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JP2675671B2 - Active distance measuring method - Google Patents
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JP2675671B2 - Active distance measuring method - Google Patents

Active distance measuring method

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JP2675671B2
JP2675671B2 JP31235390A JP31235390A JP2675671B2 JP 2675671 B2 JP2675671 B2 JP 2675671B2 JP 31235390 A JP31235390 A JP 31235390A JP 31235390 A JP31235390 A JP 31235390A JP 2675671 B2 JP2675671 B2 JP 2675671B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は被写体に測距光を投光し、被写体からの反射
光を受光して測距を行うアクティブタイプの測距方法に
関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an active type distance measuring method in which distance measuring light is projected onto a subject and reflected light from the subject is received to perform distance measurement. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

最近のコンパクトカメラにはアクティブタイプの測距
装置が利用されている。アクティブタイプの測距装置
は、被写体に向けて近赤外光を投光し、被写体からの反
射光を半導体位置検出器(PSD:Position Sensitive Det
ector)等の受光素子で受光する。受光素子上での前記
反射光の入射位置は被写体距離に対応し、また受光素子
は光の入射位置に対応した電気信号を出力するから、こ
の電気信号を解析して被写体距離を求めることができ
る。
Active type distance measuring devices are used in recent compact cameras. An active type distance measuring device projects near-infrared light toward a subject and reflects light from the subject on a semiconductor position detector (PSD: Position Sensitive Det
The light is received by a light receiving element such as an ector). The incident position of the reflected light on the light receiving element corresponds to the subject distance, and the light receiving element outputs an electric signal corresponding to the light incident position. Therefore, the subject distance can be obtained by analyzing the electric signal. .

前記受光素子として前記PSDを用いた場合、その出力
信号はアナログ値となるが、以後の測距演算を高速で処
理するためにこのアナログ値はデジタル化処理され、2
進符号化による例えば8ビットの測定データに変換され
る。
When the PSD is used as the light receiving element, its output signal becomes an analog value, but this analog value is digitized in order to process the subsequent distance measurement operation at high speed.
It is converted into, for example, 8-bit measurement data by binary coding.

一方、PSDには被写体で反射された測距光以外にも周
囲光が入射しており、またPSD以降のアンプ等の回路系
からはノイズが重畳されたりして、PSDからの出力信号
には不要な信号成分が含まれていることが多い。このよ
うな不要な信号成分を除去するには、測距光の投光を行
わない状態でPSDからの信号を得てこれをデジタル化し
てオフセット値として、引続き測距光の投光とともにPS
Dから得られた測定データからオフセット値を減算し
て、これにより得られた測定データを以後の測距演算に
利用するのが有効である。
On the other hand, ambient light is incident on the PSD in addition to the distance measuring light reflected by the subject, and noise is superimposed from the circuit system such as the amplifier after PSD. It often contains unnecessary signal components. In order to remove such unnecessary signal components, the signal from the PSD is obtained in the state where the ranging light is not projected, this is digitized and used as an offset value, and the
It is effective to subtract the offset value from the measurement data obtained from D and use the measurement data thus obtained for the subsequent distance measurement calculation.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、異常光が入射した状態でオフセット値
の検出処理を行い、しかも測距光を投光して得た測定デ
ータが低レベルであった場合には、測定データからオフ
セット値の減算処理を行うと測定データの負の値になる
ことがある。一般に2進符号化データを処理する際に
は、最上位ビットを「1」にして負数を表すことが可能
であるが、測距演算に用いる測定データに関しては負の
値を考慮する必要がなく、例えば8ビットのデータでは
「0」〜「255」の測定データを表すことがよく行われ
ている。このような前提で測定データをサンプリングし
てから測距演算を行う場合、負の値の測定データが得ら
れ、これがそのまま2進符号化処理されてしまうと、以
後の測距演算で無意味な演算が行われたり、極端な場合
にはプログラムの暴走すら引き起こしかねない。
However, when the abnormal light is incident, the offset value is detected, and when the measured data obtained by projecting the distance measuring light is at a low level, the offset value is subtracted from the measured data. And the measured data may be negative. Generally, when processing binary coded data, it is possible to represent a negative number by setting the most significant bit to "1", but it is not necessary to consider a negative value for measurement data used for distance measurement calculation. For example, 8-bit data often represents measurement data of "0" to "255". When the distance measurement calculation is performed after sampling the measurement data on such a premise, if the measurement data having a negative value is obtained and is directly subjected to the binary encoding process, it is meaningless in the distance measurement calculation thereafter. Calculations may be performed, and in extreme cases even program runaway may occur.

〔発明の目的〕[Object of the invention]

本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、
オフセット補正処理によって負の測定データが算出され
ても、プログラムの暴走等、以後の測距演算に悪影響が
生じることがないようにしたアクティブ式測距方法を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances,
An object of the present invention is to provide an active distance measuring method in which even if negative measurement data is calculated by the offset correction process, a runaway program or the like does not adversely affect the subsequent distance calculation.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明は上記目的を達成するにあたり、測距光を投光
して得られた所定ビット数の2進数で表される測定値か
らオフセット値を減算処理して測定データを得る際に、
その値が負になった場合には、測定データ零にして以後
の測距演算を行うようにしたものである。
In order to achieve the above object, the present invention, when obtaining measurement data by subtracting an offset value from a measurement value represented by a binary number of a predetermined number of bits obtained by projecting distance measuring light,
When the value becomes negative, the measurement data is set to zero and the subsequent distance measurement calculation is performed.

〔作用〕[Action]

ほとんどの場合、測距光の投光時にPSDから得られた
測定値はオフセット値よりも大きく、測定データは正の
値になるが、特異な周囲環境のもとでは測定データが負
の値になってしまうこともあり得る。こうした場合で
も、測定データに零を代入することによって、以後の測
距演算には特別な処理を必要とせず、正の値の範囲を対
象とする演算により距離信号を算出することができる。
In most cases, the measured value obtained from the PSD when projecting the ranging light is larger than the offset value, and the measured data becomes a positive value, but in a unique ambient environment, the measured data becomes a negative value. It can happen. Even in such a case, by substituting zero for the measured data, the distance signal can be calculated by a calculation targeting a positive value range without requiring special processing for the subsequent distance measurement calculation.

