JP2604966B2 - 等エラーレート記録方法およびその装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気記憶装置に関し、
特に記録密度の異なる複数のゾーンを持つ磁気記憶装置
における、等エラーレート記録方法およびその装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】磁気記憶装置における記録周波数は、記
録密度に応じて適当な周波数を選定する必要がある。一
方、磁気記録装置においては、記録密度の異なる複数の
ゾーンを有するものがあり、従ってこのような磁気記録
装置においては、ゾーンごとに最適の記録周波数を設定
しなければならない。

【０００３】この種装置における従来の記録周波数の設
定方法としては、再生信号の分解能が各ゾーンにおいて
同一になるように記録周波数を設定する方法が提案され
ており、例えば米国特許第４７９９１２号公報や、特開
昭６３−２００３０６号公報に記載されている。

【０００４】これらの方法では、磁気記録装置における
記録周波数設定の際に、初期設定周波数で書込みを行っ
て、そのときの分解能を測定する。そして分解能が所望
の値より高いときは、記録周波数をさらに高くし、所望
の分解能に達しなければ、記録周波数を低くして再書込
みを行い、このような手順を繰り返すことによって、所
望の分解能になるように、記録周波数を設定する。

【０００５】さらに、各ゾーンごとにこのような処理を
実施することによって、磁気記録装置における全体の記
録周波数を決定する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】磁気記録装置における
最近の技術動向として、記録再生ヘッドに薄膜タイプを
使用する場合が多くなっている。

【０００７】薄膜タイプの記録再生ヘッドは、高密度記
録再生に適しているが、反面、欠点の一つとして、孤立
再生波形にアンダーシュートを発生するという問題があ
り、種々の影響を生じている。特に、アンダーシュート
波形の発生位置と記録周波数の関係によって、分解能が
左右されるという現象があり、そのため、分解能自体が
物理的にあまり意味を持たなくなっている。

【０００８】そのため、上述した従来例では、分解能を
基準として磁気記録装置における記録周波数の設定を行
うため、必ずしも最適の記録周波数の設定が行われない
だけでなく、逆に不適切な記録周波数の設定が行われる
ことになる恐れがある。

【０００９】これに対して再生波形に対して、適当な波
形処理を行うことによって、孤立再生波形のアンダーシ
ュート自体を除去し、あるいは再生波形の半値幅を減少
させることによって、磁気記憶装置の読出し時のエラー
レートを減少させる方法が、例えば特開昭６４−２７０
０６号および特開昭６４−２７００７号公報等によって
提案されている。

【００１０】しかしながらこのような波形処理を行う回
路は、複雑であって回路規模の増大を招くだけでなく、
記録周波数が変化した場合、対応が困難になるという問
題がある。

【００１１】

【発明の目的】本発明は、このような従来技術の課題を
解決しようとするものであって、薄膜ヘッドを備えた磁
気記録装置において、薄膜ヘッドにおけるアンダーシュ
ート波形に基づく分解能の変動に影響されることなく、
最適の記録周波数の設定を行うことができるとともに、
各ゾーンのエラーレートを低減し、各ゾーンにおいてエ
ラーレートが等しくなるようにすることができる、等エ
ラーレート記録方法およびその装置を提供することを目
的としている。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、次のような手
段によって、前述した目的を達成しようとするものであ
る。 (1)．薄膜磁気ヘッドと、記録密度の異なる複数のゾー
ンを有する磁気ディスクとを備えた磁気記録装置におい
て、各ゾーンごとに、再生された孤立波形のパルス幅を
検出し、該検出されたパルス幅に対して一定の比率によ
って記録周波数を設定することを特徴とする。

【００１３】(2)．この(1)の方法において、一定比率
が、Ｋ／パルス幅であり、この値Ｋが、２．０近傍であ
ることを特徴とする。

【００１４】(3)． (1)又は(2)の方法において、一定比
率による記録周波数の設定後に、この記録周波数を微調
しながらデータの書込みと読出しを行って、読み出され
たデータについてエラーレートを測定し、このエラーレ
ートが最低になるように記録周波数を設定することを特
徴とする。

【００１５】(4)．(1), (2),または(3) において、読出
しチャネルに設けられるフィルタの定数が、再生孤立波
形のパルス幅に対して一定の比率を保つように設定され
ることを特徴とする。

