Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP2597760B2 - Path activation method - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP2597760B2 - Path activation method - Google Patents

Path activation method

Info

Publication number
JP2597760B2
JP2597760B2 JP3018803A JP1880391A JP2597760B2 JP 2597760 B2 JP2597760 B2 JP 2597760B2 JP 3018803 A JP3018803 A JP 3018803A JP 1880391 A JP1880391 A JP 1880391A JP 2597760 B2 JP2597760 B2 JP 2597760B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
input
output
gates
condition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3018803A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04257070A (en
Inventor
直樹 高山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP3018803A priority Critical patent/JP2597760B2/en
Publication of JPH04257070A publication Critical patent/JPH04257070A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2597760B2 publication Critical patent/JP2597760B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ディレイテストパター
ンの作成時のパス活性化条件を求めるパス活性化方法に
関する。近年、コンピュータの大規模化、高速化に伴い
回路の試験もファンクションテストだけでなく、ディレ
イテストも行うことが要求されている。一般的に、ディ
レイテストパターンの作成はファンクションテストに比
較して、活性化条件が厳しく、パターン作成にも非常に
時間がかかる。このため、ディレイ的に厳しいパスを先
に選び、ディレイテストの試験対象となるパス数を絞り
込んで、テストパターン生成を行う必要がある。ところ
が、パスが先に決まっていると、パターン生成は益々難
しく、時間がかかるようになるため、これを高速化する
必要がある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a path activating method for determining a path activating condition when a delay test pattern is created. In recent years, with the increase in the scale and speed of computers, it has been required to perform not only a circuit test but also a function test as well as a delay test. In general, the creation of a delay test pattern has stricter activation conditions than the function test, and it takes much time to create the pattern. Therefore, it is necessary to select a path that is strict in terms of delay first, and to narrow down the number of paths to be tested in the delay test to generate a test pattern. However, if the path is determined beforehand, pattern generation becomes increasingly difficult and time-consuming, so it is necessary to increase the speed.

【0002】[0002]

【従来の技術】図10にテストパスの例を示す。図10
において、1はソースラッチ、2はターゲットラッチで
あり、ソースラッチ1から複数のゲート(オアゲート)
3,4を介して信号変化をターゲットラッチ2に送り、
ディレイテストを行う。
2. Description of the Related Art FIG. 10 shows an example of a test path. FIG.
, 1 is a source latch, 2 is a target latch, and a plurality of gates (OR gates) from the source latch 1
The signal change is sent to the target latch 2 via 3 and 4,
Perform a delay test.

【0003】ゲート4の入力側にはゲート(ノアゲー
ト)5が接続され、このゲート5の入力側にはゲート
(アンドゲート)6,7が接続される。ゲート7の一方
の入力条件は入力条件1である。ゲート3の入力側には
ゲート(オアゲート)8が接続され、ゲート8の両方の
入力条件が入力条件2であり、ゲート8の出力側はゲー
ト7の一方の入力側に接続されている。
A gate (NOR gate) 5 is connected to the input side of the gate 4, and gates (AND gates) 6, 7 are connected to the input side of the gate 5. One input condition of the gate 7 is the input condition 1. A gate (OR gate) 8 is connected to the input side of the gate 3. Both input conditions of the gate 8 are the input condition 2, and the output side of the gate 8 is connected to one input side of the gate 7.

【0004】ここで、パス上のゲート3,4のパスでな
い側の入力は、0を要求しないと変化がパス上を伝わら
ないことはすぐに判る。そこで、これらの要求を同時に
満たすような入力条件(活性化条件)を求めなければな
らない。その活性化条件を求めるためには、ATG(Au
tomatic Test-pattern Generator)を用いている。AT
Gでは、まず、要求条件を1つ取り出し、それを満たし
かつ他の要求条件と矛盾しないような入力条件を求め
る。
Here, it is immediately understood that the input of the gates 3 and 4 on the non-pass side on the path does not propagate on the path unless 0 is required. Therefore, input conditions (activation conditions) that simultaneously satisfy these requirements must be obtained. To determine the activation conditions, the ATG (Au
tomatic Test-pattern Generator). AT
In G, first, one required condition is extracted, and an input condition that satisfies the required condition and does not contradict other required conditions is obtained.

