JP2513093B2 - X-ray fluorescence analyzer - Google Patents
X-ray fluorescence analyzerInfo
- Publication number
- JP2513093B2 JP2513093B2 JP14316591A JP14316591A JP2513093B2 JP 2513093 B2 JP2513093 B2 JP 2513093B2 JP 14316591 A JP14316591 A JP 14316591A JP 14316591 A JP14316591 A JP 14316591A JP 2513093 B2 JP2513093 B2 JP 2513093B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shutter
- sample
- bottom plate
- sample holder
- main body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、X線を試料に照射して
試料の含有元素を励起し、これが安定状態に戻るときに
放射される蛍光X線の波長を分析することにより、含有
元素の同定と含有量の測定とを行う蛍光X線分析装置に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention comprises irradiating a sample with X-rays to excite the element contained in the sample and analyzing the wavelength of fluorescent X-rays emitted when the element returns to a stable state. The present invention relates to a fluorescent X-ray analysis device for identifying a substance and measuring its content.
【0002】[0002]
【従来の技術】図3は、従来のこの種の蛍光X線分析装
置の要部を示す断面図である。2. Description of the Related Art FIG. 3 is a sectional view showing a main part of a conventional fluorescent X-ray analyzer of this kind.
【0003】図において、2はX線管、2aはそのX線
出射端面、4は上部真空容器、6は下部真空容器、8は
中仕切り板部、10はシャッタである。上部真空容器4
および下部真空容器6はそれぞれ、中仕切り板部8に対
してOリング12,14を介して密封状態に取り付けら
れている。X線管2の下端部は、上部真空容器4に挿入
され、Oリング16を介して密封状態に取り付けられて
いる。In the figure, 2 is an X-ray tube, 2a is its X-ray emission end face, 4 is an upper vacuum container, 6 is a lower vacuum container, 8 is a partition plate, and 10 is a shutter. Upper vacuum container 4
The lower vacuum container 6 and the lower vacuum container 6 are hermetically attached to the intermediate partition plate portion 8 via O-rings 12 and 14, respectively. The lower end of the X-ray tube 2 is inserted into the upper vacuum container 4 and attached in a sealed state via an O-ring 16.
【0004】シャッタ10は、図示しない駆動機構によ
って中仕切り板部8の開口部8aを開閉するもので、閉
止状態ではOリング18によって気密性が保たれるよう
になっている。X線管2の下端部と上部真空容器4と中
仕切り板部8と閉止状態のシャッタ10とで真空室20
が形成されている。上部真空容器4には、真空室20を
真空排気するための排気部22が設けられているととも
に、分光検出部24が取り付けられている。The shutter 10 opens and closes the opening 8a of the intermediate partition plate 8 by a drive mechanism (not shown), and is kept airtight by the O-ring 18 in the closed state. The vacuum chamber 20 includes the lower end portion of the X-ray tube 2, the upper vacuum container 4, the intermediate partition plate portion 8 and the shutter 10 in the closed state.
Are formed. The upper vacuum container 4 is provided with an exhaust unit 22 for evacuating the vacuum chamber 20 and a spectroscopic detection unit 24 is attached.
【0005】26は後述する試料ホルダ34を受け止め
るとともに下部真空容器6に形成された試料挿入口6a
を嵌合閉止する受台兼用蓋体であるが、この受台兼用蓋
体26を試料挿入口6aに嵌合閉止することで、下部真
空容器6と中仕切り板部8とそれぞれ閉止状態にあるシ
ャッタ10と受台兼用蓋体26とで予備排気室28が形
成されるようになっている。試料挿入口6aに対する受
台兼用蓋体26の密閉性を高めるため、試料挿入口6a
および受台兼用蓋体26は下拡がりのテーパーに形成さ
れ、試料挿入口6aのテーパー面にOリング30が装着
されている。Reference numeral 26 receives a sample holder 34, which will be described later, and a sample insertion port 6a formed in the lower vacuum container 6.
Is a pedestal / cover lid that fits and closes. The pedestal / cover lid 26 is fitted and closed in the sample insertion port 6a, so that the lower vacuum container 6 and the intermediate partition plate 8 are in a closed state. A preliminary exhaust chamber 28 is formed by the shutter 10 and the pedestal / cover 26. In order to enhance the airtightness of the pedestal / cover lid 26 with respect to the sample insertion port 6a, the sample insertion port 6a
Also, the pedestal / cover lid 26 is formed in a downwardly widened taper, and the O-ring 30 is attached to the taper surface of the sample insertion port 6a.
【0006】下部真空容器6には、予備排気室28を真
空排気するための排気部32が設けられている。The lower vacuum container 6 is provided with an exhaust portion 32 for exhausting the preliminary exhaust chamber 28 to vacuum.
