JP2564491B2 - Magnetic disk test method - Google Patents
Magnetic disk test methodInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 磁気ディスク装置に使用される磁気ディスクの試験方
法で、特に磁性膜に含まれる磁性異物を検出する試験方
法に関し、 磁気ディスクの磁性膜に混存する磁性異物を、エキス
トラパルスエラー試験を用いて検出することを目的と
し、 エキストラパルスエラー試験時にヘッドコイルにDCイ
レーズ電流を両方向に流して磁気ディスクに書込み、こ
の場合の両者のリード波形から磁性膜に混存する磁性異
物の有無を検出するように構成する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Outline] A test method for a magnetic disk used in a magnetic disk device, and more particularly to a test method for detecting magnetic foreign matter contained in a magnetic film. For the purpose of detection using the extra pulse error test, a DC erase current is applied to the head coil in both directions during the extra pulse error test to write on the magnetic disk. It is configured to detect the presence or absence of foreign matter.
本発明は、磁気ディスク装置に使用される磁気ディス
クの試験方法で、特に磁性膜に含まれる永久磁石のよう
な磁性異物を検出する試験方法に関する。The present invention relates to a test method for a magnetic disk used in a magnetic disk device, and more particularly to a test method for detecting a magnetic foreign substance such as a permanent magnet contained in a magnetic film.
磁気ディスクは一般に円板状の基板にスパッタリング
等により磁性材料の被膜を形成したもので、この磁性膜
にヘッドにより情報が直接磁化して書込まれる。従っ
て、磁性膜の成形状態は情報記憶に直接的に影響するこ
とになり、このため材料、成膜等の製造段階や製造後に
おいて厳格に管理されている。ここで、製造後の製品管
理として、磁気ディスクを実際に使用した状態での試験
がある。A magnetic disk is generally a disk-shaped substrate on which a coating of a magnetic material is formed by sputtering or the like, and information is directly magnetized and written on this magnetic film by a head. Therefore, the molding state of the magnetic film directly affects information storage, and therefore is strictly controlled at the manufacturing stage of materials, film formation, etc., and after manufacturing. Here, as product management after manufacturing, there is a test in a state where the magnetic disk is actually used.
そこで、従来上記磁気ディスクの試験として、磁性膜
の状態を調べるトラック試験に関しては、例えばエキス
トラパルスエラー試験がある。これは、主として磁性膜
に生じるピンホールを検出するものであり、ヘッドに正
負のいずれか一方のDCイレーズ電流を流して磁性膜に一
方向磁化した書込みを行った後、ヘッドで読取り、この
読取りにおいて、ピンホールが有る場合はそのピンホー
ルの部分が上記書込み時に磁化されていないので、ピン
ホールの両端でリード波形が正負に変化することから、
かかるリード波形を観察してピンホールを検出するよう
になっている。Therefore, as a conventional magnetic disk test, there is an extra pulse error test, for example, as a track test for examining the state of a magnetic film. This is mainly for detecting pinholes generated in the magnetic film, and either positive or negative DC erase current is applied to the head to write in one direction magnetized to the magnetic film, and then read by the head. In, in the case where there is a pinhole, since the portion of the pinhole is not magnetized at the time of writing, the read waveform changes between positive and negative at both ends of the pinhole.
A pinhole is detected by observing the lead waveform.
一方、磁性膜の材料に関しては厳密に管理されている
が、異物の混入を完全に防ぐことはできず、情報記憶に
不具合な異物の検出は最終的な試験で検出する以外に無
い。不具合な異物としては予め一方向に磁化されている
磁性異物の混入が考えられる。この磁性異物が磁性膜に
含まれていると必然的にリードエラーを招くことから、
検出することが望まれる。この磁性異物を上述したエキ
ストラパルスエラー試験で検出しようとする場合には、
イレーズ方向と磁石の磁化方向が同一の場合、再生出力
パルスの尖頭値が低くなり検出できないことがある。On the other hand, although the material of the magnetic film is strictly controlled, it is not possible to completely prevent the contamination of foreign matter, and the foreign matter that is deficient in information storage can only be detected by a final test. As the defective foreign material, it is considered that a magnetic foreign material magnetized in one direction in advance is mixed. If this magnetic foreign substance is included in the magnetic film, a read error will inevitably occur.
It is desired to detect. When trying to detect this magnetic foreign substance by the above-mentioned extra pulse error test,
If the erase direction and the magnetizing direction of the magnet are the same, the peak value of the reproduction output pulse may be low and detection may not be possible.
本発明は、このような点に鑑み、磁気ディスクの磁性
膜に混存する磁性異物を、エキストラパルスエラー試験
を用いて検出することが可能な磁気ディスクの試験方法
を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a magnetic disk test method capable of detecting a magnetic foreign substance mixed in a magnetic film of a magnetic disk by using an extra pulse error test.