【００１６】(5)． 薄膜磁気ヘッドと、記録媒体に対す
る記録周波数を定める記録周波数設定手段と、この記録
周波数によって記録媒体に書込みを行うとともに記録媒
体から読出しを行う書込み・読出し手段とを備え、記録
密度の異なる複数のゾーンに対して書込みと読出しを行
う磁気記録装置において、各ゾーンごとに再生された孤
立波形のパルス幅を検出するパルス幅検出手段を設け
て、記録周波数設定手段が各ゾーンごとに、検出された
パルス幅に対して一定の比率によって記録周波数を設定
することを特徴とする。

【００１７】(6)． この(5)の装置において、一定比率
が、Ｋ／パルス幅であり、この値Ｋが、２．０近傍であ
ることを特徴とする。

【００１８】(7)． 記録媒体に対する記録周波数を定め
る記録周波数設定手段と、この記録周波数によって記録
媒体に書込みを行うとともに記録媒体から読出しを行う
書込み・読出し手段とを備え、記録密度の異なる複数の
ゾーンに対して書込みと読出しを行う磁気記録装置にお
いて、各ゾーンごとに再生された孤立波形のパルス幅を
検出するパルス幅検出手段と、各ゾーンごとに読み出さ
れたデータについてエラーレートを測定するエラーレー
ト測定手段とを設けて、記録周波数設定手段が各ゾーン
ごとに、この検出されたパルス幅に対して一定の比率に
よって記録周波数を定めたのちに、記録周波数を微調し
ながらデータの書込みと読出しを行って、この読み出さ
れたデータについて測定されたエラーレートが最低にな
るように記録周波数を設定することを特徴とする。

【００１９】(8)．(5), (6)または(7) において、読出
しチャネルに設けられるフィルタ５の定数が、パルス幅
検出手段３によって検出されたパルス幅に対して一定の
比率を保つように設定されることを特徴とする。

【００２０】

【作用】(1)． 本発明の等エラーレート記録方法におい
ては、記録密度の異なる複数のゾーンを有する磁気記録
装置において、各ゾーンごとに、再生された孤立波形の
パルス幅を検出し、この検出されたパルス幅に対して一
定の比率によって記録周波数を設定するようにしたの
で、磁気記録装置において薄膜ヘッドを用いた場合に、
アンダーシュート波形による影響を除去することができ
るとともに、各ゾーンにおいて等エラーレートの記録を
行う等エラーレート記録方法を実現することができる。

【００２１】(2)． 記録周波数を２．０／パルス幅前後
とする。

【００２２】(3)． さらに各ゾーンごとに、再生された
孤立波形のパルス幅を検出し、この検出されたパルス幅
に対して一定の比率によって記録周波数を定めたのち
に、記録周波数を微調しながらデータの書込みと読出し
を行って、読み出されたデータについてエラーレートを
測定し、このエラーレートが最低になるように記録周波
数を設定するようにしたので、磁気記録装置において薄
膜ヘッドを用いた場合に、アンダーシュート波形による
影響を迅速にかつより完全に除去することができるとと
もに、各ゾーンにおいて等エラーレートの記録を行う等
エラーレート記録方法を実現することができる。

【００２３】(4)． (1) , (2)または(3) の各等エラー
レート記録方法において、読出しチャネルに設けられる
フィルタの定数を、再生孤立波形のパルス幅に対して一
定の比率を保つように設定することによって、記録周波
数に対して最適のフィルタ特性を設定することができ
る。

【００２４】(5)． 図１は、本発明の原理的構成を示し
たものである。本発明において対象とする磁気記録装置
は、周波数設定手段１を備えて記録媒体に対する記録周
波数を定め、書込み・読出し手段２を備えて、この記録
周波数によって記録媒体に書込みを行うとともに記録媒
体から読出しを行うことによって、記録密度の異なる複
数のゾーンに対して書込みと読出しを行う。

【００２５】このような磁気記録装置において、パルス
幅検出手段３を設けて、各ゾーンごとに再生された孤立
波形のパルス幅を検出し、記録周波数設定手段１が各ゾ
ーンごとに、この検出されたパルス幅に対して一定の比
率によって記録周波数を設定するようにしたので、薄膜
ヘッドを用いた磁気記録装置において、アンダーシュー
ト波形による影響を除去することができるとともに、各
ゾーンにおいて等エラーレートの記録を行う等エラーレ
ート記録装置を実現することができる。

【００２６】(6)． またこのような磁気記録装置におい
て、エラーレート測定手段４を設けて、各ゾーンごとに
読み出されたデータについてエラーレートを測定し、記
録周波数設定手段１が各ゾーンごとに、この測定された
エラーレートが最低になるように記録周波数を設定する
ようにしたので、薄膜ヘッドを用いた磁気記録装置にお
いて、アンダーシュート波形による影響を除去すること
ができるとともに、各ゾーンにおいて等エラーレートの
記録を行う等エラーレート記録装置を実現することがで
きる。

