DE1473380B2

DE1473380B2 - Method and device for examining and / or measuring stresses in a transparent body using the scattered light method

Info

Publication number: DE1473380B2
Application number: DE19621473380
Authority: DE
Inventors: Peter Dr. Innsbruck Scheffler (Österreich)
Original assignee: Compagnie de Saint Gobain SA
Current assignee: Compagnie de Saint Gobain SA
Priority date: 1961-09-20
Filing date: 1962-09-20
Publication date: 1970-06-25
Also published as: GB1018002A; DE1473380A1; FR1308015A

Description

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Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vor- und einer aus einem Linsensystem und gegebenenfalls richtung zum Untersuchen und/oder Messen von einem Analysator bestehenden Beobachtungseinrich-Spannungen in Körpern nach dem Streulichtverfahren. tung und mit einem Viertelwellenlängenplättchen imThe invention relates to a method and a front and a lens system and optionally Direction for examining and / or measuring from an analyzer existing observation device voltages in bodies using the scattered light method. tion and with a quarter-wave plate in the

Die Erfindung geht dabei aus von einem Verfahren, Strahlengang zwischen dem Beleuchtungssystem und bei dem die in dem Körper auf dem Wege des Licht- 5 der Beobachtungseinrichtung ist erfindungsgemäß Strahlenbündels erzeugten und, falls das einfallende dadurch gekennzeichnet, daß das Viertelwellenlängen-Licht nicht polarisiert ist, mit Hilfe eines Analysators plättchen in kontinuierliche Drehung versetzbar ist. oder, falls es polarisiert ist, unmittelbar sichtbaren Die Zeichnungen zeigen inThe invention is based on a method, beam path between the lighting system and in which the in the body on the way of the light 5 the observation device is according to the invention Beam generated and, if the incident is characterized in that the quarter-wavelength light is not polarized, with the help of an analyzer plate can be set in continuous rotation. or, if it is polarized, immediately visible. The drawings show in

Interferenzstreifen bei Kompensation beobachtet Fig. 1 eine Vorrichtung zur Durchführung desInterference fringes with compensation observed Fig. 1 an apparatus for performing the

werden. io erfindungsgemäßen Verfahrens,will. io method according to the invention,

Bei den bekannten Verfahren wird stets ein stati- Fig. 2 einen Schnitt durch eine Scheibe aus vor-In the known methods, a static Fig. 2 is a section through a disk made of

sches Bild der Interferenzstreifen beobachtet. Ein sol- gespanntem Glas mit parabolischer Verteilung der ches statisches Bild gibt jedoch keine Aussage dar- Spannungen,Schematic image of the interference fringes observed. A sol-tensioned glass with parabolic distribution of the However, the static picture does not provide any information - tensions,

über, ob auf dem Wege des Lichtstrahles im Körper Fig. 3 eine Kurve zur Wiedergabe der Abhängigein einheitlicher Spannungszustand herrscht, d. h;, 15 keit der Phasenunterschiede von der Länge des in entweder nur Zugspannungen oder nur Druckspan- dem Probekörper durchlaufenen Lichtweges und in nungen vorliegen; oder, aber ob auf dem Wege des Fig.4 eine sich in einem Kathodenstrahloszillo-about whether on the path of the light beam in the body Fig. 3 is a curve for reproducing the dependencies there is a uniform state of tension, d. h ;, 15 speed of the phase differences from the length of the in either only tensile stresses or only compressive stresses the test specimen traversed the light path and in statements are available; or, but whether on the way of Fig. 4 a cathode ray oscilloscope

Lichtstrahles Zugspannungen auf Druckspannungen graphen ausbildende Kurve, folgen, oder umgekehrt.' Bei der Vorrichtung nach Fig. 1 erzeugt eineLight beam tensile stress on compressive stress graph forming curve, follow, or vice versa. ' In the device of FIG. 1 generates a

