Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP2649822B2 - Processing equipment - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP2649822B2 - Processing equipment - Google Patents

Processing equipment

Info

Publication number
JP2649822B2
JP2649822B2 JP8029888A JP8029888A JP2649822B2 JP 2649822 B2 JP2649822 B2 JP 2649822B2 JP 8029888 A JP8029888 A JP 8029888A JP 8029888 A JP8029888 A JP 8029888A JP 2649822 B2 JP2649822 B2 JP 2649822B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
processed
function
transport
transporting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8029888A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH01253249A (en
Inventor
雅司 森山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP8029888A priority Critical patent/JP2649822B2/en
Publication of JPH01253249A publication Critical patent/JPH01253249A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2649822B2 publication Critical patent/JP2649822B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体ウエハ等の被処理体に対しレジスト
塗布処理等の処理を施す処理装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus for performing processing such as resist coating on an object to be processed such as a semiconductor wafer.

(従来の技術) 半導体製造において、半導体ウェハは複数の処理工程
を通る。その中の例えば上記半導体ウェハの表面にフォ
トレジスト膜を形成する工程用の装置例として第3図に
示すようなものがある。
2. Description of the Related Art In semiconductor manufacturing, a semiconductor wafer goes through a plurality of processing steps. FIG. 3 shows an example of an apparatus for forming a photoresist film on the surface of the semiconductor wafer.

処理前の半導体ウェハ(1)を収納したウェハカセッ
ト(2)から上記半導体ウェハ(1)を1枚ずつセンダ
ーと呼称される搬送機構S(3)により取出して、次の
処理機構であるフォトレジスト塗布機構CT(4)に搬送
する。ここでフォトレジスト塗布処理が終ると半導体ウ
ェハ(1)は、加熱することによりフォトレジスト液を
膜状に安定化する加熱機構HP(5)に搬送される。そし
て、加熱処理が終るとレシーバと呼称される搬送機構R
(6)により、半導体ウェハ(7)を1枚ずつウェハカ
セット(8)内に収納する。
The semiconductor wafers (1) are unloaded one by one from a wafer cassette (2) containing the unprocessed semiconductor wafers (1) by a transport mechanism S (3) called a sender, and the next processing mechanism, a photoresist It is transported to the coating mechanism CT (4). Here, when the photoresist coating process is completed, the semiconductor wafer (1) is conveyed to a heating mechanism HP (5) for heating to stabilize the photoresist liquid into a film. When the heating process is completed, a transport mechanism R called a receiver
According to (6), the semiconductor wafers (7) are stored one by one in the wafer cassette (8).

上記のように、搬送機構S(3)はウェハカセット
(2)からの半導体ウェハ(1)の取り出し、搬送機構
R(6)はウェハカセット(8)内への半導体ウェハ
(7)の収納機能のみを有する。
As described above, the transfer mechanism S (3) takes out the semiconductor wafer (1) from the wafer cassette (2), and the transfer mechanism R (6) functions to store the semiconductor wafer (7) in the wafer cassette (8). Having only

(発明が解決しようとする課題) しかし、近年VLSIの集積度が高まるに連れ、例えばフ
ォトレジスト処理工程もより複雑化し、処理工程数およ
び処理工程の種類も増大している。
(Problems to be Solved by the Invention) However, as the degree of integration of VLSIs has increased in recent years, for example, a photoresist processing step has become more complicated, and the number of processing steps and types of processing steps have also increased.

また無人化自動化の見地から複数の装置を結合するこ
とも検討されている。
It is also being considered to combine a plurality of devices from the viewpoint of unmanned automation.

これに対応するために装置の構成として、例えば、全
体のスループットを最適に調整設定可能であるとか、部
分的に使用可能、他の装置との接続切離しが自由である
等の実状に適合し得る構成を考慮する必要がある。
To cope with this, the configuration of the apparatus can be adapted to the actual situation such as, for example, the overall throughput can be optimally adjusted and set, or the apparatus can be partially used, and the connection and disconnection with other apparatuses are free. Configuration needs to be considered.

したがって、半導体ウェハの搬送機構として、単に半
導体ウェハの取出し、収納といった単一機能しか有しな
い専用機構では、上記点に対応できない。
Therefore, a dedicated mechanism having only a single function of simply taking out and storing a semiconductor wafer as a semiconductor wafer transfer mechanism cannot cope with the above point.

例えば、ある処理機構とある処理機構の接続箇所に配
置する搬送機構は、上記説明したセンダー、レシーバー
では対応できない。
For example, a transport mechanism disposed at a connection point between a certain processing mechanism and a certain processing mechanism cannot be handled by the above-described sender and receiver.

本発明は上述の従来事情に対処してなされたもので、
各種プロセス、レイアウトに対応可能な半導体製造装置
を提供しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above conventional circumstances,
An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of coping with various processes and layouts.