【0005】ここで、矛盾を起こしていないかどうか
は、外部入力の値をATGが決める度にシミュレーショ
ンを行い要求値と比較するこによって行う。以下同様に
して全ての要求条件が満たされるまで繰り返し活性化条
件を求める。なお、途中で矛盾をおこした場合には、そ
れまでに求めた入力条件の組合わせを換えて、再び矛盾
を起こさない入力条件を求めるという動作を繰り返す。
このようにして、ATGでディレイテストのパターンが
作成される。
Here, whether or not a contradiction occurs is determined by performing a simulation every time the value of the external input is determined by the ATG and comparing it with a required value. In the same manner, the activation condition is repeatedly obtained until all the required conditions are satisfied. If an inconsistency occurs in the middle, the operation of changing the combination of the input conditions obtained so far and obtaining an input condition that does not cause an inconsistency is repeated.
In this way, a delay test pattern is created by the ATG.

【0006】ここで、ATGが、ゲート4の入力に対す
る0要求を満たす条件を最初に求めようとしたとする。
ゲート5は、ノアゲートであるので入力の一方が1であ
ればよいことが判る。ここで、ATGはゲート5の下側
の入力を1にすることに決めたとする。ゲート7はアン
ドゲートであるので両方の入力を1にする必要がある。
ゲート7の下側の入力を1にするように入力条件1を求
め、ゲート7の上側の入力を1にするようなゲート8の
入力条件2を求める。すると、ここでゲート8の出力が
1になってしまうので、最初の入力要求であるゲート3
の下側の入力を0にするという要求と矛盾が起きてしま
う。
Here, it is assumed that the ATG first seeks a condition that satisfies the 0 requirement for the input of the gate 4.
Since the gate 5 is a NOR gate, it is understood that one of the inputs only needs to be 1. Here, it is assumed that the ATG has decided to set the lower input of the gate 5 to 1. Since the gate 7 is an AND gate, both inputs must be set to 1.
The input condition 1 is determined so that the lower input of the gate 7 is set to 1, and the input condition 2 of the gate 8 is set so that the upper input of the gate 7 is set to 1. Then, since the output of the gate 8 becomes 1 at this point, the first input request, that is, the gate 3
Conflicts with the requirement that the lower input be zero.

【0007】結局、ATGはバックトラックを繰り返
し、ゲート5の下側を1にするのをあきらめ、上側の入
力を1にするようなパターンを作成する方向で処理を続
けることになる。したがって、入力条件1,2を求める
ために掛かった時間とバックトラックのために掛かった
処理時間は全部無駄になってしまう。
After all, the ATG repeats backtracking, gives up on setting the lower side of the gate 5 to 1, and continues processing in the direction of creating a pattern in which the upper input is set to 1. Therefore, the time required for obtaining the input conditions 1 and 2 and the processing time required for the backtrack are all wasted.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】このような従来のパス
活性化方法にあっては、ゲート3の入力は、ディレイテ
ストのために絶対0でなくてはならない。したがって、
ゲート8の出力は最終的には0でなければならない。従
って、ゲート7の出力は最終的には0になる。しかしな
がら、テストパターンを求めているときに、ゲート8の
出力は入力条件2が決まるまでXであるので、ゲート5
の下側の入力が絶対に1にはできないことが判らず、入
力条件1,2を求めるという無駄な処理を行ってしまう
という問題点があった。
In such a conventional path activating method, the input of the gate 3 must be absolutely zero for a delay test. Therefore,
The output of gate 8 must ultimately be zero. Therefore, the output of the gate 7 finally becomes 0. However, when the test pattern is obtained, the output of the gate 8 is X until the input condition 2 is determined.
There is a problem that it is not understood that the input on the lower side cannot be set to 1 and the useless processing of obtaining the input conditions 1 and 2 is performed.

【0009】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたものであって、無駄な処理を減らし、ATG
の高速化を図るパス活性化方法を提供することを目的と
している。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a conventional problem, and reduces unnecessary processing and reduces ATG.
It is an object of the present invention to provide a path activating method for speeding up the operation.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、図1に示すよ
うに、ソースラッチ11からターゲットラッチ12に複
数のゲート13,14を介して信号変化を送ってテスト
するときにパス活性化のための条件を求めるパス活性化
方法において、前記ゲート13,14の入力側に接続さ
れるドライバ18,15の出力側を切断して、代わりに
要求された値を常に出力するコンスタントゲート19,
20を接続するようにしたものである。
According to the present invention, as shown in FIG. 1, when a signal change is sent from a source latch 11 to a target latch 12 through a plurality of gates 13 and 14 for testing, a path activation is performed. In the path activation method for determining the conditions for the operation, the constant gate 19, which always disconnects the output side of the driver 18, 15 connected to the input side of the gate 13, 14 and always outputs the required value,
20 are connected.