以下、図示した実施例にしたがって本発明について説
明する。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to the illustrated embodiments.

〔実施例〕〔Example〕

本発明に用いられる測距装置の構成を概略的に示した
第1図において、投光部2は光源部3と投光レンズ4と
から構成され、投光レンズ4の光軸4aは撮影レンズ5の
光軸5aとほぼ平行となっている。光源部3は、それぞれ
近赤外光を発する3個のLED(発光ダイオード)3a,3b,3
cからなる。これらのLED3a,3b,3cは水平に配列され、中
央のLED3aは光軸4a上に、またLED3b,3cはその左右にそ
れぞれ位置しており、撮影画面内の3個所に向けて各々
ビーム状の測距光を順次に投光する。
In FIG. 1 schematically showing the configuration of a distance measuring device used in the present invention, a light projecting section 2 is composed of a light source section 3 and a light projecting lens 4, and an optical axis 4a of the light projecting lens 4 is a taking lens. It is almost parallel to the optical axis 5a of No. 5. The light source unit 3 includes three LEDs (light emitting diodes) 3a, 3b, 3 each emitting near infrared light.
Consists of c. These LEDs 3a, 3b, 3c are arranged horizontally, the center LED 3a is located on the optical axis 4a, and the LEDs 3b, 3c are located on the left and right sides, respectively, and each of the LEDs 3a, 3c has a beam shape toward three places in the shooting screen. The ranging light is sequentially emitted.

受光部7は受光レンズ8とPSD9とから構成され、受光
レンズ8の光軸8aも撮影レンズ光軸5aとほぼ平行になっ
ている。PSD9は、入射光の光量及び入射位置に応じた信
号を各々の出力端子9a,9bから出力する。第1図から明
らかなように、近距離被写体が近いほど被写体からの反
射光はPSD9の出力端子9b側に入射することになるが、出
力端子9a,9bからの出力信号の和と差の比を演算するこ
とにより、その入射位置に対応した信号を得ることがで
きる。なお、PSD9は水平方向に関しては識別作用をもっ
ておらず、垂直方向での入射高さが同じであれば、水平
方向での入射位置が異なっても出力端子9a,9bからの出
力信号の比は等価なものとなる。
The light receiving section 7 includes a light receiving lens 8 and a PSD 9, and the optical axis 8a of the light receiving lens 8 is also substantially parallel to the optical axis 5a of the photographing lens. The PSD 9 outputs a signal corresponding to the amount of incident light and the incident position from each of the output terminals 9a and 9b. As is clear from Fig. 1, the closer the subject is, the more the reflected light from the subject is incident on the output terminal 9b side of the PSD9, but the ratio of the sum and difference of the output signals from the output terminals 9a and 9b. By calculating, it is possible to obtain a signal corresponding to the incident position. Note that PSD9 does not have a discriminating action in the horizontal direction, and if the incident height in the vertical direction is the same, the ratio of the output signals from output terminals 9a, 9b is equivalent even if the incident position in the horizontal direction is different. It will be

LED3a〜3cはオートフォーカスIC12からの信号によ
り、LEDドライバ11を介して発光制御される。オートフ
ォーカスIC12は、マイクロコンピュータ14からのコマン
ドにしたがって予め決められた測距シーケンスを実行
し、LEDドライバ11を作動させる他に、PSD9の出力端子9
a,9bからのそれぞれの信号を増幅やサンプルホールド処
理してマイクロコンピュータ14に出力する。マイクロコ
ンピュータ14は、前述のようにして得られる第1,第2チ
ャンネルの出力信号をもとに演算を行い、被写体距離と
相関をもった距離信号を算出する。そして、マイクロコ
ンピュータ14によって算出された距離信号に対応して撮
影レンズ5のセット位置が決定される。
The light emission of the LEDs 3 a to 3 c is controlled via the LED driver 11 by a signal from the autofocus IC 12. The autofocus IC 12 executes a predetermined distance measurement sequence according to a command from the microcomputer 14 and activates the LED driver 11, and also outputs the output terminal 9 of the PSD 9.
The signals from a and 9b are amplified or sampled and held and output to the microcomputer 14. The microcomputer 14 calculates based on the output signals of the first and second channels obtained as described above, and calculates a distance signal having a correlation with the object distance. Then, the set position of the taking lens 5 is determined according to the distance signal calculated by the microcomputer 14.

マイクロコンピュータ14には汎用型のものが利用さ
れ、測光回路51で検出され、A/Dコンバータ52でデジタ
ル変換された測光データも入力される。マイクロコンピ
ュータ14は測光データに基づいて最適露光条件を算出
し、露出制御回路53を介してステッピングモータ54を駆
動し、プログラムシャッタ55を前記最適露光条件が満足
される絞り値,シャッタ速度でプログラムシャッタ55を
開閉させる。また、撮影後にはフイルム移送回路56によ
りフイルム送給モータ57を駆動してフイルム1コマ送り
を行わせる。なお、プログラムシャッタ55が開閉される
前には、レンズ移動回路58により前記距離信号に対応し
た回転角でステッピングモータ60が駆動され、撮影レン
ズ5は合焦位置に繰り出し制御される。
A general-purpose microcomputer is used for the microcomputer 14, and photometric data detected by the photometric circuit 51 and digitally converted by the A / D converter 52 is also input. The microcomputer 14 calculates an optimal exposure condition based on the photometric data, drives a stepping motor 54 via an exposure control circuit 53, and sets the program shutter 55 to a program shutter with an aperture value and a shutter speed satisfying the optimal exposure condition. Open and close 55. Further, after photographing, the film feeding circuit 57 drives the film feeding motor 57 to feed the film one frame. Before the program shutter 55 is opened or closed, the lens moving circuit 58 drives the stepping motor 60 at a rotation angle corresponding to the distance signal, and the photographing lens 5 is controlled to be extended to the in-focus position.