Um derartige Aussagen machen zu können, muß 20 Quecksilberdampflampe 1 über einen Kondensor 2 man bei den bisher zur Anwendung gekommenen und ein Linsensystem 3 ein konvergierendes Licht-Streulichtverfahren mehr oder weniger umständliche strahlenbündel. Die optische Achse dieses Systems zusätzliche Messungen, beispielsweise Vergleichs- ist um etwa 40° gegenüber der Ebene des zu untermessungen mit Vergleichskörpern, vornehmen. suchenden Probekörpers A, im vorliegenden FallIn order to be able to make such statements, one must 20 mercury vapor lamp 1 via a condenser 2 with the previously used and a lens system 3 a converging light-scattered light method, more or less cumbersome bundle of rays. The optical axis of this system makes additional measurements, for example comparative measurements at around 40 ° in relation to the plane of the under measurements with reference bodies. searching specimen A, in the present case

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, schnell 25 einer Glasscheibe, geneigt. Der Brennpunkt B des festzustellen, ob sich das Vorzeichen der Spannung Lichtstrahlenbündels liegt im Inneren des Probekörim Körper auf dem Wege des Lichtstrahles ändert. pers A, vorzugsweise in der Mitte seiner Dicke. DieThe invention is based on the task of quickly inclining a pane of glass. The focal point B of the determination of whether the sign of the voltage of the light beam lies inside the specimen body on the path of the light beam changes. pers A, preferably in the middle of its thickness. the

Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch^: Verwendung eines konvergierenden Lichtstrahlengelöst, daß die Kompensationsverhältnisse stetig ge- bündeis ermöglicht es, eine größere Lichtintensität zu ändert werden, wodurch die Streifen wandern, und 30 erzielen und erleichtert so die Beobachtungen und die aus der Bewegungsrichtung der Streifen auf Span- Messungen. Man kann jedoch auch ein Bündel parnungsfeider mit gleichem Vorzeichen geschlossen alleler Lichtstrahlen verwenden. Im Wege des Lichtwird. , , ..··■· Strahlenbündels befindet sich ein Gelbfilter 4 und einThis object is achieved according to the invention by ^: using a converging light beam that the compensation ratios continuously allow a greater light intensity to be changed, causing the stripes to wander, and thus making it easier to observe and from the direction of movement of the stripes on span measurements. However, one can also use a bundle of parnungsfeider with the same sign of closed allelic light rays. In the way of light ,, .. ·· ■ · A yellow filter 4 and a

Besondere Bedeutung kommt dem erfindungs- drehbarer Polarisator 5. Durch das Gelbfilter sollen gemäßen Verfahren für? die Untersuchung des Span- 35 die Bildung von fluoreszierendem Licht verhindert nungszustandes in thermisch vorgespannten Glas- und die Kontraste des beobachteten Bildes verstärkt scheiben zu. werden.The polarizer 5, which can be rotated according to the invention, is of particular importance proper procedure for? examining the chip prevents the formation of fluorescent light state in thermally toughened glass and the contrasts of the observed image are enhanced close. will.

Wendet man das erfindungsgemäße Verfahren zum Vorteilhaft wird der einfallende Lichtstrahl in demIf the method according to the invention is used to advantage, the incident light beam is in the

Bestimmen des parabelförmigen Zustandes in vorge- Probekörper.über ein rechtwinkliges Prisma 6 geleispannten Glaskörpern mit neutralen Zonen, z. B. 40 tet. Mit diesem Prisma ist ein zweites Prisma 7 verGlasscheiben, an, dann geht man in weiterer Ausbil- einigt.Determination of the parabolic state in the pre-test specimen clamped via a right-angled prism 6 Vitreous bodies with neutral zones, e.g. B. 40 tet. With this prism is a second prism 7 glass panes, on, then you go into further training.