【００２７】(7)． さらにこのような磁気記録装置にお
いて、パルス幅検出手段３を設けて、各ゾーンごとに再
生された孤立波形のパルス幅を検出するとともに、エラ
ーレート測定手段４を設けて、各ゾーンごとに読み出さ
れたデータについてエラーレートを測定し、記録周波数
設定手段１が各ゾーンごとに、検出されたパルス幅に対
して一定の比率によって記録周波数を定めたのちに、記
録周波数を微調しながらデータの書込みと読出しを行っ
て、この読み出されたデータについて測定されたエラー
レートが最低になるように記録周波数を設定するように
したので、薄膜ヘッドを用いた磁気記録装置において、
アンダーシュート波形による影響を迅速にかつより完全
に除去することができるとともに、各ゾーンにおいて等
エラーレートの記録を行う等エラーレート記録装置を実
現することができる。

【００２８】(5) ないし(7) の各等エラーレート記録装
置において、読出しチャネルに設けられるフィルタ５の
定数を、パルス幅検出手段３によって検出されたパルス
幅に対して一定の比率を保つように設定することによっ
て、記録周波数に対して最適のフィルタ特性を設定する
ことができる。

【００２９】

【実施例】以下、図２に基づいて本発明の実施例を説明
する。図２は、本発明の一実施例をブロック図によって
示したものである。この実施例においては、各部を制御
する制御回路１１と、与えられた分周比に応じて規準ク
ロックからライトクロックを生成するシンセサイザ１２
と、ライトクロックに応じてライトデータを符号化する
エンコーダ１３と、データの書込み，読出しの処理を行
うＲ／Ｗ（読出／書込）回路１４と、記録媒体に対する
書込み，読出しを行う磁気ヘッド１５と、読み出された
データを増幅する増幅器１６と、読出しデータを帯域制
限するフィルタ１７と、読出しデータにおけるピーク位
置を検出するピーク検出回路１８と、ライトクロックに
同期して読出しデータを整形するＰＬＯ（位相同期回
路）１９と、整形されたデータを復号するデコーダ２０
と、読出しデータのパルス幅を検出するパルス幅検出手
段２１とを備えることが示されている。

【００３０】シンセサイザ１２は、制御回路１１によっ
て設定された分周比に応じて、基準クロック入力を周波
数変換して、所要の記録周波数に対応するライトクロッ
クを発生する。発生したライトクロックは、エンコーダ
１３およびＰＬＯ１９に入力される。

【００３１】書込み時には、エンコーダ１３は、ライト
クロックに応じてライトデータを所定の符号に符号化し
て、書込みデータとして、Ｒ／Ｗ回路１４に入力する。
Ｒ／Ｗ回路１４は、書込みデータに応じた書込み電流を
生成して磁気ヘッド１５に供給することによって、磁気
ヘッド１５を介して図示されない記憶媒体上にデータを
記録する。

【００３２】読出し時には、Ｒ／Ｗ回路１４および増幅
器１６は、磁気ヘッド１５からの読出しデータを増幅し
て、フィルタ１７に入力するとともに、パルス幅検出回
路２１に入力する。フィルタ１７は、制御回路１１によ
って所定のカットオフ周波数ｆｃやブースト量を設定さ
れて、高周波雑音の除去およびパルススリミング等の波
形操作を行って、出力信号をピーク検出回路１８へ送
る。

【００３３】ピーク検出回路１８は、入力信号のピーク
位置を検出しパルス化を行って、ピークパルスをＰＬＯ
１９に入力する。ＰＬＯ１９は、ピークパルスに同期し
たクロックを生成するとともに、ピークパルスをこのク
ロックに再同期して、基準化データおよび基準化クロッ
クとしてデコーダ２０に入力する。デコーダ２０は、基
準化データおよび基準化クロックをもとに、符号化され
たデータを復号して、リードデータとして図示されない
コントローラへ送出する。

【００３４】パルス幅検出回路２１は、増幅器１６から
の増幅された再生信号のパルス幅を検出して、その結果
を制御回路１１へ送出する。制御回路１１は、パルス幅
の検出結果に基づいて、シンセサイザ１２の分周比，Ｐ
ＬＯ１９のループフィルタ定数やループゲイン，フィル
タ１７の定数等の算定を行い、コントローラからのアド
レス信号に従って、シンセサイザ１２，ＰＬＯ１９，フ
ィルタ１７の定数設定を行う。