オートフォーカスIC12,マイクロコンピュータ14は概
略的に第2図に示したように構成されている。オートフ
ォーカスIC12は1チップのICからなり、ロジック回路1
5,ゲインコントローラ16の他、PSD9の出力端子9a,9bか
ら出力されてくる第1,第2チャンネルの信号電流を電圧
に変換するプリアンプ17a,17b、ゲインコントロールア
ンプ18a,18b、サンプルホールド回路20a,20b、バッファ
アンプ21a,21b等からなっている。
The autofocus IC 12 and the microcomputer 14 are configured as schematically shown in FIG. The autofocus IC 12 is composed of a one-chip IC and has a logic circuit 1
5. In addition to the gain controller 16, preamplifiers 17a and 17b for converting signal currents of the first and second channels output from the output terminals 9a and 9b of the PSD 9 into voltages, gain control amplifiers 18a and 18b, and a sample and hold circuit 20a , 20b and buffer amplifiers 21a, 21b.

ゲインコントロールアンプ18a,18bは、被写体距離が
遠距離の場合、PSD9に入射してくる反射光の光量が低下
して出力端子9a,9bからの信号電流の絶対値が小さくな
ることを考慮して設けられたもので、後述するゲインコ
ントロール処理によって適切な増幅率が与えられる。サ
ンプルホールド回路20a,20bは、ロジック回路15からの
サンプリングパルスを受けてゲインコントロールアンプ
18a,18bで増幅された信号をサンプルホールドし、これ
らの信号をバッファアンプ21a,21bを介してマイクロコ
ンピュータ14に出力する。なお、前記ロジック回路15は
基本的にシリアルイン−パラレルアウトのシフトレジス
タからなり、ゲインコントローラ16はそのシフトレジス
タの所定ビット位置に設定されたゲインコントロールデ
ータを読み出し、これに基づいてゲインコントロールア
ンプ18a,18bのゲインを可変する。
The gain control amplifiers 18a and 18b consider that when the subject distance is long, the amount of reflected light entering the PSD 9 decreases and the absolute value of the signal current from the output terminals 9a and 9b decreases. An appropriate amplification factor is given by a gain control process described later. The sample and hold circuits 20a and 20b receive a sampling pulse from the logic circuit 15 and
The signals amplified by the amplifiers 18a and 18b are sampled and held, and these signals are output to the microcomputer 14 via the buffer amplifiers 21a and 21b. The logic circuit 15 basically includes a serial-in / parallel-out shift register, and the gain controller 16 reads the gain control data set at a predetermined bit position of the shift register, and based on the read data, sets the gain control amplifier 18a. , 18b.

マイクロコンピュータ14は、CPU24,シリアルポート2
5,A/Dコンバータ26の他、測距シーケンス実行用のプロ
グラムを格納したROM27及び測距シーケンス実行に際し
て得られるデータや各種フラグを一時的に格納するRAM2
8からなる。シリアルポート25は、CPU24からのコマンド
をシリアルデータパルス(AFSD)に変換してロジック回
路15に供給するとともに、このシリアルデータの転送パ
ルス(AFSCK),シリアルデータのラッチやLED3a〜3cの
発光タイミングを決定する制御パルス(AFLCK)を出力
する。また、A/Dコンバータ26は、オートフォーカスIC1
2から供給されてくるアナログ信号を、その信号電圧レ
ベルに対応して7ビットのデジタル値(十進数で0〜12
7を表す)に変換する。
The microcomputer 14 has a CPU 24 and a serial port 2
5, In addition to the A / D converter 26, a ROM 27 storing a program for executing the distance measuring sequence and a RAM 2 for temporarily storing data and various flags obtained at the time of executing the distance measuring sequence.
Consists of eight. The serial port 25 converts the command from the CPU 24 into a serial data pulse (AFSD) and supplies it to the logic circuit 15. The serial port 25 also converts the serial data transfer pulse (AFSCK), the serial data latch, and the light emission timing of the LEDs 3a to 3c. Outputs control pulse (AFLCK) to be determined. Also, the A / D converter 26 is an autofocus IC1.
The analog signal supplied from 2 is converted into a 7-bit digital value (0 to 12 in decimal) corresponding to the signal voltage level.
(Representing 7).

第3図は、ロジック回路15に用いられている8ビット
のシリアルイン−パラレルシフトのシフトレジスタ30を
概念的に示している。D0〜D4の5ビットにはゲインコン
トロールデータ(GAIN)が、D5〜D6の2ビットにはLED
発光データ(LED)が、またD7の1ビットにはLEDの発光
/リセットの切替えデータ(SET)が設定されている。
5ビットのゲインコントロールデータは、「0」レベル
から「31」レベルまでのゲインレベルを表すことができ
る。また、2ビットのLED発光データは「0」,
「1」,「2」,「3」の4状態を表すことができ、
「0」のときにはLED3a〜3cの全てをオフ、「1」のと
きにはLED3aのみ点灯、「2」,「3」のときにはそれ
ぞれLED3b,LED3cを点灯させることを表す。
FIG. 3 conceptually shows an 8-bit serial-in-parallel shift register 30 used in the logic circuit 15. Gain control data (GAIN) is set in 5 bits of D0 to D4, and LED is set in 2 bits of D5 to D6.
Light emission data (LED) is set, and in one bit of D7, LED light emission / reset switching data (SET) is set.
The 5-bit gain control data can represent gain levels from “0” level to “31” level. The 2-bit LED emission data is "0",
It can represent 4 states of "1", "2", "3",
"0" indicates that all of the LEDs 3a to 3c are off, "1" indicates that only the LED 3a is lit, and "2" and "3" indicate that the LEDs 3b and 3c are lit, respectively.

