DE2317797B2 - Verfahren zur Herstellung von Galliumphosphid - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von GalliumphosphidInfo
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Description
Einkristallines Galliumphosphid gewinnt zunehmend Bedeutung als Grundmaterial für die Herstellung von im
sichtbaren Bereich emittierenden Lumineszenzdioden. Als Ausgangsmaterial für die Einkristallzucht wird
polykristallines Material benötigt.
Nach einem bekannten Verfahren wird kompaktes, polykristallines Galliumphosphid gemäß C. J. Frosch
und L Derick, J. Electrochem.Soc. 108,251 (1961) durch direkte Synthese aus weißem Phosphor und Gallium bei
Temperaturen von 1450 bis 15000C und einem Druck
von 6 bis 35 A hergestellt. Das Verfahren ist äußerst schwierig und für den technischen Einsatz uninteressant.
Die Festigkeitsgrenze der Quarzampulle wird bei diesem Verfahren durch den erforderlichen Druck und
die gleichzeitig vorhandene hohe Temperatur überschritten, weshalb auf die Ampulle ein äußerer Druck
auszuüben ist, d. h. die Umsetzung in einer in einem Autoklaven befindlichen Ampulle durchzuführen ist,
wobei der weite Druckbereich von 6 bis 35 Atm die Einstellung des notwendigen Gegendruckes auf die
Ampulle schwierig macht, da der Innendruck nicht gemessen werden kann. Die hohe Senderfrequenz
bedingt eine geringe Eindringtiefe der Wirbelströme in das Werkstück (z. B. Graphitboot), d. h. es muß zur
Erzielung einer hohen Temperatur örtlich stark überheizt werden. Dadurch und durch die ohnehin hohe
Temperatur von 15000C entsteht ein schwarzer undurchsichtiger Belag an der Ampullenwandung, der
aus Galliumphosphid und Kohlenstoff besteht und der eine optische Temperaturmessung während der Reaktion
unmöglich macht. Für die Reaktion wird das Boot mit dem Gallium durch den induktiv erzeugten
Temperaturbereich bewegt. Erst bei einem sich anschließenden zweiten Durchgang kann kompaktes,
polykristallines Galliumphosphid erhalten werden, das am Ende des synthetisierten Barrens freies Gallium
enthält.
S. J. Bass und P. E. Oliver, beschrieben in J. Cryst.Growth 4, 286 (1968) ebenfalls die Herstellung
von polykristallinen Galliumphosphid aus den Elementen bei einer Reaktionstemperatur von 14500C. Der
notwendige Arbeitsdruck wird mit 8 bis 10 Atm angegeben. Es kann ohne Autoklaven gearbeitet
werden und als eigentliches Reaktionsgefäß wird ein an beiden Enden verschlossenes Graphitrohr verwendet.
Durch Bohrungen kann der Phosphordampf in das Reaktionsrohr gelangen und dort mit Gallium zu
Galliumphosphid reagieren. Bei einer Wandergeschwindigkeit der Quarzampulle von 1 cm/Std. durch die heiße
Zone wird ein Galliumphosphid mit einem Kohlenstoffgehalt mit rund 1000 ppm erhalten. Aber nicht nur die
Verunreinigung ist nachteilig, sondern auch das Festkleben des Galliumphosphids am Reaktionsrohr
und schließlich die kleine Wandergeschwindigkeit der Quarzampulle von 1 cm/Std. durch die heiße Zone, die
erforderlich ist, um kompaktes Galliumphosphid zu erhalten.
Bei dem von S. E. Blum, R. J. Chicotka, B. K. Bischoff
ίο in J. Electrochem. Soc. 115, 324 (1968) angegebenen
Umsatz von Gallium und Phosphor bei 15000C und einem Phosphordampfdruck von 5 bis 25 Atm in einer
senkrechten Bridgeman-Anlage ist die für die Reaktion zur Verfügung stehende freie Galliumoberfläche klein
und die für eine vollständige Umsetzung notwendige Zeit dementsprechend langer als bei einer horizontalen
Anordnung. Die Erstarnmgsgeschwindigkeit des vollständig
erschmolzenen Galliumphosphid-Regulus beträgt 1 cm/Std. Durch die lange Verweilzeit und durch
die hohe Temperatur von 15000C ist wieder die Reaktion mit dem Reaktionsgefäß gegeben, d. h.
Verunreinigung des Halbleitermaterials und nachteilige Veränderung des Reaktionsgefäßes.