【0007】試料ホルダ34は、試料mを正確な位置決
め状態で保持するためのものであり、筒部34aと試料
ストッパ34bと底板34cと試料載置板34dと圧縮
スプリング34eなどから構成されている。試料載置板
34dに位置決め載置された試料mは、底板34cと試
料載置板34dとの間に設けられた圧縮スプリング34
eの付勢力によって、その上面が試料ストッパ34bに
圧接されるようになっている。筒部34aには予備排気
室28に連通する連通孔34fが形成されている。The sample holder 34 is for holding the sample m in an accurate positioning state, and is composed of a cylindrical portion 34a, a sample stopper 34b, a bottom plate 34c, a sample mounting plate 34d, a compression spring 34e and the like. . The sample m positioned and mounted on the sample mounting plate 34d has a compression spring 34 provided between the bottom plate 34c and the sample mounting plate 34d.
The upper surface thereof is brought into pressure contact with the sample stopper 34b by the urging force of e. A communication hole 34f communicating with the preliminary exhaust chamber 28 is formed in the cylindrical portion 34a.
【0008】この試料ホルダ34は、受台兼用蓋体26
に嵌着保持されて、図示しない昇降機構によって受台兼
用蓋体26と一体となって昇降されるようになってい
る。The sample holder 34 includes a pedestal lid 26.
It is fitted in and held by and is moved up and down integrally with the pedestal / cover lid 26 by an elevating mechanism (not shown).
【0009】次に、以上のように構成された従来の蛍光
X線分析装置の動作について説明する。Next, the operation of the conventional X-ray fluorescence analyzer constructed as above will be described.
【0010】試料mを保持させた試料ホルダ34を受台
兼用蓋体26に嵌着保持させ、図示しない昇降機構によ
って試料ホルダ34と受台兼用蓋体26とを一体にして
上昇させる。この段階ではすでに、シャッタ10が閉止
姿勢にあり、真空室20は排気部22からの真空排気に
よって高真空状態に保たれている。これに対して予備排
気室28は外気圧と同圧となっている。The sample holder 34 holding the sample m is fitted and held in the pedestal / cover lid 26, and the sample holder 34 and the cradle / cover lid 26 are integrally lifted by an elevator mechanism (not shown). At this stage, the shutter 10 is already in the closed posture, and the vacuum chamber 20 is kept in a high vacuum state by the vacuum exhaust from the exhaust unit 22. On the other hand, the preliminary exhaust chamber 28 has the same pressure as the outside air pressure.
【0011】下部真空容器6の試料挿入口6aを通して
試料ホルダ34を予備排気室28内に挿入するととも
に、試料挿入口6aに対して受台兼用蓋体26を密着嵌
合しOリング30によって密封状態に閉止する。そし
て、排気部32によって予備排気室28内を真空排気す
る。このとき、試料ホルダ34の内部も連通孔34fを
介して真空排気される。The sample holder 34 is inserted into the preliminary evacuation chamber 28 through the sample insertion port 6a of the lower vacuum container 6, and the pedestal / cover lid 26 is closely fitted to the sample insertion port 6a and sealed by the O-ring 30. Close to the state. Then, the inside of the preliminary exhaust chamber 28 is evacuated by the exhaust unit 32. At this time, the inside of the sample holder 34 is also evacuated through the communication hole 34f.
【0012】予備排気室28内の真空度はモニタリング
されており、それが真空室20と同程度まで低下したと
きに、シャッタ10を図示しない駆動機構によって開放
する。試料ホルダ34の内外は連通孔34fを介して連
通しているので圧力差はなく、圧縮スプリング34eに
よって試料ストッパ34bに押圧された試料mの上面と
X線管2のX線出射端面2aとの距離および平行性は一
定に保たれる。The degree of vacuum in the preliminary evacuation chamber 28 is monitored, and when it is reduced to the same level as the vacuum chamber 20, the shutter 10 is opened by a drive mechanism (not shown). Since the inside and outside of the sample holder 34 are communicated with each other through the communication hole 34f, there is no pressure difference, and the upper surface of the sample m pressed by the sample stopper 34b by the compression spring 34e and the X-ray emission end surface 2a of the X-ray tube 2 are. Distance and parallelism are kept constant.
【0013】シャッタ10が開放端まで移動すると、X
線管2のX線出射端面2aから試料mに向けてX線を照
射し、試料mから放射された蛍光X線を分光検出部24
に導いて分光し、波長および強度のパターンを分析す
る。When the shutter 10 moves to the open end, X
X-rays are radiated from the X-ray emission end face 2a of the X-ray tube 2 toward the sample m, and the fluorescent X-rays emitted from the sample m are spectroscopically detected.
And spectrally analyze the wavelength and intensity patterns.
【0014】それが完了すると、再びシャッタ10を閉
止して真空室20を高真空状態に保った後、図示しない
昇降機構によって試料ホルダ34とともに受台兼用蓋体
26を下降し、試料ホルダ34を試料挿入口6aを通し
て予備排気室28から取り出す。When this is completed, the shutter 10 is closed again to keep the vacuum chamber 20 in a high vacuum state, and then the pedestal / cover 26 together with the sample holder 34 is lowered by an elevating mechanism (not shown) to remove the sample holder 34. The sample is taken out from the preliminary exhaust chamber 28 through the sample insertion port 6a.