第4図は基本的な測距シーケンスの手順を示すフロー
チャートで、オートフォーカスIC12のアンプ系のオフセ
ット値を検出する処理、LED3a〜3cを順番に点灯させな
がら、そのときに得られる出力信号を測定データとして
取り込む測距処理、得られた測定データにオフセット補
正処理を行って測距データを求める処理、そして測距デ
ータに基づいて演算を行って距離信号を算出する処理、
距離信号に対応した位置に撮影レンズ5を移動させる処
理が順次に実行される。なお、測距処理が行われる前
に、ゲインコントロールアンプ18a,18bのゲインを最適
値に設定するゲイン設定処理が行われる。
FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of the basic distance measurement sequence. The process of detecting the offset value of the amplifier system of the autofocus IC 12, the LEDs 3a to 3c are sequentially turned on, and the output signal obtained at that time is measured. Distance measurement processing taken in as data, processing for obtaining distance measurement data by performing offset correction processing on the obtained measurement data, and processing for calculating distance signals by performing calculation based on the distance measurement data,
The process of moving the taking lens 5 to the position corresponding to the distance signal is sequentially executed. Before the distance measuring process is performed, a gain setting process for setting the gain of the gain control amplifiers 18a and 18b to an optimum value is performed.

以下、上記構成による作用について説明する。 Hereinafter, the operation of the above configuration will be described.

例えばシャッタボタンの半押し信号によって測距シー
ケンスが開始されると、まず第5図に示したオフセット
値の検出処理が実行される。オフセット値検出処理が行
われるときには、シフトレジスタ30の「D0〜D7」の各ビ
ット位置に「01000000」(2進数)が設定される。これ
により、「GAIN=8」,「LED=0」,「SET=0」の各
コマンドデータが設定される。このコマンドデータの設
定は、第6図のタイミングチャートに示したP1の時点、
すなわち転送パルスAFSCKが8個のパルスを送出した
後、制御パルスAFLCKがローレベルになったときにラッ
チされる。なお、シリアルデータパルスの転送は、転送
パルスAFSCKの立ち上がりによってシフトレジスタ30に
順次に転送される。さらに上記コマンドデータの転送後
には、CPU24内の所定レジスタに「COUT=8」がセット
される。
For example, when the distance measurement sequence is started by a half-press signal of the shutter button, first, an offset value detection process shown in FIG. 5 is executed. When the offset value detection processing is performed, “01000000” (binary number) is set in each bit position of “D0 to D7” of the shift register 30. Thereby, each command data of “GAIN = 8”, “LED = 0”, and “SET = 0” is set. This command data is set at the time of P1 shown in the timing chart of FIG.
That is, when the control pulse AFLCK goes low after the transfer pulse AFSCK has sent out eight pulses, it is latched. The transfer of the serial data pulse is sequentially transferred to the shift register 30 at the rise of the transfer pulse AFSCK. Further, after the command data is transferred, "COUT = 8" is set in a predetermined register in the CPU 24.

シフトレジスタ30にセットされたコマンドデータの
内、「GAIN=8」のデータはゲインコントローラ16を介
してゲインコントロールアンプ18a,18bに供給され、ゲ
インコントロールアンプ18a,18bのゲインは各々「8」
に設定される。なお、「GAIN=31」が最大増幅率、「GA
IN=0」が最小増幅率に対応している。
Among the command data set in the shift register 30, the data of "GAIN = 8" is supplied to the gain control amplifiers 18a and 18b via the gain controller 16, and the gains of the gain control amplifiers 18a and 18b are each "8".
Is set to Note that “GAIN = 31” is the maximum amplification rate, and “GA
“IN = 0” corresponds to the minimum amplification factor.

このシリアルデータの転送後、第1,第2チャンネルか
らの出力信号はサンプルホールドされ、これをA/D変換
したデジタル値が7ビットの2進数で表された測定デー
タAFD1,AFD2としてマイクロコンピュータ14に読み込ま
れる。この読み込み処理の手順は、第7図のフローチャ
ートに示したように、まず制御パルスAFLCKがΔT1の期
間中ローレベルにされる。この期間中にシリアルデータ
パルスAFSDが変化すると、そのタイミングでLED3a〜3
c、サンプルホールド回路20a,20b等の制御が行われる。
まず、AFSDがローレベルになったP2の時点はLED3a〜3c
の点灯タイミングに利用される。ただし、オフセット値
検出処理時においては、「LED=0」のコマンドになっ
ているため、いずれのLED3a〜3cも点灯されない。
After the transfer of this serial data, the output signals from the first and second channels are sampled and held, and the digital value obtained by A / D converting this is converted into measurement data AFD1 and AFD2 represented by a 7-bit binary number. Read in. In the procedure of this reading process, as shown in the flowchart of FIG. 7, first, the control pulse AFLCK is set to the low level during the period of ΔT1. If the serial data pulse AFSD changes during this period, LEDs 3a-3
Control of the c and sample hold circuits 20a and 20b is performed.
First, at the time of P2 when AFSD became low level, LEDs 3a to 3c
It is used for the lighting timing of. However, during the offset value detection processing, none of the LEDs 3a to 3c are lit because the command is “LED = 0”.

P2の時点からΔT2経過するとAFSDがハイレベルにな
り、このタイミングでサンプルホールド回路20a,20bが
ゲインコントロールアンプ18a,18bそれぞれからの出力
信号をホールドする。なお、これらの出力信号はゲイン
コントロールアンプ18a,18bによりそれぞれ「GAIN8」で
増幅された値となっている。さらにΔT3経過後、AFSDは
ローレベルとなりLED3a〜3cの発光停止信号として用い
られ、ΔT4後にはハイレベルに復帰する。AFLCKは、ΔT
1のローレベル期間経過後に再びハイレベルになり、こ
のハイレベル期間ΔT5が経過し1サイクルの完了とな
る。
When ΔT2 elapses from the time point of P2, AFSD becomes high level, and at this timing, the sample and hold circuits 20a and 20b hold the output signals from the respective gain control amplifiers 18a and 18b. Note that these output signals have values amplified by “GAIN8” by the gain control amplifiers 18a and 18b, respectively. Further, after ΔT3, AFSD becomes low level and is used as a light emission stop signal of LEDs 3a to 3c, and after ΔT4, returns to high level. AFLCK is ΔT
After the lapse of the low level period of 1, the level becomes high again, and this high level period ΔT5 elapses, thus completing one cycle.