Ferner ist in der GB-PS 12 51251, der DE-OS 19 11715 und in der Arbeit von ]. P. Besselers in
Mat. Res. Bull. 3 797 (1968) die Herstellung von Galliumphosphid
aus den Elementen bei Temperaturen von 1000 bis 1200° C und einem Druck von 1 Atm
beschrieben. Die Umsetzung ist aber sehr zeitraubend (7 g GaP in 5 Tagen) und das Reaktionsprodukt enthält
Galliumeinschlüsse. Gemäß einem weiteren in der deutschen Patentschrift 10 29 803 beschriebenen Verfahren
wird zur Herstellung von Galliumphosphid aus den Elementen nach dem 2-Temperaturverfahren am
Schmelzpunkt von Galliumphosphid und dem zugehörigen Gleichgewichtsdampfdruck gearbeitet. Der sich
bildende Kristall entzieht der Schmelze laufend Phosphor, der nur beschränkt (unter Absinken des
Dampfdruckes) aus der Dampfphase nachgeliefert werden kann. Die hiernach zu erhaltenden maximal
möglichen Mengen an polykristallinem Galliumphosphid — pro Ansatz 7 bis 8 g — reichen für die heutigen
Mengenanforderungen nicht mehr aus.
Bei den in »Halbleiterprobleme«, Band 5, 1960, Seiten 41 bis 73 (Vieweg-Verlag) beschriebenen Verfahren
sollen hohe Drücke bei hohen Temperaturen vermieden werden. Um dies zu erreichen, soll, sofern
sich eine Temperaturangabe findet, bei einer Verfahrenstemperatur gearbeitet werden, die höher liegt als
die kongruente Schmelztemperatur der entstehenden Verbindung (GaP) und das gesamte umzusetzende Ga
wird bis zum Beginn des gerichteten Erstarrens auf diese hohe Temperatur erhitzt. Kompaktes GaP, das
frei von Einschlüssen ist, wird in der Regel nicht erhalten.
Aus der DE-OS 19 11715 ist ein Verfahren zur
Herstellung von Halbleiter-Einkristallen im horizontalen System bekannt. Die Temperaturdifferenz soll im
allgemeinen unter 3000C liegen. Bei diesem Verfahren ist der zeitliche Ablauf nur von der Diffusionsgeschwindigkeit
des GaP von der Ga-Oberflache (1200° C) in den
Bereich der niedrigeren Temperatur (1150° C) abhängig.
Die Wachstumsgeschwindigkeit des Reaktionsproduktes ist durch diese Diffusionsgeschwindigkeit vorgegeben.
Sie erfolgt langsam und bei zu hoher Temperatur (Überschreiten des Smp. des GaP) entsteht kein
Einkristall.
Überraschenderweise wurde gefunden, daß die
Überraschenderweise wurde gefunden, daß die
Herstellung von -Galliumphosphid aus den Elementen bei einer wesentlich unter dem Schmelzpunkt der
entstehenden Verbindung liegenden Temperatur durchgeführt werden kann, wobei die dabei erhaltene
kompakte stöchiometrische polykristalline Verbindung
die eingangs geschilderten Nachteile i:>;cht aufweist und
zur Züchtung von Einkristallen gut geeignet ist.
Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung von kompaktem polykristallinen! GaP,
durch direkte Synthese aus Gallium und Phosphor in einem geschlossenen horizontalen System, unter Druck
und erhöhter Temperatur, das dadurch gekennzeichnet ist, daß man das Gallium in einem eng begrenzten
Bereich auf eine Temperatur von 1000 bis 1400°C erhitzt und gleichzeitig den Dampfdruck des Phosphors
auf 5 bis 12 Atmosphären einstellt Das Erhitzen auf die Reaktionstemperatur kann induktiv oder durch Strahlungsenergie
erfolgen.
Hohe Temperaturen sind in der gesamten Halbleitertechnologie als nachteilig anzusehen, da allgemein
bekannt ist, daß der Einbau von Verunreinigungen mit
steigender Temperatur zunimmt. Darüber hinaus verkürzen sich die Standzeiten der Materialien (z. B.
Quarz), aus denen Reaklionsampullen oder Reaktionsgefäße hergestellt werden, erheblich. Vielfach wird
deren Einsatz unmöglich.
