JP2012158581A - Substituted benzochalcogenoacene compound - Google Patents
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Abstract
【課題】有機半導体活性層の薄膜を与え得る新規な化合物が求められている。
【解決手段】式(1)
(式中、Eはそれぞれ独立に、硫黄またはセレン原子を表す。
R1及びR2は、それぞれ独立に、水素原子、分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基を表す。前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基の合計炭素数は9〜30であり、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基は、置換基を有していてもよい。前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基の合計炭素数は7〜30であり、前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基は、置換基を有していてもよい。
R1及びR2の少なくとも一方は、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基である。)
で表される置換ベンゾカルコゲノアセン化合物。
【選択図】なしThere is a need for new compounds that can provide thin films of organic semiconductor active layers.
SOLUTION: Formula (1)
(In the formula, each E independently represents a sulfur or selenium atom.
R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, an aryl group having a branched alkyl group, or a heteroaryl group having a branched alkyl group. The total number of carbon atoms of the aryl group having a branched alkyl group is 9 to 30, and the aryl group having the branched alkyl group may have a substituent. The total carbon number of the heteroaryl group having the branched alkyl group is 7 to 30, and the heteroaryl group having the branched alkyl group may have a substituent.
At least one of R 1 and R 2 is the aryl group having the branched alkyl group or the heteroaryl group having the branched alkyl group. )
The substituted benzochalcogenoacene compound represented by these.
[Selection figure] None
Description
本発明は、置換ベンゾカルコゲノアセン化合物等に関する。 The present invention relates to a substituted benzochalcogenoacene compound and the like.
有機半導体デバイスの1種である有機トランジスタは、電子ペーパー、大画面フラットパネルディスプレイ等の素子として用いられる。このような有機トランジスタは、有機半導体活性層、基板、絶縁層、電極等の部材から構成されている。有機半導体活性層を与える化合物としては、特許文献1に、ペンタセンが記載されており、ペンタセンを真空蒸着して得られた薄膜を有機半導体活性層に用いることも知られている。 Organic transistors, which are one type of organic semiconductor device, are used as elements such as electronic paper and large screen flat panel displays. Such an organic transistor is composed of members such as an organic semiconductor active layer, a substrate, an insulating layer, and an electrode. As a compound that gives an organic semiconductor active layer, Patent Literature 1 describes pentacene, and it is also known that a thin film obtained by vacuum-depositing pentacene is used for the organic semiconductor active layer.
このような状況下、有機半導体活性層の薄膜を与え得る新規な化合物が求められている。 Under such circumstances, a novel compound capable of providing a thin film of an organic semiconductor active layer is demanded.
かかる課題を解決するために、本発明者は鋭意検討した結果、以下の本発明に至った。
<1> 式(1)
(式中、Eはそれぞれ独立に、硫黄またはセレン原子を表す。
R1及びR2は、それぞれ独立に、水素原子、分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基を表す。前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基の合計炭素数は9〜30であり、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基は、置換基を有していてもよい。前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基の合計炭素数は7〜30であり、前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基は、置換基を有していてもよい。
R1及びR2の少なくとも一方は、分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基を表す。)
で表される置換ベンゾカルコゲノアセン化合物。
<2> 式(1)におけるEが、全て硫黄原子であることを特徴とする<1>記載の化合物。
<3> 式(1)におけるR1及びR2が、それぞれ独立に、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、水素原子であることを特徴とする<1>又は<2>記載の化合物。
<4> 式(1)におけるR1及びR2が、それぞれ独立に、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基であることを特徴とする<1>又は<2>記載の化合物。
In order to solve this problem, the present inventor has intensively studied, and as a result, has reached the following present invention.
<1> Formula (1)
(In the formula, each E independently represents a sulfur or selenium atom.
R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, an aryl group having a branched alkyl group, or a heteroaryl group having a branched alkyl group. The total number of carbon atoms of the aryl group having a branched alkyl group is 9 to 30, and the aryl group having the branched alkyl group may have a substituent. The total carbon number of the heteroaryl group having the branched alkyl group is 7 to 30, and the heteroaryl group having the branched alkyl group may have a substituent.
At least one of R 1 and R 2 represents an aryl group having a branched alkyl group or a heteroaryl group having a branched alkyl group. )
The substituted benzochalcogenoacene compound represented by these.
<2> The compound according to <1>, wherein all Es in the formula (1) are sulfur atoms.
<3><1> or <2> description, wherein R 1 and R 2 in formula (1) are each independently an aryl group having a branched alkyl group or a hydrogen atom Compound.
<4> The compound according to <1> or <2>, wherein R 1 and R 2 in formula (1) are each independently an aryl group having the branched alkyl group.
<5> 式(1)で表される化合物が、式(2)
(式中、E、R1及びR2は前記と同じ意味を表す。)
で表される化合物であることを特徴とする<1>〜<4>のいずれか記載の化合物。
<6>式(2)におけるEが、全て硫黄であることを特徴とする<5>記載の化合物。
<7> 式(2)におけるR1及びR2が、それぞれ独立に、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、水素原子であることを特徴とする<5>又は<6>記載の化合物。
<8> 式(2)におけるR1及びR2が、いずれも前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基であることを特徴とする<5>又は<6>記載の化合物。
<5> The compound represented by the formula (1) is represented by the formula (2).
(In the formula, E, R 1 and R 2 represent the same meaning as described above.)
<1> to <4>, wherein the compound is represented by the formula:
<6> The compound according to <5>, wherein all Es in the formula (2) are sulfur.
<7><5> or <6> description, wherein R 1 and R 2 in formula (2) are each independently an aryl group having a branched alkyl group or a hydrogen atom Compound.
<8> The compound according to <5> or <6>, wherein R 1 and R 2 in the formula (2) are both aryl groups having the branched alkyl group.
<9> <1>〜<8>のいずれか記載の化合物を含有する薄膜。
<10> <1>〜<8>のいずれか記載の化合物からなる薄膜。
<11> <9>又は<10>記載の薄膜を含有する有機半導体デバイス。
<12> <9>又は<10>記載の薄膜を含有する有機トランジスタ。
<9> A thin film containing the compound according to any one of <1> to <8>.
<10> A thin film comprising the compound according to any one of <1> to <8>.
<11> An organic semiconductor device containing the thin film according to <9> or <10>.
<12> An organic transistor containing the thin film according to <9> or <10>.
本発明によれば、有機半導体活性層を与え得る新規な化合物が提供可能である。 According to the present invention, a novel compound capable of providing an organic semiconductor active layer can be provided.
本発明は、式(1)
で表される置換ベンゾカルコゲノアセン化合物(以下、化合物(1)と記すことがある)である。
式(1)におけるEは、それぞれ独立に、硫黄またはセレン原子を表す。
The present invention relates to formula (1)
A substituted benzochalcogenoacene compound represented by the formula (hereinafter sometimes referred to as compound (1)).
E in Formula (1) represents a sulfur or a selenium atom each independently.
式(1)におけるR1及びR2は、それぞれ独立に、水素原子、分岐状のアルキル基を有するアリール基(以下、分岐アルキル置換アリール基と記すことがある)、又は、分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基(以下、分岐アルキル置換ヘテロアリール基と記すことがある)を表す。
R1及びR2の少なくとも一方は、分岐アルキル置換アリール基、又は、分岐アルキル置換ヘテロアリール基である。
分岐アルキル置換アリール基及び分岐アルキル置換ヘテロアリール基は、置換基を有していてもよい。
分岐アルキル置換アリール基の合計炭素数は置換基を含めて9〜30であり、分岐アルキル置換ヘテロアリール基の合計炭素数は置換基を含めて7〜30である。
R 1 and R 2 in Formula (1) are each independently a hydrogen atom, an aryl group having a branched alkyl group (hereinafter sometimes referred to as a branched alkyl-substituted aryl group), or a branched alkyl group. Represents a heteroaryl group having the formula (hereinafter sometimes referred to as a branched alkyl-substituted heteroaryl group).
At least one of R 1 and R 2 is a branched alkyl-substituted aryl group or a branched alkyl-substituted heteroaryl group.
The branched alkyl-substituted aryl group and the branched alkyl-substituted heteroaryl group may have a substituent.
The total carbon number of the branched alkyl-substituted aryl group is 9 to 30 including the substituent, and the total carbon number of the branched alkyl-substituted heteroaryl group is 7 to 30 including the substituent.
分岐アルキル置換アリール基及び分岐アルキル置換ヘテロアリール基に含まれる分岐状のアルキル基としては、例えば、i−プロピル基、i−ブチル基、s−ブチル基、t−ブチル基、ネオペンチル基、t−ペンチル基、1−メチルブチル基、1−メチルペンチル基、1−メチルヘキシル基、1−メチルヘプチル基、1−メチルオクチル基、1−メチルノニル基、1−メチルデシル基、1−メチルウンデシル基、1−メチルドデシル基、1−メチルトリデシル基、1−メチルテトラデシル基、1−メチルペンタデシル基、1−メチルヘキサデシル基、1−メチルヘプタデシル基、1−メチルオクタデシル基、1−メチルノナデシル基、1−メチルイコシル基、1−エチルプロピル基、1−エチルブチル基、1−エチルペンチル基、1−エチルヘキシル基、1−エチルヘプチル基、1−エチルオクチル基、1−エチルノニル基、1−エチルデシル基、1−エチルウンデシル基、1−エチルドデシル基、1−エチルトリデシル基、1−エチルテトラデシル基、1−エチルペンタデシル基、1−エチルヘキサデシル基、1−エチルヘプタデシル基、1−エチルオクタデシル基、1−エチルノナデシル基、1−エチルイコシル基、1−プロピルブチル基、1−プロピルペンチル基、1−プロピルヘキシル基、1−プロピルヘプチル基、1−プロピルオクチル基、1−プロピルノニル基、1−プロピルデシル基、1−プロピルウンデシル基、1−プロピルドデシル基、1−プロピルトリデシル基、1−プロピルテトラデシル基、1−プロピルペンタデシル基、1−プロピルヘキサデシル基、1−プロピルヘプタデシル基、1−プロピルオクタデシル基、1−プロピルノナデシル基、1−プロピルイコシル基、1−ブチルペンチル基、1−ブチルヘキシル基、1−ブチルヘプチル基、1−ブチルオクチル基、1−ブチルノニル基、1−ブチルデシル基、1−ブチルウンデシル基、1−ブチルドデシル基、1−ブチルトリデシル基、1−ブチルテトラデシル基、1−ブチルペンタデシル基、1−ブチルヘキサデシル基、1−ブチルヘプタデシル基、1−ブチルオクタデシル基、1−ブチルノナデシル基、1−ブチルイコシル基、1−ペンチルヘキシル基、1−ペンチルヘプチル基、1−ペンチルオクチル基、1−ペンチルノニル基、1−ペンチルデシル基、1−ペンチルウンデシル基、1−ペンチルドデシル基、1−ペンチルトリデシル基、1−ペンチルテトラデシル基、1−ペンチルペンタデシル基、1−ペンチルヘキサデシル基、1−ペンチルヘプタデシル基、1−ペンチルオクタデシル基、1−ペンチルノナデシル基、1−ペンチルイコシル基、1−ヘキシルヘプチル基、1−ヘキシルオクチル基、1−ヘキシルノニル基、1−ヘキシルデシル基、1−ヘキシルウンデシル基、1−ヘキシルドデシル基、1−ヘキシルトリデシル基、1−ヘキシルテトラデシル基、1−ヘキシルペンタデシル基、1−ヘキシルヘキサデシル基、1−ヘキシルヘプタデシル基、1−ヘキシルオクタデシル基、1−ヘキシルノナデシル基、1−ヘキシルイコシル基、 Examples of the branched alkyl group contained in the branched alkyl-substituted aryl group and the branched alkyl-substituted heteroaryl group include i-propyl group, i-butyl group, s-butyl group, t-butyl group, neopentyl group, t- Pentyl group, 1-methylbutyl group, 1-methylpentyl group, 1-methylhexyl group, 1-methylheptyl group, 1-methyloctyl group, 1-methylnonyl group, 1-methyldecyl group, 1-methylundecyl group, 1 -Methyldodecyl group, 1-methyltridecyl group, 1-methyltetradecyl group, 1-methylpentadecyl group, 1-methylhexadecyl group, 1-methylheptadecyl group, 1-methyloctadecyl group, 1-methylnonadecyl group 1-methylicosyl group, 1-ethylpropyl group, 1-ethylbutyl group, 1-ethylpentyl group, 1-ethyl Xyl group, 1-ethylheptyl group, 1-ethyloctyl group, 1-ethylnonyl group, 1-ethyldecyl group, 1-ethylundecyl group, 1-ethyldodecyl group, 1-ethyltridecyl group, 1-ethyltetradecyl group Group, 1-ethylpentadecyl group, 1-ethylhexadecyl group, 1-ethylheptadecyl group, 1-ethyloctadecyl group, 1-ethylnonadecyl group, 1-ethylicosyl group, 1-propylbutyl group, 1-propylpentyl group 1-propylhexyl group, 1-propylheptyl group, 1-propyloctyl group, 1-propylnonyl group, 1-propyldecyl group, 1-propylundecyl group, 1-propyldodecyl group, 1-propyltridecyl group 1-propyltetradecyl group, 1-propylpentadecyl group, 1-propylhexadecyl group, 1 Propylheptadecyl group, 1-propyloctadecyl group, 1-propylnonadecyl group, 1-propylicosyl group, 1-butylpentyl group, 1-butylhexyl group, 1-butylheptyl group, 1-butyloctyl group, 1 -Butylnonyl group, 1-butyldecyl group, 1-butylundecyl group, 1-butyldodecyl group, 1-butyltridecyl group, 1-butyltetradecyl group, 1-butylpentadecyl group, 1-butylhexadecyl group, 1-butylheptadecyl group, 1-butyloctadecyl group, 1-butylnonadecyl group, 1-butylicosyl group, 1-pentylhexyl group, 1-pentylheptyl group, 1-pentyloctyl group, 1-pentylnonyl group, 1-pentyl Decyl group, 1-pentylundecyl group, 1-pentyldodecyl group, 1-pentyltridecyl group 1-pentyltetradecyl group, 1-pentylpentadecyl group, 1-pentylhexadecyl group, 1-pentylheptadecyl group, 1-pentyloctadecyl group, 1-pentylnonadecyl group, 1-pentylicosyl group, 1 -Hexyl heptyl group, 1-hexyl octyl group, 1-hexyl nonyl group, 1-hexyl decyl group, 1-hexyl undecyl group, 1-hexyl decyl group, 1-hexyl tridecyl group, 1-hexyl tetradecyl group, 1-hexylpentadecyl group, 1-hexylhexadecyl group, 1-hexylheptadecyl group, 1-hexyloctadecyl group, 1-hexylnonadecyl group, 1-hexylicosyl group,