上記目的を達成するため、本発明の試験方法は、磁性
異物の場合は予め一方向に磁化されているのでエキスト
ラパルスエラー試験で両方向にイレーズすれば、異物の
部分で磁化が逆転して明確に検出可能である点に着目し
ている。In order to achieve the above object, the test method of the present invention, in the case of a magnetic foreign substance, is magnetized in one direction in advance, so if erased in both directions in the extra pulse error test, the magnetization is clearly reversed in the foreign substance portion. We pay attention to the fact that it can be detected.
そこで、エキストラパルスエラー試験でのヘッドコイ
ルに一方向のイレーズ電流を流して、式ヘッドの磁性膜
に一方向の書込みを行い、その後読取る。次いで、イレ
ーズ電流の方向を逆にして逆方向に書込み、且つ読取
り、両者のリード波形から磁性異物の有無を検出するよ
うになっている。Therefore, an erasing current in one direction is applied to the head coil in the extra pulse error test to write in one direction on the magnetic film of the formula head, and then read. Next, the erase current is reversed in the opposite direction for writing and reading, and the presence or absence of magnetic foreign matter is detected from the read waveforms of both.
上記試験方法により、磁性異物が混存すると、両方向
イレーズの一方において異物の磁化と書込み磁化の方向
が異なる場合に、異物の部分でリード波形が大きく変化
することから、異物が検出される。According to the above-mentioned test method, when the magnetic foreign matter is mixed, the read waveform is largely changed at the foreign matter portion when the magnetization direction of the foreign matter and the writing magnetization direction are different in one of the two-way erase, so that the foreign matter is detected.
こうして本発明では、エキストラパルスエラー試験を
用いて磁性体異物を明確に検出することが可能となる。In this way, according to the present invention, it is possible to clearly detect the magnetic foreign substance by using the extra pulse error test.
以下、本発明の試験方法の実施例を図面に基いて説明
する。Examples of the test method of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図において、符号1は磁気ディスクであり、円板
状の基板2の表面に磁性膜3が形成されて成る。In FIG. 1, reference numeral 1 is a magnetic disk, which is formed by forming a magnetic film 3 on the surface of a disk-shaped substrate 2.
符号10はエキストラパルスエラー試験装置であり、磁
気ディスク1に近接配置される書込み読取り用ヘッド11
を有し、ヘッド11にはコイル12、ギャップ13が設けられ
ている。コイル12の中間はアースされてその一端が、2
個のトランジスタ14a、15a及びダイオード16aを介して
フリップフロップ17の一方の出力側に接続し、コイル12
の他端も同様にトランジスタ14b、15bとダイオード16b
により接続される。そして、フリップフロップ17のセッ
ト側には正方向イレーズ信号が、リセット側には負方向
イレーズ信号か入力する。Reference numeral 10 denotes an extra pulse error testing device, which is a writing / reading head 11 arranged close to the magnetic disk 1.
The head 11 is provided with a coil 12 and a gap 13. The middle of the coil 12 is grounded and one end is 2
Is connected to one output side of the flip-flop 17 via the transistors 14a and 15a and the diode 16a, and the coil 12
Similarly, the other ends of the transistors 14b, 15b and the diode 16b
Connected by. Then, a positive direction erase signal is input to the set side of the flip-flop 17, and a negative direction erase signal is input to the reset side.
そこで、エキストラパルスエラー試験で磁気ディスク
1を回転しながら、先ず正方向イレーズ信号“1"を入力
する。すると、フリップフロップ17がセットされてその
出力信号により、トランジスタ14a、15aがONしコイル12
に実線のようにDCイレーズ電流が流れ、ヘッド11にこれ
に応じた方向に磁束を生じる。そして、ギャップ13から
の漏れ磁束により磁性膜3に第2図(a)のように一方
向に磁化して書込みを行う。その後、ヘッド11により読
取りを行いこの場合のリード波形をチェックするのであ
り、このときピンホールはリード波形の変化状態から検
出される。一方、第2図(a)のように磁性異物Aが混
存し、この異物Aの磁化方向が上記書込みと同一の場合
は、磁束レベルの違いにより若干リード波形が同図
(b)にように乱れるだけで、判断できない。Therefore, while the magnetic disk 1 is rotated in the extra pulse error test, the forward erase signal "1" is first input. Then, the flip-flop 17 is set, and the output signal of the flip-flop 17 turns on the transistors 14a and 15a to turn on the coil 12.
As shown by the solid line, a DC erase current flows, and a magnetic flux is generated in the head 11 in a direction corresponding to this. Then, the leakage magnetic flux from the gap 13 magnetizes the magnetic film 3 in one direction as shown in FIG. After that, reading is performed by the head 11 and the read waveform in this case is checked. At this time, the pinhole is detected from the change state of the read waveform. On the other hand, when the magnetic foreign substance A is mixed as shown in FIG. 2 (a) and the magnetization direction of the foreign substance A is the same as the writing, the read waveform is slightly different as shown in FIG. 2 (b) due to the difference in magnetic flux level. I can't judge because I am disturbed.