【0015】[0015]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の蛍光X線分析装置の場合には、次のような問題点が
ある。However, the above-mentioned conventional fluorescent X-ray analyzer has the following problems.
【0016】試料ホルダ34を予備排気室28に搬入
し、受台兼用蓋体26で試料挿入口6aを密封した状態
で、予備排気室28を真空排気するようになっているた
め、予備排気室28としては、その容積が試料ホルダ3
4を収納するのに足りるだけの充分な大きさのものにす
る必要がある。そして、予備排気室28の容積がこのよ
うにかなり大きいので、予備排気室28を真空排気する
のに相当に長い時間がかかり、効率の悪いものとなって
いた。Since the sample holder 34 is carried into the preliminary evacuation chamber 28 and the sample insertion port 6a is sealed by the pedestal / cover lid 26, the preliminary evacuation chamber 28 is evacuated. The volume of the sample holder 3 is 28.
It needs to be large enough to accommodate 4. Since the preliminary exhaust chamber 28 has such a large volume, it takes a considerably long time to evacuate the preliminary exhaust chamber 28, resulting in poor efficiency.
【0017】なお、試料mによっては予備排気室28を
真空状態とはせずに、空気をヘリウムなどの不活性ガス
で置換する場合があるが、この場合だと、エアパージに
続く不活性ガス導入となるので余計に時間がかかる。Depending on the sample m, the air may be replaced with an inert gas such as helium without evacuating the preliminary exhaust chamber 28. In this case, the inert gas introduction following the air purge is performed. Therefore, it takes extra time.
【0018】また、受台兼用蓋体26に試料ホルダ34
を嵌着保持する構造になっているとともに、下部真空容
器6の試料挿入口6aおよびOリング30に対して受台
兼用蓋体26を正確に密着嵌合しなければならない構造
となっているため、これらの部分の構造が複雑なものと
なっている。Further, a sample holder 34 is attached to the lid 26 which also serves as a pedestal.
The structure is such that the pedestal and lid 26 must be fitted tightly and closely to the sample insertion opening 6a of the lower vacuum container 6 and the O-ring 30. , The structure of these parts is complicated.
【0019】本発明は、このような事情に鑑みて創案さ
れたものであって、真空排気またはガス置換に要する時
間を短縮化するとともに構造の簡素化を図ることを目的
とする。The present invention was devised in view of such circumstances, and an object thereof is to shorten the time required for vacuum exhaust or gas replacement and to simplify the structure.
【0020】[0020]
【課題を解決するための手段】本発明に係る蛍光X線分
析装置は、X線管および分光検出部の各先端部分が臨む
真空室がシャッタで開閉自在に構成され、前記シャッタ
の下方直近には、シャッタの厚さよりもやや大きい上下
幅のシャッタ開閉空間を確保するシャッタと平行な姿勢
の偏平板状の本体底板が設けられ、前記シャッタ開閉空
間に臨んでこのシャッタ開閉空間内を排気する排気部が
設けられ、前記本体底板には前記X線管に対向する位置
に開口部が形成されており、試料ホルダに上方付勢状態
で保持された試料の上面が前記開口部に対向するととも
に、前記試料ホルダの上端面は前記本体底板の下面に密
封状態に当接可能に構成され、かつ、前記本体底板に、
前記シャッタ開閉空間と試料ホルダ内部とを連通する連
通孔が形成されていることを特徴とするものである。In a fluorescent X-ray analysis apparatus according to the present invention, a vacuum chamber facing the respective tip portions of an X-ray tube and a spectroscopic detection section is constructed so as to be openable and closable by a shutter, and a vacuum chamber is provided immediately below the shutter. Is provided with a flat plate-shaped main body bottom plate in a posture parallel to the shutter that secures a shutter opening / closing space having a width slightly larger than the thickness of the shutter, and exhausts the inside of the shutter opening / closing space facing the shutter opening / closing space. An opening is formed in the main body bottom plate at a position facing the X-ray tube, and the upper surface of the sample held by the sample holder in an upwardly biased state faces the opening. The upper end surface of the sample holder is configured to be capable of sealingly contacting the lower surface of the main body bottom plate, and the main body bottom plate,
A communication hole that communicates the shutter opening / closing space with the inside of the sample holder is formed.
【0021】[0021]
【作用】試料ホルダを上昇させてその上端面を本体底板
に密封状態で当接させる。このとき上方付勢されている
試料はその上面が本体底板に当接している。また、本体
底板の連通孔が試料ホルダ内部とシャッタ開閉空間とを
連通する。次いで、排気部によってシャッタ開閉空間と
試料ホルダ内部とを真空排気またはガス置換した後、シ
ャッタを開放し、X線管からのX線を本体底板の開口部
を介して試料に照射し、試料からの蛍光X線を分光検出
部に導く。Operation: The sample holder is raised and its upper end surface is brought into contact with the bottom plate of the main body in a sealed state. At this time, the upper surface of the sample biased upward is in contact with the main body bottom plate. Further, the communication hole of the bottom plate of the main body communicates the inside of the sample holder with the shutter opening / closing space. Then, after the shutter opening / closing space and the inside of the sample holder are evacuated or replaced with gas by the exhaust unit, the shutter is opened and the sample is irradiated with X-rays from the X-ray tube through the opening in the bottom plate of the main body. The fluorescent X-rays are guided to the spectroscopic detector.