2−メチルブチル基、2−メチルペンチル基、2−メチルヘキシル基、2−メチルヘプチル基、2−メチルオクチル基、2−メチルノニル基、2−メチルデシル基、2−メチルウンデシル基、2−メチルドデシル基、2−メチルトリデシル基、2−メチルテトラデシル基、2−メチルペンタデシル基、2−メチルヘキサデシル基、2−メチルヘプタデシル基、2−メチルオクタデシル基、2−メチルノナデシル基、2−メチルイコシル基、
2−エチルブチル基、2−エチルペンチル基、2−エチルヘキシル基、2−エチルヘプチル基、2−エチルオクチル基、2−エチルノニル基、2−エチルデシル基、2−エチルウンデシル基、2−エチルドデシル基、2−エチルトリデシル基、2−エチルテトラデシル基、2−エチルペンタデシル基、2−エチルヘキサデシル基、2−エチルヘプタデシル基、2−エチルオクタデシル基、2−エチルノナデシル基、2−エチルイコシル基、2−プロピルペンチル基、2−プロピルヘキシル基、2−プロピルヘプチル基、2−プロピルオクチル基、2−プロピルノニル基、2−プロピルデシル基、2−プロピルウンデシル基、2−プロピルドデシル基、2−プロピルトリデシル基、2−プロピルテトラデシル基、2−プロピルペンタデシル基、2−プロピルヘキサデシル基、2−プロピルヘプタデシル基、2−プロピルオクタデシル基、2−プロピルノナデシル基、2−プロピルイコシル基、
2−ブチルヘキシル基、2−ブチルヘプチル基、2−ブチルオクチル基、2−ブチルノニル基、2−ブチルデシル基、2−ブチルウンデシル基、2−ブチルドデシル基、2−ブチルトリデシル基、2−ブチルテトラデシル基、2−ブチルペンタデシル基、2−ブチルヘキサデシル基、2−ブチルヘプタデシル基、2−ブチルオクタデシル基、2−ブチルノナデシル基、2−ブチルイコシル基、2−ペンチルヘプチル基、2−ペンチルオクチル基、2−ペンチルノニル基、2−ペンチルデシル基、2−ペンチルウンデシル基、2−ペンチルドデシル基、2−ペンチルトリデシル基、2−ペンチルテトラデシル基、2−ペンチルペンタデシル基、2−ペンチルヘキサデシル基、2−ペンチルヘプタデシル基、2−ペンチルオクタデシル基、2−ペンチルノナデシル基、2−ペンチルイコシル基、2−ヘキシルオクチル基、2−ヘキシルノニル基、2−ヘキシルデシル基、2−ヘキシルウンデシル基、2−ヘキシルドデシル基、2−ヘキシルトリデシル基、2−ヘキシルテトラデシル基、2−ヘキシルペンタデシル基、2−ヘキシルヘキサデシル基、2−ヘキシルヘプタデシル基、2−ヘキシルオクタデシル基、2−ヘキシルノナデシル基、2−ヘキシルイコシル基、
2-methylbutyl group, 2-methylpentyl group, 2-methylhexyl group, 2-methylheptyl group, 2-methyloctyl group, 2-methylnonyl group, 2-methyldecyl group, 2-methylundecyl group, 2-methyldodecyl group Group, 2-methyltridecyl group, 2-methyltetradecyl group, 2-methylpentadecyl group, 2-methylhexadecyl group, 2-methylheptadecyl group, 2-methyloctadecyl group, 2-methylnonadecyl group, 2- Methyl icosyl group,
2-ethylbutyl group, 2-ethylpentyl group, 2-ethylhexyl group, 2-ethylheptyl group, 2-ethyloctyl group, 2-ethylnonyl group, 2-ethyldecyl group, 2-ethylundecyl group, 2-ethyldodecyl group 2-ethyltridecyl group, 2-ethyltetradecyl group, 2-ethylpentadecyl group, 2-ethylhexadecyl group, 2-ethylheptadecyl group, 2-ethyloctadecyl group, 2-ethylnonadecyl group, 2-ethylicosyl Group, 2-propylpentyl group, 2-propylhexyl group, 2-propylheptyl group, 2-propyloctyl group, 2-propylnonyl group, 2-propyldecyl group, 2-propylundecyl group, 2-propyldodecyl group 2-propyltridecyl group, 2-propyltetradecyl group, 2-propylpentadecyl group, - propyl hexadecyl group, 2-propyl heptadecyl group, 2-propyl octadecyl group, 2-propyl nonadecyl group, 2-propyl icosyl group,
2-butylhexyl group, 2-butylheptyl group, 2-butyloctyl group, 2-butylnonyl group, 2-butyldecyl group, 2-butylundecyl group, 2-butyldodecyl group, 2-butyltridecyl group, 2- Butyltetradecyl group, 2-butylpentadecyl group, 2-butylhexadecyl group, 2-butylheptadecyl group, 2-butyloctadecyl group, 2-butylnonadecyl group, 2-butylicosyl group, 2-pentylheptyl group, 2- Pentyloctyl group, 2-pentylnonyl group, 2-pentyldecyl group, 2-pentylundecyl group, 2-pentyldodecyl group, 2-pentyltridecyl group, 2-pentyltetradecyl group, 2-pentylpentadecyl group, 2-pentylhexadecyl group, 2-pentylheptadecyl group, 2-pentyloctadecyl group, Tyrnonadecyl group, 2-pentylicosyl group, 2-hexyloctyl group, 2-hexylnonyl group, 2-hexyldecyl group, 2-hexylundecyl group, 2-hexyldecyl group, 2-hexyltridecyl group, 2- Hexyltetradecyl group, 2-hexylpentadecyl group, 2-hexylhexadecyl group, 2-hexylheptadecyl group, 2-hexyloctadecyl group, 2-hexylnonadecyl group, 2-hexylicosyl group,
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6-methylheptyl group, 6-methyloctyl group, 6-methylnonyl group, 6-methyldecyl group, 6-methylundecyl group, 6-methyldodecyl group, 6-methyltridecyl group, 6-methyltetradecyl group, 6 -Methylpentadecyl group, 6-methylhexadecyl group, 6-methylheptadecyl group, 6-methyloctadecyl group, 6-methylnonadecyl group, 6-methylicosyl group, 6-ethyloctyl group, 6-ethylnonyl group, 6-ethyldecyl group Group, 6-ethylundecyl group, 6-ethyldodecyl group, 6-ethyltridecyl group, 6-ethyltetradecyl group, 6-ethylpentadecyl group, 6-ethylhexadecyl group, 6-ethylheptadecyl group, 6-ethyloctadecyl group, 6-ethylnonadecyl group, 6-ethylicosyl group,
6-propylnonyl group, 6-propyldecyl group, 6-propylundecyl group, 6-propyldodecyl group, 6-propyltridecyl group, 6-propyltetradecyl group, 6-propylpentadecyl group, 6-propylhexadecyl group Decyl group, 6-propylheptadecyl group, 6-propyloctadecyl group, 6-propylnonadecyl group, 6-propylicosyl group, 6-butyldecyl group, 6-butylundecyl group, 6-butyldodecyl group, 6- Butyltridecyl group, 6-butyltetradecyl group, 6-butylpentadecyl group, 6-butylhexadecyl group, 6-butylheptadecyl group, 6-butyloctadecyl group, 6-butylnonadecyl group, 6-butylicosyl group, 6 -Pentylundecyl group, 6-pentyldodecyl group, 6-pentyltridecyl group, 6-pentylte Radecyl group, 6-pentylpentadecyl group, 6-pentylhexadecyl group, 6-pentylheptadecyl group, 6-pentyloctadecyl group, 6-pentylnonadecyl group, 6-pentylicosyl group, 6-hexyldecyl group, 6-hexyltridecyl, 6-hexyltetradecyl, 6-hexylpentadecyl, 6-hexylhexadecyl, 6-hexylheptadecyl, 6-hexyloctadecyl, 6-hexylnonadecyl, Hexylukosyl group,
1,2−ジメチルペンチル基、1,3−ジメチルペンチル基、1,4−ジメチルペンチル基、2,3−ジメチルペンチル基、2,4−ジメチルペンチル基、2,2−ジメチルペンチル基、2,2,4−トリメチルペンチル基、2,4,4−トリメチルペンチル基、1−メチル−1−プロピルペンチル基、1−エチル−1−メチルペンチル基、1−ブチル−1−メチルペンチル基、1,2−ジメチルヘキシル基、1,3−ジメチルヘキシル基、1,4−ジメチルヘキシル基、1,5−ジメチルヘキシル基、2,3−ジメチルヘキシル基、2,4−ジメチルヘキシル基、2,5−ジメチルヘキシル基、3,4−ジメチルヘキシル基、3,5−ジメチルヘキシル基、2,2−ジメチルヘキシル基、2,2,4−トリメチルヘキシル基、2,4,4−トリメチルヘキシル基、1,2−ジメチルヘプチル基、1,3−ジメチルヘプチル基、1,4−ジメチルヘプチル基、1,5−ジメチルヘプチル基、1,6−ジメチルヘプチル基、2,3−ジメチルヘプチル基、2,4−ジメチルヘプチル基、2,5−ジメチルヘプチル基、2,6−ジメチルヘプチル基、3,4−ジメチルヘプチル基、3,5−ジメチルヘプチル基、3,6−ジメチルヘプチル基、4,5−ジメチルヘプチル基、4,6−ジメチルヘプチル基、2,2−ジメチルヘプチル基、2,2,4−トリメチルヘプチル基、2,4,4−トリメチルヘプチル基、1,2−ジメチルオクチル基、1,3−ジメチルオクチル基、1,4−ジメチルオクチル基、1,5−ジメチルオクチル基、1,6−ジメチルオクチル基、1,7−ジメチルオクチル基、2,3−ジメチルオクチル基、2,4−ジメチルオクチル基、2,5−ジメチルオクチル基、2,6−ジメチルオクチル基、2,7−ジメチルオクチル基、3,4−ジメチルオクチル基、3,5−ジメチルオクチル基、3,6−ジメチルオクチル基、3,7−ジメチルオクチル基、4,5−ジメチルオクチル基、4,6−ジメチルオクチル基、5,6−ジメチルオクチル基、5,7−ジメチルオクチル基、2,2−ジメチルオクチル基、2,2,4−トリメチルオクチル基、2,4,4−トリメチルオクチル基等が挙げられる。 1,2-dimethylpentyl group, 1,3-dimethylpentyl group, 1,4-dimethylpentyl group, 2,3-dimethylpentyl group, 2,4-dimethylpentyl group, 2,2-dimethylpentyl group, 2, 2,4-trimethylpentyl group, 2,4,4-trimethylpentyl group, 1-methyl-1-propylpentyl group, 1-ethyl-1-methylpentyl group, 1-butyl-1-methylpentyl group, 1, 2-dimethylhexyl group, 1,3-dimethylhexyl group, 1,4-dimethylhexyl group, 1,5-dimethylhexyl group, 2,3-dimethylhexyl group, 2,4-dimethylhexyl group, 2,5- Dimethylhexyl group, 3,4-dimethylhexyl group, 3,5-dimethylhexyl group, 2,2-dimethylhexyl group, 2,2,4-trimethylhexyl group, 2,4,4- Limethylhexyl group, 1,2-dimethylheptyl group, 1,3-dimethylheptyl group, 1,4-dimethylheptyl group, 1,5-dimethylheptyl group, 1,6-dimethylheptyl group, 2,3-dimethylheptyl group Group, 2,4-dimethylheptyl group, 2,5-dimethylheptyl group, 2,6-dimethylheptyl group, 3,4-dimethylheptyl group, 3,5-dimethylheptyl group, 3,6-dimethylheptyl group, 4,5-dimethylheptyl group, 4,6-dimethylheptyl group, 2,2-dimethylheptyl group, 2,2,4-trimethylheptyl group, 2,4,4-trimethylheptyl group, 1,2-dimethyloctyl Group, 1,3-dimethyloctyl group, 1,4-dimethyloctyl group, 1,5-dimethyloctyl group, 1,6-dimethyloctyl group, 1,7-dimethyl Octyl group, 2,3-dimethyloctyl group, 2,4-dimethyloctyl group, 2,5-dimethyloctyl group, 2,6-dimethyloctyl group, 2,7-dimethyloctyl group, 3,4-dimethyloctyl group 3,5-dimethyloctyl group, 3,6-dimethyloctyl group, 3,7-dimethyloctyl group, 4,5-dimethyloctyl group, 4,6-dimethyloctyl group, 5,6-dimethyloctyl group, 5 , 7-dimethyloctyl group, 2,2-dimethyloctyl group, 2,2,4-trimethyloctyl group, 2,4,4-trimethyloctyl group and the like.
分岐アルキル置換アリール基における「アリール基」としては、例えば、単環、二環又は三環のアリール基等を挙げることができ、具体的に、分岐状のアルキル基を有しないアリール基として表記すると、例えば、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基、1−アントラセニル基、2−アントラセニル基等が挙げられる。 As the “aryl group” in the branched alkyl-substituted aryl group, for example, a monocyclic, bicyclic or tricyclic aryl group can be exemplified, and specifically, expressed as an aryl group having no branched alkyl group. Examples thereof include a phenyl group, a 1-naphthyl group, a 2-naphthyl group, a 1-anthracenyl group, and a 2-anthracenyl group.
分岐アルキル置換ヘテロアリール基における「ヘテロアリール基」を、分岐状のアルキル基を有しないヘテロアリール基として表記すると、例えば、チエニル基、フリル基、チアゾリル基、チエノ[3,2−b]チエニル基、フロロ[3,2−b]フリル基、チエノ[3,2−b]フリル基、ベンゾ[b]チエニル基、ベンゾ[b]フリル基、ビスチエノ[3,2−b:2’,3’−d]チオフェニル基等が挙げられる。好ましくは、下記式で示される基(左からチエニル基、チエノ[3,2−b]チエニル基、ベンゾ[b]チエニル基、ベンゾ[b]フリル基、ビスチエノ[3,2−b:2’,3’−d]チオフェニル基)等が挙げられる。
When the “heteroaryl group” in the branched alkyl-substituted heteroaryl group is expressed as a heteroaryl group having no branched alkyl group, for example, a thienyl group, a furyl group, a thiazolyl group, a thieno [3,2-b] thienyl group , Fluoro [3,2-b] furyl group, thieno [3,2-b] furyl group, benzo [b] thienyl group, benzo [b] furyl group, bisthieno [3,2-b: 2 ′, 3 ′ -D] and a thiophenyl group. Preferably, a group represented by the following formula (thienyl group, thieno [3,2-b] thienyl group, benzo [b] thienyl group, benzo [b] furyl group, bisthieno [3,2-b: 2 ′ from the left] , 3′-d] thiophenyl group) and the like.
分岐アルキル置換アリール基及び分岐アルキル置換ヘテロアリール基に有していてもよい置換基としては、例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子などのハロゲン原子、炭素数1〜20のアルコキシ基、炭素数6〜20のアリール基、炭素数7〜20のアラルキル基、炭素数4〜20のヘテロアリール基、炭素数5〜20のヘテロアラルキル基等を挙げることができる。上記に例示された置換基に含まれる水素原子がフッ素原子に置き換わった基も置換基として有していてもよい。 Examples of the substituent that the branched alkyl-substituted aryl group and the branched alkyl-substituted heteroaryl group may have include a halogen atom such as a fluorine atom, a chlorine atom, and a bromine atom, an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, and a carbon number. Examples thereof include an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms, a heteroaryl group having 4 to 20 carbon atoms, and a heteroaralkyl group having 5 to 20 carbon atoms. A group in which a hydrogen atom contained in the substituents exemplified above is replaced with a fluorine atom may also be included as a substituent.