【００３５】図２に示された実施例による、磁気記憶装
置の記録周波数の設定は、次のようにして行われる。

【００３６】まず、所定のアドレスにおいて、孤立波
（パターン干渉を生じない程度の低周波数データ）の書
込みを行い、再生孤立波のパルス幅を、パルス幅検出回
路２１で検出する。そして、最適記録周波数（ライトク
ロック周波数）を次式に従って設定する。ライトクロッ
ク周波数＝Ｋ／パルス幅 …
（１）ここでＫは、シミュレーションょンの結果によれ
ば、２．０近傍であることが望ましい。

【００３７】この結果から、制御回路１１は所望の記録
周波数を得るためにに必要な、水晶発振器やサーボクロ
ック等の規準クロックからの分周比を設定して、シンセ
サイザ１２の発振周波数を制御する。

【００３８】同時にＰＬＯ１９のループフィルタ定数
や、ループゲイン等の設定、およびフィルタ１７の定数
設定も併せて行う。ブースタ型のフィルタを使用する場
合の、カットオフ周波数ｆｃの設定は次式によって行わ
れる。なお、次式中おける定数Ｌの値は、０．４〜０．
５程度に設定することが望ましい。 ｆｃ＝Ｌ／パルス幅 …（２）

【００３９】上述の説明においては、１ポイントのアド
レスについて説明したが、実際には磁気記録装置は複数
のアドレスを有しているため、この情報を記憶しておく
必要があり、特定のアドレスにアクセスする都度、この
情報を参照して各定数を設定する。制御回路１１は、こ
の場合の記憶機能をも備えている。

【００４０】例えば、磁気ディスク装置の場合は、各ゾ
ーンによって記録周波数の設定が異なるのは当然である
が、複数のヘッドを有している場合においては、各ヘッ
ドごとに記録周波数の設定を変える必要がある。従っ
て、（ゾーン数）×（ヘッド本数）だけの数の記憶エリ
アが必要である。

【００４１】図２に示された実施例においては、このよ
うな記憶エリアを制御回路１に備えているが、この場合
に限るものでなく、別途メモリを備えてもよいことはい
うまでもない。また記憶エリアの搭載場所も、電子回路
ボード上でもよく、またはＨＤＡ（ヘッド・ディスク・
アセンブリ）内である場合もあり得る。

【００４２】本発明によれば、薄膜ヘッドのアンダーシ
ュート波形に基づく影響を完全に除去できるので、エラ
ーレートを低減することが可能となる。

【００４３】次に、本発明の効果を増大する方法につい
て以下に説明する。この方法は、実際にディスクの書込
み，読出しを行って、そのときのエラーレートをもと
に、各定数の設定を行うものである。すなわち、所定の
アドレスにおいて、記録周波数を変化させながら、書込
み，読出しを行って、そのときのエラーレートを測定
し、最低のエラーレートになる記録周波数を求める。

【００４４】従ってこの方法の場合は、図２に示された
パルス幅検出回路２１は不要であって、その代わりに、
図示されないコントローラからのエラーレート測定結果
を、制御回路１１に入力する。

【００４５】制御回路１１は、この結果から最適記録周
波数を求め、同時にこれに対応するＰＬＯ１９のループ
フィルタ定数やループゲイン、およびフィルタ１７の定
数を算定して、結果を記憶しておく。この場合の、ＰＬ
Ｏ１９のループフィルタ定数やループゲイン、およびフ
ィルタ１７の遮断周波数も、前述の記録周波数とパルス
幅の関係式（１），（２）から算出することができる。

【００４６】このようにしてあるアドレスにおいて、最
適ポイントが求められたとき、引き続いて、アドレスを
変化させながら、各アドレスにおいてそれぞれの最適ポ
イントを求めて、それぞれの結果を記憶しておく。

【００４７】データの書込み，読出し動作を行う場合に
は、所定のアドレスに対応した設定情報を記憶エリアか
ら呼出して、これに従ってシンセサイザ１２，ＰＬＯ１
９，フィルタ１７のそれぞれの定数を設定する。

【００４８】さらに別の方法として、上述の２つの方法
を組み合わせることによって、より高い効果を得ること
ができる。すなわち、パルス幅の検出結果による各種設
定を行ったのちに、エラーレートによる同様の設定を行
う。

【００４９】パルス幅の検出結果による各種設定を粗調
整とすれば、エラーレートによる設定は、微調整の意味
合いを有しており、エラーレートによる設定結果によっ
て、パルス幅の検出結果による設定を修正してゆくとい
う方法をとる。すなわち、パルス幅の検出結果による設
定のみでも、実用上ほぼ問題のないレベルとなるが、さ
らにエラーレートによる設定を行うことによって、最適
なポイントを得ることができるようになる。