【0022】この場合において、排気部による真空排気
またはガス置換の対象は、シャッタ開閉空間と試料ホル
ダ内部のみであり、従来例のように大きな予備排気室は
対象とはならない。試料ホルダは、その上端面を本体底
板に直接当接することにより、試料ホルダ自体で密封性
を確保するため、従来例の予備排気室そのものが必要で
はなくなる。In this case, the objects of vacuum evacuation or gas replacement by the evacuation unit are only the shutter opening / closing space and the inside of the sample holder, not the large preliminary evacuation chamber as in the conventional example. In the sample holder, the upper end surface of the sample holder directly abuts the bottom plate of the main body to ensure the hermeticity by the sample holder itself, so that the preliminary exhaust chamber itself of the conventional example is not necessary.
【0023】真空排気またはガス置換の対象が予備排気
室を含まずシャッタ開閉空間と試料ホルダ内部のみであ
り、しかも、そのシャッタ開閉空間は上下幅がシャッタ
厚さよりやや大きいだけの小容量のものであるから、全
体としての容積は予備排気室を有する従来例に比べて大
幅に減少する。The target of vacuum evacuation or gas replacement is not the preliminary evacuation chamber but only the shutter opening / closing space and the inside of the sample holder, and the shutter opening / closing space has a small capacity whose vertical width is slightly larger than the shutter thickness. Therefore, the volume as a whole is significantly reduced as compared with the conventional example having the preliminary exhaust chamber.
【0024】また、予備排気室そのものが省略されるの
で、従来例における受台兼用蓋体も不要となる。Further, since the preliminary exhaust chamber itself is omitted, the pedestal / cumulative lid in the conventional example is also unnecessary.
【0025】[0025]
【実施例】以下、本発明に係る蛍光X線分析装置の一実
施例を図面に基づいて詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the X-ray fluorescence analyzer according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【0026】図1は実施例の蛍光X線分析装置の要部を
示す断面図、図2はその要部を拡大した断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a main part of the X-ray fluorescence analyzer of the embodiment, and FIG. 2 is an enlarged sectional view of the main part.
【0027】X線管2の下端部を挿入しOリング16を
介して密封状態に取り付けている上部真空容器4は、中
仕切り板部8に対してOリング12を介して密封状態に
取り付けられている。中仕切り板部8の開口部8aを開
閉するシャッタ10が中仕切り板部8の下面に配置され
ている。The upper vacuum vessel 4 into which the lower end of the X-ray tube 2 is inserted and which is hermetically attached via the O-ring 16 is attached to the intermediate partition plate portion 8 in the hermetically-sealed state via the O-ring 12. ing. A shutter 10 that opens and closes the opening 8 a of the middle partition plate portion 8 is arranged on the lower surface of the middle partition plate portion 8.
【0028】上部真空容器4の横側部にはシャッタ10
の駆動機構が配置されている。すなわち、モータ40,
減速ギアケース42,駆動軸44,カップリング46,
受動軸48が設けられ、シャッタ10を保持するシャッ
タプレート50が受動軸48の下端に取り付けられてい
る。A shutter 10 is provided on the lateral side of the upper vacuum container 4.
Drive mechanism is arranged. That is, the motor 40,
Reduction gear case 42, drive shaft 44, coupling 46,
A passive shaft 48 is provided, and a shutter plate 50 holding the shutter 10 is attached to the lower end of the passive shaft 48.
【0029】中仕切り板部8の開口部8aに対するシャ
ッタ10の閉止状態では、中仕切り板部8の下面に嵌着
したOリング18にシャッタ10が当接することで気密
性を保つようになっている。In the closed state of the shutter 10 with respect to the opening 8a of the intermediate partition plate portion 8, the shutter 10 is brought into contact with the O-ring 18 fitted to the lower surface of the intermediate partition plate portion 8 to maintain airtightness. There is.
【0030】X線管2の下端部と上部真空容器4と中仕
切り板部8と閉止状態のシャッタ10とで真空室20が
形成されている。上部真空容器4には、真空室20を真
空排気するための排気部22が設けられているととも
に、分光検出部24が取り付けられている。X線管2の
X線出射端面2aおよび分光検出部24の入射端面24
aは真空室20の内部に臨んでいる。X線出射端面2a
と開口部8aとは同軸となっている。A vacuum chamber 20 is formed by the lower end of the X-ray tube 2, the upper vacuum container 4, the partition plate 8 and the shutter 10 in the closed state. The upper vacuum container 4 is provided with an exhaust unit 22 for evacuating the vacuum chamber 20 and a spectroscopic detection unit 24 is attached. The X-ray emission end face 2a of the X-ray tube 2 and the incident end face 24 of the spectroscopic detection unit 24.
a faces the inside of the vacuum chamber 20. X-ray emission end face 2a
And the opening 8a are coaxial.