化合物(1)に含まれるベンゾカルコゲノアセン骨格に結合されるR1及びR2の結合位置としては、対称な位置であることが好ましい。ここで、対称な位置とは、化合物(1)に含まれるベンゾカルコゲノアセン骨格の中心線(下記式
(式中、Eは前記と同じ意味を表す。)
の破線)に対して、線対称の位置関係を意味する。すなわち、化合物(1)のベンゾカルコゲノアセン骨格における対称な位置に結合したR1及びR2とは、R1がaの炭素原子に結合しR2はa’の炭素原子に結合する場合、R1がbの炭素原子に結合しR2はb’の炭素原子に結合する場合、R1がcの炭素原子に結合しR2はc’の炭素原子に結合する場合、R1がdの炭素原子に結合しR2はd’の炭素原子に結合する場合のいずれかのR1及びR2である。
The bonding position of R 1 and R 2 bonded to the benzochalcogenoacene skeleton contained in the compound (1) is preferably a symmetric position. Here, the symmetrical position means a center line of the benzochalcogenoacene skeleton contained in the compound (1) (the following formula
(In the formula, E represents the same meaning as described above.)
This means a line-symmetric positional relationship with respect to (a broken line). That is, R 1 and R 2 bonded at symmetrical positions in the benzochalcogenoacene skeleton of compound (1) are when R 1 is bonded to the carbon atom of a and R 2 is bonded to the carbon atom of a ′, When R 1 is bonded to the carbon atom of b and R 2 is bonded to the carbon atom of b ′, when R 1 is bonded to the carbon atom of c and R 2 is bonded to the carbon atom of c ′, R 1 is d R 2 is any one of R 1 and R 2 when bonded to the carbon atom of d ′.
好ましくは、R1がbの炭素原子に結合しR2はb’の炭素原子に結合する場合、すなわち、式(2)
(式中、E、R1、及びR2は前記と同じ意味を表す。)
で表される化合物、または、R1がdの炭素原子に結合しR2はd’の炭素原子に結合する場合、すなわち、式(3)
(式中、E、R1、及びR2は前記と同じ意味を表す。)
で表される化合物を挙げることができる。
Preferably, R 1 is bonded to the carbon atom of b and R 2 is bonded to the carbon atom of b ′, ie, the formula (2)
(In the formula, E, R 1 and R 2 have the same meaning as described above.)
Or when R 1 is bonded to the carbon atom of d and R 2 is bonded to the carbon atom of d ′, that is, the formula (3)
(In the formula, E, R 1 and R 2 have the same meaning as described above.)
The compound represented by these can be mentioned.
本発明の化合物(1)の具体例としては、以下に例示する化合物が挙げられる。 Specific examples of the compound (1) of the present invention include the compounds exemplified below.
波線は結合手を意味する。
A wavy line means a bond.
化合物(1)としては、化合物(1)中にある3つのEが全て硫黄原子である化合物が好ましい。
とりわけ、表中の化合物番号が以下の化合物(1)が好ましい。
1、2、3、5、7、8、11、13、14、16、18、20、22、24、26、29、31、32、35、36、37、38、39、43、45、51、58、57、62、64、66、67、70、73、79、84、85、86、87、89、93、95、98、107、108、112、116、119、123、124、127、130、136、140、141、142、145、153、156、158、160、165、170、171、172、180、182、184、186、187、191、196、198、200、204、206、207、212、219、221、226、227、228、232、235、240、243、248、250、251、253、256、258、264、268、273、276、279、281、284、287、289、291、292、298、301、303、306、309、312、314、317、318、323、326、328、331、333、339、343、348、349、351、354、355、358、361、362、363、364、368、371
The compound (1) is preferably a compound in which all three Es in the compound (1) are sulfur atoms.
In particular, the following compound (1) having a compound number in the table is preferable.
1, 2, 3, 5, 7, 8, 11, 13, 14, 16, 18, 20, 22, 24, 26, 29, 31, 32, 35, 36, 37, 38, 39, 43, 45, 51, 58, 57, 62, 64, 66, 67, 70, 73, 79, 84, 85, 86, 87, 89, 93, 95, 98, 107, 108, 112, 116, 119, 123, 124, 127, 130, 136, 140, 141, 142, 145, 153, 156, 158, 160, 165, 170, 171, 172, 180, 182, 184, 186, 187, 191, 196, 198, 200, 204, 206, 207, 212, 219, 221, 226, 227, 228, 232, 235, 240, 243, 248, 250, 251, 253, 256, 258, 264, 268, 27 276, 279, 281, 284, 287, 289, 291, 292, 298, 301, 303, 306, 309, 312, 314, 317, 318, 323, 326, 328, 331, 333, 339, 343, 348 349, 351, 354, 355, 358, 361, 362, 363, 364, 368, 371
より好ましくは、表中の化合物番号が以下の化合物(1)である。
2、7、8、13、16、18、20、24、26、29、31、35、36、37,38、39、43、45、58、64、67、84、85、86、87、89、93、107、108、112、116、119、123、124、140、141、142、145、153、156、158、170.171、172、180、186、187、191、196、198、200、204、206、207、212、219、221、226、228、235、243、251、256、258、264、268、276、281、284、289、291、301、306、314、318、326、331、349、351、362、364
More preferably, the compound number in the table is the following compound (1).
2, 7, 8, 13, 16, 18, 20, 24, 26, 29, 31, 35, 36, 37, 38, 39, 43, 45, 58, 64, 67, 84, 85, 86, 87, 89, 93, 107, 108, 112, 116, 119, 123, 124, 140, 141, 142, 145, 153, 156, 158, 170.171, 172, 180, 186, 187, 191, 196, 198, 200,204,206,207,212,219,221,226,228,235,243,251,256,258,264,268,276,281,284,289,291,301,306,314,318, 326, 331, 349, 351, 362, 364
本発明の化合物(1)は、有機溶媒への溶解性に優れる傾向があることから、取扱いが容易な傾向があり、精製も容易な傾向がある。
また、化合物(1)を有機溶媒に溶解した溶解液は、塗布及び乾燥して薄膜を形成させることができる。
さらに、化合物(1)は、後述するように、高いキャリア移動度を示す薄膜を与えることが可能である。
Since the compound (1) of the present invention tends to be excellent in solubility in an organic solvent, the compound (1) tends to be easily handled and tends to be easily purified.
Moreover, the solution which melt | dissolved the compound (1) in the organic solvent can apply | coat and dry and can form a thin film.
Furthermore, the compound (1) can provide a thin film exhibiting high carrier mobility, as will be described later.
次に、化合物(1)の製造方法を説明する。
該製造方法としては、例えば、式(5−1)
(式中、R1及びR2は前記と同じ意味を表す。Xはハロゲン原子、好ましくは臭素原子を表す。)
で表されるジアセチレン化合物(以下、化合物(5−1)と記すことがある)を得、次いで、有機金属塩基を用いたハロゲン−メタル交換反応によりジメタル化した(以下、この反応を「本第1反応」という。)後、硫黄又はセレンを作用させることにより、式(4−1)
(式中、E、R1及びR2は前記と同じ意味を表す。)
で表されるジカルコゲンイン化合物(化合物(4−1)と記すことがある)を得(以下、この反応を「本第2反応」という。)、
次いで、得られた化合物(4−1)と、ビスシクロオクタジエニル白金(Pt(COD)2)などの白金化合物又は銅粉末などの銅化合物と、を無溶媒で加熱する方法(以下、「第3−1反応」と記すことがある)、
また、同様にして得られる化合物(4−1)と、ビスシクロオクタジエニルニッケル(Ni(COD)2)などのニッケル化合物とホスフィン化合物とを、溶媒の存在下で加熱攪拌する方法(以下、「第3−2反応」と記すことがある)、
等を挙げることができる。
Next, the manufacturing method of a compound (1) is demonstrated.
As this manufacturing method, for example, formula (5-1)
(In the formula, R 1 and R 2 have the same meaning as described above. X represents a halogen atom, preferably a bromine atom.)
And then dimetallated by halogen-metal exchange reaction using an organometallic base (hereinafter, this reaction is referred to as “this” It is referred to as “first reaction”.) After that, by reacting sulfur or selenium, the formula (4-1)
(In the formula, E, R 1 and R 2 represent the same meaning as described above.)
A dichalcogenin compound represented by the formula (sometimes referred to as compound (4-1)) (hereinafter, this reaction is referred to as “the second reaction”),
Next, a method of heating the obtained compound (4-1) and a platinum compound such as biscyclooctadienylplatinum (Pt (COD) 2 ) or a copper compound such as copper powder in the absence of a solvent (hereinafter, “ 3-1 reaction "),
In addition, a compound (4-1) obtained in the same manner, a nickel compound such as biscyclooctadienyl nickel (Ni (COD) 2 ), and a phosphine compound are heated and stirred in the presence of a solvent (hereinafter, May be described as "3-2 reaction"),
Etc.
本第1反応に用いられる有機金属塩基としては、例えば、メチルリチウム(MeLi)、n−ブチルリチウム(n−BuLi)、sec−ブチルリチウム(sec−BuLi)及びtert−ブチルリチウム(t−BuLi)などの有機リチウム化合物やアルキルグリニヤール化合物などの有機マグネシウム化合物類などを用いることができるが、ハロゲン−メタル交換反応の反応性が良好である点から、該有機金属塩基としては有機リチウム化合物が好ましく、例えば、ブチルリチウム(BuLi)が用いられ、さらに好ましくはt−BuLiが用いられる。
有機金属塩基の使用量としては、化合物(5−1)1モルに対し、例えば、4〜20モルの範囲を挙げることができ(化合物(5−1)に含まれるハロゲン原子1モルに対して2〜10モルの範囲)、好ましくは6〜14モルの範囲(化合物(5−1)に含まれるハロゲン原子1モルに対して3〜7モルの範囲)、さらに好ましくは7〜10モルの範囲(化合物(5−1)に含まれるハロゲン原子1モルに対して3.5〜5モルの範囲)が挙げられる。有機金属塩基の使用量が化合物(5−1)1モルに対し4モル以上であると、未反応の化合物(5−1)が低減されて、得られる化合物(4−1)の収率が向上する傾向がある。該使用量が、化合物(5−1)1モルに対し20モル以下であると、副反応の進行が抑制され、化合物(4−1)の精製が容易になる傾向がある。
Examples of the organometallic base used in the first reaction include methyl lithium (MeLi), n-butyl lithium (n-BuLi), sec-butyl lithium (sec-BuLi), and tert-butyl lithium (t-BuLi). Although organomagnesium compounds such as organolithium compounds and alkyl Grignard compounds can be used, organolithium compounds are preferred as the organometallic base from the viewpoint of good reactivity of the halogen-metal exchange reaction, For example, butyl lithium (BuLi) is used, and more preferably t-BuLi is used.
As usage-amount of an organometallic base, the range of 4-20 mol can be mentioned with respect to 1 mol of compounds (5-1) (for 1 mol of halogen atoms contained in a compound (5-1)). 2 to 10 mol), preferably 6 to 14 mol (range 3 to 7 mol relative to 1 mol of halogen atom contained in compound (5-1)), more preferably 7 to 10 mol. (The range of 3.5-5 mol with respect to 1 mol of halogen atoms contained in a compound (5-1)). When the usage-amount of an organometallic base is 4 mol or more with respect to 1 mol of compounds (5-1), the unreacted compound (5-1) will be reduced and the yield of the compound (4-1) obtained will be increased. There is a tendency to improve. When the amount used is 20 mol or less with respect to 1 mol of the compound (5-1), the progress of the side reaction tends to be suppressed and the purification of the compound (4-1) tends to be facilitated.
本第1反応及びそれに続く本第2反応は、溶媒の存在下で行なわれることが好ましい。
使用される溶媒としては、本第1反応及び本第2反応の進行を著しく妨げないものから選ばれ、例えば、ペンタン、ヘキサン及びヘプタンなどの脂肪族炭化水素溶媒、ベンゼン、トルエン及びキシレンなどの芳香族炭化水素溶媒、ジエチルエーテル及びテトラヒドロフラン(THF)などのエーテル溶媒又はこれらから選ばれる2種以上の混合溶媒が挙げられる。好ましい溶媒はエーテル溶媒である。
The first reaction and the subsequent second reaction are preferably performed in the presence of a solvent.
The solvent used is selected from those that do not significantly disturb the progress of the first reaction and the second reaction. For example, aliphatic hydrocarbon solvents such as pentane, hexane, and heptane, and aromatics such as benzene, toluene, and xylene. An aromatic hydrocarbon solvent, an ether solvent such as diethyl ether and tetrahydrofuran (THF), or a mixed solvent of two or more selected from these. A preferred solvent is an ether solvent.
本第1反応は、例えば、−20℃以下、好ましくは−40℃以下、より好ましくは−60℃以下の反応温度で行なわれる。本第1反応の反応時間は使用する有機金属塩基や溶媒の種類、又は反応温度により調節できるが、10分から5時間程度の範囲である。
この本第1反応に続いて、硫黄又はセレンを反応混合物に添加して本第2反応を行なう。用いる硫黄(又はセレン)は固体のまま用いてもよいし、本第1反応に使用した溶媒に溶解又は懸濁させた溶液又は懸濁液で添加してもよい。硫黄(又はセレン)を加えた後、反応温度は本第1反応と同程度の温度のまま保持してもよいし、用いた溶媒の沸点以下の範囲であれば加温してもよい。好ましくは、反応温度0〜40℃の範囲に達するまで加温し、同範囲内の温度で保温する。反応時間は、例えば、30分から72時間の範囲を挙げることができる。
This first reaction is carried out, for example, at a reaction temperature of −20 ° C. or lower, preferably −40 ° C. or lower, more preferably −60 ° C. or lower. Although the reaction time of this 1st reaction can be adjusted with the kind of organometallic base and solvent to be used, or reaction temperature, it is the range of about 10 minutes to 5 hours.
Following this first reaction, sulfur or selenium is added to the reaction mixture to perform the second reaction. Sulfur (or selenium) to be used may be used as a solid, or may be added as a solution or suspension dissolved or suspended in the solvent used in the first reaction. After adding sulfur (or selenium), the reaction temperature may be maintained at the same level as in the first reaction, or may be heated as long as it is within the boiling point of the solvent used. Preferably, the reaction temperature is raised until reaching the range of 0 to 40 ° C., and the temperature is kept at the temperature within the same range. An example of the reaction time is 30 minutes to 72 hours.
本第2反応に用いられる硫黄又はセレンとしては、結晶状、粉末状、コロイド状の硫黄(又はセレン)などを用いることができる。硫黄(又はセレン)の使用量としては、化合物(5−1)1モルに対し、例えば、4〜20モルの範囲を挙げることができ、好ましくは6〜14モルの範囲、さらに好ましくは7〜10モルの範囲が挙げられる。硫黄(又はセレン)の使用量が4モル以上であると、化合物(4−1)の収率が向上する傾向があることから好ましく、20モル以下であると、副反応の進行が抑制され、化合物(4−1)の精製が容易になる傾向があることから好ましい。 As sulfur or selenium used in the second reaction, crystalline, powdery, colloidal sulfur (or selenium) or the like can be used. As usage-amount of sulfur (or selenium), the range of 4-20 mol can be mentioned with respect to 1 mol of compounds (5-1), Preferably it is the range of 6-14 mol, More preferably, it is 7- A range of 10 moles is mentioned. When the amount of sulfur (or selenium) used is 4 mol or more, it is preferable because the yield of the compound (4-1) tends to improve, and when it is 20 mol or less, the progress of side reactions is suppressed, This is preferable because the compound (4-1) tends to be easily purified.
