенератора гармонических колебаний, устанавливается на контролируемое диэлектрическое покрытие. Измеряют частоту генератора и по градуировочной характеристике определяют толщину покрытия [Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник. В 2-х книгах. Кн 2/Под ред. В. В. Клюева, - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Машиностроение, 1986, 352 с., ил.].
Недостаток данного способа состоит в том, что для обеспечения точности измерения необходимо проводить калибровку устройства по трем эталонным образцам толщины покрытия на электропроводящем основании. Необходимость применения не менее трех эталонных образцов вызвана нелинейностью зависимости частоты автогенератора от толщины диэлектрического покрытия. Но использование трех различных эталонных образцов приводит к уменьшению точности за счет разброса удельной электропроводности оснований образцов.
Решаемая техническая задача заключается в повышении точности определения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании при вихретоковом измерении толщины покрытия частотным методом.
Решаемая техническая задача в способе вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, включающим установку вихретокового преобразователя, включенного в колебательный контур автогенератора, на измеряемое диэлектрическое покрытие, нанесенное на электропроводящее основание, измерение значения частоты автогенератора f, и по измеренному значению частоты автогенератора f определяют толщину диэлектрического покрытия h, достигается тем, что предварительно устанавливают вихретоковый преобразователь на эталонный образец, представляющий собой пластину, выполненную из электропроводящего материала, на одну сторону которой нанесено диэлектрическое покрытие заданной толщины hk, сначала на сторону, где диэлектрическое покрытие отсутствует, измеряют и запоминают частоту автогенератора f1, затем на сторону с диэлектрическим покрытием заданной толщины hk измеряют и запоминают частоту автогенератора f2, затем отводят вихретоковый преобразователь от эталонного образца и других электропроводящих предметов на расстояние, не менее чем в пять раз превышающее диаметр вихретокового преобразователя, измеряют и запоминают частоту автогенератора f3, вычисляют коэффициенты аппроксимирующей кривой К1, К2, К3:
затем вычисляют толщину измеряемого диэлектрического покрытия h на электропроводящем основании по формуле:
где h - толщина диэлектрического покрытия,
f - частота автогенератора,
К1, К2, К3 - коэффициенты аппроксимирующей кривой,
f1 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной нулю,
f2 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной hk,
f3 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной бесконечности,
hk - толщина диэлектрического покрытия эталонного образца.
затем вычисляют толщину измеряемого диэлектрического покрытия h на электропроводящем основании по формуле:
где h - толщина диэлектрического покрытия,
f - частота автогенератора,
К1, К2, К3 - коэффициенты аппроксимирующей кривой,
f1 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной нулю,
f2 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной hk,
f3 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной бесконечности,
hk - толщина диэлектрического покрытия эталонного образца.
Предлагаемое техническое решение удовлетворяет критериям "новизны" и "изобретательскому уровню", так как предложенные признаки позволяют получить новое свойство - обеспечивает повышенную точность измерения толщины диэлектрического покрытия.
На фиг. 1 изображено устройство, с помощью которого может быть осуществлен данный способ.
На фиг. 2 изображен эталонный образец, по которому осуществляется калибровка устройства, реализующего данный способ измерения толщины.
На фиг. 3 изображена зависимость частоты автогенератора от толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании.
Устройство для измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, изображенное на фиг. 1, состоит из вихретокового преобразователя 1, включенного в параллельный колебательный контур автогенератора 2 и однокристального микроконтроллера 3, к которому подключен цифровой индикатор 4. В качестве эталонного образца, изображенного на фиг.2, была взята металлическая пластина, на одну сторону которой нанесено диэлектрическое покрытие заданной толщины hk. Алгоритм работы однокристального микроконтроллера 3 приведен в приложении (см. в конце текста).