dung der Erfindung derart vor, daß der Glaskörper ;■ Das einfallende Lichtstrahlenbündel tritt im wedurchstrahlt, die Wanderung der Interferenzstreifen sentlichen rechtwinklig zu der Hypotenuse des Prisbeobachtet, die beiden in den neutralen Zonen mas 6 in dieses und darauf in den Probekörper ein, erkenntlichen, infolge .der Spannungsumkehr an die- 45 wobei der optische Kontakt durch eine Immersionssen Stellen sich nicht bewegenden Linien festgelegt .; flüssigkeit gesichert wird. Der Immersionsflüssigkeit und die Größe der Spannung zwischen den neutralen fällt außerdem eine weitere wesentliche Aufgabe zu, Linien durch Messen der Phasenverschiebung be- nämlich die Ungleichmäßigkeiten der Oberfläche un*· stimmt wird. _ft,^. _: . _r . .. '.,-..,■- . - .,.wirksam zu machen, welche störende Streuungen zurpreparation of the invention in such a way that the glass body; ■ the incident light beam passes through, the migration of the interference fringes is observed at right angles to the hypotenuse of the pris, the two in the neutral zones mas 6 in this and then in the test body, can be seen as a result .the voltage reversal to the- 45 whereby the optical contact is determined by an immersion point of non-moving lines.; liquid is secured. The immersion liquid and the magnitude of the voltage between the neutrals also have a further essential task, lines by measuring the phase shift, namely the irregularities of the surface becomes inconsistent. _ft , ^. _: . _r . .. '., - .., ■ -. -.,. to make effective, which disruptive scatter to the

Eine Vorrichtung zur'Dürchführung des erfindungs- 50 Folge haben könnten. Die Verwendung des Prismas 6 gemäßen Verfahrens mit einem den optischen Kontakt ergibt den Vorteil, daß hierdurch der Eintritt des einzu dem zu untersuchenden Körper sichernden Pris- fallenden Strahlenbündels auf einer im wesentlichen - mensystem, einem ein-paralleles oder konvergieren- rechtwinklig zu diesem liegenden Fläche möglich des, gegebenenfalls polarisiertes Lichtstrahlenbündel. . wird, so daß,die Verluste infolge.Brechung und Reerzeugenden Beleuchtungssystem'urid einer aus einem 55 'flexioir dieses Strahles verringert werden. Linsensystem und gegebenenfalls einem Analysator Die Beobachtung erfolgt durch das Prisma 7. DerA device for carrying out the invention 50 could result. Using the prism 6 according to the method with the optical contact has the advantage that this results in the entry of the inlet The prism that secures the body to be examined is essentially a falling beam of rays - m system, a one-parallel or converging-at right angles to this lying surface possible des, optionally polarized light beam. . so that, the losses due to refraction and regeneration Lighting system'urid one from a 55 'flexioir of this beam can be reduced. Lens system and possibly an analyzer The observation takes place through the prism 7. The

bestehenden Beobachtungseinrichtung und einem im Empfänger der Anordnung besteht aus einem Tu-Lichtstrahlengang zwischen deni Beleuchtungssystem bus 8, welcher ein System von Sammellinsen 9 auf- und der Beobachtungseinrichtung' \ angeordneten weist, das in einer Schlitzblende 10 ein reelles Bild Kompensator kennzeichnet siclp dadurch, daß der 60 des Weges des primären Lichtstrahles innerhalb des Kompensator als ein in;kontinuierliche Drehung ver- untersuchten Probekörpers gibt. In Fig. 1 ist die setzbarer Drehkompensator ausgebildet ist. Achse des Tubus 8 zur besseren! Verdeutlichung inexisting observation device and one in the receiver of the arrangement consists of a Tu light beam path between the lighting system bus 8, which has a system of converging lenses 9 and the observation device ' \ arranged, which in a slit diaphragm 10 is a real image compensator characterized in that which gives 60 of the path of the primary light beam inside the compensator as a specimen tested in continuous rotation. In Fig. 1 the settable rotary compensator is formed. Axis of the tube 8 for the better! Clarification in