本第2反応終了後は、必要に応じて溶媒を濃縮し、得られた反応混合物に水酸化ナトリウム水溶液や水酸化カリウム水溶液などのアルカリ水溶液を加えた後、得られた化合物(4−1)を抽出する。抽出溶液は、本第1反応及び本第2反応で用いた溶媒が水に不溶である場合は、この溶媒を抽出溶媒としてそのまま用いることもできるが、好ましい抽出溶媒はジクロロメタン及びクロロホルムなどのハロゲン化炭化水素溶媒が挙げられる。有機相と水相とに分液させた後、水相を分離し、この水相にフェリシアン酸カリウムなどのヘキサシアノ鉄酸塩水溶液を加えて、この水相から化合物(4−1)を、前記抽出溶媒などの有機溶媒を用いて抽出する。このようにして得られた化合物(4−1)は、必要に応じて、カラムクロマトグラフィー、再結晶などの操作により、さらに精製してもよい。 After completion of the second reaction, the solvent is concentrated if necessary, and an aqueous alkali solution such as an aqueous sodium hydroxide solution or an aqueous potassium hydroxide solution is added to the obtained reaction mixture, and then the obtained compound (4-1) To extract. When the solvent used in the first reaction and the second reaction is insoluble in water, the extraction solution can be used as the extraction solvent as it is, but preferred extraction solvents are halogenated compounds such as dichloromethane and chloroform. A hydrocarbon solvent is mentioned. After separating into an organic phase and an aqueous phase, the aqueous phase is separated, an aqueous hexacyanoferrate solution such as potassium ferricyanate is added to the aqueous phase, and the compound (4-1) is added from the aqueous phase. Extraction is performed using an organic solvent such as the extraction solvent. The compound (4-1) thus obtained may be further purified by an operation such as column chromatography or recrystallization, if necessary.
本第3−1反応では、化合物(4−1)1モルに対し、例えば、0.5〜20モル、好ましくは1〜10モル、さらに好ましくは2〜7モルの銅化合物又は白金化合物が用いられる。銅化合物としては、例えば、銅粉末などが挙げられ、白金化合物としては、例えば、ビスシクロオクタジエニル白金(Pt(COD)2)などが挙げられる。
本第3−1反応の反応温度は、例えば、150〜400℃の範囲を挙げることができ、好ましくは200〜370℃の範囲が挙げられる。本第3−1反応の反応時間は1時間以内であり、好ましくは30分以内である。反応終了後、室温まで冷却し、例えば、クロロホルム、ジクロロメタンなどの、化合物(1)を溶解し得る溶媒を用いて、不溶不純物を濾別し、濾液を濃縮した後、必要に応じてカラムクロマトグラフィー、再結晶等の操作を行なうことで、化合物(1)が得られる。
In the present 3-1 reaction, for example, 0.5 to 20 mol, preferably 1 to 10 mol, more preferably 2 to 7 mol of a copper compound or a platinum compound is used with respect to 1 mol of the compound (4-1). It is done. Examples of the copper compound include copper powder, and examples of the platinum compound include biscyclooctadienyl platinum (Pt (COD) 2 ).
The reaction temperature of this 3-1 reaction can mention the range of 150-400 degreeC, for example, Preferably the range of 200-370 degreeC is mentioned. The reaction time of this 3-1 reaction is within 1 hour, preferably within 30 minutes. After completion of the reaction, the reaction mixture is cooled to room temperature, and insoluble impurities are filtered off using a solvent capable of dissolving compound (1), such as chloroform and dichloromethane, and the filtrate is concentrated. If necessary, column chromatography is performed. By performing operations such as recrystallization, compound (1) is obtained.
本第3−2反応において、用いられるニッケル化合物としては、ビスシクロオクタジエニルニッケル(Ni(COD)2)などの0価ニッケル化合物が好適である。本第3−2反応は、2価ニッケル化合物であるビスアセチルアセトナートニッケル(Ni(acac)2)などをジイソブチルアルミニウムハイドライドなどの還元剤を作用させることにより、系中で0価ニッケル化合物を発生させてもよい。
ニッケル化合物の使用量としては、化合物(4−1)1モルに対し、例えば、0.5〜5モルの範囲を挙げることができ、好ましくは0.7〜3モルの範囲である。
In the present 3-2 reaction, the nickel compound used is preferably a zerovalent nickel compound such as biscyclooctadienyl nickel (Ni (COD) 2 ). This third reaction generates zero-valent nickel compounds in the system by reacting bisacetylacetonate nickel (Ni (acac) 2 ), which is a divalent nickel compound, with a reducing agent such as diisobutylaluminum hydride. You may let them.
As the usage-amount of a nickel compound, the range of 0.5-5 mol can be mentioned with respect to 1 mol of compounds (4-1), Preferably it is the range of 0.7-3 mol.
ホスフィン化合物としては、例えば、トリフェニルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン、トリ(o−トリル)ホスフィン、トリメチルホスフィン、トリ−t−ブチルホスフィン、1,2−(ジフェニルホスフィノ)エタン、1,3−(ジフェニルホスフィノ)プロパン、1,4−(ジフェニルホスフィノ)ブタン及び1,1−ビス(ジフェニルホスフィノ)フェロセンなどが挙げられ、トリフェニルホスフィンが好ましい。
ホスフィン化合物の使用量としては、ニッケル化合物1モルに対し、例えば、ホスフィン化合物が0.5〜20モルの範囲等を挙げることができ、好ましくは、0.7〜10モルの範囲が挙げられる。
Examples of the phosphine compound include triphenylphosphine, tricyclohexylphosphine, tri (o-tolyl) phosphine, trimethylphosphine, tri-t-butylphosphine, 1,2- (diphenylphosphino) ethane, and 1,3- (diphenyl). Phosphino) propane, 1,4- (diphenylphosphino) butane, 1,1-bis (diphenylphosphino) ferrocene, and the like, and triphenylphosphine is preferable.
As a usage-amount of a phosphine compound, the range of 0.5-20 mol etc. of a phosphine compound can be mentioned with respect to 1 mol of nickel compounds, Preferably, the range of 0.7-10 mol is mentioned.
本第3−2反応に用いられる溶媒としては、例えば、ペンタン、ヘキサン及びヘプタンなどの脂肪族炭化水素溶媒、ベンゼン、トルエン及びキシレンなどの芳香族炭化水素溶媒、ジクロロメタン及びクロロホルムなどのハロゲン化炭化水素溶媒等を挙げることができる。これらの溶媒は、1種類で使用しても2種類以上の混合溶媒として使用してもよい。
該溶媒としては、芳香族炭化水素溶媒が好ましく、トルエンがより好ましい。
本第3−2反応の反応温度としては、例えば、10℃から溶媒の沸点以下の範囲を挙げることができる。
本第3−2反応の反応時間は反応温度にも拠るが、72時間以内が好ましい。
本第3−2反応の反応終了後、必要に応じて加熱しながら濾過を行って不溶不純物を除去した後、濾液を濃縮し、必要に応じてカラムクロマトグラフィー、再結晶などの精製操作を行なうことで目的化合物である化合物(1)を得ることができる。
Examples of the solvent used in the present 3-2 reaction include aliphatic hydrocarbon solvents such as pentane, hexane and heptane, aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene and xylene, and halogenated hydrocarbons such as dichloromethane and chloroform. A solvent etc. can be mentioned. These solvents may be used alone or as a mixed solvent of two or more.
As the solvent, an aromatic hydrocarbon solvent is preferable, and toluene is more preferable.
Examples of the reaction temperature of the present 3-2 reaction include a range from 10 ° C to the boiling point of the solvent.
The reaction time of the present 3-2 reaction depends on the reaction temperature, but is preferably within 72 hours.
After the completion of the reaction of this 3-2 reaction, filtration is performed with heating as necessary to remove insoluble impurities, and then the filtrate is concentrated, and purification operations such as column chromatography and recrystallization are performed as necessary. Thus, the target compound (1) can be obtained.
本第1反応に用いられる化合物(5−1)の具体例を次の表に例示する。 Specific examples of the compound (5-1) used in the first reaction are illustrated in the following table.
本第2反応によって得られる化合物(4−1)の具体例としては、以下が例示される。 Specific examples of the compound (4-1) obtained by the second reaction include the following.
本第1反応に用いられる化合物(5−1)の製造法の一例として、化合物(5−1)に含まれるR1及びR2が同一種の基(以下、Rと記すことがある)である場合の製造法としては、例えば、式(6−1)
(式中、Rは、R1及びR2と同じ意味を表し、Xはハロゲン原子、好ましくは臭素原子を表す。)
で表される化合物を用いて、いわゆる、グラーゼル反応(Glaser Reaction)、エグリントンカップリング(Eglinton Coupling)又はヘイカップリング(Hay Coupling、好ましくは、ヨウ化銅などの銅化合物を用いるヘイカップリング)によって調製することができる。
ヘイカップリングは、例えば、下記に示すように、N,N,N’,N’−テトラメチルエチレンジアミン(TMEDA)及びヨウ化銅などの銅化合物の存在下で行うことができる。
式(6−1)の化合物は、例えば、置換基Rを有するアニリンをN−ブロモコハク酸イミド等でアミノ基のα位をブロモ化し、得られた化合物のアミノ基をザンドマイヤー反応(Sandmeyer Reaction)等でヨード基に変換し、得られたヨード基含有化合物のヨード基を薗頭クロスカップリング反応等のエチニル化反応でエチニル化する方法等が挙げられる。
As an example of the method for producing the compound (5-1) used in the first reaction, R 1 and R 2 contained in the compound (5-1) are the same type of group (hereinafter, sometimes referred to as R). As a manufacturing method in a certain case, for example, formula (6-1)
(Wherein R represents the same meaning as R 1 and R 2, and X represents a halogen atom, preferably a bromine atom.)
By the so-called Glaser Reaction, Eglinton Coupling, or Hay Coupling (preferably Hay Coupling using a copper compound such as copper iodide). Can be prepared.
Hay coupling can be performed in the presence of a copper compound such as N, N, N ′, N′-tetramethylethylenediamine (TMEDA) and copper iodide, as shown below.
The compound of formula (6-1) is obtained by, for example, brominating an aniline having a substituent R with α-position of amino group with N-bromosuccinimide or the like, and converting the amino group of the obtained compound into a Sandmeyer reaction. And the like, and a method of ethynylating the iodo group of the obtained iodo group-containing compound by an ethynylation reaction such as a Sonogashira cross-coupling reaction.
前記式(6−1)で示される化合物の具体例を次の表に例示する。 Specific examples of the compound represented by the formula (6-1) are illustrated in the following table.
化合物(1)に含まれるR1及びR2が同一種の基または異種の基である場合の製造法としては、例えば、非特許文献1(Advanced Materials, 19, 3008-3011(2007))に記載の方法に準じて製造する方法を挙げることができる。すなわち、下記式に示すように、R1またはR2を有するベンゾ[b]チオフェンを臭素で臭素化した後、得られた臭素化体にリチウムジイソプロピルアミド(LDA)を作用させ、次いで、塩化銅でカップリング反応させ、続いて、得られたカップリング体にブチルリチウム(BuLi)およびビス(フェニルスルフォニル)スルフィド((C6H5SO2)2S)を作用させて化合物(1)を製造する方法等である。
For example, Non-Patent Document 1 (Advanced Materials, 19 , 3008-3011 (2007)) describes a production method in the case where R 1 and R 2 contained in the compound (1) are the same or different groups. The manufacturing method can be mentioned according to the described method. That is, as shown in the following formula, after bromination of benzo [b] thiophene having R 1 or R 2 with bromine, lithium diisopropylamide (LDA) was allowed to act on the obtained brominated product, and then copper chloride Next, butyllithium (BuLi) and bis (phenylsulfonyl) sulfide ((C 6 H 5 SO 2 ) 2 S) are allowed to act on the obtained coupling product to produce compound (1). It is a method to do.
本発明の化合物(1)は有機半導体活性層に使用し得る材料(以下、かかる材料を有機半導体材料と記すことがある)である。さらに、化合物(1)は有機溶媒に可溶な有機半導体材料である。化合物(1)を溶解する有機溶媒としては、例えばベンゼン、トルエン、キシレン、クロロベンゼン、o-ジクロロベンゼン等の芳香族炭化水素溶媒、例えばジクロロメタン、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン、1,1’,2,2’−テトラクロロエタン、四塩化炭素等のハロゲン化脂肪族炭化水素溶媒、例えばテトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル溶媒、例えばペンタン、ヘキサン、ペンタン、オクタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素溶媒等を挙げることができる。好ましくは、トルエン、キシレン、o-ジクロロベンゼン、ジクロロメタン、クロロホルム、テトラヒドロフラン、ヘキサン等が挙げられる。有機溶媒は2種以上を混合溶媒にして用いることもできる。
化合物(1)を溶解した溶液における化合物(1)の濃度としては、例えば、0.001〜50質量%の範囲をあげることができ、好ましくは0.01〜10質量%、より好ましくは0.1〜5質量%等が挙げられる。
The compound (1) of the present invention is a material that can be used for the organic semiconductor active layer (hereinafter, such a material may be referred to as an organic semiconductor material). Furthermore, the compound (1) is an organic semiconductor material soluble in an organic solvent. Examples of the organic solvent for dissolving the compound (1) include aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene, xylene, chlorobenzene, o-dichlorobenzene, such as dichloromethane, chloroform, 1,2-dichloroethane, 1,1 ′, 2 Halogenated aliphatic hydrocarbon solvents such as 2,2'-tetrachloroethane and carbon tetrachloride, ether solvents such as tetrahydrofuran and dioxane, and aliphatic hydrocarbon solvents such as pentane, hexane, pentane, octane and cyclohexane Can do. Preferably, toluene, xylene, o-dichlorobenzene, dichloromethane, chloroform, tetrahydrofuran, hexane and the like are mentioned. Two or more organic solvents can be used as a mixed solvent.
As a density | concentration of the compound (1) in the solution which melt | dissolved the compound (1), the range of 0.001-50 mass% can be mention | raise | lifted, for example, Preferably it is 0.01-10 mass%, More preferably, it is 0.8. 1-5 mass% etc. are mentioned.
次に、本発明の薄膜及び有機半導体デバイスについて説明する。
本発明の薄膜は、化合物(1)を含有する。該薄膜は高いキャリア移動度を示すことから、該薄膜を有機半導体活性層として有する有機半導体デバイスの材料として好適である。
また、本発明の有機半導体デバイスは、本発明の薄膜を含有するものである。本発明の有機半導体デバイスとしては、例えば、有機トラジスタ、電界発光素子、太陽電池等を挙げることができる。また、本発明の有機トランジスタは、例えば、電子ペーパー、フレキシブルディスプレイ、ICタグ、及びセンサ等に使用可能である。
Next, the thin film and organic semiconductor device of this invention are demonstrated.
The thin film of the present invention contains compound (1). Since the thin film exhibits high carrier mobility, it is suitable as a material for an organic semiconductor device having the thin film as an organic semiconductor active layer.
Moreover, the organic-semiconductor device of this invention contains the thin film of this invention. As an organic semiconductor device of this invention, an organic transistor, an electroluminescent element, a solar cell etc. can be mentioned, for example. Moreover, the organic transistor of this invention can be used for an electronic paper, a flexible display, an IC tag, a sensor, etc., for example.