Рассмотрим осуществление способа вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании с помощью устройства, изображенного на фиг.1. Сначала выполняют калибровку устройства по эталонному образцу. Устанавливают вихретоковый преобразователь 1 на эталонный образец с той стороны, где диэлектрический слой отсутствует. В однокристальный микроконтроллер 3 подается команда, по которой происходит измерение и запоминание частоты автогенератора 2 - f1. Устанавливают вихретоковый преобразователь 1 на диэлектрический слой заданной толщины hk, нанесенный на противоположную сторону эталонного образца. В однокристальный микроконтроллер 3 подается команда, по которой происходит измерение и запоминание частоты автогенератора 2 - f2. Отводят вихретоковый преобразователь 1 от эталонного образца и других электропроводящих предметов на расстояние, не менее чем в пять раз превышающее его диаметр. В однокристальный микроконтроллер 3 подается команда, по которой происходит измерение и запоминание частоты автогенератора 2 - f3. Затем в однокристальном микроконтроллере 3 осуществляется вычисление трех коэффициентов аппроксимирующей кривой К1, К2, К3:
Для измерения толщины контролируемого диэлектрического покрытия, нанесенного на электропроводящее основание, устанавливают вихретоковый преобразователь 1 в место определения толщины покрытия. Однокристальный микроконтроллер 3 осуществляет автоматическое измерение частоты генератора 2 - f, вычисление толщины диэлектрического покрытия h по формуле:
и вывод полученного результата на цифровой индикатор 4.
Для измерения толщины контролируемого диэлектрического покрытия, нанесенного на электропроводящее основание, устанавливают вихретоковый преобразователь 1 в место определения толщины покрытия. Однокристальный микроконтроллер 3 осуществляет автоматическое измерение частоты генератора 2 - f, вычисление толщины диэлектрического покрытия h по формуле:
и вывод полученного результата на цифровой индикатор 4.
Таким образом, по сравнению с прототипом способ обеспечивает более высокую точность измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании. Применение всего одного эталонного образца для калибровки устройства позволило исключить погрешность, вызванную разбросом значения электропроводности при использовании двух и более эталонных образцов, а также уменьшить трудоемкость проведения измерений.
Были проведены эксперименты с использованием изготовленного опытного образца устройства, реализующего данный способ измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, получены экспериментальные зависимости частоты автогенератора от толщины покрытия в диапазоне толщин от 0 до 11 мм. Одна из таких зависимостей, полученная для частот автогенератора 200-500 кГц, приведена на фиг.3. Эксперименты показали, что использование предложенных формул для расчета толщины, позволяет проводить измерения с точностью не хуже 1% от максимального предела на всем диапазоне измеряемых толщин.
Claims (1)
- Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании, заключающийся в том, что вихретоковый преобразователь, включенный в колебательный контур автогенератора, устанавливают на диэлектрическое покрытие, нанесенное на электропроводящее основание, и по измеренному значению частоты автогенератора f определяют толщину диэлектрического покрытия, отличающийся тем, что предварительно устанавливают вихретоковый преобразователь на эталонный образец, представляющий собой пластину, выполненную из электропроводящего материала, на одну сторону которой нанесено диэлектрическое покрытие заданной толщины hk, сначала на сторону, где диэлектрическое покрытие отсутствует, измеряют и запоминают частоту автогенератора f1, затем на сторону с диэлектрическим покрытием заданной толщины hk, измеряют и запоминают частоту автогенератора f2, затем отводят вихретоковый преобразователь от эталонного образца и других электропроводящих предметов на расстояние, не менее чем в пять раз превышающее диаметр вихретокового преобразователя, измеряют и запоминают частоту автогенератора f3, вычисляют коэффициенты аппроксимирующей кривой К1, К2, К3:
затем вычисляют толщину измеряемого диэлектрического покрытия h на электропроводящем основании по формуле
где h - толщина диэлектрического покрытия;
f - частота автогенератора;
К1, К2, К3 - коэффициенты аппроксимирующей кривой;
f1 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной нулю;
f2 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной hk;
f3 - частота автогенератора при толщине диэлектрического покрытия, равной бесконечности;