【0011】[0011]

【作用】本発明においては、ゲート13,14の入力側
に接続されるドライバ18,15の出力側を切断して、
代わりに要求された値を常に出力するコンスタントゲー
ト19,20を接続するようにしたため、ゲート15,
18の出力値が要求値になる前に、ネットの値が要求値
になる。したがって、最終的に絶対1になるネットを0
にしようとしたり、絶対0になるネットを1にしようと
することがなくなり、無駄な処理を減少することができ
る。
In the present invention, the output sides of the drivers 18, 15 connected to the input sides of the gates 13, 14 are disconnected,
Instead, the constant gates 19 and 20 which always output the requested value are connected, so that the gates 15 and
Before the output value of 18 becomes the required value, the value of the net becomes the required value. Therefore, the net that finally becomes 1 is set to 0
And the net that becomes absolute 0 is not made to be 1, and wasteful processing can be reduced.

【0012】その結果、ATGの探索範囲を狭めること
ができ、ATGの高速化を図ることができる。
As a result, the search range of the ATG can be narrowed, and the speed of the ATG can be increased.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図2〜図7は本発明の一実施例を示す図である。
図2はディレイテストの対象となる論理回路を示す。図
2において、11はソースラッチ、12はターゲットラ
ッチであり、ソースラッチ11とターゲットラッチ12
の間には複数のオアゲート13,14が接続されてい
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 2 to 7 are views showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 shows a logic circuit to be subjected to a delay test. In FIG. 2, reference numeral 11 denotes a source latch and 12 denotes a target latch.
A plurality of OR gates 13 and 14 are connected between them.

【0014】オアゲート14の一方の入力側にはノアゲ
ート15が接続され、ノアゲート15の入力側にはアン
ドゲート16,17がそれぞれ接続されている。一方、
オアゲート13の一方の入力側にはオアゲート18が接
続され、オアゲート18の入力条件が入力条件2であ
る。オアゲート18の出力は、アンドゲート17の一方
の入力となり、アンドゲート17の他方の入力条件が入
力条件1である。
The NOR gate 15 is connected to one input side of the OR gate 14, and AND gates 16 and 17 are connected to the input side of the NOR gate 15, respectively. on the other hand,
An OR gate 18 is connected to one input side of the OR gate 13, and an input condition of the OR gate 18 is an input condition 2. The output of the OR gate 18 is one input of the AND gate 17, and the other input condition of the AND gate 17 is the input condition 1.

【0015】次に、動作を説明する。図4は動作を説明
するためのフローチャートである。図4において、ま
ず、ステップS1でATGを開始する前に入力値が要求
される要求点と要求値を求める。この例ではオアゲート
13の一方の入力側およびオアゲート14の一方の入力
側が要求点であり、要求値は両方とも0である。
Next, the operation will be described. FIG. 4 is a flowchart for explaining the operation. In FIG. 4, first, at step S1, a required point and a required value for which an input value is required are determined before ATG is started. In this example, one input side of the OR gate 13 and one input side of the OR gate 14 are required points, and both required values are 0.

【0016】次に、ステップS2で要求点に対して出力
を行うドライバを求める。この例では、オアゲート13
の一方の入力側に接続されたオアゲート18及びオアゲ
ート14の一方の入力側に接続されたノアゲート15で
ある。次に、ステップS3で要求点のあるネットをドラ
イバの出力のところで切断する。したがって、オアゲー
ト13にはオアゲート18の出力が入力しなくなり、オ
アゲート14にはノアゲート15の出力が入力しなくな
る。
Next, in step S2, a driver for outputting to a required point is determined. In this example, the OR gate 13
An OR gate 18 connected to one input side of the OR gate and a NOR gate 15 connected to one input side of the OR gate 14. Next, in step S3, the net having the required point is cut at the output of the driver. Therefore, the output of the OR gate 18 is not input to the OR gate 13, and the output of the NOR gate 15 is not input to the OR gate 14.

【0017】次に、ステップS4で要求点のネットを切
断した代わりに要求された値を常に出力するコンスタン
トゲート19,20をオアゲート13,14にそれぞれ
接続する(図3、参照)。したがって、図3に示すよう
に、アンドゲート17の一方の入力は0となり、入力条
件1にかかわらず、その出力は0となる。ノアゲート1
5の一方の入力は0となるので、その出力が0であるた
めには、アンドゲート16の出力は1になり、アンドゲ
ート16の両方の入力は1となる。
Next, in step S4, constant gates 19 and 20, which always output a requested value, are connected to the OR gates 13 and 14 instead of disconnecting the net at the request point (see FIG. 3). Therefore, as shown in FIG. 3, one input of the AND gate 17 is 0, and its output is 0 regardless of the input condition 1. NOR gate 1
Since one input of 5 is 0, the output of the AND gate 16 becomes 1 and both inputs of the AND gate 16 become 1 in order for the output to be 0.