Das nach dem erfindungsgemäßen Verfahren erhaltene Galliumphosphid ist einphasig, kompakt, pol>
kristallin und rein. Selbst bei Verwendung von Quarzbooten ist es nur geringfügig durch Silicium verunreinigt. Bei
Verwendung von Graphitbooten lassen sich -.'ie
Reaktionsprodukte ohne Schwierigkeiten aus den Booten entfernen und die Bildung eines die optische
Temperaturmessung verhindernden Belages an der Quarzwandung wird wesentlich reduziert. Bei Einsatz
eines Bornitridbootes, die ebenfalls wiederholt verwendet werden können, ist der Wandbelag durch die
niedrigere Reaktionstemperatur sogar soweit reduziert, daß die Verwendung eines Istwertgebers zur Regelung
des Hochfrequenzgenerators möglich ist. Ferner verhindert das steile Temperaturprofil die Bildung einer
zellenähnlichen Substruktur, die zu Ga-Einschlüssen führt. Dadurch und durch die starke Durchmischung der
Reaktionskomponenten und des Reaktionsproduktes in der Hochtemperaturzone (= Reaktionszone) entsteht
ein kompaktes, einphasiges GaP, die rasche Gleichgewichtseinstellung wird gefördert und ein »Überschuß«
an Gallium wandert beim Ziehen der Reaktionszone an das Barrenende. Es ist, um ein kompaktes Material zu
erhalten, nicht notwendig, daß mehrere Zonendurchgänge angewandt werden und daß das synthetisierte
Material bis zum Schmelzpunkt erhitzt wird. Als Folge ergibt sich gegenüber bekannten Verfahren eine
verkürzte Durchlaufze!·.
Die Stabilität der Quarzampulle wird dadurch weitgehend erhalten, daß nur eine möglichst schmale
Hochtemperaturzone angewandt wird und dadurch das Quarz nur kurzzeitig lokal erhitzt wird.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisch eine Anordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens im
Schnitt. Fig. 2 zeigt eine graphische Darstellung des Temperaturprofiles für Galliumphosphid in einer
Anordnung gemäß der Erfindung.
In F i g. 2 sind zwei Rohröfen, der Phosphorofen 2 und
der Nachheizofen 3 in einem Abstand von 10 cm fest montiert. Dazwischen liegt zentrisch angeordnet die
wassergekühlte 5-windige Induktionsspule 4 aus versilbertem Kupferrohr m/t einem Innendurchmesser von
30 mm. Nicht sichtbar ist ein 12 KW-Generator mit einer Frequenz von 450 kHz.
Der richtige Abstand der beiden öfen ist sehr wesentlich. Die Quarzampulle 1 liegt auf zwei
löffelartigen Halterungen 15 und wird durch einen Motor 6 mit variabler Drehzahl über eine durchgehende
Spindel 5 bewegt Das Quarzrohr wird mit roten Phosphor 12 und Gallium 14 beschickt, wobei der
Phorphor durch Quarzwolle 13 vom eigentlichen Reaktionsraum abgetrennt und das Gallium 14 in ein
halbrundes Graphitboot 10 gegeben wird, das mit Keramikfüßen 11 versehen ist Als Reaktionsboot kann
auch ein solches aus Bornitrid oder Quarz verwendet werden.
Das beschichte Quarzrohr 1 wird unter Vakuum erhitzt und ausgeheizt und mit einem Quarzklotz oder
einer Quarzkappe 9 bei ca. 1 ■ 1O-« Torr auf 40 cm
Länge abgeschmolzen.
Beim zonenweisen Aufschmelzen wird immer nur ein Teil des Galliums auf 12300C erhitzt. Ein Teil des
Phosphors reagiert. Der Rest bleibt bis gegen Ende der Reaktionszeit als Bodenkörper zurück und wird ständig
zwischen 510 und 515°C temperiert. Um eine ständige Temperaturkonstanz zu erreichen, wird ein an der
Ampullenwand anliegendes Thermoelement 8 eingebracht, welches beim Ziehvorgang im Halterohr 7
mitgeführt wird und über einen PI-Regler den Phosphorofen 2 so ausregelt, daß das rechte Ende der
Ampulle mit dem Phosphordepot auf konstanter Temperatur (510 bis 515°C) gehalten wird. Ist diese
Stelle gleichzeitig die kälteste Stelle im gesamten Reaktionsraum, so herrscht während der Synthese ein
Phorphordruck zwischen 9—10 Atm. Der gewünschte Temperaturverlauf kann erreicht werden, indem man
den Nachheizofen 3 auf 750°C ausregelt, die Galliumschmelze induktiv auf 1300°C erhitzt und die Heizwendel
im Phosphorofen asymmetrisch wickelt.