hk - толщина диэлектрического покрытия эталонного образца.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU99127414/28A RU2189007C2 (ru) | 1999-12-21 | 1999-12-21 | Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU99127414/28A RU2189007C2 (ru) | 1999-12-21 | 1999-12-21 | Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU99127414A RU99127414A (ru) | 2001-10-10 |
| RU2189007C2 true RU2189007C2 (ru) | 2002-09-10 |
Family
ID=20228664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU99127414/28A RU2189007C2 (ru) | 1999-12-21 | 1999-12-21 | Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2189007C2 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2262658C1 (ru) * | 2004-05-31 | 2005-10-20 | Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН | Способ определения толщины диэлектрического покрытия |
| RU2371672C2 (ru) * | 2008-04-14 | 2009-10-27 | Михаил Юрьевич Поляхов | Способ контроля свойств объекта из электропроводящих материалов |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1416859A1 (ru) * | 1986-08-05 | 1988-08-15 | Львовский Лесотехнический Институт | Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий |
| RU2129253C1 (ru) * | 1997-09-19 | 1999-04-20 | Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА" | Электромагнитный толщиномер |
-
1999
- 1999-12-21 RU RU99127414/28A patent/RU2189007C2/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1416859A1 (ru) * | 1986-08-05 | 1988-08-15 | Львовский Лесотехнический Институт | Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий |
| RU2129253C1 (ru) * | 1997-09-19 | 1999-04-20 | Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА" | Электромагнитный толщиномер |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник. В 2-х кн./Под ред. В. В. Клюева. КН. 2. - М.: Машиностроение, 1976, с 130-131, рис. 48; ГЕРАСИМОВА В.Г. и др. Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами. - М: Энергия, 1978, с. 160-161, рис. 8.9, с. 196-187. * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2262658C1 (ru) * | 2004-05-31 | 2005-10-20 | Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН | Способ определения толщины диэлектрического покрытия |
| RU2371672C2 (ru) * | 2008-04-14 | 2009-10-27 | Михаил Юрьевич Поляхов | Способ контроля свойств объекта из электропроводящих материалов |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Grassini et al. | Low-cost impedance spectroscopy system based on a logarithmic amplifier | |
| CN100353169C (zh) | 测试电子元件的方法及其仪器 | |
| Crescini et al. | Application of an FFT-based algorithm to signal processing of LVDT position sensors | |
| US5847562A (en) | Thickness gauging of single-layer conductive materials with two-point non linear calibration algorithm | |
| US7079961B2 (en) | Method and apparatus for measuring impedance of electrical component under high interference conditions | |
| RU2189007C2 (ru) | Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании | |
| US7358720B1 (en) | Proximity sensor interface | |
| CN109239463A (zh) | 一种基于线性修正算法的介质损耗测量方法 | |
| Belloni et al. | On the experimental calibration of a potential drop system for crack length measurements in a compact tension specimen | |
| CA1330829C (en) | Metal measuring method and apparatus | |
| EP2228640A1 (en) | Method for determining the moisture content of wood | |
| Oldham et al. | Exploring the low-frequency performance of thermal converters using circuit models and a digitally synthesized source | |
| RU2456589C1 (ru) | Способ вихретокового измерения толщины металлических покрытий | |
| CN117092208A (zh) | 一种用于裂纹检测的涡流无损检测系统及方法 | |
| RU2350899C1 (ru) | Способ определения толщины диэлектрического покрытия | |
| RU2193188C2 (ru) | Способ определения диэлектрических характеристик полимеров | |
| Tiwari et al. | Kernel-Windowed SDFT Based Temperature Measurement System | |
| RU2532858C2 (ru) | Способ измерения толщины неферромагнитного электропроводящего покрытия стали | |
| RU99127414A (ru) | Способ вихретокового измерения толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании и устройство для его осуществления | |
| CN120064786B (zh) | 一种基于电荷放大器的介电常数测试系统及测试方法 | |
| Baranov et al. | Measurement of the current transfer function for power transducers of current to voltage | |
| Baranov et al. | Measurement of the current transfer ratio for current shunts | |
| SU1608422A1 (ru) | Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий | |
| RU2803321C1 (ru) | Способ обнаружения и оценки дефектов в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металлической подложке | |
| RU2012871C1 (ru) | Способ контроля параметров диэлектрика на металлическом основании |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20031222 |