【0031】シャッタ10およびシャッタプレート50
の下方直近には、シャッタ10の厚さよりも少しだけ大
きい上下幅のシャッタ開閉空間52を確保するための偏
平板状の本体底板54が配置され、この本体底板54は
中仕切り板部8に対してOリング56を介して密封状態
に取り付けられている。この本体底板54は、シャッタ
10おシャッタプレート50と平行となっている。Shutter 10 and shutter plate 50
A bottom plate 54 of a flat plate shape for ensuring a shutter opening / closing space 52 having a width slightly larger than the thickness of the shutter 10 is arranged immediately below the main plate bottom plate 54 with respect to the middle partition plate part 8. It is attached in a sealed state via an O-ring 56. The main body bottom plate 54 is parallel to the shutter 10 and the shutter plate 50.
【0032】図1と図3との比較から明らかなように、
中仕切り板部8と本体底板54との間に形成されたシャ
ッタ開閉空間52は、従来例の予備排気室28に比べて
容積が充分に小さなものとなっている。中仕切り板部8
には、シャッタ開閉空間52を真空排気するための排気
部58が設けられている。As is clear from the comparison between FIG. 1 and FIG.
The shutter opening / closing space 52 formed between the middle partition plate portion 8 and the main body bottom plate 54 has a volume sufficiently smaller than that of the preliminary exhaust chamber 28 of the conventional example. Middle partition plate 8
Is provided with an exhaust unit 58 for evacuating the shutter opening / closing space 52.
【0033】本体底板54にはX線管2のX線出射端面
2aに対向して開口部54aが同軸状態で形成されてい
る。この開口部54aの周囲近傍において試料mの上面
が本体底板54の下面に当接するようになっている。An opening 54a is formed coaxially in the bottom plate 54 of the main body so as to face the X-ray emission end face 2a of the X-ray tube 2. The upper surface of the sample m comes into contact with the lower surface of the main body bottom plate 54 in the vicinity of the periphery of the opening 54a.
【0034】試料mを正確な位置決め状態で保持する試
料ホルダ60は、図2に示すように、筒部60aとフラ
ンジ部60bと底板部60cと試料載置板60dと圧縮
スプリング60eなどから構成されている。底板部60
cは筒部60aに内嵌され、底板部60cに嵌着したO
リング60fで筒部60aとの間の気密性を保ってい
る。底板部60cは筒部60aに螺合したストッパネジ
60gによって固定されている。試料載置板60dは、
底板部60cと試料載置板60dとの間に介在された圧
縮スプリング60eによって上方に付勢され、フランジ
部60bによって受け止められるようになっている(図
2の二点鎖線の状態)。As shown in FIG. 2, the sample holder 60 for holding the sample m in an accurate positioning state is composed of a cylinder portion 60a, a flange portion 60b, a bottom plate portion 60c, a sample mounting plate 60d, a compression spring 60e and the like. ing. Bottom plate 60
c is internally fitted to the tubular portion 60a and is fitted to the bottom plate portion 60c.
The ring 60f maintains airtightness with the tubular portion 60a. The bottom plate portion 60c is fixed by a stopper screw 60g screwed into the tubular portion 60a. The sample mounting plate 60d is
A compression spring 60e interposed between the bottom plate portion 60c and the sample mounting plate 60d urges it upward, and the flange portion 60b receives the compression spring 60e (indicated by a chain double-dashed line in FIG. 2).
【0035】試料ホルダ60が、図2の二点鎖線の位置
から実線の位置まで図示しない昇降機構によって上昇さ
れると、まず、試料mの上面の外周部分が開口部54a
の周辺において本体底板54の下面に当接し、これに伴
って試料載置板60dが圧縮スプリング60eを収縮し
ながら筒部60aに対して相対的に下降する。When the sample holder 60 is lifted from the position indicated by the chain double-dashed line in FIG. 2 to the position indicated by the solid line by a lifting mechanism (not shown), first, the outer peripheral portion of the upper surface of the sample m is opened 54a.
In contact with the lower surface of the bottom plate 54 of the main body in the periphery of the, the sample mounting plate 60d is lowered relative to the tubular portion 60a while contracting the compression spring 60e.
【0036】試料ホルダ60のさらなる上昇によってフ
ランジ部60bが、試料当接箇所の外周位置において本
体底板54の下面に当接する。そのフランジ部60bの
当接箇所において、本体底板54にはOリング62が嵌
着されており、その当接によって試料ホルダ60と本体
底板54との気密性が保たれるようになっている。By further raising the sample holder 60, the flange portion 60b abuts on the lower surface of the main body bottom plate 54 at the outer peripheral position of the sample abutting portion. An O-ring 62 is fitted to the main body bottom plate 54 at the abutting portion of the flange portion 60b, and the airtightness between the sample holder 60 and the main body bottom plate 54 is maintained by the abutment.