Eine ebenfalls zur Durchführung des erfindungs- die Einfallsebene des einfallenden Lichtstrahles umgemäßen Verfahrens geeignete, jedoch etwas abgeän- geklappt gezeichnet. In Wirklichkeit ist die Tubusderte Vorrichtung mit einem den optischen Kontakt 65 achse gegenüber dieser Ebene um das Maß geneigt, zu dem zu untersuchenden Körper sichernden Pris- welches man benötigt, um unter Berücksichtigung des mensystem, einem ein paralleles oder konvergierendes Einflusses der Prismen 6 und 7 die Beobachtung des Lichtstrahlenbündel erzeugenden Beleuchtungssystem Streulichtes in zu dem Weg des in dem ProbekörperA plane of incidence of the incident light beam which is also changed for carrying out the invention Appropriate for the procedure, but drawn in a slightly different way. In reality it is the tube whip Device with the optical contact 65 axis inclined with respect to this plane by the amount to the body to be examined securing prism which one needs to take into account the system, a parallel or converging influence of the prisms 6 and 7 the observation of the Light beam generating lighting system scattered light in the path of the in the specimen

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einfallenden Lichtstrahlenbündels rechtwinkliger Rich- geordnet. Bekanntlich lassen Quarzkeile den Wert tung vorzunehmen. . der Phasenverschiebung der zwei Komponenten einesincident light beam ordered at right angles. As is well known, quartz wedges leave the value to make. . the phase shift of the two components of one

Im Empfänger befindet sich gegebenenfalls. ein elliptisch polarisierten Lichtstrahlenbündels durch drehbarer Analysator 11. Gegenüber der Schlitzblende Erzeugung von Interferenzstreifen erkennen. Die 10 befindet sich ein Photomultiplier 12, der die emp- 5 Untersuchung des primären Lichtstrahlenbündels fangene Lichtenergie über einen Verstärker in elek- durch eine solche Vorrichtung ermöglicht es also betrischen Strom umwandelt. Zwischen die Schlitz- reits, Aufklärungen über Art und Größe der Spanblende 10 und den Photomultiplier 12 ist eine mit nungen in dem betrachteten Medium zu erhalten. In Schlitzen versehene Scheibe 13 eingeschaltet, die der- diesem Falle ist es zweckmäßig, als einfallendes art in Drehung versetzt wird, daß aufeinanderfolgend ίο Lichtstrahlenbündel ein solches mit zueinander parjeder der Schlitze das zu untersuchende Bild streifen- allelen Strahlen von einer Breite zu verwenden, die weise abtastet. Die Schlitze sind schmal und.bewegen ausreicht, um die ganze Kurve gemäß Fig. 3 erkensich vor dem Bild in solcher.Weise,-daß jeder Punkt nen lassen. ^; .·. .·■■If applicable, there is in the receiver. an elliptically polarized light beam through rotatable analyzer 11. Detect generation of interference fringes opposite the slit diaphragm. 10 there is a photomultiplier 12 which converts the light energy received via an amplifier into electrical current. Between the slits, explanations about the type and size of the chip diaphragm 10 and the photomultiplier 12, one can obtain a message with openings in the medium under consideration. Slotted disc 13 is switched on, which in this case it is expedient to set it in rotation as the incident type, that successively ίο light beam bundles such with each other par wisely scans. The slits are narrow and enough to move around the entire curve according to FIG. 3 in such a way that each point can be recognized in front of the image. ^; . ·. . · ■■

desselben aufeinanderfolgend durch die sich vorbei- Wird diese Kurve, wie durch die gestrichelte Linie c the same successively through the passing- will this curve, as indicated by the dashed line c

bewegenden Schlitze freigegeben wird. Dadurch;wird 15 angedeutet, parallel zu sich in Ordinatenrichtung verdas Bild streifenweise abgetastet und,der.Ab.tastvor- schoben, so werden die Schnittstellen dieser neuen gang in schneller Reihenfolge wiederholt. Die Scheibe Kurve mit den horizontalen Linien, die ganze Zahlen 13 bewirkt somit eine Modulierung des Ausgangs- von Wellenlängen der Phase bedeuten, auf der linken signals, wodurch die Verwendung,.eines. Wechsel- Seite des Maximums nach links und auf der rechten Stromverstärkers ermöglicht wird. ,^:..... :- ·■ ..> 20 Seite nach rechts verschöben^ Dies bedeutet, wenn inmoving slots is released. As a result, it is indicated that the image is scanned in strips parallel to itself in the ordinate direction and, the. The disk curve with the horizontal lines, the whole numbers 13, thus causes a modulation of the output of wavelengths of the phase signify on the left-hand signal, thus making the use of .eines. Change side of the maximum to the left and on the right current amplifier is made possible. , ^: ..... : - · ■ ..> 20 Shift page to the right ^ This means if in