【0018】一方、ノアゲート18の出力は0が要求さ
れるので、その入力条件はともに0となる。ここで、オ
アゲート13,18およびアンドゲート17の入出力関
係を図5に示し、オアゲート18の出力を切断し、コン
スタントゲート19を接続したときの入出力関係を図6
に示す。
On the other hand, since the output of the NOR gate 18 is required to be 0, the input conditions thereof are both 0. FIG. 5 shows the input / output relationship of the OR gates 13 and 18 and the AND gate 17, and FIG. 6 shows the input / output relationship when the output of the OR gate 18 is disconnected and the constant gate 19 is connected.
Shown in

【0019】そして、オアゲート18の出力を切断し、
コンスタントゲート19を接続したときのネットワーク
テーブル21を図7に示す。このネットワークテーブル
は回路の接続をデータベース上で表現したものであり、
矢印でサイクリックにリンクされた入出力ピンが1コの
ネットで接続されていることを表している。
Then, the output of the OR gate 18 is disconnected,
FIG. 7 shows the network table 21 when the constant gate 19 is connected. This network table is a representation of circuit connections on a database.
Arrows indicate that the input / output pins linked cyclically are connected by one net.

【0020】このように、ATGがノアゲート15の出
力を0にしようとしたときに、下側の入力を1にしよう
とすることがなくなり、無駄な処理を減らすことができ
る。その結果、ATGの探索範囲を狭めることができ、
ATGの高速化を図ることができる。次に、図8は本発
明の他の実施例を示す図である。
As described above, when the ATG attempts to set the output of the NOR gate 15 to 0, it does not attempt to set the lower input to 1, thereby reducing unnecessary processing. As a result, the search range of the ATG can be narrowed,
The speed of the ATG can be increased. Next, FIG. 8 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【0021】図8において、オアゲート13,14に接
続されるオアゲート18及びノアゲート15をコンスタ
ントゲート19,20に接続する代りに、直接要求値を
そのネットに接続されるオアゲート13,14、アンド
ゲート17に入力して、シミュレーションを行い、オア
ゲート18およびノアゲート15の出力にフラグを立て
ておく、そして、ATGでシミュレーションを行うと
き、そのフラグをみて、フラグが立っているときは、そ
の先にイベントを伝えないようにする。
In FIG. 8, instead of connecting the OR gate 18 and the NOR gate 15 connected to the OR gates 13 and 14 to the constant gates 19 and 20, the required values are directly connected to the OR gates 13 and 14 and the AND gate 17 connected to the net. To simulate and flag the outputs of the OR gate 18 and the NOR gate 15. When simulating with ATG, look at the flag and, if the flag is set, set the event ahead. Don't tell.

【0022】この場合の、ネットワークテーブル21を
図9に示す。オアゲート18の出力01はフラクが立っ
ているので、オアゲート3およびアンドゲート17には
伝えられない。オアゲート13の入力は0、アンドゲー
ト17の入力は0であり、前記実施例と同様な効果が得
られる。
FIG. 9 shows the network table 21 in this case. The output 01 of the OR gate 18 is not transmitted to the OR gate 3 and the AND gate 17 because a flag is set. Since the input of the OR gate 13 is 0 and the input of the AND gate 17 is 0, the same effect as in the above embodiment can be obtained.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、最終的にとる値が決まっている部分を先にシミュレ
ーションして値を先に送ることにより、ATGの探索範
囲を狭めることができ、ATGの高速化を図ることがで
きる。
As described above, according to the present invention, it is possible to narrow the ATG search range by simulating the part where the value to be finally determined is determined first and sending the value first. As a result, the speed of the ATG can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理説明図FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図2】テストの対象となる論理回路図FIG. 2 is a diagram of a logic circuit to be tested

【図3】本発明の一実施例を示す図FIG. 3 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図4】動作を説明するためのフローチャートFIG. 4 is a flowchart for explaining an operation;

【図5】入出力関係を示す接続図FIG. 5 is a connection diagram showing an input / output relationship;

【図6】コンスタントゲートに代えた入出力関係を示す
接続図
FIG. 6 is a connection diagram showing an input / output relationship in place of a constant gate.