【0037】本体底板54に対する試料mの当接箇所と
フランジ部60bの当接箇所との間の環状領域におい
て、本体底板54にはシャッタ開閉空間52と試料ホル
ダ60の内部とを連通する連通孔64が周方向に適当な
間隔をあけて複数個形成されている。In the annular region between the abutting portion of the sample m and the abutting portion of the flange portion 60b on the main body bottom plate 54, the main body bottom plate 54 has a communication hole for communicating the shutter opening / closing space 52 and the inside of the sample holder 60. A plurality of 64 are formed at appropriate intervals in the circumferential direction.
【0038】なお、ここで本実施例と従来例とを比較し
てみると、本実施例には、従来例における下部真空容器
6,受台兼用蓋体26および容積の大きな予備排気室2
8が存在していない。Here, comparing the present embodiment with the conventional example, in the present embodiment, the lower vacuum container 6, the pedestal / cover 26 and the large-capacity preliminary exhaust chamber 2 in the conventional example are shown.
8 does not exist.
【0039】次に、以上のように構成された本実施例の
蛍光X線分析装置の動作について説明する。Next, the operation of the X-ray fluorescence analyzer of the present embodiment constructed as described above will be described.
【0040】図2の二点鎖線に示すように、まず、試料
mを試料ホルダ60の試料載置板60dに位置決め状態
で載置嵌合する。このとき試料載置板60dは圧縮スプ
リング60eによって上方付勢されフランジ部60bに
受け止められている。また、シャッタ10は閉止姿勢と
なっており、真空室20は高真空を保っている。As shown by the alternate long and two short dashes line in FIG. 2, first, the sample m is placed and fitted to the sample placing plate 60d of the sample holder 60 in a positioned state. At this time, the sample mounting plate 60d is biased upward by the compression spring 60e and is received by the flange portion 60b. Further, the shutter 10 is in the closed posture, and the vacuum chamber 20 maintains a high vacuum.
【0041】図示しない昇降機構によって試料mととも
に試料ホルダ60を上昇させると、まず、試料mの上面
が開口部54aの周囲において本体底板54に当接し、
上下方向の位置規制が行われる。When the sample holder 60 is raised together with the sample m by an elevating mechanism (not shown), first, the upper surface of the sample m abuts the main body bottom plate 54 around the opening 54a,
Vertical position regulation is performed.
【0042】引き続いて試料ホルダ60を上昇させる
と、試料mは位置規制された状態で、図2の実線に示す
ように、フランジ部60bがOリング62に密着しなが
ら連通孔64の外周位置において本体底板54に当接す
る。これによって試料ホルダ60が本体底板54に密封
状態に当接されたことになる。また、周方向複数の連通
孔64によって試料ホルダ60の内部がシャッタ開閉空
間52と連通した状態となる。When the sample holder 60 is subsequently raised, the position of the sample m is regulated, and as shown by the solid line in FIG. 2, the flange portion 60b is in close contact with the O-ring 62 at the outer peripheral position of the communication hole 64. It contacts the bottom plate 54 of the main body. As a result, the sample holder 60 is brought into contact with the bottom plate 54 of the main body in a sealed state. Further, the inside of the sample holder 60 is in communication with the shutter opening / closing space 52 by the plurality of communication holes 64 in the circumferential direction.
【0043】排気部58を介してシャッタ開閉空間52
およびこれに連通孔64を介して連通している試料ホル
ダ60内部を真空排気する(なお、試料mの種類によっ
てはガスパージ後に不活性ガスと置換する場合もあ
る)。A shutter opening / closing space 52 is provided through an exhaust unit 58.
Further, the inside of the sample holder 60 communicating with this via the communication hole 64 is evacuated (it may be replaced with an inert gas after gas purging depending on the type of the sample m).
【0044】真空排気が完了すると、モータ40を駆動
してシャッタプレート50を介してシャッタ10を摺動
させ開口部8aを開放する。これにより、シャッタ開閉
空間52は真空室20と同程度の高真空状態となる。ま
た、X線管2のX線出射端面2aは試料mの上面に対し
て直接的に対面する。When the vacuum exhaust is completed, the motor 40 is driven to slide the shutter 10 through the shutter plate 50 to open the opening 8a. As a result, the shutter opening / closing space 52 is in a high vacuum state, which is about the same as the vacuum chamber 20. The X-ray emitting end surface 2a of the X-ray tube 2 directly faces the upper surface of the sample m.
【0045】試料mの上面は圧縮スプリング60eによ
って上方に付勢され本体底板54の下面に押圧されて位
置規制されているから、X線出射端面2aと試料mの上
面との距離および平行性は常に一定に保たれる。Since the upper surface of the sample m is biased upward by the compression spring 60e and pressed by the lower surface of the bottom plate 54 of the main body to regulate its position, the distance and parallelism between the X-ray emission end surface 2a and the upper surface of the sample m are small. It is always kept constant.