AFSDがローレベルとなったP3の時点からΔT6経過する
と、サンプルホールド回路20a,20bにホールドされてい
た出力信号は、バッファアンプ21a,21bを介してA/Dコン
バータ26で7ビットのデジタル値に変換され、これらが
第1,第2チャンネルの測定データAFD1,AFD2としてCPU24
に取り込まれ、そしてRAM28内の所定アドレス位置に格
納される。
When ΔT6 elapses from the time point P3 when AFSD becomes low level, the output signal held in the sample hold circuits 20a, 20b is converted into a 7-bit digital value by the A / D converter 26 via the buffer amplifiers 21a, 21b. Converted and these are the CPU24 as measurement data AFD1 and AFD2 of the 1st and 2nd channels.
And stored at a predetermined address position in the RAM 28.

上記測定データAFD1,AFD2の取り込み処理は8回繰り
返される。そして、これらの8個の測定データはチャン
ネルごとに平均され、これらの平均値がオフセット値OF
1,OF2として決定される。このオフセット値検出処理
は、LED3a〜3cを消灯させたままで実行されることか
ら、これらの平均値はPSD9に入射している周囲光による
特異ノイズや、プリアンプ17a,17b以降のアンプ,信号
処理系によって生じるノイズ等による値を意味してい
る。
The process of capturing the measurement data AFD1 and AFD2 is repeated eight times. Then, these eight pieces of measurement data are averaged for each channel, and the average value is used as an offset value OF.
Determined as 1, OF2. Since this offset value detection process is executed with the LEDs 3a to 3c turned off, the average value of these values is the peculiar noise due to the ambient light incident on the PSD9, the amplifiers after the preamplifiers 17a and 17b, and the signal processing system. It means a value due to noise or the like caused by.

オフセット値検出の後は、ゲイン決定処理及び測距処
理が行われる。これらの処理はLED3a〜3cについて個別
に実行される。ゲイン決定処理は第8図のフローチャー
トにしたがって実行される。ゲイン決定処理が開始され
るときには、RAM28内に設定された「GFLAG」,「OVFLA
G」の各フラグが初期状態「0」にセットされる。しか
る後にシリアルポート25からロジック回路15に新たなコ
マンドを表すシリアルデータが転送され、シフトレジス
タ30の各ビット位置には「01000011」の2進データがセ
ットされる。これにより、「GAIN=8」,「LED=
1」,「SET=1」のコマンドとなる。したがって、LED
3aのみが点灯可能状態となる。
After the detection of the offset value, a gain determination process and a distance measurement process are performed. These processes are individually executed for the LEDs 3a to 3c. The gain determination process is executed according to the flowchart of FIG. When the gain determination process is started, “GFLAG” and “OVFLA” set in the RAM 28
Each flag of "G" is set to the initial state "0". Thereafter, serial data representing a new command is transferred from the serial port 25 to the logic circuit 15, and binary data “01000011” is set in each bit position of the shift register 30. As a result, “GAIN = 8”, “LED =
1 "and" SET = 1 ". Therefore, the LED
Only 3a is turned on.

上記コマンド設定の後、オフセット値検出処理と同様
に、7ビットの2進数で表される測定データAFD1,AFD2
の読み込み処理が実行されるが、この場合にはLED3aが
第6図のタイムチャートから明らかなように、「ΔT2+
ΔT3」の期間点灯される。したがって、第1図の状態で
はLED3aからの測距光が主要被写体S1に照射され、その
反射光が受光レンズ8を通ってPSD9に入射する。そし
て、このときPSD9の両端子9a,9bから出力される信号
は、PSD9に入射した光の強度及び入射位置の情報を含ん
でいる。
After setting the above command, measurement data AFD1, AFD2 represented by 7-bit binary number is used as in the offset value detection process.
The reading process is executed, but in this case, as is clear from the time chart of FIG. 6, LED3a displays "ΔT2 +
It is lit for a period of ΔT3 ”. Therefore, in the state shown in FIG. 1, the distance measuring light from the LED 3a is applied to the main subject S1, and the reflected light enters the PSD 9 through the light receiving lens 8. Then, at this time, the signals output from both terminals 9a and 9b of the PSD 9 include information on the intensity of the light incident on the PSD 9 and the incident position.

これらの信号が各々デジタル変換された後、測定デー
タAFD1,AFD2として取り込まれると、そのいずれかが十
進数で「127」に達しているか否かが判定される。AFD1,
AFD2の値が「127」に達していることは、そのいずれか
がオーバーフローしていることを意味しており、PSD9へ
の入射光の光量がかなり大きく、測定データとしては極
めて信頼性が薄いものと判断される。したがって、この
場合には「GAIN=8」であることを確認した上で、「AF
RESULTa←127」(「AFRESULTa」については後述する)
の処理を行う。この状態は、画面中央の被写体がかなり
近接した位置にあり、「GAIN=8」のかなり低めのゲイ
ンでも反射光が強過ぎる場合である。なお、「GAIN」の
値を「8」以下に設定し直すことも可能で、この最低ゲ
インの値「8」はカメラの仕様,LED3a〜3cの光量に応じ
て適宜変更することが可能である。
When these signals are digitally converted and then taken in as measurement data AFD1 and AFD2, it is determined whether or not either of them reaches "127" in decimal. AFD1,
The fact that the value of AFD2 reaches "127" means that either of them has overflowed, the light quantity of the incident light to PSD9 is quite large, and it is extremely unreliable as measurement data. Is judged. Therefore, in this case, after confirming that "GAIN = 8",
RESULTa ← 127 "(" AFRESULTa "will be described later)
Is performed. In this state, the subject in the center of the screen is located very close to each other, and the reflected light is too strong even with a fairly low gain of "GAIN = 8". It is also possible to reset the value of "GAIN" to "8" or less, and this minimum gain value "8" can be appropriately changed according to the camera specifications and the light amounts of the LEDs 3a to 3c. .