(課題を解決するための手段) 本発明は、被処理体に対して所定の処理を施す処理機
構と、被処理体を前記処理機構に搬送する搬送機構とを
備えた処理装置であって、 前記搬送機構は、前記処理機構に被処理体を搬送する
前に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処
理体を一時的に保持するバッファー機能と、その処理機
構で処理されている被処理体がオーバー処理されないよ
うに処理中の被処理体を該処理機構から取り出して一時
的に保持するオーバー処理防止機能と、前記処理機構で
処理が終了した被処理体を目視可能な位置まで移動する
ピックアップ機能とを有することを特徴とする処理装置
を提供する。
(Means for Solving the Problems) The present invention is a processing apparatus comprising: a processing mechanism for performing a predetermined process on a processing target; and a transport mechanism for transporting the processing target to the processing mechanism. The transport mechanism has a buffer function for temporarily holding an object to be processed when the processing of the processing mechanism is not completed before the object to be processed is transported to the processing mechanism; An over-processing prevention function for taking out an object being processed from the processing mechanism so that the object to be processed is not over-processed and temporarily holding the object, and a position at which the object processed by the processing mechanism can be viewed. And a pick-up function for moving the pick-up device to the processing device.

また、本発明は、被処理体に対して所定の処理を施す
処理機構と、被処理体を前記処理機構に搬送する搬送機
構と、前記搬送機構を制御する制御機構とを備えた処理
装置であって、 前記搬送機構は、前記処理機構に被処理体を搬送する
前に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処
理体を一時的に保持するバッファー機能と、その処理機
構で処理されている被処理体がオーバー処理されないよ
うに処理中の被処理体を該処理機構から取り出して一時
的に保持するオーバー処理防止機能と、前記処理機構で
処理が終了した被処理体を目視可能な位置まで移動する
ピックアップ機能とを有し、前記制御機構は前記機能の
いずれかを選択し、その選択された機能を実行すべく前
記搬送機構を制御することを特徴とする処理装置を提供
する。
Further, the present invention is a processing apparatus including a processing mechanism for performing a predetermined process on a processing target, a transport mechanism for transporting the processing target to the processing mechanism, and a control mechanism for controlling the transport mechanism. The transport mechanism has a buffer function for temporarily holding the workpiece when the processing of the processing mechanism is not completed before transporting the workpiece to the processing mechanism; and An over-processing prevention function for taking out an object being processed from the processing mechanism so as to prevent the object being processed from being over-processed and temporarily holding the processed object, and visually observing the object processed by the processing mechanism. A pick-up function for moving to a possible position, wherein the control mechanism selects one of the functions and controls the transport mechanism to execute the selected function. I do.

さらに、本発明は、被処理体に対して所定の処理を施
す少なくとも2つの処理機構と、これらの処理機構の間
で被処理体を搬送する搬送機構と、被処理体を収納する
収納部とを備えた処理装置であって、 前記搬送機構は、一方の処理機構から受け取った被処
理体を前記収納部に搬入する搬入機能と、前記収納部か
ら被処理体を1枚ずつ取り出して他方の処理機構に搬送
する搬送機能と、他方の処理機構に被処理体を搬送する
前に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処
理体を一時的に保持するバッファー機能と、いずれかの
処理機構で処理されている被処理体がオーバー処理され
ないように処理中の被処理体を該処理機構から取り出し
て一時的に保持するオーバー処理防止機能と、一方の処
理機構から受け取った被処理体を前記収納部に収納する
ことなく他方の処理機構に搬送するパススルー機能と、
いずれかの処理機構で処理が終了した被処理体を目視可
能な位置まで移動するピックアップ機能とを有すること
を特徴とする処理装置を提供する。
Further, the present invention provides at least two processing mechanisms for performing a predetermined process on a processing target, a transport mechanism for transporting the processing target between these processing mechanisms, and a storage unit for storing the processing target. Wherein the transport mechanism has a loading function of loading the workpiece received from one of the processing mechanisms into the storage unit, and takes out the workpieces one by one from the storage unit and removes the other one from the storage unit. One of a transport function for transporting the processing object and a buffer function for temporarily holding the processing object when the processing of the processing mechanism is not completed before the processing object is transported to the other processing mechanism. An over-processing prevention function for taking out an object being processed from the processing mechanism so as to prevent the object being processed by the processing mechanism from being over-processed, and temporarily holding the processing object received from one of the processing mechanisms; Body A pass-through function for transporting to the other processing mechanism without storing it in the storage section,
There is provided a processing apparatus having a pickup function of moving an object to be processed, which has been processed by any one of the processing mechanisms, to a position where the object can be viewed.