Bei Ziehgeschwindigkeiten zwischen 1,8 und 4,3 cm/ Std., was einer Durchlaufzeit von 3 bis 7 Stunden
entspricht, konnten kompakte bernsteinfarbene Ingots erzielt werden. Die Ausbeute an polykristallinen!
Galliumphosphid lag durchweg bei 80%, bezogen auf die eingesetzte Menge an Gallium und rotem Phorphor.
Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestelltes Galliumphosphid kann mit Vorteil für die Einkristallzucht
nach dem Schutzschmelzeverfahren unter hohem Druck eingesetzt werden. Die undotierten Einkristalle
weisen bei Raumtemperatur eine Ladungsträgerkonzentration von 2 bis 4 · !O16Cm-3 und eine Beweglichkeit
von 140 bis 190 cm2 V-' see.-' auf. Erfindungsgemäß
erhaltenes Galliumphosphid eignet sich °auch als Quelle für die Gasphasenepitaxie von Galliumphosphid.
Die Erfindung wird durch die folgenden Beispiele anhand der Figuren näher erläutert. Verwendet wurde
eine Anordnung gemäß Fig. 1.
Eine Quarzampulle (1) (19 χ 25 mm) wird so in eine Anordnung aus dem Phosphorofen (2), dem Nachheizofen
(3) und der Induktionsspule (4) eingebracht, daß sie über einen Motor (6) mit variabler Drehzahl frei
beweglich ist.
Das gewünschte Temperaturprofil wird dadurch erreicht, daß neben der Hochtemperaturzone, die durch
induktive Beheizung mit einem Hochfrequenzgenerator mit 450 KHz erzielt wird, der Ofen (2) auf 510°C und der
Ofen (3) auf 750°C ausgeregelt wird und beide einen Abstand von 100 mm haben. Die Temperatur von Ofen
(3), die im wesentlichen eine Kondensation von Phosphor verhindern soll, ist nicht in dem Maße kritisch
wie die im Ofen (2). Zur Temperaturmessung wird deshalb ein in die Ampullenhalterung und -führung (7)
eingebautes Mantelthermoelement (8) verwendet — Mantelthermoelemente sind gegenüber anderen Thermoelementen
temperaturempfindlicher —. Die Syntheseampulle wird im Hochvakuum (ca. 10-6Torr) unter
Verwendung einer Quarzkappe (9) abgeschmolzen. Der direkte Wärmeübergang von dem heißen Reaktionsboot (10) auf die Ampullenwandung wird weitgehend
dadurch verhindert, daß das Reaktionsboot auf Keramikfüßen (11) steht.
15,5 g(0,5 Mol) Phosphor (12) rot, hochrein, werden in ein sorgfältig gereinigtes 60 cm langes mit einem NS 29
Kernschliff versehenes einseitig geschlossenes Quarzrohr mit einem Innendurchmesser von 19 mm und einer
Wandstärke von 3 mm eingefüllt und durch locker gepackte Quarzwolle (13) an einem Ende fixiert. Die
Quarzwollc hat ferner die Aufgabe, den Wärmestrom von der Hochtemperaturzone zum Phosphor zu
verhindern. In das Graphitboot (10) werden 35 g (0,5 Mol) Gallium (14), hochrein, eingewogen. Die
abgeschmolzene Ampulle wird in folgender Reihenfolge hochgeheizt: Ofen (3) auf 750°C, Hochtemperaturzone
auf zunächst ca. 10000C, Ofen (2) auf 510° C und
schließlich Hochtemperaturzone in der letzten Phase auf 1230°C. Nach Beginn der Reaktion wird die Ampulle
mit einer Schubgeschwindigkeit von 40 mm/Std. durch das steile Temperaturprofil geschoben.
Nach der Umsetzung wird das Restgallium, welches aufgrund des bei der Phosphoreinwaage unberücksichtigten
Ampullenvolumens und des nicht kompensierten Zersetzungsdampfdruckes verbleibt und durch den
Ziehvorgang an das Barrenende befördert wird, durch Salzsäurebehandlung entfernt. Man erhält einen 43 g
schweren, einphasigen, transparenten Barren an polykristallinem GaP, das direkt für die Einkristallzucht
weiterverwendet werden kann.
Bei einer Phosphoreinwaage von 10,8 g (0,35 Mol) und einer Galliumeinwaage von 24,5 g (0,35 Mol) und
der Verwendung eines Bornitridbootes (60 mm lang, 0,8 mm Wandstärke) sowie einer Schubgeschwindigkeit
von 18—40 mm/Std. kann nach Behandlung mit Salzsäure ein 33 g schwerer, einphasiger, polykristallinerGaP-Stab
isoliert werden.