【0046】シャッタ10を開放した後、X線管2のX
線出射端面2aから開口部8a,54aを通して試料m
に向けてX線を照射し、試料mから放射された蛍光X線
を入射端面24aから分光検出部24に導いて分光し、
波長および強度のパターンを分析する。After opening the shutter 10, the X-ray of the X-ray tube 2 is changed.
Sample m from the line emission end face 2a through the openings 8a and 54a
And irradiate X-rays toward the optical axis to guide the fluorescent X-rays emitted from the sample m from the incident end face 24a to the spectroscopic detection unit 24, where they are dispersed.
Analyze wavelength and intensity patterns.
【0047】この分析が完了すると、シャッタ10を閉
止して真空室20を高真空状態に保った後、排気部58
を介してシャッタ開閉空間52の真空を解除し、試料m
とともに試料ホルダ60を図示しない昇降機構によって
下降する。When this analysis is completed, the shutter 10 is closed and the vacuum chamber 20 is kept in a high vacuum state, and then the exhaust unit 58.
The vacuum of the shutter opening / closing space 52 is released via the
At the same time, the sample holder 60 is lowered by an elevator mechanism (not shown).
【0048】上記の場合において、排気部58による真
空排気またはガス置換の対象が、シャッタ開閉空間52
と試料ホルダ60の内部のみであり、シャッタ開閉空間
52が従来例の予備排気室28に比べて充分に小さな容
積であるので、排気またはガス置換に要する時間を大幅
に短縮することができる。また、従来例のような受台兼
用蓋体26は不要であるので、構造が簡素なものとなっ
ている。In the above case, the target of vacuum exhaust or gas replacement by the exhaust unit 58 is the shutter opening / closing space 52.
Since only the inside of the sample holder 60 and the shutter opening / closing space 52 have a sufficiently smaller volume than the preliminary exhaust chamber 28 of the conventional example, the time required for exhaust or gas replacement can be greatly shortened. Further, since the pedestal and lid 26 as in the conventional example is not required, the structure is simple.
【0049】なお、上記実施例においては、試料上面を
本体底板54の下面に当接させるようにしたが、試料ホ
ルダとして、図3の従来のものを用い、この試料ホルダ
に本体底板54に形成された連通孔64に対応する位置
に連通孔を形成してもよい。また、試料ホルダ60のフ
ランジ部60bと本体底板54との密封のためのOリン
グ62を本体底板54側に設けたが、本発明はこれに限
定されるものではなく、これとは逆にOリングをフラン
ジ部60bの方に設けてもよい。ただし、Oリングを本
体底板54側に設ける方が複数の試料ホルダ60に対し
て共用でき、コストダウン上有利である。Although the upper surface of the sample is brought into contact with the lower surface of the main body bottom plate 54 in the above embodiment, the conventional sample holder shown in FIG. 3 is used and the sample holder is formed on the main body bottom plate 54. A communication hole may be formed at a position corresponding to the formed communication hole 64. Further, the O-ring 62 for sealing the flange portion 60b of the sample holder 60 and the main body bottom plate 54 is provided on the main body bottom plate 54 side, but the present invention is not limited to this, and conversely it is O The ring may be provided on the flange portion 60b. However, it is advantageous to provide the O-ring on the bottom plate 54 side of the main body because the O-ring can be shared by a plurality of sample holders 60, which is advantageous in cost reduction.
【0050】[0050]
【発明の効果】本発明によれば、本体底板に直接当接さ
せる試料ホルダ自体で密封性を確保するように構成した
ので、従来例の予備排気室そのものが省略でき、しか
も、本体底板で形成されるシャッタ開閉空間がシャッタ
厚さよりやや大きいだけの小容量のものであるので、真
空排気またはガス置換の対象であるシャッタ開閉空間と
試料ホルダ内部の容積が従来例に比べて大幅に小さくな
り、真空排気またはガス置換に要する時間を著しく短縮
して効率をアップすることができる。そして、予備排気
室の省略により従来例の受台兼用蓋体が不要となり、構
造の簡素化も図ることができる。According to the present invention, since the sample holder itself, which is brought into direct contact with the main body bottom plate, ensures the hermeticity, the preliminary exhaust chamber itself of the conventional example can be omitted, and the main body bottom plate is used. Since the shutter opening / closing space to be used is of a small capacity, which is only slightly larger than the shutter thickness, the volume of the shutter opening / closing space and the sample holder inside, which is the target of vacuum evacuation or gas replacement, is significantly smaller than the conventional example. The time required for evacuation or gas replacement can be significantly shortened and efficiency can be improved. Further, by omitting the preliminary exhaust chamber, the conventional pedestal / cumulative lid is not required, and the structure can be simplified.
【図1】本発明の一実施例に係る蛍光X線分析装置の要
部を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a main part of an X-ray fluorescence analyzer according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の要部を拡大した断面図である。FIG. 2 is an enlarged sectional view of a main part of FIG.
【図3】従来例の蛍光X線分析装置の要部を示す断面図
である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a main part of a conventional fluorescent X-ray analyzer.