さらにまた、本発明は、被処理体に対して所定の処理
を施す少なくとも2つの処理機構と、これらの処理機構
の間で被処理体を搬送する搬送機構と、被処理体を収納
する収納部と、前記搬送機構を制御する制御機構を備え
た処理装置であって、 前記搬送機構は、一方の処理機構から受け取った被処
理体を前記収納部に搬入する搬入機能と、前記収納部か
ら被処理体を1枚ずつ取り出して他方の処理機構に搬送
する搬送機能と、他方の処理機構に被処理体を搬送する
前に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処
理体を一時的に保持するバッファー機能と、いずれかの
処理機構で処理されている被処理体がオーバー処理され
ないように処理中の被処理体を該処理機構から取り出し
て一時的に保持するオーバー処理防止機能と、一方の処
理機構から受け取った被処理体を前記収納部に収納する
ことなく他方の処理機構に搬送するパススルー機能と、
いずれかの処理機構で処理が終了した被処理体を目視可
能な位置まで移動するピックアップ機能とを有し、前記
制御機構は前記機能のいずれかを選択し、その選択され
た機能を実行すべく前記搬送機構を制御することを特徴
とする処理装置を提供する。
Still further, the present invention provides at least two processing mechanisms for performing predetermined processing on a processing target, a transport mechanism for transferring the processing target between the processing mechanisms, and a storage unit for storing the processing target. A processing mechanism provided with a control mechanism for controlling the transport mechanism, wherein the transport mechanism has a loading function for loading the workpiece received from one of the processing mechanisms into the storage section, and a transport function for transporting the workpiece from the storage section. A transport function for taking out the processing objects one by one and transporting the processing objects to the other processing mechanism, and temporarily transporting the processing objects before transporting the processing object to the other processing mechanism when the processing of the processing mechanism is not completed. A buffer function for temporarily holding the object to be processed, and an over-processing prevention function for temporarily holding the object to be processed from the processing mechanism so that the object being processed by any of the processing mechanisms is not over-processed. , One side A pass-through function of transporting the object to be processed received from the processing mechanism to the other processing mechanism without being stored in the storage unit,
A pick-up function for moving the object to be processed, which has been processed by any of the processing mechanisms, to a position at which the processing object can be viewed, the control mechanism selects one of the functions, and executes the selected function. There is provided a processing apparatus characterized by controlling the transport mechanism.

上記各発明において、前記少なくとも1つの処理機構
は、被処理体の表面にレジスト膜を形成するレジスト塗
布機構を含むものが例示される。
In each of the above inventions, the at least one processing mechanism includes a resist coating mechanism for forming a resist film on the surface of the object to be processed.

また、上記各発明において、前記処理機構が被処理体
に対して熱的処理を施す場合に前記搬送機構が前記オー
バー処理防止機能を実行することが好ましい。
In each of the above inventions, it is preferable that the transport mechanism executes the over-processing prevention function when the processing mechanism performs a thermal process on the object to be processed.

(作 用) 本発明の一つの態様においては、被処理体に対して所
定の処理を施す処理機構と、被処理体を前記処理機構に
搬送する搬送機構とを備えた処理装置を前提とし、搬送
機構が、前記処理機構に被処理体を搬送する前に、その
処理機構の処理が終了していないとき、被処理体を一時
的に保持するバッファー機能と、その処理機構で処理さ
れている被処理体がオーバー処理されないように処理中
の被処理体を該処理機構から取り出して一時的に保持す
るオーバー処理防止機能と、前記処理機構で処理が終了
した被処理体を目視可能な位置まで移動するピックアッ
プ機能とを有しており、また、他の態様においては、被
処理体に対して所定の処理を施す少なくとも2つの処理
機構と、これらの処理機構の間で被処理体を搬送する搬
送機構と、被処理体を収納する収納部とを備えた処理装
置を前提とし、搬送機構が、一方の処理機構から受け取
った被処理体を前記収納部に搬入する搬入機能と、前記
収納部から被処理体を1枚ずつ取り出して他方の処理機
構に搬送する搬送機能と、他方の処理機構に被処理体を
搬送する前に、その処理機構の処理が終了していないと
き、被処理体を一時的に保持するバッファー機能と、い
ずれかの処理機構で処理されている被処理体がオーバー
処理されないように処理中の被処理体を該処理機構から
取り出して一時的に保持するオーバー処理防止機能と、
一方の処理機構から受け取った被処理体を前記収納部に
収納することなく他方の処理機構に搬送するパススルー
機能と、いずれかの処理機構で処理が終了した被処理体
を目視可能な位置まで移動するピックアップ機能とを有
しているので、被処理体の搬送に際して極めて多様な搬
送を実現することができ、所望する搬送動作に容易に対
応することができる。
(Operation) In one aspect of the present invention, a processing apparatus provided with a processing mechanism for performing a predetermined process on a processing target and a transport mechanism for transporting the processing target to the processing mechanism is premised. Before the transport mechanism transports the object to the processing mechanism, when the processing of the processing mechanism is not completed, a buffer function for temporarily holding the object to be processed, and the processing mechanism is processed by the processing mechanism An over-processing prevention function that takes out the object being processed from the processing mechanism so that the object is not over-processed and temporarily holds the object, and a position where the object processed by the processing mechanism can be viewed. In another aspect, the apparatus has at least two processing mechanisms for performing a predetermined process on the object to be processed, and transports the object between the processing mechanisms. Transport mechanism Assuming that the processing apparatus includes a storage unit that stores the object to be processed, a transport mechanism is configured to carry in the object to be processed received from one of the processing mechanisms into the storage unit, and to perform processing on the object to be processed from the storage unit. And a transport function for taking out one by one and transporting the workpiece to the other processing mechanism, and temporarily transporting the workpiece before transporting the workpiece to the other processing mechanism when the processing of the processing mechanism is not completed. A buffer function to hold, and an over-processing prevention function of temporarily taking out an object being processed from the processing mechanism so that the object being processed by any of the processing mechanisms is not over-processed, and
A pass-through function that transports an object to be processed received from one processing mechanism to the other processing mechanism without being stored in the storage unit, and moves the processed object that has been processed by one of the processing mechanisms to a visible position Therefore, it is possible to realize extremely various types of conveyance when conveying the object to be processed, and to easily cope with a desired conveyance operation.