【図7】ネットワークテーブルを示す図FIG. 7 shows a network table.

【図8】本発明の他の実施例を示す図FIG. 8 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【図9】ネットワークテーブルを示す図FIG. 9 shows a network table.

【図10】従来例の説明図FIG. 10 is an explanatory view of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11:ソースラッチ 12:ターゲットラッチ 13,14,18:オアゲート(ゲート) 15:ノアゲート(ゲート) 16,17:アンドゲート 19,20:コンスタントゲート 21:ネットワークテーブル 11: Source latch 12: Target latch 13, 14, 18: OR gate (gate) 15: NOR gate (gate) 16, 17: AND gate 19, 20: Constant gate 21: Network table

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ソースラッチ(11)からターゲットラッ
チ(12)に複数のゲート(13),(14)を介して
信号変化を送ってテストするときにパス活性化のための
条件を求めるパス活性化方法において、前記ゲート(1
3),(14)の入力側に接続されるドライバ(1
8),(15)の出力側を切断して、代わりに要求され
た値を常に出力するコンスタントゲート(19),(2
0)を接続することを特徴とするパス活性化方法。
1. A path activation circuit for determining a condition for path activation when a signal change is sent from a source latch (11) to a target latch (12) via a plurality of gates (13) and (14) for testing. In the method, the gate (1
3), the driver (1) connected to the input side of (14)
8), constant gates (19), (2) which always disconnect the output side of (15) and always output the requested value.
(0) is connected.
【請求項2】ソースラッチ(11)からターゲットラッ
チ(12)に複数のゲート(13),(14)を介して
信号変化を送ってテストするときにパス活性化のための
条件を求めるパス活性化方法において、前記ゲート(1
3),(14)の入力側に要求される値を入力してシミ
ュレーションを行い、ドライバ(18),(15)の出
力側にフラグを立ててイベントを伝えないようにするこ
とを特徴とするパス活性化方法。
2. A path activation circuit for determining a condition for path activation when a signal change is sent from a source latch (11) to a target latch (12) via a plurality of gates (13) and (14) for testing. In the method, the gate (1
3), simulation is performed by inputting required values to the input side of (14), and a flag is set to the output side of the driver (18), (15) so that an event is not transmitted. Path activation method.
JP3018803A 1991-02-12 1991-02-12 Path activation method Expired - Lifetime JP2597760B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3018803A JP2597760B2 (en) 1991-02-12 1991-02-12 Path activation method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3018803A JP2597760B2 (en) 1991-02-12 1991-02-12 Path activation method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04257070A JPH04257070A (en) 1992-09-11
JP2597760B2 true JP2597760B2 (en) 1997-04-09

Family

ID=11981750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3018803A Expired - Lifetime JP2597760B2 (en) 1991-02-12 1991-02-12 Path activation method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2597760B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04257070A (en) 1992-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3872954B2 (en) System and method for identifying finite state machines and inspecting circuit designs
US5390193A (en) Test pattern generation
JP3262281B2 (en) Test method and test equipment for electronic circuits
US5909374A (en) System and method for verifying logic circuit based on signal line set affecting internal signal
US4996689A (en) Method of generating tests for a combinational logic circuit
Tamura et al. Path delay analysis for hierarchical building block layout system
JP2597760B2 (en) Path activation method
US5892687A (en) Don't-- care logic
JP2802140B2 (en) How to design logic circuits
US7398424B2 (en) False path detection program
Chakradhar et al. Redundancy removal and test generation for circuits with non-Boolean primitives
JP4484048B2 (en) Hardware / software co-verification system
JP2658857B2 (en) Equivalent fault extraction method and device
JP3196734B2 (en) Timing analysis apparatus, method and recording medium
Agrawal et al. Threshold-value simulation and test generation
JPH06215061A (en) Semiconductor integrated circuit analytic system
JP3102408B2 (en) Method and apparatus for reducing signal delay
JP3183581B2 (en) Logic circuit automatic generation device and logic verification device
JPH0581368A (en) Mode verification method for bidirectional terminal in scan path
JPH04156676A (en) Logical verification method
JP2001188807A (en) Time failure simulation method
Мирошник et al. Testability Increasing Method by Introducing Hardware Redundancy in the Easy-tested Finite State Machines
Yu et al. A study for testability of redundant faults in combinational circuits using delay effects
JPH05225287A (en) Real wiring length delay value verification device
Sziray Logic testing of CMOS structures

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19961119