ίο Bei einer Senderfrequenz von 1,5 MHz bzw. 4 MHz
gelingt dieser Versuch nicht, da das Gallium nicht im notwendigen Maß aufgeheizt wird.
Mit derselben Einwaage wie im Beispie! 2 und bei Verwendung eines Quarzbootes, das eine glatte (d. h.
unbehandelte Oberfläche) sandgestrahlte oder bekohlte Oberfläche haben kann (100 mm lang, Wandstärke
1,5 mm) als Reaktionsgefäß werden nach der Salzsäurebehandlung 32 g dunkelgefärbtes jedoch dichtes polykristallines
GaP erhalten. Die Dunkelfärbung des Materials ist durch den Siliziumgehalt bedingt, der
80 ppm beträgt. Beim Abkühlen des Reaktionsgutes zerspringt das Reaktionsboot; es kann also nur einmal
verwendet werden. Der Abstand Phosphor - Gallium beträgt 200 mm. Das Reaktionsboot steht, um den
Wärmeübergang auf die Ampullenwandung zu reduzieren, auf einer Keramikplatte.
68 g (2,2 Mol) Phosphor, rot, hochrein, werden in die Quarzampulle (38 χ 46 mm) und 154 g (2,2 Mol) Gallium
hochrein in ein 155 mm langes Graphitboot eingewogen. Das Graphitboot steht auf Keramikfüßen
in der Ampulle. Nach Erreichen des erforderlichen Temperaturprofils wird die Reaktionsampulle mit einer
Schubgeschwindigkeit von 40 mm/Std. durch dieses geschoben. Dauer der Umsetzung 4 Std. Nach der
Salzsäurebehandlung resultiert ein 205 g schwerer, transparenter, einphasiger Barren an polykristallinem
GaP. Das Reaktionsboot kann nach Reinigung und Ausheizen im Vakuum wiederholt verwendet werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (2)
1. Verfahren zur Herstellung von kompaktem, polykristallinem Galliumphosphid durch direkte
Synthese aus Gallium und Phosphor in einem geschlossenen, horizontalen System unter Druck
und bei erhöhter Temperatur, dadurch gekennzeichnet, daß man das Gallium in einem
eng begrenzten Bereich auf eine Temperatur von 1000 bis 1400° C erhitzt und gleichzeitig den
Dampfdruck des Phosphors auf 5 bis 12 Atmosphären einstellt
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gallium in der Horizontalen des
geschlossenen Systems bewegt wird.
Priority Applications (11)
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|---|---|---|---|
| DE2317797A DE2317797B2 (de) | 1973-04-09 | 1973-04-09 | Verfahren zur Herstellung von Galliumphosphid |
| CH409074A CH589479A5 (de) | 1973-04-09 | 1974-03-25 | |
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Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS61222911A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Toshiba Corp | 燐化化合物の合成方法 |
| JPS63195187A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-12 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 化合物半導体結晶成長装置 |
| JP3909364B2 (ja) * | 1998-10-29 | 2007-04-25 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | ガリウムの精製方法および装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1029803B (de) * | 1954-09-18 | 1958-05-14 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung einer Verbindung oder einer Legierung in kristalliner Form durch Zusammen-schmelzen der Komponenten in einem abgeschlossenen System |
| NL103088C (de) * | 1957-06-08 | |||
| US3305313A (en) * | 1963-12-18 | 1967-02-21 | Philco Ford Corp | Method of producing gallium phosphide in crystalline form |
| JPS4915901B1 (de) * | 1969-09-10 | 1974-04-18 |
-
1973
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-
1974
- 1974-03-25 CH CH409074A patent/CH589479A5/xx not_active IP Right Cessation
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- 1974-04-04 IT IT50079/74A patent/IT1004121B/it active
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- 1974-04-09 GB GB1574874A patent/GB1406597A/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2224204A1 (de) | 1974-10-31 |
| FR2224204B1 (de) | 1980-06-27 |
| JPS5011998A (de) | 1975-02-06 |
| US3991163A (en) | 1976-11-09 |
| ATA277374A (de) | 1981-04-15 |
| GB1406597A (en) | 1975-09-17 |
| CA1043534A (en) | 1978-12-05 |
| CH589479A5 (de) | 1977-07-15 |
| NL7404831A (de) | 1974-10-11 |
| DE2317797A1 (de) | 1974-10-24 |
| IT1004121B (it) | 1976-07-10 |
| BE812943A (fr) | 1974-07-15 |
| AT364798B (de) | 1981-11-10 |
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