(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

本体(11)には、被処理体例えば半導体ウェハ(12)
を収納したウェハカセット(13)から上記半導体ウェハ
(12)を1枚ずつ取出す搬送機構IA(14)IB(15)と、
半導体ウェハ(12)に第1のフォトレジストを塗布する
第1の塗布機構CT(16)と、上記塗布された第1のフォ
トレジスト中に残留する溶剤を加熱蒸発させる第1の加
熱機構HP(17)と、この第1の加熱機構HP(17)によっ
て加熱処理された半導体ウェハ(12)を次工程の処理機
構に搬送する搬送機構IC(18)と、半導体ウェハ(12)
に第2のフォトレジストを塗布する第2の塗布機構CT
(19)と、上記塗布された第2のフォトレジスト中に残
留する溶剤を加熱蒸発させる第2の加熱機構HP(20)
と、この第2の加熱機構HP(20)によって加熱処理され
た半導体ウェハ(12)を他の装置例えば破線で示すよう
に露光装置(21)に移送するため一時保存するインター
フェース機構I/F(22)に送り渡す搬送機構ID(23)が
直列状に配置され、上記の順に所定の手順に従って半導
体ウェハ(12)を処理搬送する如く一筐体上に構成され
ている。
The body (11) includes an object to be processed, for example, a semiconductor wafer (12)
A conveying mechanism taken out from the accommodating the wafer cassette (13) one by one to the semiconductor wafer (12) I A (14) I B ( 15),
A first coating mechanism CT (16) for applying a first photoresist to the semiconductor wafer (12), and a first heating mechanism HP (for heating and evaporating the solvent remaining in the applied first photoresist). 17), a transport mechanism I C (18) for transporting the semiconductor wafer (12) heated by the first heating mechanism HP (17) to a processing mechanism in the next step, and a semiconductor wafer (12).
Coating mechanism CT for applying a second photoresist to the surface
(19) and a second heating mechanism HP (20) for heating and evaporating the solvent remaining in the applied second photoresist.
And an interface mechanism I / F (temporary storage) for transferring the semiconductor wafer (12) heated by the second heating mechanism HP (20) to another apparatus such as an exposure apparatus (21) as indicated by a broken line. A transfer mechanism ID (23) for transferring the semiconductor wafer (12) to 22) is arranged in series, and is configured on one housing so as to process and transfer the semiconductor wafer (12) according to a predetermined procedure in the above order.

また、露光装置(21)で露光処理された半導体ウェハ
(12)を露光装置(21)外に搬出するインターフェース
機構I/F(22)の本体(11)側の所定位置には、上記半
導体ウェハ(12)を1枚ずつ受取ってウェハカセット
(13)内に収納する搬送機構IE(24)IF(25)が配置さ
れている。
The semiconductor wafer (12) exposed by the exposure apparatus (21) is carried out of the exposure apparatus (21). The semiconductor wafer (12) is located at a predetermined position on the main body (11) side of the interface mechanism I / F (22). A transport mechanism IE (24) IF (25) for receiving (12) one by one and storing it in the wafer cassette (13) is provided.

なお、各搬送機構IA(14)IB(15)IC(18)ID(23)
IE(24)IF(25)にはそれぞれ上記各搬送機構を制御す
るコントローラA(26)B(27)C(28)D(29)E
(30)F(31)が接続されている。そして、この各コン
トローラで上記各搬送機構を所定の手順にて制御すると
共に、上記各コントローラはメインコントローラM(3
2)により全体的に制御されるように構成されている。
Each transfer mechanism I A (14) I B ( 15) I C (18) I D (23)
Controllers A (26) B (27) C (28) D (29) E for controlling the above-mentioned respective transport mechanisms are respectively provided at I E (24) I F (25).
(30) F (31) is connected. Each of the controllers controls each of the transport mechanisms in a predetermined procedure, and each of the controllers controls the main controller M (3).
It is configured to be controlled entirely by 2).

ここで搬送機構について説明する。第2図に示すよう
に、基台(32)には、例えば棒状の支持材A(33)が立
設されており、この支持材A(33)の上端部にはゴムベ
ルトA(34)等を使用して半導体ウェハ(12)を載置搬
送する搬送部A(35)が設けられている。また、基台
(32)には、上記各部と対称するごとく、棒状の支持材
B(36)が立設されており、この支持材B(36)の上端
部にはゴムベルトB(37)等を使用して半導体ウェハ
(12)を載置搬送する搬送部B(38)が設けられてい
る。上記搬送部A(35)B(38)は例えばモータ等の回
転発生手段により上記ゴムベルトA(34)B(37)が駆
動される。
Here, the transport mechanism will be described. As shown in FIG. 2, for example, a bar-shaped support member A (33) is erected on the base (32), and a rubber belt A (34) or the like is provided on the upper end of the support member A (33). A transport unit A (35) for placing and transporting the semiconductor wafer (12) by using is provided. Further, a rod-shaped support member B (36) is erected on the base (32) so as to be symmetrical with the above-described parts, and a rubber belt B (37) or the like is provided on the upper end of the support member B (36). A transport section B (38) for placing and transporting the semiconductor wafer (12) by using is provided. In the transport units A (35) B (38), the rubber belts A (34) B (37) are driven by rotation generating means such as a motor.