次いで、負方向イレーズ信号“1"をフリップフロップ
17のリセット側に入力してリセットする。すると、トラ
ンジスタ14b、15bがONしてヘッド11のコイル12に逆方向
にDCイレーズ電流が流れ、ギャップ13の漏れ磁束も逆方
向になって第2図(a′)のように書込まれる。そして
この後に読取ってリード波形をチェックするが、この場
合に上述の異物Aの部分では磁性が明らかに反転するこ
とで、リード波形は同図(b′)のように大きく変化
し、これにより異物Aが検出されるのである。Next, flip the negative erase signal “1”
Input to the reset side of 17 to reset. Then, the transistors 14b and 15b are turned on, a DC erase current flows in the coil 12 of the head 11 in the opposite direction, and the leakage flux in the gap 13 is also reversed, and is written as shown in FIG. 2 (a '). Then, after this, the read waveform is checked and the read waveform is checked. In this case, since the magnetism is clearly reversed in the portion of the foreign substance A, the read waveform largely changes as shown in FIG. A is detected.
尚、異物Aが無い場合は両方向イレーズのいずれの場
合もリード波形が変化しないことで、このことを判断で
きる。It should be noted that when there is no foreign substance A, the read waveform does not change in both cases of erasing in both directions, and this can be judged.
本発明は磁気ディスクを対象とするが、磁気テープ等
にも適用可能である。Although the present invention is intended for magnetic disks, it is also applicable to magnetic tapes and the like.
以上述べてきたように、本発明によれば、 磁気ディスクの磁性膜における磁性異物の有無をチェ
ックするので、リードエラーが無くなって品質が向上す
る。As described above, according to the present invention, since the presence or absence of magnetic foreign matter in the magnetic film of the magnetic disk is checked, the read error is eliminated and the quality is improved.
エキストラパルスエラー試験を用い両方向イレーズす
る方法であるから、試験が容易であり、検出精度も高
い。Since it is a method of erasing in both directions using the extra pulse error test, the test is easy and the detection accuracy is high.
第1図は本発明の磁気ディスクの試験方法の実施例を示
す構成図、 第2図(a)、(b)、(c)、(d)は磁化状態とリ
ード波形を示す図である。 図において、1は磁気ディスク、3は磁性膜、10はエキ
ストラパルスエラー試験装置、11はヘッド、12はコイ
ル、Aは磁性異物を示す。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a magnetic disk testing method of the present invention, and FIGS. 2 (a), (b), (c), and (d) are diagrams showing a magnetization state and a read waveform. In the figure, 1 is a magnetic disk, 3 is a magnetic film, 10 is an extra pulse error testing device, 11 is a head, 12 is a coil, and A is a magnetic particle.
Claims (1)
イル(12)にDCイレーズ電流を両方向に流して磁気ディ
スク(1)に書込み、 この場合の両者のリード波形から磁性膜(3)に混存す
る磁性異物(A)の有無を検出する磁気ディスクの試験
方法。1. A magnetic eraser is present on a magnetic disk (1) by applying a DC erase current to a head coil (12) in both directions during an extra pulse error test, and magnetic foreign matter mixed in a magnetic film (3) is read from both read waveforms in this case. A magnetic disk test method for detecting the presence or absence of (A).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62257628A JP2564491B2 (en) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | Magnetic disk test method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62257628A JP2564491B2 (en) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | Magnetic disk test method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01257282A JPH01257282A (en) | 1989-10-13 |
| JP2564491B2 true JP2564491B2 (en) | 1996-12-18 |
Family
ID=17308889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62257628A Expired - Lifetime JP2564491B2 (en) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | Magnetic disk test method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2564491B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102290078A (en) * | 2010-06-09 | 2011-12-21 | 昭和电工株式会社 | Magnetic recording medium inspection method and manufacture method, control method of magnetic recording reproducing apparatus and magnetic recording reproducing apparatus |
-
1987
- 1987-10-13 JP JP62257628A patent/JP2564491B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102290078A (en) * | 2010-06-09 | 2011-12-21 | 昭和电工株式会社 | Magnetic recording medium inspection method and manufacture method, control method of magnetic recording reproducing apparatus and magnetic recording reproducing apparatus |
| CN102290078B (en) * | 2010-06-09 | 2015-03-25 | 昭和电工株式会社 | Magnetic recording medium inspection method and manufacture method, control method of magnetic recording reproducing apparatus and magnetic recording reproducing apparatus |
| US9466323B2 (en) | 2010-06-09 | 2016-10-11 | Showa Denko K.K. | Method of inspecting magnetic recording medium, and method of controlling movement of magnetic head in magnetic recording/reproducing apparatus by utilizing inspecting method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01257282A (en) | 1989-10-13 |
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