Wird nach Fig. 2,eine Scheibe A aus vorgespann- der Bahn der Lichtstrahlen zwischen dem Polarisator • tem ,Glas mit einer parabolischen ■ Verteilung der und dem Analysator eine zusätzliche Phasenverschie-Spannungen entsprechend der Kurve 15 betrachtet, bung in beliebiger Richtung erfolgt,-eine Verschieso sind die Spannungen parallel zu.der Oberfläche bung der Interfererizstreifen^; mit Ausnahme an den der Scheibe im oberflächennahen Bereich Druck- 25 Stellen des Maximums -üncl· des Minimums der Spannungen, die sich bis zu den neutralen Zonen 16, Kurve c. Wird diese zusätzliche Phasenverschiebung 16a verringern, während der Kern der.Scheibe zwi- fortlaufend verändert, und die Bewegung der Streifen sehen den neutralen Zonen 16, 16 a unter Zugspan- untresucht, so scheinen diese für den Beobachter eine nung steht. . .: . :. fortlaufende Bewegung von zwei festen Punkten wegIf, according to Fig. 2, a disk A made of a pre-tensioned path of the light rays between the polarizer • system, glass with a parabolic ■ distribution of the and the analyzer an additional phase shift voltages according to the curve 15 is considered, exercise takes place in any direction, - The stresses are parallel to the surface of the interfering stripes ^; With the exception of the pressure points near the surface of the disk, the maximum -üncl · the minimum of the stresses, which extend up to the neutral zones 16, curve c. If this additional phase shift 16a is reduced, while the core of the disk is continuously changing, and the movement of the stripes see the neutral zones 16, 16a under tension, then these seem to stand for the observer. . .:. :. continuous movement away from two fixed points

Der.Phasenunterschied, der sich als Folge dieser 30 auszuführen, welche die neutralen¹ Zonen darstellen, Spannungsverschiedenheiten-zwischen den Kompo- bei deren Überschreiten die Spannungen ihre Richnenten eines Strahles polarisierten Lichtes, der die tung ändern.. , i ■: r ;The phase difference, to be carried out as a result of these 30, which represent the neutral ¹ zones, voltage differences-between the components, when they are exceeded, the voltages their directions of a beam of polarized light that change the direction .., i ■: r;

Scheibe über ihre gesamte Dicke, durchdringt, .. Sind auf diese Weise die neutralen Linien geortet, ergibt, wächst also, von der , Oberfläche ;; der dann ist es leicht, die Anzahl von Streifen zu zählen,^: Scheibe aus an, passiert in. der neutralen, Linie 35 die. durch die Zugspannung aufweisende Schicht geein Maximum und verringert sich . dann ; wieder bildet sind und hierdurch ein Maß für die Summe der bis zu der anderen, neutralen Linie auf .ein. Mini- Zugspannungen im Kern des Probekörpers zu ge-' mum, um dann von neuem bis zu der Austrittsfläche winnen....,c ■-■;;■·. - ;."; :·..:_. .ν.λ'';^;:y ί'--'-^: i ^; ■Disc over its entire thickness, penetrates, .. If the neutral lines are located in this way, results, therefore, grows, from the, surface ;; which then it is easy to count the number of strips ^: disc off on, happened in. the neutral, line 35 the. due to the tensile stress-exhibiting layer, there is a maximum and is reduced. then ; again forms are and thereby a measure for the sum of up to the other, neutral line on .ein. Mini- tensile stresses in the core of the test specimen to be 'mum, in order to then regain up to the exit surface .... , C ■ - ■ ;; ■ ·. -;. ";: · ..: _. .Ν.λ ''^;;: y ί '--'- ^: i ^; ■

anzuwachsen. ;-_:;_ä,::i ,"'■ _;. .,.:■/.:: ^v-; - Die: Einschaltung · eines Kompensatörs' zwischento grow. ; _-:; _ä , :: i, "'■ _; ..,.: ■ /. :: ^ v-; - The: interposition of a compensator between