一方、上記搬送部A(35)B(38)の中間位置には、
ウェハカセット(13)を載置し昇降装置(39)により所
定の距離だけ昇降自在に構成されたテーブル(40)が片
側から支持された状態で設けられている。このテーブル
(40)は、概略H字の形状に形成されており、また、こ
のテーブル(40)を中央部とウェハカセット(13)のセ
ーターリブ(41)とが、搬送部A(35)B(38)の中間
に設けられた空間を通過可能に構成されている。さら
に、上記搬送機構には、動作制御用のコントローラ(4
2)が接続されている。
On the other hand, at an intermediate position between the transport units A (35) and B (38),
A table (40) on which a wafer cassette (13) is placed and which can be raised and lowered by a predetermined distance by a lifting and lowering device (39) is provided in a state supported from one side. The table (40) is formed in a substantially H-shape, and the center of the table (40) and the sweater rib (41) of the wafer cassette (13) are transported by the transfer section A (35) B It is configured to be able to pass through the space provided in the middle of (38). Further, a controller (4
2) is connected.

そして、このコントローラ(42)に設けられた各種機
能選択用スイッチ(図示せず)、キー(図示せず)や、
メインコントローラM(32)の指示により、上記各搬送
機構IA(14)〜IF(25)に、上記ウェハカセット(13)
の昇降動作を初め、例えばウェハカセット(13)から半
導体ウェハ(12)を1枚ずつ取り出して次の処理機構に
送り込むセンダー機能、次の処理機構に半導体ウェハ
(12)を搬送する際直ぐには搬送できないとき一時的
に、上記半導体ウェハ(12)を保存するバッファー機
能、ある処理機構によるオーバー処理を防止するため処
理済みの半導体ウェハ(12)を一時的に保存するオーバ
ー処理防止機能、次の処理機構に直ちに半導体ウェハ
(12)を搬送通過させるパススルー機能、ある処理機構
による処理済みの半導体ウェハ(12)を例えば目視可能
なように所定の位置に移動するピックアップ機能、半導
体ウェハ(12)をウェハカセット(13)に搬入して収納
するレシーバ機能を選択して動作させることが可能に構
成されている。
A switch (not shown), a key (not shown) for selecting various functions provided on the controller (42),
The instruction of the main controller M (32), to each of the above transfer mechanism I A (14) ~I F ( 25), said wafer cassette (13)
, For example, a sender function of taking out semiconductor wafers (12) one by one from a wafer cassette (13) and sending them to the next processing mechanism, and transporting the semiconductor wafers (12) immediately to the next processing mechanism. A buffer function for temporarily storing the semiconductor wafer (12) when not possible, an overprocessing prevention function for temporarily storing the processed semiconductor wafer (12) to prevent overprocessing by a certain processing mechanism, and the next processing A pass-through function for immediately transporting and passing the semiconductor wafer (12) to the mechanism, a pickup function for moving the semiconductor wafer (12) processed by a processing mechanism to a predetermined position, for example, so as to be visible, and a semiconductor wafer (12) A receiver function to be carried into and stored in the cassette (13) can be selected and operated.

上記各機能に対応する具体的動作は例えば次のように
設定する。先ず、センダー機能のときには、ウェハカセ
ット(13)を所定の距離だけ下降させて半導体ウェハ
(12)を搬送部A(35)B(38)に載置し、ゴムベルト
A(34)B(37)を移動させることにより、ウェハカセ
ット(13)から半導体ウェハ(12)を1枚ずつ取出す。
The specific operation corresponding to each of the above functions is set, for example, as follows. First, at the time of the sender function, the wafer cassette (13) is lowered by a predetermined distance, and the semiconductor wafer (12) is placed on the transport section A (35) B (38), and the rubber belt A (34) B (37) Is moved to take out the semiconductor wafers (12) one by one from the wafer cassette (13).

次に、パススルー機能のときには、テーブル(40)を
上昇させてこのテーブルの下方を半導体ウェハ(12)を
通過させるか、ウェハカセット(13)の上面が搬送部A
(35)B(38)の搬送レベル位置より下るようにウェハ
カセット(13)を下降させるか、もしくはウェハカセッ
ト(13)内を半導体ウェハ(12)が支障なく搬送されて
通過可能な位置にウェハカセット(13)を位置決めす
る。
Next, in the case of the pass-through function, the table (40) is raised to pass the semiconductor wafer (12) below the table, or the upper surface of the wafer cassette (13)
(35) Lower the wafer cassette (13) below the transfer level position of B (38), or move the wafer to a position where the semiconductor wafer (12) can be transferred and passed through the wafer cassette (13) without any trouble. Position the cassette (13).

バッファー機能の場合には、ウェハカセット(13)内
に半導体ウェハ(12)が搬送されたとき、ウェハカセッ
ト(13)を上昇させて一時的に収納保存し必要に応じて
ウェハカセット(13)を下降させてセンダーの如く取出
す。
In the case of the buffer function, when the semiconductor wafer (12) is transferred into the wafer cassette (13), the wafer cassette (13) is raised and temporarily stored and stored, and the wafer cassette (13) is stored as needed. Lower and take out like a sender.