【符号の説明】 2 X線管 54 本体底板 2a X線出射端面 54a 開口部 4 上部真空容器 58 排気部 8 中仕切り板部 60 試料ホルダ 8a 開口部 60a 筒部 10 シャッタ 60b フランジ
部 20 真空室 60c 底板部 22 排気部 60d 試料載置
板 24 分光検出部 60e 圧縮スプ
リング 24a 入射端面 60f Oリング 50 シャッタプレート 62 Oリング 52 シャッタ開閉空間 64 連通孔[Explanation of Codes] 2 X-ray tube 54 Main body bottom plate 2a X-ray emission end face 54a Opening 4 Upper vacuum container 58 Exhaust part 8 Partition plate part 60 Sample holder 8a Opening part 60a Cylindrical part 10 Shutter 60b Flange part 20 Vacuum chamber 60c Bottom plate part 22 Exhaust part 60d Sample mounting plate 24 Spectral detection part 60e Compression spring 24a Incident end face 60f O-ring 50 Shutter plate 62 O-ring 52 Shutter opening / closing space 64 Communication hole
Claims (1)
臨む真空室がシャッタで開閉自在に構成され、前記シャ
ッタの下方直近には、シャッタの厚さよりもやや大きい
上下幅のシャッタ開閉空間を確保するシャッタと平行な
姿勢の偏平板状の本体底板が設けられ、前記シャッタ開
閉空間に臨んでこのシャッタ開閉空間内を排気する排気
部が設けられ、前記本体底板には前記X線管に対向する
位置に開口部が形成されており、試料ホルダに上方付勢
状態で保持された試料の上面が前記開口部に対向すると
ともに、前記試料ホルダの上端面は前記本体底板の下面
に密封状態に当接可能に構成され、かつ、前記本体底板
に、前記シャッタ開閉空間と試料ホルダ内部とを連通す
る連通孔が形成されていることを特徴とする蛍光X線分
析装置。1. An X-ray tube and a vacuum chamber facing each tip of the spectroscopic detection unit are configured to be opened and closed by a shutter, and a shutter opening / closing space having a vertical width slightly larger than the thickness of the shutter is provided immediately below the shutter. Is provided with a flat plate-shaped main body bottom plate in a posture parallel to the shutter, and an exhaust portion for exhausting the shutter open / close space facing the shutter open / close space is provided. An opening is formed at a position facing each other, the upper surface of the sample held by the sample holder in an upwardly biased state faces the opening, and the upper end surface of the sample holder is sealed to the lower surface of the main body bottom plate. The X-ray fluorescence analyzer, characterized in that the bottom plate of the main body is formed with a communication hole that communicates the shutter opening / closing space with the inside of the sample holder.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14316591A JP2513093B2 (en) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | X-ray fluorescence analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14316591A JP2513093B2 (en) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | X-ray fluorescence analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04366758A JPH04366758A (en) | 1992-12-18 |
| JP2513093B2 true JP2513093B2 (en) | 1996-07-03 |
Family
ID=15332429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14316591A Expired - Fee Related JP2513093B2 (en) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | X-ray fluorescence analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2513093B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4646418B2 (en) * | 2000-04-06 | 2011-03-09 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | X-ray fluorescence analyzer |
| US6909770B2 (en) * | 2001-12-05 | 2005-06-21 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Methods for identification and verification using vacuum XRF system |
| CN111650230B (en) * | 2020-04-24 | 2023-10-27 | 中国石油天然气集团有限公司 | Vacuum sealing device for measuring sample elements |
-
1991
- 1991-06-14 JP JP14316591A patent/JP2513093B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04366758A (en) | 1992-12-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3166638B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
| US6233307B1 (en) | Compact X-ray spectrometer | |
| JP2001153760A (en) | Sample container for transport | |
| JP2513093B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
| US6700951B2 (en) | X-ray fluorescence spectrometer | |
| JP3629539B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
| JP2000162166A (en) | Sample analysis observation device | |
| JP6077812B2 (en) | Sample holder, sample chamber and X-ray analyzer | |
| JP2000162161A (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
| JP2587200Y2 (en) | Loading / unloading device for vacuum chamber | |
| JP2002328105A (en) | X-ray analyzer with improved sealing of the pre-vacuum chamber | |
| JPH09196851A (en) | Emission spectrometer | |
| JP3823155B2 (en) | X-ray analysis method with atmosphere replacement function | |
| JP3247665B2 (en) | Sample exchange in X-ray analyzer | |
| JP2003215073A (en) | Wavelength scattering fluorescent x-ray analyzer | |
| JP3139107B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
| KR100394093B1 (en) | Apparatus and a method for detecting a heavy metal using a reactor | |
| JPH06331574A (en) | Analysis equipment | |
| JPH10206357A (en) | X-ray analysis device | |
| JPH11150099A (en) | Etching end point detector | |
| JP6933120B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer | |
| JPH05172750A (en) | Particle introduction device | |
| JP2001147271A (en) | Radiation measuring device | |
| JP3223470B2 (en) | Particle introduction device | |
| JP2002333411A (en) | X-ray fluorescence analyzer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |