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JP2585593B2 - Static electricity detector for semiconductor devices - Google Patents
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JP2585593B2 - Static electricity detector for semiconductor devices - Google Patents

Static electricity detector for semiconductor devices

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JP2585593B2
JP2585593B2 JP62114687A JP11468787A JP2585593B2 JP 2585593 B2 JP2585593 B2 JP 2585593B2 JP 62114687 A JP62114687 A JP 62114687A JP 11468787 A JP11468787 A JP 11468787A JP 2585593 B2 JP2585593 B2 JP 2585593B2
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cover
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sensor
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の静電気の検出に適用して有効
な技術に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technology that is effective when applied to the detection of static electricity in a semiconductor device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の静電気測定器については、特開昭48−22071号
公報に記載されている。その概要は、シールドケースに
設けた窓に一定周期で電極が露出するようにし、電極に
生じる誘起電位を摺動接点を介して増幅器に印加するよ
うに構成した静電気測定装置として示してある。前記シ
ールドケースとしては、円筒状ケースが示されている。
A conventional static electricity measuring device is described in JP-A-48-22071. The outline is shown as an electrostatic measurement device configured so that electrodes are exposed at regular intervals in a window provided in a shield case and an induced potential generated in the electrodes is applied to an amplifier through a sliding contact. As the shield case, a cylindrical case is shown.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

本発明者は、上述した構成と類似した、角柱状のシー
ルドケースを有する静電気測定装置を用い、半導体(以
下ICとする)の製造装置で製造中のICについて、その静
電気を測定したところ、以下に示すような問題があるこ
とを見い出した。
The inventor measured static electricity of an IC being manufactured by a semiconductor (hereinafter referred to as IC) manufacturing apparatus using an electrostatic measurement apparatus having a prismatic shield case similar to the above-described configuration. I found that there was a problem as shown in

すなわち、ICの静電気を除去するために、ICの製造装
置に取付けられたイオンブロー(強制的に,及びの
イオンを発生させ、吹き付けるもの)の、吹き付け範囲
内でICの滞電(静電気)を測定した場合、イオンブロー
の吹き付けによるイオンを含んだ気流が、前記シールド
ケースに当たり、その気流が渦流となってシールドケー
スに設けられた窓に飛び込み、検出電極に接することに
なり、検出電極に誘起した電荷が中和されて軽減され、
正確なICの静電気を検出することができないという問題
である。
In other words, in order to remove the static electricity from the IC, the static electricity (static electricity) of the IC within the spraying range of the ion blow (forcibly generating and blowing ions) attached to the IC manufacturing equipment is removed. In the measurement, an air flow containing ions due to the blowing of the ion blow impinges on the shield case, and the air flow becomes a vortex, jumps into a window provided in the shield case, comes into contact with the detection electrode, and is induced on the detection electrode. Charge is neutralized and reduced,
The problem is that it is not possible to accurately detect static electricity of the IC.

そこで、前記従来例と同じく、円筒状のシールドケー
ス(以下カバーとする)用いたが、一部の気流は、円筒
状カバーの外輪に沿って逃げるが、円筒状カバーのエッ
ヂ(窓が設けられている面に近い部分)付近に接した気
流が渦流となり、やはり上記と同様に正確なICの静電気
を測定することができないという問題を見い出した。
Therefore, a cylindrical shield case (hereinafter referred to as a cover) is used as in the conventional example, but a part of the airflow escapes along the outer ring of the cylindrical cover, but the edge of the cylindrical cover (a window is provided). (The part close to the surface where it is located) forms an eddy current, and it has also been found that it is impossible to measure the static electricity of the IC accurately in the same manner as described above.

本発明の目的は、周囲の環境に影響されないで、正確
に静電気を検出できる検出技術を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a detection technique capable of accurately detecting static electricity without being affected by the surrounding environment.

本発明のその他の目的は、正確に静電気を検出するこ
とにより、例えばICの製造工程でのICの静電気管理を行
ない、静電破壊による不良を低減させることにある。
It is another object of the present invention to accurately detect static electricity, thereby managing static electricity in an IC during a manufacturing process of the IC, for example, and reducing defects due to electrostatic breakdown.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろ
う。
The above and other objects and novel features of the present invention are as follows.
It will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
The outline of a representative invention among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、検出電極と回転セクタを有するセンサと、
前記センサを覆う角柱状のカバーと、前記カバーの長手
方向の側面と直交する面の一部に設けられた検出孔と、
前記角柱状の長手方向の側面に前記検出孔に向かって形
成されたテーパ面とを有し、前記センサは検出孔が設け
られた面の近傍に位置し、さらに、前記カバーの長手方
向の側面に吹き付けられるイオンブローの気流の流れを
スムーズにするための球面状処理が、前記カバーの長手
方向の側面と前記テーパ面との間及び前記カバーの長手
方向の側面と直交する面と前記テーパ面との間に施され
ていることを特徴とする半導体装置の静電気検出装置で
ある。
That is, a sensor having a detection electrode and a rotating sector,
A prismatic cover that covers the sensor, and a detection hole provided in a part of a surface orthogonal to a longitudinal side surface of the cover,
The prism has a longitudinal side surface and a tapered surface formed toward the detection hole, the sensor is located near a surface provided with the detection hole, and further, a longitudinal side surface of the cover. The spherical processing for smoothing the flow of the air flow of the ion blow blown to the surface between the longitudinal side surface of the cover and the tapered surface and the surface orthogonal to the longitudinal side surface of the cover and the tapered surface And a static electricity detecting device for a semiconductor device.

〔作用〕[Action]

上記した手段によれば、カバーの窓に近づくにつれ、
テーパ面が形成され、さらにエッヂ部分をR面としてい
る為、イオンブローによる気流が接触したとしても、気
流はテーパ面,R面に沿ったかたりで流れることになるた
め、渦流が発生することを低減でき、気流が窓に飛び込
むことを低減できる。それゆえ、不所望なイオンによっ
て、検出電極の電荷が中和されることを低減して被検出
物の検出ができる為、円筒状、角柱状のカバーを有する
ものに比べ、正確な検出ができるものである。
According to the means described above, as one approaches the window of the cover,
Since the tapered surface is formed and the edge portion is formed as the R surface, even if the airflow due to ion blow comes in contact, the airflow will flow along the tapered surface and the R surface, so that eddy currents will be generated. It is possible to reduce the airflow jumping into the window. Therefore, the object to be detected can be detected by reducing the neutralization of the electric charge of the detection electrode by undesired ions, so that accurate detection can be performed as compared with those having a cylindrical or prismatic cover. Things.

さらに、正確な静電気検出が可能となる為、ICの製造
装置を取付けし、管理することにより、異常を検知(異
常な静電気を検知)し、装置停止など対策を取ることに
より、静電気破壊による不良発生を低減できるものであ
る。
In addition, accurate static electricity detection is possible, so by installing and managing IC manufacturing equipment, detecting abnormalities (detecting abnormal static electricity) and taking measures such as stopping the equipment, the failure due to static electricity destruction The generation can be reduced.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は、本発明の一実施例である静電気検出装置の
センサと、カバーを示す概略断面図である。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing a sensor and a cover of an electrostatic detection device according to an embodiment of the present invention.

第2図は、本発明の一実施例である静電気検出装置の
構成を示す概略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of an electrostatic detection device according to one embodiment of the present invention.

第3図は、本発明の一実施例の作用を説明するための
図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of one embodiment of the present invention.

第1図において、1は、センサを示し、後述する回転
セクタ、及び検出電極を総称する。2は、検出電極であ
り、長手方向と直交する方向(紙面方向)の断面が、円
弧状の金属板状物である。3は、回転セクタであり、金
属の筒状物で、円周方向の側面(曲面部分)に、円形の
貫通孔(図示せず)が2個設けられている。この回転セ
クタ3は、後述するモータにより回転する。4はカバー
であり、角柱状の箱で、長手方向(紙面厚さ方向)の側
面5は後述する検出孔に近づくにつれて、テーパ面6が
形成され(検出孔に近づくにつれて幅狭に形成され)て
いる。7は、第1のアール(R)であり、前記側面5
と、テーパ面6の間にカバーの長手方向に渡って形成さ
れ、気流の流れをスムーズにするための球面状処理が施
されている。8は、第2のアール(R)であり、前記テ
ーパ面6と、底面9の間に、カバーの長手方向に渡って
形成され、気流の流れをスムーズにするための球面状処
理が施されている。10は、検出孔であり、カバー4の底
面9に設けられる円形の孔で、前記検出電極2の下方に
位置する。この検出孔10は、被測定物(被検出物と同意
語)の静電気を検出するためのものである。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a sensor, which is a generic name for a rotating sector and a detection electrode, which will be described later. Reference numeral 2 denotes a detection electrode, which is a metal plate having a circular cross section in a direction perpendicular to the longitudinal direction (the paper surface direction). Reference numeral 3 denotes a rotating sector, which is a metal cylinder, and is provided with two circular through holes (not shown) on a circumferential side surface (curved surface portion). The rotating sector 3 is rotated by a motor described later. Reference numeral 4 denotes a cover, which is a prism-shaped box, and a side surface 5 in the longitudinal direction (the thickness direction of the paper surface) is formed with a tapered surface 6 as it approaches a detection hole described later (formed narrower as it approaches the detection hole). ing. Reference numeral 7 denotes a first radius (R),
Between the tapered surface 6 and the longitudinal direction of the cover, and is subjected to a spherical processing for smoothing the air flow. Reference numeral 8 denotes a second radius (R), which is formed between the tapered surface 6 and the bottom surface 9 in the longitudinal direction of the cover, and is subjected to a spherical process for smoothing the air flow. ing. Reference numeral 10 denotes a detection hole, which is a circular hole provided on the bottom surface 9 of the cover 4 and is located below the detection electrode 2. The detection hole 10 is for detecting static electricity of an object to be measured (a word synonymous with the object to be detected).

第2図において、12は、ステーであり、円環状の金属
板と、略S字状の、板状物を一体に成形したもので、前
記検出電極2を、円環状の部分で連結し、支持してい
る。13は、シャフトであり、後述するモータから伸び、
前記ステー12の、円環状の部分を通って、前記回転セク
タ3に連結されている。回転セクタ3は、後述するモー
タによって、シャフト13を介して回転(円周方向に回
転)するものである。14は、モータであり、前記回転セ
クタ3を回転させるためのものである。15は、演算増幅
部であり、前記検出電極2から伸びるステー12と電気的
に接続され、検出電極2から得られる交流信号を増幅
し、整流する機能を有する。
In FIG. 2, reference numeral 12 denotes a stay, which is formed by integrally forming an annular metal plate and a substantially S-shaped, plate-like object, and connecting the detection electrodes 2 at an annular portion. I support it. 13 is a shaft, which extends from a motor described later,
The stay 12 is connected to the rotating sector 3 through an annular portion. The rotating sector 3 is rotated (rotated in the circumferential direction) via a shaft 13 by a motor described later. Reference numeral 14 denotes a motor for rotating the rotating sector 3. Reference numeral 15 denotes an operational amplifier, which is electrically connected to the stay 12 extending from the detection electrode 2, and has a function of amplifying and rectifying an AC signal obtained from the detection electrode 2.

ところで、第1図及び第2図にも図示されてはいない
が、シャフト13は、アースが取られ、常にゼロ電位とさ
れているものとする。
Although not shown in FIGS. 1 and 2, it is assumed that the shaft 13 is grounded and is always at zero potential.

16は、出力であり、前記演算増幅部15によって演算増
幅された信号を出力するためのものである。17は、ピー
クホールド回路であり、出力16からの出力ピーク(各波
のピーク)をホールドすることにより、レベル表示など
を安定化させるためのものである。
Reference numeral 16 denotes an output for outputting a signal that has been arithmetically amplified by the operational amplifier 15. Reference numeral 17 denotes a peak hold circuit for holding the output peak (peak of each wave) from the output 16 to stabilize the level display and the like.

ここで、各波のピークをホールドする為には、リセッ
ト信号を必要とするが、リセット期間中は、測定(検
出)の不感帯となる為、本実施例ではピークホールド回
路を並列に2個ならべ(図示せず)、リセットパルスの
位相をずらし、常に測定(及びピークホールド)できる
ようにしている。18は、センサ出力であり、前記ピーク
ホールド回路17からの出力を、後述するセンナ出力端子
に導くためのものである。19は、センサ出力端子であ
り、静電気の大きさを外部に出力するためのものであ
り、例えば、X−Yレコーダ,レベルメータなどが接続
される。20は、アンプであり、微小領域での設定電圧と
の比較(例えば、0.4Vの設定値に対して0.35Vなどとの
比較)では何んらのノイズによって誤判定する可能性が
大きい為、増幅して比較し易くするためのものであり、
前記ピークホールド回路17が接続されている。21は、最
大レベル設定ボリュームであり、ここで設定したレベル
以上の静電気を検出した場合、後述する最大表示ランプ
が点灯するようになっている。22は、最大レベル表示ラ
ンプであり、前記最大レベル設定ボリューム21で設定し
たレベル以上の静電気を検出した際に点灯するものであ
る。23は、制御部であり、後述するリレー出力を行なう
ための、停止レベル比較回路,異常な静電気を検出し、
警報を表示(ブザーを鳴らす)するための警報レベル比
較回路、停止レベルを越えた回数をカウントする、カウ
ンタなどを備えている。
Here, a reset signal is required to hold the peak of each wave. However, during the reset period, a dead zone for measurement (detection) is provided. In this embodiment, two peak hold circuits are arranged in parallel. (Not shown), the phase of the reset pulse is shifted so that measurement (and peak hold) can always be performed. Numeral 18 denotes a sensor output for guiding the output from the peak hold circuit 17 to a senna output terminal described later. Reference numeral 19 denotes a sensor output terminal for outputting the magnitude of static electricity to the outside. For example, an XY recorder and a level meter are connected. Reference numeral 20 denotes an amplifier, which has a high possibility of erroneous determination due to any noise in comparison with a set voltage in a minute area (for example, comparison of a set value of 0.4 V with 0.35 V or the like). It is for amplification and easy comparison,
The peak hold circuit 17 is connected. Reference numeral 21 denotes a maximum level setting volume, and a maximum display lamp, which will be described later, is turned on when static electricity at or above the level set here is detected. Reference numeral 22 denotes a maximum level display lamp which is turned on when static electricity at a level equal to or higher than the level set by the maximum level setting volume 21 is detected. Reference numeral 23 denotes a control unit, which detects a stop level comparing circuit for performing a relay output described later and abnormal static electricity,
An alarm level comparison circuit for displaying an alarm (sounding a buzzer), a counter for counting the number of times exceeding the stop level, and the like are provided.

停止レベル検出回路は、コンパレータを備え、停止レ
ベル設定ボリューム24の設定で、所定のレベルが設定さ
れ、このレベルを越えた静電気が検出されると、ラッチ
回路にてラッチした後、リレー出力して、例えば本装置
が取付けられている装置を停止させたり、後述する警報
を鳴らしたりすることができる。また、この停止回数
は、図示しないカウンタ回路を用いて、カウントできる
ものである。25は、ストップランプであり、前記停止レ
ベル比較回路につながれ、所定レベルを越えた静電気が
検出された際、点灯するものである。さらに、警報レベ
ル比較回路(図示せず)も、コンパレータを備え、警報
レベル設定ボリューム26の設定で、所定のレベルが設定
され、このレベルを越えた静電気が検出されると、後述
する警報ランプを点灯させ、ブザーを鳴らすための回路
である。27は、警報ランプであり、所定レベル以上の静
電気を検出した際に、ランプ点灯するものである。28
は、ブザーであり、前記警報ランプ27と同期して警報を
鳴らす為のものである。29は、リレーであり、前記停止
レベル比較回路からの停止信号を出力するためのもの
で、リレー出力端子30に接続されている。31は、リセッ
トスイッチであり、前記ラッチ回路をリセットするため
のものである。32は、ICであり、本実施例では後述する
パッケージの長手方向側面から両側にリードが突出して
いるDIL(デュアル・イン・ライン)タイプのICを示し
ており、被測定物となっている。33は、パッケージであ
り、ICの心蔵部としてのペレット周囲及び後述するリー
ドの一部を覆うもので、直方体形状のものである。34
は、リードであり、ペレットと、ICの外部との導通をと
るためのものである。
The stop level detection circuit is provided with a comparator, a predetermined level is set by the setting of the stop level setting volume 24, and when static electricity exceeding this level is detected, the signal is latched by the latch circuit and then relayed and output. For example, it is possible to stop a device to which the present device is attached, or to sound an alarm described later. The number of stops can be counted using a counter circuit (not shown). Reference numeral 25 denotes a stop lamp, which is connected to the stop level comparison circuit and turns on when static electricity exceeding a predetermined level is detected. Further, the alarm level comparison circuit (not shown) also includes a comparator, and a predetermined level is set by the setting of the alarm level setting volume 26, and when static electricity exceeding this level is detected, an alarm lamp described later is activated. It is a circuit for lighting and sounding a buzzer. Reference numeral 27 denotes an alarm lamp, which turns on the lamp when static electricity of a predetermined level or more is detected. 28
Is a buzzer for sounding an alarm in synchronization with the alarm lamp 27. Reference numeral 29 denotes a relay for outputting a stop signal from the stop level comparison circuit, which is connected to a relay output terminal 30. 31 is a reset switch for resetting the latch circuit. Reference numeral 32 denotes an IC, which in this embodiment is a DIL (dual in-line) type IC having leads protruding from both sides in the longitudinal direction of the package, which will be described later, and is an object to be measured. Reference numeral 33 denotes a package, which covers the periphery of the pellet as a core part of the IC and a part of a lead described later, and has a rectangular parallelepiped shape. 34
Is a lead for establishing conduction between the pellet and the outside of the IC.

以下、上述した構成の本発明の一実施例の作用につい
て説明する。
Hereinafter, the operation of the embodiment of the present invention having the above-described configuration will be described.

先ず、センサの動きとしては第2図において、回転セ
クタ3が、モータ14の動作によって、シャフト13を介し
て回転する。この際、回転セクタ3には、図示しない円
形の貫通孔が2個設けられている為、検出電極2は、こ
の貫通孔から断続的に覗くことになる。この状態で、検
出電極2の大方を被検出物としてのIC32が通過する。す
ると、IC32のパッケージ33の主表面などに静電気が滞電
している場合、静電誘導の現象により滞電物体としての
IC32と、検出電極2との間に電気力線が生じる一方、前
記回転セクタ3の回転によって貫通孔が動くため、この
電気力線は、断続的なものとして伝わる。
First, as for the movement of the sensor, in FIG. 2, the rotating sector 3 is rotated via the shaft 13 by the operation of the motor 14. At this time, since two circular through holes (not shown) are provided in the rotating sector 3, the detection electrode 2 intermittently looks through the through holes. In this state, the IC 32 as the detection object passes through most of the detection electrode 2. Then, if static electricity is accumulated on the main surface of the package 33 of the IC 32, etc., the static electricity may cause the static electricity to be lost.
The lines of electric force are generated between the IC 32 and the detection electrode 2, while the rotation of the rotary sector 3 moves the through-holes, so that the lines of electric force are transmitted intermittently.

すると、検出電極2からは、交流信号が得られる。得
られた交流信号は、演算増幅部15によって、増幅・整流
され、これはIC32の滞電電圧(静電気)に比例した直流
電圧となる。
Then, an AC signal is obtained from the detection electrode 2. The obtained AC signal is amplified and rectified by the operational amplifier 15, which becomes a DC voltage proportional to the static electricity voltage (static electricity) of the IC 32.

ここで、本発明の一実施例について作用を説明する
と、第3図に示すように、気流の流れ(図中太線矢印)
は、カバー4の側面5にあたり、四方八方に広がる。こ
の際、カバー4の検出孔10の方向に流れた気流は、第1
のアール7を通り、テーパ面6に沿い流れる。その後、
第2のアール8を通って、検出孔10の大方、あるいは検
出孔10にほぼ平行して流れることになる。それゆえ、気
流にイオンが含まれている場合でも、検出孔10内に飛び
込んで検出電極2に触れることが低減でき、不所望なイ
オンによって検出電極2の電荷が中和されることを低減
する。これにより、被検出物の静電気をそのまま検出す
ることになり、角柱状、あるいは円筒状のカバーを有す
るものに比べ、正確な静電気の検出を行なうことができ
る。
Here, the operation of one embodiment of the present invention will be described. As shown in FIG. 3, the flow of air current (thick arrow in the drawing)
Corresponds to the side surface 5 of the cover 4 and spreads in all directions. At this time, the airflow flowing in the direction of the detection hole 10 of the cover 4 is
And flows along the tapered surface 6. afterwards,
Through the second radius 8, it flows almost in the detection hole 10 or almost in parallel with the detection hole 10. Therefore, even when ions are contained in the airflow, it is possible to reduce the possibility of jumping into the detection holes 10 and touching the detection electrodes 2, and reduce the neutralization of the charges of the detection electrodes 2 by undesired ions. . As a result, the static electricity of the object to be detected is detected as it is, and the static electricity can be detected more accurately as compared with those having a prismatic or cylindrical cover.

さらに、正確な静電気の検出を行なうことができる
為、ICの製造工程におけるIC製造装置に適用した際には
誤判定することを低減して、未然に静電気破壊によるIC
不良発生を防ぎ、ないしは、極力静電気破壊によるIC不
良発生を少なくして、ICの製造を行なうことができるも
のである。
In addition, accurate detection of static electricity is possible, so when applied to IC manufacturing equipment in the IC manufacturing process, erroneous determination is reduced, and IC
It is possible to manufacture ICs while preventing the occurrence of defects or minimizing the occurrence of IC defects due to electrostatic breakdown.

以下、他の構成の作用について説明する。 Hereinafter, the operation of another configuration will be described.

演算増幅部15から得られた直流電圧は、ピークホール
ド回路17によって、そのピークを一定期間ホールドさ
れ、センサ出力端子19及びアンプ20に出力される。セン
サ出力端子19に、例えばX−Yレコーダを接続すれば、
滞電電圧をX−Yグラフ上に示すことができ、目でその
大きさを確認することができる。
The DC voltage obtained from the operational amplifier 15 is held at a peak by a peak hold circuit 17 for a certain period, and is output to the sensor output terminal 19 and the amplifier 20. If, for example, an XY recorder is connected to the sensor output terminal 19,
The static electricity voltage can be shown on the XY graph, and its magnitude can be confirmed by eyes.

一方、アンプ20では微小な電圧が増幅され、比較的大
きな電圧として出力される(例えば、0.3Vを3Vに増
幅)。
On the other hand, the amplifier 20 amplifies a very small voltage and outputs it as a relatively large voltage (for example, amplifies 0.3V to 3V).

ところで、最大レベル設定ボリューム21によって、例
えば50Vの滞電に見合ったレベルに調整されていたとす
れば、検出した電圧が70Vの場合には、このアンプ20か
らの出力によって最大表示ランプ22が点灯し、最大レベ
ルである50Vを越えている旨の知らせを得ることができ
る。
By the way, if the maximum level setting volume 21 has been adjusted to a level corresponding to, for example, a 50 V power failure, if the detected voltage is 70 V, the maximum display lamp 22 is turned on by the output from the amplifier 20. , It is possible to obtain a notification that the voltage exceeds the maximum level of 50V.

元に戻るが、アンプ20によって増幅された信号は、制
御部23に送られる。ここでは、例えば停止レベル設定ボ
リューム24によって、40Vの滞電に見合ったレベルに調
整されていたとすれば、検出した電圧が70Vの場合に
は、図示しない停止レベル比較回路のコンパレータを通
して、図示しないラッチ回路によってラッチされ、リレ
ー29によってリレー出力端子30から信号が出される。こ
の信号を、本実施例の静電気検出装置を取り付けた装置
(例えば、IC製造装置)の停止信号ラインに出力すれ
ば、IC製造装置を停止することができ、このIC製造装置
によって製造中のICの静電気破壊を引きおこすことを低
減できる。なお、IC製造装置が停止する際には、ストッ
プランプ25が点灯すると共に、ブザー28が鳴り、停止レ
ベルを越えてIC製造装置が停止したことを知ることがで
きる。
Returning to the original state, the signal amplified by the amplifier 20 is sent to the control unit 23. Here, for example, assuming that the voltage is adjusted to a level corresponding to the power failure of 40 V by the stop level setting volume 24, if the detected voltage is 70 V, a latch (not shown) is passed through a comparator of a stop level comparison circuit (not shown). The signal is latched by the circuit, and a signal is output from the relay output terminal 30 by the relay 29. If this signal is output to a stop signal line of a device (for example, an IC manufacturing device) to which the static electricity detection device of this embodiment is attached, the IC manufacturing device can be stopped, and the IC being manufactured by this IC manufacturing device can be stopped. Can be reduced. When the IC manufacturing apparatus is stopped, the stop lamp 25 is turned on, the buzzer 28 sounds, and it is possible to know that the IC manufacturing apparatus has stopped beyond the stop level.

ところで、上記説明によれば、IC製造装置を停止させ
る操作を行なったが、図示しないカウンタを利用するこ
とにより、IC製造装置を停止させることなく、停止すべ
き回数をカウントすることもできる。
By the way, according to the above description, the operation of stopping the IC manufacturing apparatus is performed. However, by using a counter (not shown), the number of times to stop the IC manufacturing apparatus can be counted without stopping the IC manufacturing apparatus.

また、警報レベル設定ボリューム26によって、例えば
30Vの滞電に見合ったレベルに調整されていたとすれ
ば、検出した電圧が70Vの場合には、図示しない警報レ
ベル比較回路のコンパレータを通して、警報ランプ27が
点灯する一方、ブザー28が鳴り、警報レベルを越えてい
ることを知ることができる。
Also, for example, by the alarm level setting volume 26,
If the detected voltage is 70 V, the alarm lamp 27 is turned on, the buzzer 28 sounds, and the alarm is turned on. You can know that you are over the level.

以上の説明では、本実施例の静電気検出装置の機能に
ついて個別に説明したが、以下に一連の動きとして説明
する。
In the above description, the functions of the static electricity detection device of the present embodiment have been individually described, but will be described below as a series of operations.

例えば、被検出物としてのICの静電破壊に至ると思わ
れる滞電電圧を100Vとすると、最大レベル設定ボリュー
ム21を100Vの滞電に見合ったレベルに、停止レベル設定
ボリューム24を90Vに見合ったレベルに、さらに警報レ
ベル設定ボリューム26を、800Vに見合ったレベルにそれ
ぞれ調整したとする。この状態でICの製造装置にセット
し、リレー出力端子30を、ICの製造装置の停止信号ライ
ンに組込めば、ICの製造中に、70Vの滞電を有するICが
検出電極2の下方を通過したとすると、警報レベルとし
て設定した80Vに満たない為、何の問題もなく、IC製造
装置は稼動を続ける。しかしながら、85Vの滞電を有す
る場合には、警報ランプ27が点灯すると共にブザー28が
鳴り、作業者に警戒すべき滞電レベルにあることを知ら
せる。
For example, assuming that the static electricity voltage that is likely to lead to electrostatic breakdown of the IC as an object to be detected is 100 V, the maximum level setting volume 21 is adjusted to a level corresponding to the 100 V electrical interruption, and the stop level setting volume 24 is adjusted to 90 V. It is assumed that the alarm level setting volume 26 is adjusted to a level corresponding to 800 V, respectively. In this state, the IC is set in the IC manufacturing apparatus, and the relay output terminal 30 is incorporated in the stop signal line of the IC manufacturing apparatus. If it passes, the IC manufacturing equipment continues to operate without any problem because it is less than the alarm level set at 80V. However, when there is a power failure of 85 V, the alarm lamp 27 is turned on and the buzzer 28 sounds to notify the worker that the power failure level should be watched.

さらに、95Vの滞電を有する場合には、警報ランプ27
及びストップランプ25が点灯する一方、一方製造装置が
停止し、ブザー28が鳴る。この段階で作業者はIC製造装
置に何らの静電気発生原因がないかどうか、チェックす
ることができる。それゆえ、IC製造装置に原因がある場
合にはその箇所を見直しすることにより、未然に静電気
破壊によるICの不良発生を防ぐことができる。
In addition, if there is a 95 V
And the stop lamp 25 is turned on, while one of the manufacturing apparatuses is stopped, and the buzzer 28 sounds. At this stage, the worker can check whether there is any cause of static electricity generation in the IC manufacturing apparatus. Therefore, when there is a cause in the IC manufacturing apparatus, by reviewing the location, it is possible to prevent the occurrence of the failure of the IC due to the electrostatic breakdown.

また、IC製造装置に原因がない場合には、その前の工
程へと遡って見直しすることにより、未然に静電破壊に
よるICの不良発生を防ぐことができる。
In addition, if there is no cause in the IC manufacturing apparatus, by performing a retrospective review of the previous process, it is possible to prevent occurrence of an IC failure due to electrostatic breakdown.

ところで、110Vの滞電を有する場合には警報ランプ2
7,ストップランプ25、さらに最大表示ランプ22が点灯
し、IC製造装置が停止しブザー28が鳴る。この段階で作
業者は、該当するICが、静電気破壊したものと考え、リ
ジェクトし、不良品であるかどうかチェックできる。そ
れゆえ、次工程に不良を流してしまうことを低減でき、
例えば、次工程が、静電気破壊を検出(検査)する工程
でない場合には、無駄な作業を低減(不良と知らずに製
造してしまうことを低減)できる。
By the way, if there is a 110 V
7. The stop lamp 25 and the maximum display lamp 22 light up, the IC manufacturing apparatus stops, and the buzzer 28 sounds. At this stage, the worker considers that the corresponding IC has been destroyed by static electricity, rejects the IC, and can check whether the IC is defective. Therefore, it is possible to reduce the flow of defects in the next process,
For example, if the next step is not a step of detecting (inspection) electrostatic breakdown, useless work can be reduced (reducing manufacturing without knowing that it is defective).

また、該当するIC製造装置、または前工程を遡って見
直しすることにより、大量の不良を発生させることを低
減できるものである。
In addition, it is possible to reduce the occurrence of a large number of defects by retroactively reviewing the corresponding IC manufacturing apparatus or the previous process.

なお、本実施例では、最大レベル,停止レベル,警報
レベルをすべて設定した場合について説明しているが、
警報のみとして使用できるなど、組合せによってその応
用範囲が広がる。
In this embodiment, the case where the maximum level, the stop level, and the alarm level are all set is described.
It can be used as an alarm only, and the combination expands its application range.

また、第2図におけるセンサ出力端子19を利用し、複
数のコンパレータを組込んだレベルメータを動作させる
ことにより、視覚で滞電圧を確認できる。
In addition, by using the sensor output terminal 19 shown in FIG. 2 and operating a level meter incorporating a plurality of comparators, it is possible to visually check the static voltage.

なお本実施例では、カバーの検出孔に向うに従い、テ
ーパ面を形成しているが、アール(R)をつけてもよ
い。
In the present embodiment, the tapered surface is formed toward the detection hole of the cover, but a radius (R) may be provided.

ところで、本実施例では、センサ構造(モータを含
む)が小さくできない(直方体状)ため、長手方向側面
のみ、幅狭の形状としたが、センサ構造がコンパクトに
できるなら、円錐形状のカバーとし、円錐先端部に検出
孔を設けることができ(輪切り状)、四方八方からの気
流に対応できるものである。
By the way, in the present embodiment, the sensor structure (including the motor) cannot be made small (a rectangular parallelepiped shape), so that only the longitudinal side surface is narrow. However, if the sensor structure can be made compact, a conical cover is used. A detection hole can be provided at the tip of the cone (in the shape of a slice) so that it can respond to airflow from all directions.

(1)センサを覆うカバーを、カバーに設けられた検出
のための検出孔に近づくにつれ、幅狭に形成することに
より気流の流れをカバーに沿わすことができ角柱状ある
いは円筒状のカバーのものに比べ気流が検出孔内に入る
ことを低減できる。それゆえ、気流にイオンが含まれて
いた場合でも、イオンが検出電極に触れることを低減で
き、角柱状あるいは円筒状カバーのものに比べ、正確な
静電気の検出ができるものである。
(1) As the cover covering the sensor approaches the detection hole for detection provided in the cover, the width of the cover is narrowed so that the flow of the air current can follow the cover. It is possible to reduce the flow of the airflow into the detection hole as compared with the case of the above. Therefore, even when ions are contained in the airflow, the ions can be prevented from touching the detection electrode, and more accurate static electricity can be detected as compared with a prismatic or cylindrical cover.

(2)正確な静電気の検出を行なうことができる為、IC
の製造工程におけるIC製造装置に適用した際には、誤判
定することを低減して、未然に静電気破壊によるIC不良
発生を防ぎ、ないしは極力静電気破壊によるIC不良発生
を少なくして、ICの製造を行なうことができるものであ
る。
(2) Since accurate static electricity can be detected, IC
When applied to IC manufacturing equipment in the manufacturing process of ICs, it is possible to reduce erroneous determination and prevent the occurrence of IC failures due to electrostatic breakdown beforehand, or reduce the occurrence of IC failures due to electrostatic breakdown as much as possible to manufacture ICs. Can be performed.