【００５０】このように本発明によれば、薄膜ヘッドの
アンダーシュート波形による影響を除去することができ
るとともに、磁気記録ヘッドおよび磁気記録媒体の性能
を、最大限に引き出すことが可能となる。

【００５１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、再
生された孤立波形のパルス幅を規準として記録周波数を
設定することによって、薄膜ヘッドのアンダーシュート
波形による影響を完全に除去して、最適な設定を行うこ
とができる。その結果、全体のエラーレートの低減を図
ることができ、各ゾーンのエラーレートがほぼ等しい値
になるようにすることができる。

【００５２】また他の方法として、磁気記憶装置におい
て実際にデータの書込み，読出しを行ってエラーレート
を測定し、測定されたエラーレートが最適になるように
記録周波数を設定することによって、同様の効果を得る
ことができる。

【００５３】さらに他の方法として、上述のパルス幅を
規準として記録周波数を設定したのち、エラーレートの
測定結果に基づいて記録周波数の微調整を行うことによ
って、最適の設定を行うことができる。

【００５４】本発明によれば、記録密度の異なる複数の
ゾーンを有する磁気記録装置において、記録周波数の設
定を最適にするとともに、磁気記録ヘッドおよび磁気記
録媒体の性能を最大限に引き出すことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理的構成を示す図である。

【図２】本発明の一実施例を示す図である。

【符号の説明】

１ 記録周波数設定手段 ２ 書込み・読出し手段 ３ パルス幅検出手段 ４ エラーレート測定手段 ５ フィルタ

フロントページの続き (72)発明者 宮崎 修 茨城県真壁郡関城町関館367−２ 茨城 日本電気株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−200306（ＪＰ，Ａ)

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 薄膜磁気ヘッドと、記録密度の異なる複
   数のゾーンを有する磁気ディスクとを備えた磁気記録装
   置において、前記各ゾーンごとに、再生された孤立波形
   のパルス幅を検出し、該検出されたパルス幅に対して一
   定の比率によって記録周波数を設定することを特徴とす
   る等エラーレート記録方法。
2. 【請求項２】 前記一定比率が、Ｋ／パルス幅であり、
   この値Ｋが、２．０近傍であることを特徴とする請求項
   １記載の等エラーレート記録方法。
3. 【請求項３】 前記一定比率による記録周波数の設定後
   に、この記録周波数を微調しながらデータの書込みと読
   出しを行って、該読み出されたデータについてエラーレ
   ートを測定し、該エラーレートが最低になるように記録
   周波数を設定することを特徴とする請求項１または２記
   載の等エラーレート記録方法。
4. 【請求項４】 請求項１，２または３に記載の等エラー
   レート記録方法において、読出しチャネルに設けられる
   フィルタの定数が、再生孤立波形のパルス幅に対して一
   定の比率を保つように設定されることを特徴とする等エ
   ラーレート記録方法。
5. 【請求項５】 薄膜磁気ヘッドと、記録媒体に対する記
   録周波数を定める記録周波数設定手段と、該記録周波数
   によって記録媒体に書込みを行うとともに該記録媒体か
   ら読出しを行う書込み・読出し手段とを備え、記録密度
   の異なる複数のゾーンに対して書込みと読出しを行う磁
   気記録装置において、 各ゾーンごとに再生された孤立波形のパルス幅を検出す
   るパルス幅検出手段を設け、 前記記録周波数設定手段が各ゾーンごとに、該検出され
   たパルス幅に対して一定の比率によって記録周波数を設
   定することを特徴とする等エラーレート記録装置。
6. 【請求項６】 前記一定比率が、Ｋ／パルス幅であり、
   この値Ｋが、２．０近傍であることを特徴とする請求項
   ５記載の等エラーレート記録装置。
7. 【請求項７】 前記記録周波数設定手段が各ゾーンごと
   に、該検出されたパルス幅に対して一定の比率によって
   記録周波数を定めたのちに、該記録周波数を微調しなが
   らデータの書込みと読出しを行って、該読み出されたデ
   ータについて測定されたエラーレートが最低になるよう
   に記録周波数を設定することを特徴とする請求項５又は
   ６記載の等エラーレート記録装置。
8. 【請求項８】 読出しチャネルに設けられるフィルタの
   定数が、前記パルス幅検出手段によって検出されたパル
   ス幅に対して一定の比率を保つように設定されることを
   特徴とする請求項５，６又は７記載の等エラーレート記
   録装置。