オーバーベーク防止機能のときには、例えば耐熱性の
ウェハカセット(13)を使用して一時的に収納保存し、
所定時間経過後送り出す。
When the overbake prevention function is used, for example, a heat-resistant wafer cassette (13) is used to temporarily store and store,
Send out after the elapse of a predetermined time.

ピックアップ機能のときには、例えばウェハカセット
(13)内に半導体ウェハ(12)が来たときにウェハカセ
ット(13)を所定の距離だけ上昇させ、半導体ウェハ
(12)をウェハカセット(13)から抜き取り可能にす
る。
In the case of the pickup function, for example, when the semiconductor wafer (12) comes into the wafer cassette (13), the wafer cassette (13) is raised by a predetermined distance, and the semiconductor wafer (12) can be extracted from the wafer cassette (13). To

また、レシーバー機能のときには、予めウェハカセッ
ト(13)を下降状態にしておき、半導体ウェハ(12)が
ウェハカセット(13)内に搬送されてきたら所定の距離
だけ上昇させて、1枚ずつ半導体ウェハ(12)を収納す
る。
In the case of the receiver function, the wafer cassette (13) is lowered in advance, and when the semiconductor wafer (12) is conveyed into the wafer cassette (13), the wafer cassette (13) is raised by a predetermined distance, and the semiconductor wafers (13) are moved one by one. (12) is stored.

次に、動作について説明する。 Next, the operation will be described.

第1図において、全ての機構を使用する工程の場合に
は、各搬送機構の各機能を例えば次のように選択プログ
ラムして動作させる。
In FIG. 1, in the case of a process using all the mechanisms, each function of each transport mechanism is selected and operated, for example, as follows.

搬送機構IA(14)IB(15)をセンダー機能、IC(18)
ID(23)をバッファー機能、IE(24)IF(25)をレシー
バー機能に選択することにより、搬送機構IA(14)I
B(15)から半導体ウェハ(12)を1枚ずつ取り出して
フォトレジストの塗布、加熱処理を行い、搬送機構I
C(18)で半導体ウェハ(12)をプロセスに対応して一
時的に収納保存後、送り出す。そして第2のフォトレジ
ストの塗布、加熱処理を行った後、搬送機構ID(23)に
一時的に収納保存して露光装置(21)のインターフェー
ス機構I/F(22)との動作調整を行いつつ半導体ウェハ
(12)を露光装置(21)側に送り出す。そして、露光処
理が終了するとインターフェース機構I/F(22)から半
導体ウェハ(12)を搬送機構IE(24)IF(25)で受取
り、ウェハカセット(13)内に収納する。
Transfer mechanism I A (14) I B (15) with sender function, I C (18)
By selecting I D (23) for the buffer function and I E (24) I F (25) for the receiver function, the transport mechanism I A (14) I
B Take out the semiconductor wafers (12) one by one from (15), apply photoresist, heat treatment, and transport mechanism I
At C (18), the semiconductor wafer (12) is temporarily stored and stored according to the process, and then sent out. Then, after applying and heating the second photoresist, it is temporarily stored and stored in the transport mechanism ID (23) to adjust the operation with the interface mechanism I / F (22) of the exposure apparatus (21). The semiconductor wafer (12) is sent out to the exposure apparatus (21) while performing. Then, received in the exposure process is completed interface mechanism I / F (22) carrying the semiconductor wafer (12) from the mechanism I E (24) I F ( 25), housed in the wafer cassette (13).

次に、例えば第1の塗布機構CT(16)と第1の加熱機
構HP(17)のみを使用するプロセスの場合には、搬送機
構IA(14)IB(15)をセンダー機能、搬送機構IC(18)
をレシーバー機能に選択する。
Then, for example, a first coating mechanism CT and (16) in the case of a process using only the first heating mechanism HP (17) is, sender function conveyance mechanism I A (14) I B ( 15), transport Organization I C (18)
Select for the receiver function.

また、例えば、第2の塗布機構CT(19)と第2の加熱
機構HP(20)のみを使用するプロセスの場合には、搬送
機構IC(18)をセンダー機能、搬送機構ID(23)をレシ
ーバー機能に選択する。
Further, for example, in the case of a process using only the second coating mechanism CT (19) and the second heating mechanism HP (20), the transport mechanism I C (18) has a sender function and the transport mechanism I D (23 ) For the receiver function.

なお、上記各搬送機構に対する機能の選択は、各コン
トローラ毎に操作設定してもよく、またメインコントロ
ーラM(32)にて一括選択するように構成してもよい。
The selection of the function for each of the transport mechanisms may be operably set for each controller, or may be configured to be collectively selected by the main controller M (32).