(3)センサを覆うカバーの検出の為の検出孔に対する
側面部分を、検出孔の面より長くすることにより、気流
が検出孔の大方に流れる為、角柱状、あるいは円筒状の
カバーのものに比べ、気流が検出孔内に入ることを低減
できる。それゆえ、気流にイオンが含まれていた場合で
も、イオンが検出電極に触れることを低減でき、検出電
極の電荷が中和されることが低減されるため、角柱状あ
るいは円筒状のカバーのものに比べ、正確な静電気の検
出ができるものである。
(3) By making the side portion of the detection hole for detection of the cover that covers the sensor longer than the surface of the detection hole, the airflow flows to most of the detection hole, so that the cover has a prismatic or cylindrical shape. In comparison, the airflow can be reduced from entering the detection hole. Therefore, even when ions are contained in the airflow, the contact of the ions with the detection electrode can be reduced, and the neutralization of the charge of the detection electrode is reduced, so that a prismatic or cylindrical cover is used. In comparison with the method, the static electricity can be detected more accurately.

以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづ
き具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and it is needless to say that various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Nor.

以上の説明では、主として本発明者によってなされた
発明をその背景となった利用分野である、ICの製造工程
における静電気検出技術に適用した場合について説明し
たが、それに限定されるものではない。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the static electricity detection technology in the IC manufacturing process, which is the application field behind it, has been described, but the invention is not limited thereto.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりで
ある。
The effects obtained by the representative inventions among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、センサを覆うカバーを、その検出の為の検
出孔に近づくにつれ、幅狭に形成することにより、検出
孔への気流の入り込みを低減して、正確な検出を行なう
ことができるものである。
That is, by forming the cover covering the sensor narrower as it approaches the detection hole for the detection, it is possible to reduce the entry of airflow into the detection hole and perform accurate detection. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明の一実施例である静電気検出装置のセ
ンサとカバーを示す概略断面図、 第2図は、本発明の一実施例である静電気検出装置の構
成を示す概略図、 第3図は、本発明の一実施例の作用を説明するための図
である。 1…センサ、2…検出電極、3…回転センタ、4…カバ
ー、5…側面、6…テーパ面、7…第1のアール
(R)、8…第2のアール(R)、9…底面、10…検出
孔、12…ステー、13…シャフト、14…モータ、15…演算
増幅部、16…出力、17…ピークホールド回路、18…セン
サ出力、19…センサ出力端子、20…アンプ、21…最大レ
ベル設定ボリューム、22…最大レベル表示ランプ、23…
制御部、24…停止レベル設定ボリューム、25…ストップ
ランプ、26…警報レベル設定ボリューム、27…警報ラン
プ、28…ブザー、29…リレー、30…リレー出力端子、31
…リセットスイッチ、32…IC、33…パッケージ、34…リ
ード。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing a sensor and a cover of an electrostatic detection device according to one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of the electrostatic detection device according to one embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of one embodiment of the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Sensor, 2 ... Detection electrode, 3 ... Rotation center, 4 ... Cover, 5 ... Side surface, 6 ... Tapered surface, 7 ... First round (R), 8 ... Second round (R), 9 ... Bottom surface , 10: detection hole, 12: stay, 13: shaft, 14: motor, 15: operational amplifier, 16: output, 17: peak hold circuit, 18: sensor output, 19: sensor output terminal, 20: amplifier, 21 … Maximum level setting volume, 22… Maximum level indicator lamp, 23…
Control unit, 24: Stop level setting volume, 25: Stop lamp, 26: Alarm level setting volume, 27: Alarm lamp, 28: Buzzer, 29: Relay, 30: Relay output terminal, 31
… Reset switch, 32… IC, 33… Package, 34… Lead.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】イオンブローの吹き付け範囲内で、半導体
装置の静電気の帯電状態を検出する静電気検出装置であ
って、検出電極と回転セクタを有するセンサと、前記セ
ンサを覆う角柱状のカバーと、前記カバーの長手方向の
側面と直交する面の一部に設けられた検出孔と、前記角
柱状の長手方向の側面に前記検出孔に向かって形成され
たテーパ面とを有し、前記センサは検出孔が設けられた
面の近傍に位置し、さらに、前記カバーの長手方向の側
面に吹き付けられるイオンブローの気流の流れをスムー
ズにするための球面状処理が、前記カバーの長手方向の
側面と前記テーパ面との間及び前記カバーの長手方向の
側面と直交する面と前記テーパ面との間に施されている
ことを特徴とする半導体装置の静電気検出装置。
1. A static electricity detection device for detecting a charged state of static electricity of a semiconductor device within a spraying range of an ion blow, comprising: a sensor having a detection electrode and a rotating sector; a prismatic cover for covering the sensor; The sensor has a detection hole provided in a part of a surface orthogonal to a longitudinal side surface of the cover, and a tapered surface formed toward the detection hole on the prismatic longitudinal side surface. Located near the surface provided with the detection hole, further, spherical processing for smoothing the flow of the air flow of the ion blow blown to the longitudinal side surface of the cover, the longitudinal side surface of the cover and A static electricity detecting device for a semiconductor device, wherein the static electricity detecting device is provided between the tapered surface and a surface orthogonal to a longitudinal side surface of the cover and the tapered surface.
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