本発明の薄膜の形成方法としては、例えば、塗布成膜加工を挙げることができる。ここで、塗布成膜加工とは、前述したように、化合物(1)を溶媒に溶解し、得られた溶液を基板もしくは絶縁体層に塗布する工程を有する成膜加工を意味する。
塗布の方法としては、キャスティング法、ディップコート法、ダイコーター法、ロールコーター法、バーコーター法、スピンコート法、インクジェット法、スクリーン印刷法、オフセット印刷法、マイクロコンタクト印刷法などが挙げられる。これらの手法は、単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせてもよい。
Examples of the method for forming a thin film of the present invention include a coating film forming process. Here, as described above, the coating film forming process means a film forming process including a step of dissolving the compound (1) in a solvent and applying the obtained solution to a substrate or an insulator layer.
Examples of the coating method include a casting method, a dip coating method, a die coater method, a roll coater method, a bar coater method, a spin coating method, an ink jet method, a screen printing method, an offset printing method, and a micro contact printing method. These methods may be used alone or in combination of two or more.
化合物(1)及び有機溶媒を含む溶液には、化合物(1)を単独で使用してもよいし、後述する薄膜(有機半導体活性層)のキャリア移動度を著しく損なわない範囲であれば、酸化防止剤、安定剤、化合物(1)とは異なる有機半導体材料、有機絶縁性材料などと混合してもよい。
化合物(1)とは異なる有機半導体材料としては、低分子材料でもよく、高分子材料でもよい。高分子材料は、高分子を架橋反応させたものであってもよい。好ましくは、高分子材料が挙げられる。具体例としては、ポリアセチレン及びその誘導体、ポリチオフェン及びその誘導体、ポリチエニレンビニレン及びその誘導体、ポリフェニレン及びその誘導体、ポリフェニレンビニレン及びその誘導体、ポリピロール及びその誘導体、ポリアニリン及びその誘導体、ポリトリアリールアミン及びその誘導体、ポリキノリン及びその誘導体、ペリレン及びその誘導体、テトラセン及びその誘導体、ペンタセン及びその誘導体、フタロシアニン及びその誘導体などが挙げられる。本発明の薄膜において、化合物(1)とは異なる有機半導体材料と化合物(1)との合計100質量%に対する化合物(1)の含有量は、10質量%以上が好ましく、20質量%以上がより好ましい。
In the solution containing the compound (1) and the organic solvent, the compound (1) may be used alone, or if it is within a range that does not significantly impair the carrier mobility of the thin film (organic semiconductor active layer) described later. You may mix with an organic semiconductor material different from an inhibitor, a stabilizer, a compound (1), an organic insulating material, etc.
The organic semiconductor material different from the compound (1) may be a low molecular material or a high molecular material. The polymer material may be one obtained by crosslinking a polymer. Preferably, a polymer material is used. Specific examples include polyacetylene and derivatives thereof, polythiophene and derivatives thereof, polythienylene vinylene and derivatives thereof, polyphenylene and derivatives thereof, polyphenylene vinylene and derivatives thereof, polypyrrole and derivatives thereof, polyaniline and derivatives thereof, polytriarylamine and derivatives thereof. Derivatives, polyquinoline and derivatives thereof, perylene and derivatives thereof, tetracene and derivatives thereof, pentacene and derivatives thereof, phthalocyanine and derivatives thereof, and the like. In the thin film of the present invention, the content of the compound (1) is preferably 10% by mass or more and more preferably 20% by mass or more with respect to 100% by mass in total of the organic semiconductor material different from the compound (1) and the compound (1). preferable.
該有機絶縁性材料としては、低分子材料でもよい。高分子材料は、高分子を架橋反応がさせたものであってもよい。好ましくは、高分子材料が挙げられる。具体例としては、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリジメチルシロキサン、ナイロン、ポリイミド、環状オレフィンコポリマー、エポキシポリマー、セルロース、ポリオキシメチレン、ポリオレフィン系ポリマー、ポリビニル系ポリマー、ポリエステル系ポリマー、ポリエーテル系ポリマー、ポリアミド系ポリマー、フッ素系ポリマー、生分解性プラスチック、フェノール系樹脂、アミノ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、シリコーン樹脂、及び各種ポリマーユニットを組み合わせたコポリマーなどが挙げられる。本発明の薄膜において、有機絶縁性材料と化合物(1)との合計100質量%に対する化合物(1)の含有量は、10質量%以上が好ましく、20質量%以上がより好ましい。
なお、該溶液組成物の調製は、溶媒に化合物(1)を、例えば、10〜200℃、好ましくは20〜150℃程度で溶解することで得ることができる。
The organic insulating material may be a low molecular material. The polymer material may be a polymer obtained by crosslinking a polymer. Preferably, a polymer material is used. Specific examples include polystyrene, polycarbonate, polydimethylsiloxane, nylon, polyimide, cyclic olefin copolymer, epoxy polymer, cellulose, polyoxymethylene, polyolefin polymer, polyvinyl polymer, polyester polymer, polyether polymer, polyamide polymer. , Fluoropolymers, biodegradable plastics, phenolic resins, amino resins, unsaturated polyester resins, diallyl phthalate resins, epoxy resins, polyimide resins, polyurethane resins, silicone resins, and copolymers combining various polymer units. . In the thin film of the present invention, the content of the compound (1) with respect to the total of 100% by mass of the organic insulating material and the compound (1) is preferably 10% by mass or more, and more preferably 20% by mass or more.
In addition, preparation of this solution composition can be obtained by melt | dissolving compound (1) in a solvent at 10-200 degreeC, for example, Preferably it is about 20-150 degreeC.
かくして得られる化合物(1)及び有機溶媒を含む溶液を、基板又は絶縁層に塗布して塗布膜を形成せしめた後、該塗布膜に含有されている溶媒を除去することで、基板上又は絶縁層上に薄膜が形成される。この有機溶媒の除去には自然乾燥処理、加熱処理、減圧処理、通風処理又はこれらを組み合わせた処理が採用されるが、操作が簡便である点で自然乾燥処理もしくは加熱処理が好ましい。この処理に係わる条件を簡単に記載すると、大気下で放置もしくはホットプレートで基板加熱(例えば、40〜250℃、好ましくは、50〜200℃)という条件が挙げられる。 A solution containing the compound (1) thus obtained and an organic solvent is applied to a substrate or an insulating layer to form a coating film, and then the solvent contained in the coating film is removed to remove the solvent on the substrate or the insulating layer. A thin film is formed on the layer. For the removal of the organic solvent, natural drying treatment, heat treatment, decompression treatment, ventilation treatment or a combination of these treatments is employed, but natural drying treatment or heat treatment is preferred in terms of simple operation. Briefly describing the conditions relating to this treatment, there may be mentioned the conditions of standing in the atmosphere or heating the substrate with a hot plate (for example, 40 to 250 ° C., preferably 50 to 200 ° C.).
本発明の薄膜は、化合物(1)が溶媒に分散している分散液を用いて塗布成膜加工により薄膜を形成することもできる。この場合は、上述の塗布成膜加工において、溶液を該分散液に読み替えれば容易に実施可能である。この場合、溶媒は前記有機溶媒に加え、水であってもよい。
このように、本発明の薄膜は、上記の塗布成膜加工等の簡便な方法により形成することができる。
The thin film of the present invention can also be formed by coating film formation using a dispersion in which compound (1) is dispersed in a solvent. In this case, the above-described coating film forming process can be easily performed by replacing the solution with the dispersion. In this case, the solvent may be water in addition to the organic solvent.
Thus, the thin film of the present invention can be formed by a simple method such as the above-described coating film forming process.
本発明の薄膜を形成する方法の異なる例示として、化合物(1)を、真空蒸着法、スパッタリング法、CVD法、分子線エピタキシャル成長法などの真空プロセスに供して薄膜を形成する方法を挙げることができる。 As a different example of the method for forming a thin film of the present invention, there can be mentioned a method for forming a thin film by subjecting the compound (1) to a vacuum process such as a vacuum deposition method, a sputtering method, a CVD method, a molecular beam epitaxial growth method or the like. .
真空蒸着法による薄膜の形成方法は、化合物(1)、必要に応じて他の有機半導体材料をルツボや金属ボート中で真空下、加熱し、蒸発した化合物(1)等の有機半導体材料を基板もしくは絶縁体材料に蒸着させる方法である。蒸着時の真空度は、通常1×10−1Pa以下、好ましくは1×10−3Pa以下である。蒸着時の基板温度は通常0℃〜300℃、好ましくは20℃〜200℃である。蒸着速度は、例えば、0.001nm/sec〜10nm/secの範囲等を挙げることができ、好ましくは0.01nm/sec〜1nm/secの範囲である。 The method of forming a thin film by the vacuum evaporation method is to use compound (1) and, if necessary, other organic semiconductor material under vacuum in a crucible or a metal boat under vacuum, and evaporate the organic semiconductor material such as compound (1) as a substrate. Or it is the method of vapor-depositing on an insulator material. The degree of vacuum at the time of vapor deposition is usually 1 × 10 −1 Pa or less, preferably 1 × 10 −3 Pa or less. The substrate temperature at the time of vapor deposition is usually 0 ° C to 300 ° C, preferably 20 ° C to 200 ° C. Examples of the deposition rate include a range of 0.001 nm / sec to 10 nm / sec, preferably 0.01 nm / sec to 1 nm / sec.
上記塗布成膜加工又は上記真空プロセスにより得られる化合物(1)を含有する薄膜の膜厚は、たとえば有機トランジスタの素子構造により適宜調節することができるが、好ましくは1nm〜10μmであり、さらに好ましくは5nm〜1μmである。 The film thickness of the thin film containing the compound (1) obtained by the coating film forming process or the vacuum process can be adjusted as appropriate depending on the element structure of the organic transistor, for example, but is preferably 1 nm to 10 μm, and more preferably Is 5 nm to 1 μm.
本発明の有機トランジスタとしては、例えば、有機電界効果トランジスタ(OFET)が挙げられる。
該有機電界効果トランジスタの構造は、通常、ソース電極及びドレイン電極が本発明の薄膜からなる有機半導体活性層に接して設けられており、さらに有機半導体活性層に接した絶縁層(誘電体層)を挟んでゲート電極が設けられていればよい。その素子構造としては、例えば、
(1)基板/ゲート電極/絶縁体層/ソース電極・ドレイン電極/有機半導体活性層 という構造、
(2)基板/ゲート電極/絶縁体層/有機半導体活性層/ソース電極・ドレイン電極 という構造(図1参照)
(3)基板/有機半導体活性層+ソース電極・ドレイン電極/絶縁体層/ゲート電極 という構造(図2参照)、
(4)基板/ソース電極(又はドレイン電極)/有機半導体活性層+絶縁体層+ゲート電極/ドレイン電極(又はソース電極)という構造などがあげられる。このとき、ソース電極,ドレイン電極, ゲート電極は、それぞれ複数設けてもよい。また、複数の有機半導体活性層を同一平面内に設けてもよいし、積層して設けてもよい。
Examples of the organic transistor of the present invention include an organic field effect transistor (OFET).
The structure of the organic field effect transistor is usually such that a source electrode and a drain electrode are provided in contact with an organic semiconductor active layer comprising the thin film of the present invention, and an insulating layer (dielectric layer) in contact with the organic semiconductor active layer. It is only necessary that a gate electrode be provided with a gap therebetween. As the element structure, for example,
(1) Structure of substrate / gate electrode / insulator layer / source electrode / drain electrode / organic semiconductor active layer,
(2) Structure of substrate / gate electrode / insulator layer / organic semiconductor active layer / source electrode / drain electrode (see FIG. 1)
(3) Structure of substrate / organic semiconductor active layer + source electrode / drain electrode / insulator layer / gate electrode (see FIG. 2),
(4) A structure of substrate / source electrode (or drain electrode) / organic semiconductor active layer + insulator layer + gate electrode / drain electrode (or source electrode) is exemplified. At this time, a plurality of source electrodes, drain electrodes, and gate electrodes may be provided. Moreover, you may provide a some organic-semiconductor active layer in the same plane, and may provide it by laminating | stacking.
次に、本発明の有機トランジスタの他の構成成分に関し、具体例を挙げて説明する。
本発明における、有機トランジスタの作製において、ソース電極、ドレイン電極及びゲート電極を形成する材料は導電性材料であれば特に限定されず、白金、金、銀、ニッケル、クロム、銅、鉄、錫、アンチモン鉛、タンタル、インジウム、パラジウム、テルル、レニウム、イリジウム、アルミニウム、ルテニウム、ゲルマニウム、モリブデン、酸化モリブデン、タングステン、酸化スズ・アンチモン、酸化インジウム・スズ(ITO)、フッ素ドープ酸化亜鉛、亜鉛、炭素、グラファイト、グラッシーカーボン、銀ペースト及びカーボンペースト、リチウム、ベリリウム、ナトリウム、マグネシウム、カリウム、カルシウム、スカンジウム、チタン、マンガン、ジルコニウム、ガリウム、ニオブ、ナトリウム、ナトリウム−カリウム合金、マグネシウム、リチウム、アルミニウム、マグネシウム/銅混合物、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム混合物、リチウム/アルミニウム混合物等が用いられるが、特に、白金、金、銀、酸化モリブデン、インジウム、ITO、炭素が好ましい。又は、ドーピング等で導電率を向上させた公知の導電性ポリマー、例えば、導電性ポリアニリン、導電性ポリピロール、導電性ポリチオフェン、ポリエチレンジオキシチオフェンとポリスチレンスルホン酸の錯体等も好適に用いられる。中でも半導体層との接触面において電気抵抗が少ないものが好ましい。これらの導電性材料は単独で使用してもよいし、2種類以上を混合して使用してもよい。電極の膜厚は、材料によっても異なるが、好ましくは0.1nm〜10μmであり、さらに好ましくは0.5nm〜5μmであり、より好ましくは1nm〜3μmである。また、ゲート電極と基板を兼ねる場合は上記の膜厚より大きくてもよい。
Next, other structural components of the organic transistor of the present invention will be described with specific examples.
In the production of the organic transistor in the present invention, the material for forming the source electrode, the drain electrode, and the gate electrode is not particularly limited as long as it is a conductive material. Platinum, gold, silver, nickel, chromium, copper, iron, tin, Antimony lead, tantalum, indium, palladium, tellurium, rhenium, iridium, aluminum, ruthenium, germanium, molybdenum, molybdenum oxide, tungsten, tin oxide / antimony oxide, indium tin oxide (ITO), fluorine doped zinc oxide, zinc, carbon, Graphite, glassy carbon, silver paste and carbon paste, lithium, beryllium, sodium, magnesium, potassium, calcium, scandium, titanium, manganese, zirconium, gallium, niobium, sodium, sodium-potassium alloy, Gnesium, lithium, aluminum, magnesium / copper mixture, magnesium / silver mixture, magnesium / aluminum mixture, magnesium / indium mixture, aluminum / aluminum oxide mixture, lithium / aluminum mixture, etc. are used, especially platinum, gold, silver, Molybdenum oxide, indium, ITO, and carbon are preferable. Alternatively, a known conductive polymer whose conductivity is improved by doping or the like, for example, conductive polyaniline, conductive polypyrrole, conductive polythiophene, a complex of polyethylenedioxythiophene and polystyrenesulfonic acid, or the like is also preferably used. Among them, those having low electrical resistance at the contact surface with the semiconductor layer are preferable. These conductive materials may be used alone or in combination of two or more. Although the film thickness of an electrode changes with materials, Preferably it is 0.1 nm-10 micrometers, More preferably, it is 0.5 nm-5 micrometers, More preferably, it is 1 nm-3 micrometers. Moreover, when it serves as a gate electrode and a board | substrate, it may be larger than said film thickness.