測定データAFD1,AFD2にオーバーフローが認められな
い場合には、各々の測定データAFD1,AFD2から、第9図
に示した加算測距データAFADD,減算測距データAFDIFの
算出処理が行われる。この処理では、ノイズ成分の除去
のために測定データAFD1,AFD2に対してオフセット値OF
1,OF2の減算が行われ、その算出結果が測距データAFD1,
AFD2として以後の加算測距データAFADD,減算測距データ
AFDIFの算出に用いられる。
When no overflow is found in the measurement data AFD1 and AFD2, the addition distance measurement data AFADD and the subtraction distance measurement data AFDIF shown in FIG. 9 are calculated from the respective measurement data AFD1 and AFD2. In this process, the offset value OF is added to the measurement data AFD1 and AFD2 to remove the noise component.
1, OF2 is subtracted, and the calculation result is the distance measurement data AFD1,
Subsequent addition distance measurement data AFADD, subtraction distance measurement data as AFD2
Used to calculate AFDIF.

オフセット補正による測距データAFD1,AFD2算出過程
で、「AFD1<OF1」あるいは「AFD2<OF2」であると、測
距データAFD1,AFD2は負の値になることがある。この場
合には、測距データAFD1,AFD2の値に「0」が代入され
た後、8ビットの2進数で表される加算測距データAFAD
D,減算測距データAFDIFの算出が実行される。なお、PSD
9の基準位置の設定により「AFD1<AFD2」となることは
ないので、減算測距データAFDIFの値が負になることは
ないが、ノイズ等の影響により減算測距データAFDIFが
負の値になったときには、オフセット補正処理による測
距データAFD1,AFD2の算出時と同様に「0」が減算測距
データAFDIFの値として決められる。
If "AFD1 <OF1" or "AFD2 <OF2" in the process of calculating the distance measurement data AFD1 and AFD2 by the offset correction, the distance measurement data AFD1 and AFD2 may have negative values. In this case, after adding "0" to the values of the distance measurement data AFD1 and AFD2, the additional distance measurement data AFAD represented by an 8-bit binary number
D, Calculation of subtraction distance measurement data AFDIF is executed. In addition, PSD
Since the setting of the reference position of 9 does not result in "AFD1 <AFD2", the value of the subtraction distance measurement data AFDIF does not become negative, but the subtraction distance measurement data AFDIF becomes a negative value due to the influence of noise etc. When it becomes, "0" is determined as the value of the subtraction distance measurement data AFDIF, as in the calculation of the distance measurement data AFD1 and AFD2 by the offset correction processing.

こうして算出された加算測距データAFADDについて、
その値が「136」以上であるか否かが判断される。この
値が「136」以上であるときには、測距データAFD1,AFD2
の各々の値が以後の測距演算を実行するのに適切な範囲
にあると判定され、ゲインコントロールアンプ18a,18b
のゲインはそのときの「GAIN」の値として決定され、引
続きLED3aによる測距処理が実行されることになる。
Regarding the added ranging data AFADD calculated in this way,
It is determined whether the value is “136” or more. When this value is "136" or more, the distance measurement data AFD1, AFD2
It is determined that each value of is within the range suitable for executing the distance measurement calculation thereafter, and the gain control amplifiers 18a, 18b
The gain of is determined as the value of "GAIN" at that time, and the distance measurement process by the LED 3a is subsequently executed.

一方、加算測距データAFADDの値が「136」未満である
ときには、そのときの「GAIN」の値が不適切であったと
ことを表す「GFLAG」が「1」になっていないことを確
認した上で、測定データAFD1,AFD2の絶対値を大きくす
べく、「GAIN」の値に「N」を加算する。こうして加算
される「N」の値は、加算測距データAFADDの大きさに
応じて次の表のように設定されている。
On the other hand, when the value of the addition distance measurement data AFADD is less than "136", it was confirmed that "GFLAG" indicating that the value of "GAIN" at that time was inappropriate was not "1". Above, "N" is added to the value of "GAIN" in order to increase the absolute values of the measurement data AFD1 and AFD2. The value of "N" added in this way is set as shown in the following table according to the size of the added distance measurement data AFADD.

「GAIN」の値を変更する過程ではコマンドが設定し直
されるが、シフトレジスタ30の「D0」〜「D4」のビット
位置のデータだけが変化し、他のビット位置のデータは
そのままとなっている。そして、ゲインコントローラ16
は新たな「GAIN」の値にしたがってゲインコントロール
アンプ18a,18bのゲインを調節し、引続き同様の処理を
繰り返す。この繰り返し処理時において、「GAIN>8」
でオーバーフローすることがあるが、この場合には「GF
LAG」を「1」にセットしてから「GAIN」の値が「1」
低く設定し直される。
In the process of changing the value of “GAIN”, the command is reset, but only the data at the bit positions “D0” to “D4” of the shift register 30 changes, and the data at the other bit positions remains unchanged. I have. And the gain controller 16
Adjusts the gains of the gain control amplifiers 18a and 18b according to the new value of "GAIN", and subsequently repeats the same processing. At the time of this repetition processing, “GAIN> 8”
May overflow, but in this case, "GF
After setting “LAG” to “1”, the value of “GAIN” becomes “1”
It is reset lower.

「GAIN」の値が最大ゲインである「31」に達しても適
切な絶対値をもった加算測距データAFADDが得られない
ときには、被写体からの反射光が極めて微弱、あるいは
PSD9に戻ってきていない状態であり、この場合には被写
体距離が極めて遠距離であることに対応している。この
場合には「AFRESULTa←0」の処理が行われる。
Even if the value of “GAIN” reaches the maximum gain of “31”, if the added distance measurement data AFADD with an appropriate absolute value cannot be obtained, the reflected light from the subject is extremely weak, or
This is a state where it has not returned to PSD9, and in this case, it corresponds to the fact that the subject distance is extremely long. In this case, the processing of “AFRESULTa ← 0” is performed.