また、上記実施例では、半導体ウエハの塗布処理につ
いて説明したが、これに限らず他の処理であってもよ
い。被処理体として半導体ウエアを用いた場合について
説明したが、これに限らず他の被処理体であってもよい
ことはいうまでもない。
Further, in the above-described embodiment, the coating process of the semiconductor wafer has been described. Although the case where semiconductor wear is used as the object to be processed has been described, it is needless to say that the present invention is not limited to this, and other objects to be processed may be used.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

上述のように本発明によれば、被処理体の搬送に際し
て極めて多様な搬送を実現することができ、所望する搬
送動作に容易に対応することができる。したがって、各
種の製造プロセスに対応することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to realize extremely various types of conveyance when conveying an object to be processed, and to easily cope with a desired conveyance operation. Therefore, it is possible to cope with various manufacturing processes.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明の一実施例を説明するための構成図、
第2図は第1図の主要部の説明図、第3図は従来例の図
である。 12……半導体ウェハ、13……ウェハカセット、 14,15,18,23,24,25……搬送機構、 26,27,28,29,30,31……コントローラ、 32……メインコントローラ。
FIG. 1 is a configuration diagram for explaining an embodiment of the present invention,
FIG. 2 is an explanatory diagram of a main part of FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram of a conventional example. 12… Semiconductor wafer, 13… Wafer cassette, 14,15,18,23,24,25 …… Transport mechanism, 26,27,28,29,30,31 …… Controller, 32 …… Main controller.

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被処理体に対して所定の処理を施す処理機
構と、被処理体を前記処理機構に搬送する搬送機構とを
備えた処理装置であって、 前記搬送機構は、前記処理機構に被処理体を搬送する前
に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処理
体を一時的に保持するバッファー機能と、その処理機構
で処理されている被処理体がオーバー処理されないよう
に処理中の被処理体を該処理機構から取り出して一時的
に保持するオーバー処理防止機能と、前記処理機構で処
理が終了した被処理体を目視可能な位置まで移動するピ
ックアップ機能とを有することを特徴とする処理装置。
1. A processing apparatus comprising: a processing mechanism for performing a predetermined process on an object to be processed; and a transport mechanism for transporting the object to be processed to the processing mechanism, wherein the transport mechanism includes the processing mechanism. If the processing mechanism is not finished before transporting the object to be processed, the buffer function for temporarily holding the object to be processed and the object being processed by the processing mechanism are not over-processed As described above, the apparatus has an over-processing prevention function of taking out an object to be processed from the processing mechanism and temporarily holding the same, and a pickup function of moving the object to be processed to a position at which the processing is completed by the processing mechanism. A processing device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】被処理体に対して所定の処理を施す処理機
構と、被処理体を前記処理機構に搬送する搬送機構と、
前記搬送機構を制御する制御機構とを備えた処理装置で
あって、 前記搬送機構は、前記処理機構に被処理体を搬送する前
に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処理
体を一時的に保持するバッファー機能と、その処理機構
で処理されている被処理体がオーバー処理されないよう
に処理中の被処理体を該処理機構から取り出して一時的
に保持するオーバー処理防止機能と、前記処理機構で処
理が終了した被処理体を目視可能な位置まで移動するピ
ックアップ機能とを有し、前記制御機構は前記機能のい
ずれかを選択し、その選択された機能を実行すべく前記
搬送機構を制御することを特徴とする処理装置。
2. A processing mechanism for performing a predetermined process on an object to be processed, a transport mechanism for transporting the object to be processed to the processing mechanism,
A control mechanism for controlling the transport mechanism, wherein the transport mechanism, before transporting the processing target to the processing mechanism, when the processing of the processing mechanism is not finished, the processing target A buffer function for temporarily holding the object, and an over-processing prevention function for taking out the object being processed from the processing mechanism and temporarily holding the object being processed so that the object being processed by the processing mechanism is not over-processed And a pick-up function for moving the object to be processed, which has been processed by the processing mechanism, to a position where the object can be viewed, wherein the control mechanism selects one of the functions and executes the selected function. A processing apparatus for controlling the transport mechanism.
【請求項3】被処理体に対して所定の処理を施す少なく
とも2つの処理機構と、これらの処理機構の間で被処理
体を搬送する搬送機構と、被処理体を収納する収納部と
を備えた処理装置であって、 前記搬送機構は、一方の処理機構から受け取った被処理
体を前記収納部に搬入する搬入機能と、前記収納部から
被処理体を1枚ずつ取り出して他方の処理機構に搬送す
る搬送機能と、他方の処理機構に被処理体を搬送する前
に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処理
体を一時的に保持するバッファー機能と、いずれかの処
理機構で処理されている被処理体がオーバー処理されな
いように処理中の被処理体を該処理機構から取り出して
一時的に保持するオーバー処理防止機能と、一方の処理
機構から受け取った被処理体を前記収納部に収納するこ
となく他方の処理機構に搬送するパススルー機能と、い
ずれかの処理機構で処理が終了した被処理体を目視可能
な位置まで移動するピックアップ機能とを有することを
特徴とする処理装置。
3. A processing apparatus comprising: at least two processing mechanisms for performing predetermined processing on a processing target; a transport mechanism for transferring the processing target between the processing mechanisms; and a storage unit for storing the processing target. A processing device comprising: a transport function that transports an object to be processed received from one of the processing mechanisms into the storage unit; and a processing unit that takes out the objects to be processed from the storage unit one by one and performs the other processing. A transport function for transporting the object to the mechanism, a buffer function for temporarily holding the object to be processed when the processing of the processing mechanism is not completed before transporting the object to the other processing mechanism; An over-processing prevention function for taking out an object being processed from the processing mechanism so as to prevent the object being processed by the processing mechanism from being over-processed, and temporarily holding the object to be processed; and an object received from one of the processing mechanisms Into the storage section A processing apparatus having a pass-through function of transporting a processed object to another processing mechanism without being stored, and a pickup function of moving an object to be processed, which has been processed by one of the processing mechanisms, to a visible position.
【請求項4】被処理体に対して所定の処理を施す少なく
とも2つの処理機構と、これらの処理機構の間で被処理
体を搬送する搬送機構と、被処理体を収納する収納部
と、前記搬送機構を制御する制御機構を備えた処理装置
であって、 前記搬送機構は、一方の処理機構から受け取った被処理
体を前記収納部に搬入する搬入機能と、前記収納部から
被処理体を1枚ずつ取り出して他方の処理機構に搬送す
る搬送機能と、他方の処理機構に被処理体を搬送する前
に、その処理機構の処理が終了していないとき、被処理
体を一時的に保持するバッファー機能と、いずれかの処
理機構で処理されている被処理体がオーバー処理されな
いように処理中の被処理体を該処理機構から取り出して
一時的に保持するオーバー処理防止機能と、一方の処理
機構から受け取った被処理体を前記収納部に収納するこ
となく他方の処理機構に搬送するパススルー機能と、い
ずれかの処理機構で処理が終了した被処理体を目視可能
な位置まで移動するピックアップ機能とを有し、前記制
御機構は前記機能のいずれかを選択し、その選択された
機能を実行すべく前記搬送機構を制御することを特徴と
する処理装置。
An at least two processing mechanism for performing predetermined processing on the object, a transport mechanism for transporting the object between the processing mechanisms, a storage unit for storing the object, A processing apparatus having a control mechanism for controlling the transport mechanism, wherein the transport mechanism has a loading function of loading an object to be processed received from one of the processing mechanisms into the storage unit, and a processing object from the storage unit. And a transport function for taking out one by one and transporting the workpiece to the other processing mechanism, and temporarily transporting the workpiece before transporting the workpiece to the other processing mechanism when the processing of the processing mechanism is not completed. A buffer function for holding, and an over-processing prevention function for taking out the object being processed from the processing mechanism so as to prevent the object being processed by any of the processing mechanisms from being over-processed, and temporarily holding the same. From the processing mechanism of A pass-through function of transporting the received workpiece to the other processing mechanism without being stored in the storage unit, and a pickup function of moving the workpiece that has been processed by one of the processing mechanisms to a visible position. The processing apparatus, wherein the control mechanism selects one of the functions and controls the transport mechanism to execute the selected function.
【請求項5】前記少なくとも1つの処理機構は、被処理
体の表面にレジスト膜を形成するレジスト塗布機構を含
むことを特徴とする請求項1ないし請求項4に記載の処
理装置。
5. The processing apparatus according to claim 1, wherein said at least one processing mechanism includes a resist coating mechanism for forming a resist film on a surface of the object to be processed.
【請求項6】前記搬送機構は、前記処理機構が被処理体
に対して熱的処理を施す場合に前記オーバー処理防止機
能を実行することを特徴とする請求項1ないし請求項5
のいずれか1項に記載の処理装置。
6. The apparatus according to claim 1, wherein the transport mechanism executes the over-processing prevention function when the processing mechanism performs thermal processing on the object to be processed.
The processing device according to any one of the above.
JP8029888A 1988-03-31 1988-03-31 Processing equipment Expired - Lifetime JP2649822B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8029888A JP2649822B2 (en) 1988-03-31 1988-03-31 Processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8029888A JP2649822B2 (en) 1988-03-31 1988-03-31 Processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01253249A JPH01253249A (en) 1989-10-09
JP2649822B2 true JP2649822B2 (en) 1997-09-03