本発明の有機トランジスタに用いられるソース電極、ドレイン電極は、表面処理が施されていてもよい。本発明の薄膜(有機半導体活性層)と接触する電極表面に表面処理が施されていると、該薄膜を含む有機トランジスタのトランジスタ特性が向上する傾向があることから好ましい。表面処理としては、例えば、1−オクチルチオール、1−パーフルオロオクチルチオール、1−オクタデシルチオール、1−パーフルオロオクタデシルチオール等のチオール基を有する飽和炭化水素化合物、例えば、ベンゼンチオール、パーフルオロベンゼンチオール等のチオール基を有する芳香族化合物、例えば、チエニルチオール、パーフルオロチエニルチオール等のチオール基を有する複素環芳香族化合物等のチオール化合物をアルコールなどとともに溶液とし、上記電極を該溶液に浸漬処理するなどして上記電極の表面を修飾する方法等を挙げることができる。 The source electrode and drain electrode used in the organic transistor of the present invention may be subjected to surface treatment. It is preferable that the surface of the electrode in contact with the thin film (organic semiconductor active layer) of the present invention is subjected to surface treatment because the transistor characteristics of the organic transistor including the thin film tend to be improved. Examples of the surface treatment include saturated hydrocarbon compounds having a thiol group such as 1-octylthiol, 1-perfluorooctylthiol, 1-octadecylthiol, and 1-perfluorooctadecylthiol, such as benzenethiol and perfluorobenzenethiol. A thiol compound such as a heterocyclic aromatic compound having a thiol group such as thienyl thiol or perfluorothienyl thiol is used as a solution together with an alcohol or the like, and the electrode is immersed in the solution. For example, a method for modifying the surface of the electrode can be used.
電極の形成方法としては、上記原料を用いて種々の方法で実施することができる。具体的には、真空蒸着法、スパッタ法、塗布法、熱転写法、印刷法、ゾルゲル法などが挙げられる。成膜時又は成膜後に、パターニングを必要に応じて行うことが好ましい。パターニングの方法としては、種々の方法を用いることができる。具体的には、フォトレジストのパターニングとエッチングを組み合わせたフォトリソグラフィー法などが挙げられる。また、インクジェット印刷、スクリーン印刷、オフセット印刷、凸版印刷などの印刷法、マイクロコンタクトプリンティング法などのソフトリソグラフィーの手法なども挙げられる。これらの手法は単独で用いてもよいし、2種類以上を混合してパターニングを行うことも可能である。 The electrode can be formed by various methods using the raw materials. Specific examples include a vacuum deposition method, a sputtering method, a coating method, a thermal transfer method, a printing method, and a sol-gel method. It is preferable to perform patterning as needed during film formation or after film formation. Various methods can be used as the patterning method. Specifically, a photolithographic method combining photoresist patterning and etching may be used. In addition, printing methods such as ink jet printing, screen printing, offset printing, letterpress printing, and soft lithography techniques such as a microcontact printing method are also included. These methods may be used alone, or two or more types may be mixed and patterned.
絶縁体層としては種々の絶縁膜を用いることができる。該絶縁膜の材料として、無機酸化物、無機窒化物、有機化合物等を挙げることができる。
無機酸化物としては、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化チタン、酸化スズ、酸化バナジウム、チタン酸バリウムストロンチウム、ジルコニウム酸チタン酸バリウム、ジルコニウム酸チタン酸鉛、チタン酸鉛ランタン、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム、フッ化バリウムマグネシウム、チタン酸ビスマス、チタン酸ストロンチウムビスマス、タンタル酸ストロンチウムビスマス、タンタル酸ニオブ酸ビスマス、トリオキサイドイットリウムなどが挙げられ、好ましくは、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化チタンである。無機窒化物としては、窒化ケイ素、窒化アルミニウム等が挙げられる。有機化合物としては、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、ポリアクリレート、光ラジカル重合又は光カチオン重合して得られる光硬化性樹脂、アクリロニトリル成分を含有する共重合体、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ノボラック樹脂、シアノエチルプルランなどが挙げられ、好ましくは、ポリイミド、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコールが挙げられる。これらの絶縁体層の材料は単独で使用してもよいし、2種類以上を組み合わせて使用してもよい。
絶縁体層の膜厚は、材料によっても異なるが、好ましくは0.1nm〜100μmであり、さらに好ましくは0.5nm〜50μmであり、より好ましくは5nm〜10μmである。
Various insulating films can be used as the insulator layer. Examples of the material for the insulating film include inorganic oxides, inorganic nitrides, and organic compounds.
Inorganic oxides include silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, titanium oxide, tin oxide, vanadium oxide, barium strontium titanate, barium zirconate titanate, lead zirconate titanate, lead lanthanum titanate, strontium titanate, Barium titanate, barium magnesium fluoride, bismuth titanate, strontium bismuth titanate, strontium bismuth tantalate, bismuth tantalate niobate, yttrium trioxide, etc., preferably silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, oxide Titanium. Examples of the inorganic nitride include silicon nitride and aluminum nitride. Examples of the organic compound include polyimide, polyamide, polyester, polyacrylate, photocurable resin obtained by photoradical polymerization or photocationic polymerization, a copolymer containing an acrylonitrile component, polyvinylphenol, polyvinyl alcohol, novolak resin, cyanoethyl pullulan. Preferably, polyimide, polyvinyl phenol, and polyvinyl alcohol are used. These insulator layer materials may be used alone or in combination of two or more.
Although the film thickness of an insulator layer changes with materials, Preferably it is 0.1 nm-100 micrometers, More preferably, it is 0.5 nm-50 micrometers, More preferably, it is 5 nm-10 micrometers.
絶縁体層の形成方法としては、上記原料を用いて種々の方法で実施することができる。
具体的には、スピンコーティング、スプレーコーティング、ディップコーティング、キャスト、バーコート、ブレードコーティング、スクリーン印刷、オフセット印刷、インクジェット、真空蒸着法、分子線エピタキシャル成長法、イオンクラスタービーム法、イオンプレーティング法、スパッタリング法、大気圧プラズマ法、CVD法などのドライプロセス法が挙げられる。その他、ゾルゲル法やアルミニウム上のアルマイト、シリコンの熱酸化膜のように金属上に酸化物膜を形成する方法などが挙げられる。
The insulator layer can be formed by various methods using the above raw materials.
Specifically, spin coating, spray coating, dip coating, casting, bar coating, blade coating, screen printing, offset printing, inkjet, vacuum deposition, molecular beam epitaxial growth, ion cluster beam method, ion plating method, sputtering And dry process methods such as atmospheric pressure plasma method and CVD method. Other examples include a sol-gel method, alumite on aluminum, and a method of forming an oxide film on a metal such as a thermal oxide film of silicon.
基板の材料としては、ガラス、紙、石英、セラミック、樹脂製シートなどが挙げられる。該樹脂製シートの材質としては、具体的には、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、ポリイミド、ボリカーボネート(PC)、セルローストリアセテート(TAC)、セルロースアセテートプロピオネート(CAP)などが挙げられる。基板の厚さは、好ましくは1μm〜10mmであり、さらに好ましくは5μm〜5mmである。 Examples of the material for the substrate include glass, paper, quartz, ceramic, resin sheet, and the like. Specific examples of the resin sheet material include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyethersulfone (PES), polyetherimide, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, polyarylate, and polyimide. , Carbonate (PC), cellulose triacetate (TAC), cellulose acetate propionate (CAP), and the like. The thickness of the substrate is preferably 1 μm to 10 mm, more preferably 5 μm to 5 mm.
本発明の薄膜(以下、有機半導体活性層と記すことがある)と接触する絶縁体層や基板の部分において、絶縁体層や基板上に表面処理を行ってもよい。有機半導体活性層が積層される絶縁体層上に表面処理を行うことにより、有機トランジスタのトランジスタ特性を向上させることができる。表面処理としては、具体的には、ヘキサメチルジシラザン、オクタデシルトリクロロシラン、オクチルトリクロロシラン、フェネチルトリクロロシランなどによる疎水化処理、塩酸、硫酸、過酸化水素水などによる酸処理、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウム、アンモニアなどによるアルカリ処理、オゾン処理、フッ素化処理、酸素やアルゴンなどのプラズマ処理、ラングミュラー・ブロジェット膜の形成処理、その他の絶縁体や半導体の薄膜の形成処理、機械的処理、コロナ放電などの電気的処理、繊維などを利用したラビング処理などが挙げられる。 A surface treatment may be performed on the insulator layer or the substrate in the portion of the insulator layer or the substrate in contact with the thin film of the present invention (hereinafter sometimes referred to as an organic semiconductor active layer). By performing the surface treatment on the insulator layer on which the organic semiconductor active layer is laminated, the transistor characteristics of the organic transistor can be improved. Specifically, the surface treatment includes hydrophobization treatment with hexamethyldisilazane, octadecyltrichlorosilane, octyltrichlorosilane, phenethyltrichlorosilane, acid treatment with hydrochloric acid, sulfuric acid, hydrogen peroxide water, sodium hydroxide, water, etc. Alkaline treatment with potassium oxide, calcium hydroxide, ammonia, etc., ozone treatment, fluorination treatment, plasma treatment with oxygen, argon, etc., Langmueller / Blodgett film formation process, other insulator and semiconductor thin film formation process, Examples thereof include mechanical treatment, electrical treatment such as corona discharge, and rubbing treatment using fibers.
表面処理を行う方法としては、例えば、真空蒸着法、スパッタ法、塗布法、印刷法、ゾルゲル法などが挙げられる。 Examples of the method for performing the surface treatment include a vacuum deposition method, a sputtering method, a coating method, a printing method, a sol-gel method, and the like.
また、有機半導体活性層上に樹脂もしくは無機化合物からなる保護膜を設けてもよい。
保護膜の形成により、外気の影響を抑制してトランジスタの駆動を安定化することができる。
Moreover, you may provide the protective film which consists of resin or an inorganic compound on an organic-semiconductor active layer.
By forming the protective film, the influence of outside air can be suppressed and the driving of the transistor can be stabilized.
本発明の薄膜は、化合物(1)を含有することから、高いキャリア移動度を示す。ゆえに、本発明の薄膜は、有機トランジスタにおける有機半導体活性層として有用であり、本発明の薄膜を含有する有機半導体活性層をもつ有機トランジスタは優れたトランジスタ特性を発現するものであり、有機半導体デバイスに有用なものとなる。 Since the thin film of the present invention contains compound (1), it exhibits high carrier mobility. Therefore, the thin film of the present invention is useful as an organic semiconductor active layer in an organic transistor, and an organic transistor having an organic semiconductor active layer containing the thin film of the present invention exhibits excellent transistor characteristics. It will be useful.
以下、本発明を実施例によりさらに詳しく説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples.
<製造例1:式Cで表される化合物(4−(2−ヘキシルデシル)アニリン)の合成>
還流管を具備した反応容器中に、切削片状のマグネシウム(0.96g、39.6mmol)とテトラヒドロフラン(5.5mL)とを混合し、該反応容器を窒素置換した後、室温(約25℃)にて、ジブロモエタン(約0.2mL)を加えた。さらに、テトラヒドロフラン(22mL)を加えたのち、1−ブロモ−2−ヘキシルデカン(10.1g、33.0mmol)を含むテトラヒドロフラン(6mL)溶液を滴下した。次に、反応容器内を加熱し、テトラヒドロフランを還流させ、還流下4時間、反応容器内を攪拌し、グリニャール試薬を調製した。
窒素雰囲気下の別の反応容器に、ZnCl2を1.0mol/Lの濃度で含有するジエチルエーテル溶液(シグマアルドリッチ(株)製、33.0mL、33.0mmol)に、室温にて、上記で得たグリニャール試薬を加え、2時間30分間攪拌し、グリニャール試薬のマクネシウムが亜鉛にトランスメタル化されたもの(以下、亜鉛試薬と記すことがある)を調製した。該亜鉛試薬をSynthesis、Vol.5,P.890,(2006)に準じて滴定したところ、0.204mol/Lであった。
窒素を流通させた反応容器に、4−ブロモアニリン(関東化学(株)製、3.37g、19.6mmol)、酢酸パラジウム(0.044g、0.20mmol)、2−ジシクロヘキシルホスフィノ−2’,6’−ジメトキシビフェニル(0.16g、0.39mmol)及びテトラヒドロフラン(30mL)を混合し、得られた混合液に、室温下、該亜鉛試薬(96mL、19.6mmol)を滴下し、室温で13時間30分間攪拌した。得られた反応溶液に、塩化アンモニウム水溶液及びジエチルエーテルを加えて攪拌し、有機層と水層とに分液した。得られた有機層を水および飽和食塩水で洗浄した後、硫酸ナトリウムで乾燥し、エバポレーターにて濃縮した。得られた濃縮物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(展開溶媒;ヘキサン:酢酸エチル=8:1)によって精製することにより、式Cで表される化合物(4−(2−ヘキシルデシル)アニリン)を得た。(5.57g、17.5mmol、収率89%)
式Cで表される化合物の1H−NMR(CDCl3、δppm):6.92(d,J=8.1Hz,2H)、6.61(d,J=8.1Hz,2H)、3.53(s,2H)、2.41(d,J=7.0Hz,2H)、1.56−1.47(m、1H)、1.35−1.15(m、24H)、0.90−0.85(m、6H)
式Cで表される化合物のHRMS(EI):317.3071(M+).Calcd for C22H39N1:317.3083.
<Production Example 1: Synthesis of compound represented by formula C (4- (2-hexyldecyl) aniline)>
In a reaction vessel equipped with a reflux tube, chopped magnesium (0.96 g, 39.6 mmol) and tetrahydrofuran (5.5 mL) were mixed, and the reaction vessel was purged with nitrogen, followed by room temperature (about 25 ° C. ) Was added dibromoethane (approximately 0.2 mL). Furthermore, after adding tetrahydrofuran (22 mL), a tetrahydrofuran (6 mL) solution containing 1-bromo-2-hexyldecane (10.1 g, 33.0 mmol) was added dropwise. Next, the inside of the reaction vessel was heated to reflux tetrahydrofuran, and the inside of the reaction vessel was stirred for 4 hours under reflux to prepare a Grignard reagent.
In a separate reaction vessel under a nitrogen atmosphere, in a diethyl ether solution (Sigma Aldrich, 33.0 mL, 33.0 mmol) containing ZnCl 2 at a concentration of 1.0 mol / L, at room temperature, the above The obtained Grignard reagent was added, and the mixture was stirred for 2 hours and 30 minutes to prepare a product in which the Grignard reagent Mcnesium was transmetalated to zinc (hereinafter sometimes referred to as a zinc reagent). The zinc reagent was synthesized by Synthesis, Vol. 5, P. 890, (2006), the titration was 0.204 mol / L.