上述の処理によって「GAIN」の値が決定されると、ゲ
インコントロールアンプ18a,18bのゲインがその値に設
定された状態で引続きLED3aによる測距処理が実行され
る。第10図及び第11図はこの測距処理手順を表すもので
ある。この測距処理は、LED3aを18回点灯させ、その都
度、測定データAFD1,AFD2を読み込む。そして、毎回のA
FD1,AFD2の読み込み時には、そのいずれかがオーバーフ
ローしているか、もしくはその値が「15」未満で測定デ
ータの絶対値として不充分なものであるかが判定され、
該当するときには不適切測距であることを表す「OVCOUN
T」を「1」ずつカウントアップしてゆく。
When the value of “GAIN” is determined by the above-described processing, the distance measurement processing by the LED 3a is continuously performed with the gain of the gain control amplifiers 18a and 18b set to the value. FIG. 10 and FIG. 11 show this distance measurement processing procedure. In this distance measuring process, the LED 3a is turned on 18 times and the measurement data AFD1 and AFD2 are read each time. And every time A
At the time of reading FD1 and AFD2, it is determined whether either of them has overflowed or the value is less than "15", which is insufficient as the absolute value of the measured data.
"OVCOUN", which indicates inappropriate distance measurement when applicable
Count up "T" by "1".

「OVCOUNT」が「4」に達したときには、ゲイン決定
処理で決めたゲインの値が不適切であるものと判定し、
「OVFLAG」を「1」にセットした上で「GAIN」を「1」
低く再設定して最初から測距処理をやり直す。また、測
距処理が何度も繰り返されることを防止するために、一
旦「OVFLAG」が「1」にセットされた後に、再び「OVCO
UNT」が「4」に達したときには、そのときの「GAIN」
の値に対応して「AFRESULTa」の値を「M」として決定
する。この決定時には、次のテーブルが参照される。
When “OVCOUNT” reaches “4”, it is determined that the gain value determined in the gain determination process is inappropriate,
Set "OVFLAG" to "1" and set "GAIN" to "1"
Set it low again and restart the ranging process from the beginning. Also, in order to prevent the ranging process from being repeated many times, once "OVFLAG" is set to "1", "OVCO
When "UNT" reaches "4", "GAIN" at that time
The value of “AFRESULTa” is determined as “M” corresponding to the value of “. At the time of this determination, the following table is referred to.

18回の測定データAFD1,AFD2の取り込みを行う過程
で、その中の最小値と最大値とを識別した上で、AFD1,A
DF2は各々「SUM1」,「SUM2」として合計されてゆく。
そして、これらの合計値「SUM1」,「SUM2」から、AFD
1,AFD2の各々の最大値,最小値を減算した後、平均値の
算出が行われる。なお、平均値の信頼性を高めるために
前記最大値,最小値を減算したが、これらの減算を省略
するようにしてもよい。
In the process of importing the measurement data AFD1 and AFD2 18 times, the minimum value and the maximum value among them are identified, and then AFD1 and AFD2
DF2 is added up as "SUM1" and "SUM2", respectively.
Then, from these sums “SUM1” and “SUM2”, the AFD
After subtracting the maximum value and the minimum value of 1, AFD2, the average value is calculated. Although the maximum value and the minimum value are subtracted in order to improve the reliability of the average value, the subtraction may be omitted.

こうしてチャンネルごとに得られた平均値は、新たに
平均後の測定データAFD1,AFD2として更新され、第9図
の処理にしたがって、オフセット値の補正の後、加算測
距データADADD,減算測距データAFDIFに変換される。こ
のときのオフセット補正処理においても、オフセット補
正後の測距データAFD1,AFD2の値が負になった場合には
「0」が測距データとして代入され、また減算測距デー
タAFDIFが負の値になったときも同様に「0」が代入さ
れる。加算測距データADADD,減算測距データAFDIFが求
められた後には、これらの比の値に「128」を乗じて「A
FRESULTa」を算出し、LED3aを用いた測距処理が終了す
る。
The average value thus obtained for each channel is newly updated as the averaged measurement data AFD1, AFD2, and after the offset value is corrected according to the processing of FIG. 9, the addition distance measurement data ADADD, the subtraction distance measurement data Converted to AFDIF. Also in the offset correction processing at this time, when the values of the distance measurement data AFD1 and AFD2 after the offset correction become negative, "0" is substituted as the distance measurement data, and the subtraction distance measurement data AFDIF has a negative value. When it becomes, "0" is similarly substituted. After the addition distance measurement data ADADD and the subtraction distance measurement data AFDIF are obtained, the value of these ratios is multiplied by "128" to obtain "A
"FRESULTa" is calculated, and the distance measuring process using the LED 3a is completed.

引続き、LFD3bを点灯させながらのゲイン決定処理−
測距処理、LED3cを点灯させながらのゲイン決定処理−
測距処理が全く同様に繰り返される。そして、各々「AF
RESULTb」,「AFRESULTc」の値が求められる。
Continuing, gain determination processing while lighting LFD3b −
Distance measurement processing, gain determination processing while lighting LED3c-
The ranging process is repeated in exactly the same way. And each "AF
RESULTb "and" AFRESULTc ".

これらの「AFRESULT」の値は、LED3a〜3cでの測距ご
とに得られた被写体距離に対応した値となっている。第
1図に示した被写体配置では、「AFRESULTa」が主要被
写体S1までの距離、「AFRESULTb」が背景被写体S2まで
の距離に対応した値を示し、さらに「AFRESULTc」は測
距光が反射されてきていないことから「0」(第8図参
照)となっている。このような場合マイクロコンピュー
タ14は、ROM27に格納してあるプログラムに従い、「AFR
ESULTa」,「AFRESULTb」,「AFRESULTc」の中で最も近
い被写体距離に対応した値を最終的な距離信号として決
定し、測距シーケンスが完了する。なお、測定データAF
D1,AFD2がオーバーフローした状態では「AFRESULT」の
値が「127」となり、これが最も近い被写体距離に対応
することになるが、この特異値は最終的な距離信号を決
定するときには無視される。こうして距離信号が決定さ
れた後は、レンズ移動回路58を介してステッピングモー
タ60が駆動され、撮影レンズ5は前記距離信号に対応し
た合焦位置に移動される。
These "AFRESULT" values are values corresponding to the subject distance obtained for each distance measurement by the LEDs 3a to 3c. In the subject arrangement shown in FIG. 1, “AFRESULTa” indicates a value corresponding to the distance to the main subject S1, “AFRESULTb” indicates a value corresponding to the distance to the background subject S2, and “AFRESULTc” reflects the distance measuring light. It is "0" (see FIG. 8) because it has not been performed. In such a case, the microcomputer 14 executes the “AFR
The value corresponding to the closest object distance among “ESULTa”, “AFRESULTb”, and “AFRESULTc” is determined as the final distance signal, and the distance measurement sequence is completed. The measurement data AF
When D1 and AFD2 overflow, the value of "AFRESULT" becomes "127", which corresponds to the closest object distance, but this singular value is ignored when determining the final distance signal. After the distance signal is thus determined, the stepping motor 60 is driven via the lens moving circuit 58, and the photographing lens 5 is moved to the in-focus position corresponding to the distance signal.