Sind die Spannungen symmetrisch verteilt,. wird 4° den Polarisator und den Analysator, durch welche der Phasenunterschied in .der ,-Mittellinie, gleich Null. eine Verschiebung der Kurve c nach Fig; 3:; bewirkt , Fig. 3 zeigt den allgemeinen Verlauf einer solchen wird, kann auch in dem folgenden Fall benützt wer-: Kurve c. In dieser graphischen Darstellung' sind als den:.Falls die Kurve, zü-flach verläuft, um das AufOrdinate die Phasenunterschiede in ι ganzen ^Zahlen treten eines Streifens hervorzurufen, kann man vervqn Wellenlängen und als Abszisse die Länge.des in 45. suchen,:mittels des Kompensatofs eine Verschiebung dem Probekörper durchlaufenen Weges: aufgetragen. der Kurve herbeizuführen, die ausreicht, damit diese · Aus dieser Figur ist ersichtlich,; daß_; die Interferenz- eine einer ganzen Zahl-> von Wellenlängen entspre-i streif en·_: ah den Stellen auftreten,' an welchen; die cherid Phasenverschiebüngslinie schneidet und damit Kurve die zu der; Abszisse, parallelen. Linien für; die das Auftreten von einem oder zwei Streifen zu bewir-Phasenverschiebungen'um eine beliebige ganze. Zahl 50 ken: Hierdurch können; die Beobachtung-und¹ die yonWelleniängen schneidet.: '.,..·. _;:!J -;·.- r^eiu Ί-Α) Messung erleichtert; werden;. . .π:^;: - ;..:;;/-; ;j:_; ^''-'J-Are the stresses distributed symmetrically. becomes 4 ° the polarizer and the analyzer, through which the phase difference in .der, -center line, equals zero. a shift in curve c according to FIG. 3 :; causes, Fig. 3 shows the general course of such a, can also be used in the following case: curve c. In this graphical representation, the following are as follows: If the curve runs flat in order to cause the phase differences to appear in whole numbers in a strip, one can look for wavelengths and the length of the 45th as the abscissa, : by means of the Kompensatofs a displacement of the test specimen traveled path: applied. bring about the curve sufficient for this · From this figure it can be seen; that _; the interference - one of an integer number -> of wavelengths correspond-i strip · _: ah the places occur at which; the cherid phase shift line intersects and thus the curve to the; Abscissa, parallel. Lines for; which cause the appearance of one or two stripes-phase shifts by any whole. Number 50 ken: This allows you to; the observation and ¹ which intersects the wavelengths: '., .. ·. _{;:! J} -; · .- r ^ eiu Ί-Α) measurement facilitated; will;. . ^.π:; : -; ..: ;; / -; _j:; ^ '' - 'J-

löer Veriauf dieser^ Kurve ist;proportional den ; Die; Liehtverteilung.'irh:Schlitz 10 des-Empfängers . Spannungen. _:-; :_; .- . ::;:,.;■. „ r:A iv:-i:;:;i-i-ioii kann in folgender Weise untersucht werden; Werden:The course of this ^ curve is proportional to the; The; Liability distribution.'irh: slot 10 of the receiver. Tensions. _: -; : _; .-. ::;:,.; ■. “ R: A iv: -i:;:; ii-ioii can be examined in the following way; Will:

Bekanntlich gilt die Gleichung: die Lichtimpulse, welche durch die Bewegung der mitAs is well known, the following equation applies: the light impulses produced by the movement of the with

55 Umfangsschlitzen versehenen Scheibe 13 entstehen,55 circumferential slots provided disc 13 arise,

CdRJds = Sa-Sb. :i„::..:.::'i-S 3jeiheni Kathodenstrahloszillographen zugeleitet, so er- CdRJds = Sa-Sb. : i ":: ..:. :: 'iS 3jeiheni supplied to the cathode ray oscillograph, so