In a reaction vessel in which nitrogen was circulated, 4-bromoaniline (manufactured by Kanto Chemical Co., Inc., 3.37 g, 19.6 mmol), palladium acetate (0.044 g, 0.20 mmol), 2-dicyclohexylphosphino-2 ′ , 6′-dimethoxybiphenyl (0.16 g, 0.39 mmol) and tetrahydrofuran (30 mL) are mixed, and the zinc reagent (96 mL, 19.6 mmol) is added dropwise to the resulting mixture at room temperature. Stir for 13 hours and 30 minutes. To the resulting reaction solution, an aqueous ammonium chloride solution and diethyl ether were added and stirred, and the mixture was separated into an organic layer and an aqueous layer. The obtained organic layer was washed with water and saturated brine, dried over sodium sulfate, and concentrated with an evaporator. The obtained concentrate was purified by silica gel column chromatography (developing solvent; hexane: ethyl acetate = 8: 1) to obtain a compound represented by the formula C (4- (2-hexyldecyl) aniline). . (5.57 g, 17.5 mmol, 89% yield)
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm) of the compound represented by formula C: 6.92 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 6.61 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 3 .53 (s, 2H), 2.41 (d, J = 7.0 Hz, 2H), 1.56-1.47 (m, 1H), 1.35-1.15 (m, 24H), 0 .90-0.85 (m, 6H)
HRMS (EI) of compound represented by formula C: 317.3071 (M +). Calcd for C 22 H 39 N 1 : 317.3083.
<製造例2:式Dで表される化合物(1−ヨード−4−(2−ヘキシルデシル)ベンゼン)の合成>
前項に準じて調製された4−(2−ヘキシルデシル)アニリン(8.0g、25.2mmol)とアセト二トリル176mLとの混合液に、室温下、塩酸(2M:176mL)を加えた後、−2〜0℃に冷却した。亜硫酸ナトリウム(2.26g、32.8mmol)水溶液(水25mL)を上記混合液に滴下し、さらに、−2〜0℃にて2時間攪拌した。得られた反応溶液にヨウ化カリウム(41.8g、251.9mmol)を加えた後、室温まで昇温し、室温下でさらに16時間攪拌した。その後、室温下、この反応溶液に、亜硫酸ナトリウム水溶液及び酢酸エチルを混合し、有機層と水層とに分液した。得られた有機層を水および飽和食塩水で洗浄した後、硫酸ナトリウムで乾燥し、エバポレーターにて濃縮した。得られた濃縮物をシリカゲルカラム(展開溶媒;ヘキサン)によって精製することにより、式Dで表される化合物(1−ヨード−4−(2−ヘキシルデシル)ベンゼン)を得た。(9.70g、22.6mmol、収率90%)
式Dで表される化合物の1H−NMR(CDCl3、δppm):7.57(d,J=8.1Hz,2H)、6.89(d,J=8.1Hz,2H)、2.46(d,J=7.0Hz,2H)、1.60−1.50(m、1H)、1.33−1.16(m、24H)、0.91−0.85(m、6H)
式Dで表される化合物のHRMS(EI):428.1901(M+).Calcd for C22H37I1:428.1940.
<Production Example 2: Synthesis of compound represented by formula D (1-iodo-4- (2-hexyldecyl) benzene)>
After adding hydrochloric acid (2M: 176 mL) at room temperature to a mixture of 4- (2-hexyldecyl) aniline (8.0 g, 25.2 mmol) and acetonitryl 176 mL prepared according to the previous section, Cooled to −2 to 0 ° C. A sodium sulfite (2.26 g, 32.8 mmol) aqueous solution (
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm) of the compound represented by Formula D: 7.57 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 6.89 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 2 .46 (d, J = 7.0 Hz, 2H), 1.60-1.50 (m, 1H), 1.33-1.16 (m, 24H), 0.91-0.85 (m, 6H)
HRMS (EI) of the compound represented by the formula D: 428.9011 (M +). Calcd for C 22 H 37 I 1 : 428. 1940.
<製造例3:式Fで表される化合物(4−アミノ−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル)の合成>
前項で得られた式Dで表される化合物(1.0g、2.33mmol)、式Eで表される4−アミノフェニルボロン酸ピナコールエステル(東京化成工業(株)製、0.716g、3.27mmol)、2.0Mの炭酸カリウム水溶液(5.8mL)及びジオキサン(200mL)の混合液を30分間窒素バブリングした後、該混合液に、室温下、酢酸パラジウム(0.026g、0.116mmol)および2−ジシクロヘキシルホスフィノ−2’,6’−ジメトキシビフェニル(0.096g、0.234mmol)を加えた後、ジオキサンが還流するまで加熱し、さらに、6.5時間還流させた。その後、反応溶液を室温に冷却し、この反応溶液に、塩化アンモニウム水溶液及び酢酸エチルを混合し、有機層と水層とに分液した。得られた有機層を水で洗浄した後、硫酸ナトリウムで乾燥し、エバポレーターにて濃縮した。得られた濃縮物ををシリカゲルカラム(展開溶媒;クロロホルム)によって精製することにより、式Fで表される化合物(4−アミノ−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル)0.768g(1.95mmol、収率84%)を得た。
式Fで表される化合物の1H−NMR(CDCl3、δppm):7.44(d,J=8.1Hz,2H)、7.41(d,J=8.1Hz,2H)、7.16(d,J=8.1Hz,2H)、6.75(d,J=8.1Hz,2H)、3.69(s,2H)、2.53(d,J=6.8Hz,2H)、1.68−1.58(m、1H)、1.36−1.19(m,24H)、0.88(t,J=7.0Hz,6H)
式Fで表される化合物のHRMS(EI):393.3391(M+).Calcd for C28H43N1:393.3396.
<Production Example 3: Synthesis of compound represented by formula F (4-amino-4 '-(2-hexyldecyl) biphenyl)>
The compound represented by Formula D (1.0 g, 2.33 mmol) obtained in the previous section, 4-aminophenylboronic acid pinacol ester represented by Formula E (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., 0.716 g, 3 .27 mmol), 2.0M aqueous potassium carbonate solution (5.8 mL) and dioxane (200 mL) were bubbled with nitrogen for 30 minutes, and then palladium acetate (0.026 g, 0.116 mmol) was added to the mixture at room temperature. ) And 2-dicyclohexylphosphino-2 ′, 6′-dimethoxybiphenyl (0.096 g, 0.234 mmol), and then heated until the dioxane was refluxed, and further refluxed for 6.5 hours. Thereafter, the reaction solution was cooled to room temperature, and this reaction solution was mixed with an aqueous ammonium chloride solution and ethyl acetate, and separated into an organic layer and an aqueous layer. The obtained organic layer was washed with water, dried over sodium sulfate, and concentrated with an evaporator. The obtained concentrate is purified by a silica gel column (developing solvent; chloroform) to give 0.768 g (1. 4-amino-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl) represented by the formula F. 95 mmol, 84% yield).
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm) of the compound represented by Formula F: 7.44 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 7.41 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 7 .16 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 6.75 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 3.69 (s, 2H), 2.53 (d, J = 6.8 Hz, 2H), 1.68-1.58 (m, 1H), 1.36-1.19 (m, 24H), 0.88 (t, J = 7.0 Hz, 6H)
HRMS (EI) of compound represented by formula F: 393.3391 (M +). Calcd for C 28 H 43 N 1 : 393.3396.
<製造例4:式Gで表される化合物(4−アミノ−3−ブロモ−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル)の合成>
前項と同様に調製された式Fで表される化合物(4−アミノ−3−ブロモ−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル)5.30g(13.46mmol)、酢酸アンモニウム(0.104g、1.35mmol)及びアセト二トリル81mLの混合物を0℃に冷却し、N−ブロモコハク酸イミド(2.52g、14.1mmol)を加えた。次に、室温まで昇温した後、さらに2時間攪拌した。得られた反応溶液に、水及び酢酸エチルを混合し、有機層と水層とに分液した。得られた有機層を水で洗浄した後、硫酸ナトリウムで乾燥し、エバポレーターにて濃縮した。得られた濃縮物をシリカゲルカラム(展開溶媒;ヘキサン:クロロホルム=1:1)によって精製することにより、4−アミノ−3−ブロモ−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニルを得た。(5.01g、10.6mmol、収率79%)
式Gで表される化合物の1H−NMR(CDCl3、δppm):7.66(d,J=1.8Hz,1H)、7.40(d,J=8.1Hz,2H)、7.35(dd,J=8.4Hz,2.1Hz,1H)、7.16(d,J=8.1Hz,2H)、6.82(d,J=8.4Hz,1H)、4.11(s,2H)、2.54(d,J=6.9Hz,2H)、1.68−1.58(m、1H)、1.34−1.18(m,24H)、0.88(t,J=6.9Hz,6H)
式Gで表される化合物のMS:471(M+).
<Production Example 4: Synthesis of compound represented by formula G (4-amino-3-bromo-4 '-(2-hexyldecyl) biphenyl)>
5.30 g (13.46 mmol) of a compound represented by the formula F (4-amino-3-bromo-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl) prepared in the same manner as in the previous section, ammonium acetate (0.104 g, 1.35 mmol) and 81 mL of acetonitryl were cooled to 0 ° C. and N-bromosuccinimide (2.52 g, 14.1 mmol) was added. Next, after heating up to room temperature, it stirred for further 2 hours. Water and ethyl acetate were mixed with the obtained reaction solution, and the mixture was separated into an organic layer and an aqueous layer. The obtained organic layer was washed with water, dried over sodium sulfate, and concentrated with an evaporator. The obtained concentrate was purified by a silica gel column (developing solvent; hexane: chloroform = 1: 1) to obtain 4-amino-3-bromo-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl. (5.01 g, 10.6 mmol, yield 79%)
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm) of the compound represented by formula G: 7.66 (d, J = 1.8 Hz, 1H), 7.40 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 7 .35 (dd, J = 8.4 Hz, 2.1 Hz, 1H), 7.16 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 6.82 (d, J = 8.4 Hz, 1H), 4. 11 (s, 2H), 2.54 (d, J = 6.9 Hz, 2H), 1.68-1.58 (m, 1H), 1.34-1.18 (m, 24H), 0. 88 (t, J = 6.9 Hz, 6H)
MS for compound of formula G: 471 (M +).
<製造例5:式Hで表される化合物(化合物H)の合成>
4−アミノ−3−ブロモ−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル(4.0g、8.5mmol)、アセト二トリル(59mL)及び塩酸水溶液(2M:59.3mL)を混合し、0℃まで冷却した。冷却された混合液に、亜硝酸ナトリウム(0.76g、11.0mmol)水溶液(水12mL)を滴下し、0〜1℃にて2時間攪拌し、続いて、同温度にてヨウ化カリウム(14.1g、84.6mmol)を加えた後、室温(約25℃)まで昇温させ、室温にて18時間攪拌した。室温下、得られた溶液を亜硫酸ナトリウム水溶液に注ぎ込み、酢酸エチルを加え、水および飽和食塩水により洗浄した。有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、エバポレーターにて濃縮することにより粗生成物を得た。これをシリカゲルカラム(展開溶媒;ヘキサン)によって精製することにより、3−ブロモ−4−ヨード−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル(化合物H、3.06g、5.24mmol、収率62%)を得た。
化合物Hの物性は以下のとおりであった。
1H−NMR(CDCl3、δppm):7.88(d,J=8.4Hz,1H)、7.85(d,J=2.1Hz,1H)、7.44(d,J=8.1Hz,2H)、7.23−7.20(m,3H)、2.56(d,J=6.9Hz,2H)、1.67−1.59(m、1H)、1.32−1.21(m,24H)、0.88(t,J=6.9Hz,6H)
HRMS(EI):582.1348(M+).Calcd for C28H40Br1I1:582.1358.
<Production Example 5: Synthesis of compound represented by formula H (compound H)>
4-amino-3-bromo-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl (4.0 g, 8.5 mmol), acetonitryl (59 mL) and aqueous hydrochloric acid (2M: 59.3 mL) were mixed and mixed at 0 ° C. Until cooled. An aqueous solution of sodium nitrite (0.76 g, 11.0 mmol) (
The physical properties of Compound H were as follows.
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm): 7.88 (d, J = 8.4 Hz, 1H), 7.85 (d, J = 2.1 Hz, 1H), 7.44 (d, J = 8 .1 Hz, 2H), 7.23-7.20 (m, 3H), 2.56 (d, J = 6.9 Hz, 2H), 1.67-1.59 (m, 1H), 1.32. -1.21 (m, 24H), 0.88 (t, J = 6.9 Hz, 6H)
HRMS (EI): 582.1348 (M +). Calcd for C 28 H 40 Br 1 I 1 : 582.1358.
<製造例6:式Iで表される化合物(化合物I)の合成>
室温下、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(0.024g、0.034mmol)、ヨウ化銅(0.013g、0.07mmol)、3−ブロモ−4−ヨード−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル(化合物H、2.67g、4.58mmol)、トルエン(14mL)およびジイソプロピルアミン(14mL)の混合物を20分間窒素バブリングして脱気し、続いて、トリメチルシリルアセチレン(0.36g、3.7mmol)のジイソプロピルアミン(5mL)溶液を室温にて滴下し、室温にてさらに3時間攪拌した。得られた反応混合物をセライトでろ過し、得られた濾液をエバポレーターにより溶媒を留去し、粗生成物を得た。粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(展開溶媒:ヘキサン)により精製することにより3−ブロモ−4−エチニルトリメチルシリル−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニルを得た(化合物I 1.92g、3.47mmol、76%)。
化合物Jの物性は以下のとおり。
1H−NMR(CDCl3、δppm):7.82(d,J=1.2Hz,1H)、7.53(d,J=8.1Hz,1H)、7.48−7.45(m,3H)、7.21(d,J=7.8Hz,2H)、2.56(d,J=6.9Hz,2H)、1.68−1.59(m、1H)、1.34−1.21(m,24H)、0.90−0.85(m,6H)、0.29(s,9H)
HRMS(EI):552.2798(M+).Calcd for C33H49Br1Si1:552.2787.
<Production Example 6: Synthesis of Compound represented by Formula I (Compound I)>
Under room temperature, dichlorobis (triphenylphosphine) palladium (0.024 g, 0.034 mmol), copper iodide (0.013 g, 0.07 mmol), 3-bromo-4-iodo-4 ′-(2-hexyldecyl) A mixture of biphenyl (Compound H, 2.67 g, 4.58 mmol), toluene (14 mL) and diisopropylamine (14 mL) was degassed by bubbling with nitrogen for 20 minutes, followed by trimethylsilylacetylene (0.36 g, 3.7 mmol). ) Was added dropwise at room temperature, and the mixture was further stirred at room temperature for 3 hours. The obtained reaction mixture was filtered through Celite, and the solvent was distilled off from the obtained filtrate using an evaporator to obtain a crude product. The crude product was purified by silica gel column chromatography (developing solvent: hexane) to give 3-bromo-4-ethynyltrimethylsilyl-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl (Compound I 1.92 g, 3. 47 mmol, 76%).
The physical properties of Compound J are as follows.
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm): 7.82 (d, J = 1.2 Hz, 1H), 7.53 (d, J = 8.1 Hz, 1H), 7.48-7.45 (m , 3H), 7.21 (d, J = 7.8 Hz, 2H), 2.56 (d, J = 6.9 Hz, 2H), 1.68-1.59 (m, 1H), 1.34 -1.21 (m, 24H), 0.90-0.85 (m, 6H), 0.29 (s, 9H)
HRMS (EI): 552.2798 (M +). Calcd for C 33 H 49 Br 1 Si 1: 552.2787.