以上、3個のLED3a,3b,3cを用い、撮影画面内の3個
所を順次に測距してゆく実施例について説明したが、本
発明はLEDを1個あるいは2個、さらには4個以上用い
て被写体に測距光を投光するものについても同様に適用
することができる。また、本発明を実施する上では、マ
イクロコンピュータ14の代わりにロジック回路を用いて
演算したり、受光素子としても例えばCCDイメージセン
サ等、PSD以外のものを利用することも可能である。
As described above, the embodiment in which the three LEDs 3a, 3b, and 3c are used to sequentially measure the distance at three locations in the shooting screen has been described. However, the present invention employs one or two LEDs, and more than four LEDs. The present invention can be similarly applied to an apparatus that projects distance measuring light to a subject using the method. Further, in carrying out the present invention, it is possible to use a logic circuit instead of the microcomputer 14 for calculation, and to use a light receiving element other than PSD such as a CCD image sensor.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

上述したように、本発明の測距方法によれば、所定ビ
ット数の2進数で表される測定データを基にして測距演
算を行うに際し、測定データとして負の値となったとき
にはこれに零を代入して処理するので、所定ビット数の
2進数を全て正の範囲の値として取り扱うことができ、
測距演算プログラムの小容量化並びに処理の効率化を図
ることができる。
As described above, according to the distance measuring method of the present invention, when the distance measuring operation is performed based on the measured data represented by the binary number of the predetermined number of bits, when the measured data has a negative value, Since zero is substituted and processed, all binary numbers with a predetermined number of bits can be treated as values in the positive range,
It is possible to reduce the capacity of the distance measurement calculation program and improve the processing efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明に用いられる測距装置の構成を示す概略
図である。 第2図はオートフォーカスICの構成を示すブロック図で
ある。 第3図はロジック回路に用いられているシフトレジスタ
の概念図である。 第4図は全体的な測距シーケンスを表すフローチャート
である。 第5図はオフセット値検出の処理手順を示すフローチャ
ートである。 第6図は測定データの読み込みタイミングを説明するタ
イムチャートである。 第7図は測定データの読み込み手順を示すフローチャー
トである。 第8図はゲイン決定の処理手順を示すフローチャートで
ある。 第9図は加算測距データ及び減算測距データの算出処理
手順を示すフローチャートである。 第10図及び第11図は測距処理手順を示すフローチャート
である。 2……投光部 7……受光部 9……PSD 12……オートフォーカスIC 14……マイクロコンピュータ 15……ロジック回路 16……ゲインコントローラ 18a,18b……ゲインコントロールアンプ 20a,20b……サンプルホールド回路 26……A/Dコンバータ。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the structure of a distance measuring device used in the present invention. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the autofocus IC. FIG. 3 is a conceptual diagram of a shift register used in a logic circuit. FIG. 4 is a flowchart showing the entire ranging sequence. FIG. 5 is a flowchart showing a processing procedure for detecting an offset value. FIG. 6 is a time chart explaining the reading timing of the measurement data. FIG. 7 is a flowchart showing the procedure for reading measurement data. FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for determining a gain. FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for calculating the added distance measurement data and the subtraction distance measurement data. FIG. 10 and FIG. 11 are flowcharts showing the distance measurement processing procedure. 2 …… Emitter 7 …… Receiver 9 …… PSD 12 …… Autofocus IC 14 …… Microcomputer 15 …… Logic circuit 16 …… Gain controller 18a, 18b …… Gain control amplifier 20a, 20b …… Sample Hold circuit 26 …… A / D converter.

フロントページの続き (72)発明者 斉藤 竜夫 埼玉県大宮市植竹町1丁目324番地 富 士写真光機株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−202614(JP,A)Front page continuation (72) Inventor Tatsuo Saito 1-324, Uetake-cho, Omiya-shi, Saitama Fuji Photonics Co., Ltd. (56) Reference JP-A-1-202614 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被写体に測距光を投光して被写体からの反
射光を受光素子で受け、この受光素子からの出力信号を
デジタル値に変換してから測距演算を行って距離信号を
算出するアクティブ式測距方法において、 測距光を投光しない状態で受光素子から得られた出力信
号の値をデジタル化して所定ビット数をもつ2進数のオ
フセット値に変換し、また測距光を投光したときに前記
受光素子から得られる出力信号の値をデジタル化して前
記ビット数の2進数の測定データに変換した後、この測
定データから前記オフセット値を減算して測距演算に用
いる測距データを得るとともに、この測距データの値が
負になった場合にはその測距データについては零を代入
して測距演算を行うようにしたことを特徴とするアクテ
ィブ式測距方法。
1. A distance measuring light is projected to a subject, a reflected light from the subject is received by a light receiving element, an output signal from the light receiving element is converted into a digital value, and then a distance measuring operation is performed to obtain a distance signal. In the active distance measuring method for calculating, the value of the output signal obtained from the light receiving element is digitized by converting the value of the output signal obtained from the light receiving element into a binary offset value having a predetermined number of bits. After digitizing, the value of the output signal obtained from the light receiving element is converted into binary measurement data of the number of bits, and the offset value is subtracted from the measurement data to be used for distance measurement calculation. An active distance measuring method characterized in that distance measuring data is obtained, and when the value of the distance measuring data becomes negative, zero is substituted for the distance measuring data to perform distance measuring calculation. .
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