■ ■ ■■ - gibt sich die Kurve D nach F i g. 4. Die Maxima die-In dieser Gleichung sind Sa und Sb die Hauptspan- ser Kurve entsprechen ebenso vielen Interferenzstreinungen in der betrachteten Ebene, C die photoelasti- fen, die derart leicht untersucht, gezählt und hinsichtsche Konstante des untersuchten Mediums, dR die 60 Hch ihrer Lage bestimmt werden können. Änderung der optischen Verzögerung und ds der Ab- Mit Hilfe eines Kompensators kann auf dem■ ■ ■■ - there is curve D according to FIG. 4. The maxima in this equation are Sa and Sb the Hauptspaners curve correspond to as many interference disturbances in the plane under consideration, C the photoelastics, which are so easily investigated, counted and with regard to the constant of the investigated medium, ie the 60 Hch their location can be determined. Change of the optical delay and ds the Ab- With the help of a compensator can be on the

stand von zwei untersuchten Schichten vonein- Schirm des Oszillographen die Lage der neutralen ander. Linien in Form der Punkte ermittelt werden, an wel-The position of the neutral one stood from two examined layers of one screen of the oscilloscope at the. Lines are determined in the form of the points at which

Diese Kurve kann ferner durch Untersuchung des chen unter der Einwirkung des Kompensators keine Lichtstrahlenbündels durch einen Quarzkeil unmittel- 6₅ transversale Verschiebung erfolgt, bar beobachtet werden, wenn man einen Quarzkeil Diese Ausführungsform des Verfahrens gemäß derThis curve can also be observed by examining the surface under the action of the compensator no light beam through a quartz wedge direct 6 ₅ transverse displacement occurs, bar when a quartz wedge This embodiment of the method according to the

mit seiner Schneide parallel zu dem Lichtstrahlen- Erfindung ist für betriebliche Untersuchungen, insbebündel zwischen der Probe und dem Analysator an- sondere die Kontrolle von vorgespanntem Glas, sehrwith its cutting edge parallel to the light beam invention is for operational investigations, insbebündel between the sample and the analyzer, especially the control of toughened glass, very much

vorteilhaft, weil mit einem Blick wesentliche Feststellungen über den Vorspannungszustand zu treffen sind. Sie gestattet insbesondere einen sofortigen Vergleich mit standardisierten Proben. Zu diesem Zweck ist das Kompensatorplättchen mit einer Antriebsvorrichtung ausgerüstet, durch die es in eine ständige periodische oder auch nicht periodische Bewegung versetzt wird.advantageous because essential statements about the preload state can be made at a glance are. In particular, it allows an immediate comparison with standardized samples. To this end the compensator plate is equipped with a drive device through which it is in a constant periodic or non-periodic movement is offset.

Der Polarisator 5, durch welchen das einfallende Lichtstrahlenbündel läuft, kann gegebenenfalls in Fortfall kommen. Diese Anordnung ermöglicht dann eine Beobachtung des Streulichtes in einer Ebene senkrecht zu dem primären Lichtstrahlenbündel, wo-' bei diese Ebene infolge der Streuung selbst die Aufgabe des Polarisators erfüllt.The polarizer 5, through which the incident light beam passes, can optionally in Failure to come. This arrangement then enables the scattered light to be observed in one plane perpendicular to the primary bundle of light rays, with this plane itself performing the task as a result of the scattering of the polarizer met.

Andererseits kann man auch auf den Analysator verzichten. ;On the other hand, you can also do without the analyzer. ;

Der in dem Weg des einfallenden Lichtstrahlenbündels angeordnete Polarisator und der Beobachtungsanalysator werden nur dann gleichzeitig verwendet, wenn die Beobachtung des Lichtstrahlenbündels nicht unter einem rechten Winkel erfolgen kann. Dann ist nämlich eine störende Komponente des Streulichts vorhanden, die beseitigt oder wenigstens abgeschwächt werden muß.The polarizer and the observation analyzer placed in the path of the incident light beam are only used simultaneously when observing the light beam cannot be done at a right angle. Then namely a disturbing component of the Scattered light is present, which must be eliminated or at least weakened.