Family

ID=13714366

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8029888A Expired - Lifetime JP2649822B2 (en) 1988-03-31 1988-03-31 Processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2649822B2 (en)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730319A (en) * 1980-07-31 1982-02-18 Fujitsu Ltd Automatic manufacturing equipment of integrated circuit device
JPS6296850U (en) * 1985-12-09 1987-06-20

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01253249A (en) 1989-10-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5202716A (en) Resist process system
US5177514A (en) Apparatus for coating a photo-resist film and/or developing it after being exposed
JP3779393B2 (en) Processing system
JPH07297258A (en) Plate-shaped carrier
JPH1092733A (en) Processing system
WO2007145314A1 (en) Substrate processing system and substrate transfer method
JPH02151049A (en) Substrate transfer device
JP2649822B2 (en) Processing equipment
JP5237082B2 (en) Substrate processing equipment
JP4541966B2 (en) Coating processing method, coating processing apparatus, and computer program
JP2859849B2 (en) Processing device and processing method
JP2929260B2 (en) Method and apparatus for forming coating film
JPH02132840A (en) Manufacturing device
JPH02164017A (en) Semiconductor manufacturing apparatus
JP3504822B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing exposure apparatus
JP2004119462A (en) Substrate processing system
JP2001274221A (en) Transport device and transport method for plate-like body, and processing device
JPH10183348A (en) Wafer transfer device in ion implanter
JP2960181B2 (en) Processing equipment
JPH0484410A (en) Coating and exposure equipment
JPH0817724A (en) Substrate processing equipment
JP2662982B2 (en) Heating equipment
JPH0851067A (en) Processing device and processing method
JPH02155251A (en) Manufacturing equipment for semiconductor
JPH02192752A (en) Semiconductor manufacturing equipment

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term