<製造例7:式Jで表される化合物(化合物J)の合成>
窒素気流下、3−ブロモ−4−エチニルトリメチルシリル−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル(化合物I、2.43g、4.39mmol)をテトラヒドロフラン(12mL)およびメタノール(12mL)に溶解させた。得られた溶解液に、室温にて炭酸カリウム(0.061g、0.439mmol)を加え、さらに15時間30分攪拌した。得られた反応生成物からエバポレーターにより溶媒を留去し、粗生成物を得た。粗生成物に飽和塩化アンモニウム水溶液およびエーテルを加え、分液した。得られた有機層を水で洗浄後、硫酸マグネシウムで乾燥し、エバポレーターでエーテルを留去することにより、3−ブロモ−4−エチニル−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニルを得た(化合物J、2.11g、4.38mmol、収率99%)。
化合物Jの物性は以下のとおり。
1H−NMR(CDCl3、δppm):7.83(d,J=1.5Hz,1H)、7.57(d,J=8.1Hz,1H)、7.49(dd,J=7.8,1.8Hz,1H)、7.47(d,J=8.1Hz,2H)、7.22(d,J=8.1Hz,2H)、3.41(s、1H)、2.57(d,J=6.9Hz,2H)、1.67−1.59(m,1H)、1.31−1.21(m,24H)、0.88(t,J=6.9Hz,6H)
HRMS(EI):480.2385(M+).Calcd for C30H41Br1:480.2392.
<Production Example 7: Synthesis of compound represented by formula J (compound J)>
Under a nitrogen stream, 3-bromo-4-ethynyltrimethylsilyl-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl (Compound I, 2.43 g, 4.39 mmol) was dissolved in tetrahydrofuran (12 mL) and methanol (12 mL). To the resulting solution, potassium carbonate (0.061 g, 0.439 mmol) was added at room temperature, and the mixture was further stirred for 15 hours and 30 minutes. The solvent was distilled off from the obtained reaction product by an evaporator to obtain a crude product. A saturated aqueous ammonium chloride solution and ether were added to the crude product, followed by liquid separation. The obtained organic layer was washed with water, dried over magnesium sulfate, and the ether was distilled off with an evaporator to obtain 3-bromo-4-ethynyl-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl (compound J, 2.11 g, 4.38 mmol, 99% yield).
The physical properties of Compound J are as follows.
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm): 7.83 (d, J = 1.5 Hz, 1H), 7.57 (d, J = 8.1 Hz, 1H), 7.49 (dd, J = 7 .8, 1.8 Hz, 1H), 7.47 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 7.22 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 3.41 (s, 1H), 2 .57 (d, J = 6.9 Hz, 2H), 1.67-1.59 (m, 1H), 1.31-1.21 (m, 24H), 0.88 (t, J = 6. 9Hz, 6H)
HRMS (EI): 480.2385 (M +). Calcd for C 30 H 41 Br 1 : 480.2392.
<製造例8:式Kで表される化合物(化合物K)の合成>
テトラメチルエチレンジアミン(TMEDA、0.06mL、0.42mmol)、ヨウ化銅(0.04g、0.208mmol)及びアセトンを含む溶液(16mL)を室温にて、空気でバブリングし、バブリングしている該溶液に、3−ブロモ−4−エチニル−4’−(2−ヘキシルデシル)ビフェニル(化合物J、2.0g、4.2mmol)を含むアセトン溶液(2mL)を滴下した。続いて、室温にて空気バブリングしながら、さらに18時間攪拌した。得られた反応溶液からエバポレーターにて溶媒を留去し、得られた残渣に1M塩酸及びヘキサンを加えた。得られたヘキサン層を水および飽和食塩水で洗浄後、硫酸マグネシウムで乾燥した後、ヘキサンを留去し粗生成物を得た。粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(展開溶媒:ヘキサン)にて精製することで、式Kで表される化合物(化合物K)の白色粉末 1.85g(1.92mmol、収率93%)を得た。白色粉末の物性は以下のとおりであった。
1H−NMR(CDCl3、δppm):7.85(d,J=1.5Hz,2H)、7.62(d,J=8.1Hz,2H)、7.52(dd,J=8.1,1.5Hz,2H)、7.48(d,J=8.1Hz,4H)、7.23(d,J=8.1Hz,4H)、2.57(d,J=6.9Hz,4H)、1.69−1.59(m、2H)、1.36−1.20(m,48H)、0.88(t,J=6.9Hz,12H)
HRMS(EI):958.4563(M+).Calcd for C60H80Br2:958.4627.
<Production Example 8: Synthesis of compound represented by formula K (compound K)>
A solution (16 mL) containing tetramethylethylenediamine (TMEDA, 0.06 mL, 0.42 mmol), copper iodide (0.04 g, 0.208 mmol) and acetone is bubbled with air at room temperature and bubbled. An acetone solution (2 mL) containing 3-bromo-4-ethynyl-4 ′-(2-hexyldecyl) biphenyl (Compound J, 2.0 g, 4.2 mmol) was added dropwise to the solution. Subsequently, the mixture was further stirred for 18 hours while bubbling air at room temperature. The solvent was distilled off from the obtained reaction solution with an evaporator, and 1M hydrochloric acid and hexane were added to the obtained residue. The obtained hexane layer was washed with water and saturated brine, dried over magnesium sulfate, and then hexane was distilled off to obtain a crude product. The crude product is purified by silica gel column chromatography (developing solvent: hexane) to obtain 1.85 g (1.92 mmol, 93% yield) of a white powder of the compound represented by formula K (compound K). It was. The physical properties of the white powder were as follows.
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm): 7.85 (d, J = 1.5 Hz, 2H), 7.62 (d, J = 8.1 Hz, 2H), 7.52 (dd, J = 8 .1, 1.5 Hz, 2H), 7.48 (d, J = 8.1 Hz, 4H), 7.23 (d, J = 8.1 Hz, 4H), 2.57 (d, J = 6. 9 Hz, 4H), 1.69-1.59 (m, 2H), 1.36-1.20 (m, 48H), 0.88 (t, J = 6.9 Hz, 12H)
HRMS (EI): 958.4563 (M +). Calcd for C 60 H 80 Br 2 : 958.4627.
<製造例9:式Lで表される化合物(化合物L)の合成>
窒素雰囲気下、製造例8で得られた化合物K(200mg、0.208mmol)及びテトラヒドロフラン(5mL)を混合し、−78℃まで冷却した。同温度にて得られた混合液にt−BuLiを1.59M含むペンタン溶液を0.58mL(t−BuLiとして0.916mmol)を滴下し、同温度にてさらに1時間攪拌し、続いて、硫黄粉末(29mg、0.916mmol)を加えた後、同温度にて5分間攪拌した。その後、緩やかに室温まで昇温しそのまま2時間攪拌した。別途、窒素バブリングした1M水酸化ナトリウム水溶液(10mL)とK3Fe(CN)6(0.41g、1.2mmol)とを、得られた反応溶液に加えて攪拌した後、分液し、得られた有機層をエバポレーターにより濃縮した。濃縮残渣を水および飽和食塩水で洗浄し、クロロホルムにより抽出、硫酸マグネシウムで乾燥後、エバポレーターにより溶媒を留去した。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(展開溶媒:ヘキサン)にて精製することにより、式Lで表される化合物を91mg(化合物L、0.098mmol、47%)。
1H−NMR(CDCl3、δppm):8.05(d,J=1.2Hz,2H)、7.85(d,J=8.4Hz,2H)、7.72(dd,J=8.1,1.5Hz,2H)、7.59(d,J=8.4Hz,4H)、7.26(d,J=8.1Hz,4H)、2.59(d,J=6.9Hz,4H)、1.71−1.63(m,2H)、1.33−1.24(m,48H)、0.88(t,J=6.6Hz,12H)
HRMS(EI):928.5136(M+).Calcd for C60H80S4:928.5143.
<Production Example 9: Synthesis of compound represented by formula L (compound L)>
Under a nitrogen atmosphere, Compound K (200 mg, 0.208 mmol) obtained in Production Example 8 and tetrahydrofuran (5 mL) were mixed and cooled to -78 ° C. To the mixture obtained at the same temperature, 0.58 mL (0.916 mmol as t-BuLi) of a pentane solution containing 1.59 M of t-BuLi was dropped, and the mixture was further stirred for 1 hour at the same temperature. After adding sulfur powder (29 mg, 0.916 mmol), the mixture was stirred at the same temperature for 5 minutes. Thereafter, the temperature was gradually raised to room temperature and stirred for 2 hours. Separately, nitrogen bubbling 1M aqueous sodium hydroxide solution (10 mL) and K 3 Fe (CN) 6 (0.41 g, 1.2 mmol) were added to the obtained reaction solution and stirred, and then separated. The obtained organic layer was concentrated by an evaporator. The concentrated residue was washed with water and saturated brine, extracted with chloroform, dried over magnesium sulfate, and then the solvent was distilled off with an evaporator. By refine | purifying the obtained crude product with silica gel column chromatography (developing solvent: hexane), 91 mg (compound L, 0.098 mmol, 47%) of compounds represented by Formula L are obtained.
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm): 8.05 (d, J = 1.2 Hz, 2H), 7.85 (d, J = 8.4 Hz, 2H), 7.72 (dd, J = 8 .1, 1.5 Hz, 2H), 7.59 (d, J = 8.4 Hz, 4H), 7.26 (d, J = 8.1 Hz, 4H), 2.59 (d, J = 6. 9Hz, 4H), 1.71-1.63 (m, 2H), 1.33-1.24 (m, 48H), 0.88 (t, J = 6.6Hz, 12H)
HRMS (EI): 928.5136 (M +). Calcd for C 60 H 80 S 4 : 928.5143.
<実施例1:式Mで表される化合物(化合物M)の合成>
窒素雰囲気下、化合物L(82mg、0.088mmol)、ビス(1、5−シクロオクタジエン)ニッケル(0)(27mg、0.145mmol)およびトリフェニルホスフィン(51mg、0.19mmol)にトルエン(6ml)加え、室温にて1時間攪拌した。得られた反応溶液を120℃まで昇温し、同温度にて10時間攪拌した後、室温まで冷却し、冷却液をセライト濾過した。トルエンを用いてセライトを洗浄し、ろ液をエバポレーターにて濃縮した。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(展開溶媒:ヘキサン)にて精製することにより、式Mで表される化合物(化合物M、51mg、0.057mmol、65%)を得た。化合物Mの物性は以下のとおりであった。
1H−NMR(CDCl3、δppm):8.11(d,J=0.9Hz,2H)、7.93(d,J=8.4Hz,2H)、7.71(dd,J=8.4,1.5Hz,2H)、7.60(d,J=8.4Hz,4H)、7.26(d,J=8.4Hz,4H)、2.59(d,J=6.9Hz,4H)、1.71−1.62(m、2H)、1.33−1.21(m,48H)、0.90−0.86(m,12H)
HRMS(EI):896.5423(M+).Calcd for C60H80S3:896.5422.
<Example 1: Synthesis of compound represented by formula M (compound M)>
Under nitrogen atmosphere, compound L (82 mg, 0.088 mmol), bis (1,5-cyclooctadiene) nickel (0) (27 mg, 0.145 mmol) and triphenylphosphine (51 mg, 0.19 mmol) in toluene (6 ml) ) And stirred at room temperature for 1 hour. The resulting reaction solution was heated to 120 ° C., stirred at the same temperature for 10 hours, cooled to room temperature, and the cooling liquid was filtered through Celite. Celite was washed with toluene, and the filtrate was concentrated with an evaporator. The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography (developing solvent: hexane) to obtain a compound represented by formula M (compound M, 51 mg, 0.057 mmol, 65%). The physical properties of Compound M were as follows.
1 H-NMR (CDCl 3 , δ ppm): 8.11 (d, J = 0.9 Hz, 2H), 7.93 (d, J = 8.4 Hz, 2H), 7.71 (dd, J = 8 .4, 1.5 Hz, 2H), 7.60 (d, J = 8.4 Hz, 4H), 7.26 (d, J = 8.4 Hz, 4H), 2.59 (d, J = 6. 9Hz, 4H), 1.71-1.62 (m, 2H), 1.33-1.21 (m, 48H), 0.90-0.86 (m, 12H)
HRMS (EI): 896.5423 (M +). Calcd for C 60 H 80 S 3 : 896.5422.
<実施例2:薄膜及び該薄膜を有機半導体層とする有機トランジスタの製造例1>
実施例1で製造される化合物Mをo−キシレンに溶解して、化合物Mの濃度が0.3重量%の有機溶液を調製する。
フェネチルトリクロロシラン処理が行われているSiO2熱酸化膜付きnドープシリコンウエハー上に、有機溶液を滴下してスピンコート法により化合物Mからなる薄膜を形成する。
続いて、ソース電極及びドレイン電極を形成するための金属マスクを有機半導体層の面に置き、膜厚40nmの金の層を真空蒸着により該有機半導体層上に成膜して、ソース電極及びドレイン電極を形成し、図2に示すような有機トランジスタを製造することができる。
Example 2 Production Example 1 of Organic Transistor Using Thin Film and Organic Semiconductor Layer as Thin Film>
Compound M produced in Example 1 is dissolved in o-xylene to prepare an organic solution having a concentration of Compound M of 0.3% by weight.
An organic solution is dropped onto an n-doped silicon wafer with a SiO 2 thermal oxide film that has been subjected to phenethyltrichlorosilane treatment to form a thin film made of the compound M by spin coating.
Subsequently, a metal mask for forming the source electrode and the drain electrode is placed on the surface of the organic semiconductor layer, and a gold layer having a thickness of 40 nm is formed on the organic semiconductor layer by vacuum deposition, and the source electrode and the drain electrode are formed. An electrode can be formed and an organic transistor as shown in FIG. 2 can be manufactured.
本発明によれば、新規な有機半導体材料が提供可能である。 According to the present invention, a novel organic semiconductor material can be provided.
11 基板
12 ゲート電極
13 ゲート絶縁膜
14 ソース電極
15 ドレイン電極
16 有機半導体活性層
21 基板
22 ソース電極
23 ドレイン電極
24 ゲート絶縁膜
25 ゲート電極
26 有機半導体活性層
DESCRIPTION OF
Claims (12)
(式中、Eはそれぞれ独立に、硫黄またはセレン原子を表す。
R1及びR2は、それぞれ独立に、水素原子、分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基を表す。前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基の合計炭素数は9〜30であり、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基は、置換基を有していてもよい。前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基の合計炭素数は7〜30であり、前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基は、置換基を有していてもよい。
R1及びR2の少なくとも一方は、前記の分岐状のアルキル基を有するアリール基、又は、前記の分岐状のアルキル基を有するヘテロアリール基である。)
で表される置換ベンゾカルコゲノアセン化合物。 Formula (1)
(In the formula, each E independently represents a sulfur or selenium atom.
R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, an aryl group having a branched alkyl group, or a heteroaryl group having a branched alkyl group. The total number of carbon atoms of the aryl group having a branched alkyl group is 9 to 30, and the aryl group having the branched alkyl group may have a substituent. The total carbon number of the heteroaryl group having the branched alkyl group is 7 to 30, and the heteroaryl group having the branched alkyl group may have a substituent.
At least one of R 1 and R 2 is the aryl group having the branched alkyl group or the heteroaryl group having the branched alkyl group. )
The substituted benzochalcogenoacene compound represented by these.
(式中、E、R1及びR2は前記と同じ意味を表す。)
で表される化合物であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか記載の化合物。 The compound represented by the formula (1) is represented by the formula (2)
(In the formula, E, R 1 and R 2 represent the same meaning as described above.)
The compound according to claim 1, wherein the compound is represented by the formula:
Priority Applications (3)
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