Falls das einfallende Lichtstrahlenbündel nicht vor seinem Eintritt in den Probekörper polarisiert wird, werden die Phasendifferenzen auf dem Wege des * Streulichts gemessen, während die Beobachtung eines polarisierten Lichtstrahlenbündels die Messung der Phasendifferenzen auf dem Wege des primären Lichtstrahlenbündels durch den Probekörper ermöglicht. Das kann von Bedeutung für die Zonen des Körpers sein, in welchen die Spannungen sich von einer Stelle zur anderen schroff ändern. Diese Besonderheit kann sich als sehr vorteilhaft erweisen, weil es möglich ist, durch Ausnutzung dieser Eigenschaften ohne Verschiebung des primären Lichtstrahls eine Spannungsmessung an zwei einander benachbarten Punkten vorzunehmen und auf diese Weise die Änderung der Spannungen parallel zu der Oberfläche des Probekörpers zu bestimmen. 'If the incident light beam is not polarized before it enters the specimen, the phase differences are measured on the way of the scattered light while observing a polarized light beam enables the measurement of the phase differences on the path of the primary light beam through the specimen. This can be of importance for the areas of the body in which the tension is dissipating from one point to change abruptly to the other. This peculiarity can prove to be very advantageous because it is possible by utilizing these properties, a voltage measurement without shifting the primary light beam to make at two adjacent points and in this way to change the Determine stresses parallel to the surface of the test specimen. '

. Um Streifen zu erhalten, die sich möglichst scharf voneinander unterscheiden, ist es zweckmäßig, mit verhältnismäßig großen Einfallswinkeln des primären Lichtstrahlenbündels zu arbeiten. Hierdurch wird die Beobachtung erleichtert, jedoch, wie in dem vorstehenden Fall, nur unter der Voraussetzung* daß die Änderung der parallel zur Oberfläche des Prüfkörpers vorhandenen Spannungen in der untersuchten Zone nicht zu schnell verläuft. Grundsätzlich ist jedoch das Verfahren gemäß der Erfindung von der Größe des Einfallswinkels unabhängig. :h '. To get stripes that are as sharp as possible differ from each other, it is appropriate to use relatively large angles of incidence of the primary To work light beam. This makes the observation easier, but as in the previous one Case, only under the condition * that the change is parallel to the surface of the test specimen existing stresses in the examined zone does not go too fast. In principle, however, the method according to the invention is of the size of the Angle of incidence independent. :H '

Claims

Patent claims:

1. Method of examining and / or measuring stresses in a transparent body according to the scattered light method, in which the in the body on the way of the light beam generated and, if the incident light is not polarized, with the help of an analyzer or, if polarized, immediately visible interference fringes are observed when compensated are, characterized in that the compensation ratios are constantly changing causing the strips to wander, and from the direction of movement of the strips to stress fields is closed with the same sign.

2. The method according to claim 1 for determining the parabolic stress state in prestressed Vitreous bodies with neutral zones, e.g. B. panes of glass, characterized in that the glass body shines through, the migration of the interference fringes observed, the two in the neutral zones are recognizable, as a result of the voltage reversal at these points they are not moving Lines set and the amount of tension between the neutral lines by measuring the phase shift is determined.

3. Device for performing the method according to claim 1 or 2 with a prism system securing the optical contact to the body to be examined, an illumination system generating a parallel or converging, optionally polarized light beam and an observation device consisting of a lens system and optionally an analyzer and an im light beam path between the illumination system and the Beobachtungsemrichtung arranged compensator, characterized in that the compensator is embodied as a continuous rotation in '· displaceable Drehkompensator.

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4. Device ^: for performing the method according to claim 1 or 2 with a prism system securing the optical contact to the body to be examined, an illumination system generating a parallel or converging light beam and an observation device consisting of a lens system and possibly an analyzer unfl with a quarter-wave plate im Beam path between the lighting system and the observation device, characterized in that the quarter-wave plate can be set in continuous rotation.

1 sheet of drawings