JP2676382B2 - Scanning oscilloscope - Google Patents
Scanning oscilloscopeInfo
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- scanning
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- pulse
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、走査型オシロスコープにおいて、走査時間
の設定操作の自動化に関するものである。The present invention relates to automation of a scanning time setting operation in a scanning oscilloscope.
本発明における、走査型オシロスコープは、走査によ
って1回の動作を終了する機能をもつオシロスコープを
総称する。即ち、基本的に、1回の走査で掃引動作が2
回以上行なわれるオシロスコープを言う。但し、実施に
おいては種々の実施形態があり、一般に1回の掃引動作
で動作を終了、即ち通常のオシロスコープの機能を持
つ。また、2回以上の掃引を繰返す方法には(この動作
を単に走査ともいい以下も同様又、この掃引動作によっ
て表示される掃引輝線を走査線という)、SWEEPとSCAN
という基本的な走査方法がある。ここでSWEEPとは、各
走査線は各走査線のトリガ信号の到来によって起動掃引
し走査を繰返す方法の意味に使用し、一般の単一掃引輝
線型オシロスコープの掃引を意味するSWEEPでは無い。
また、SCANとは、走査を開始する最初の1本目の走査線
が、到来するトリガ信号によって起動掃引し、2本目以
降の走査線は、到来するトリガ信号に関係無く、各走査
線の掃引が終了すると直ちに次ぎの掃引を繰返し、設定
した走査線数の掃引を終了すると1回の走査を完了し、
以降、同一動作を繰返す方法の意味に使用し、これら
は、単に本発明の説明を明瞭にするために使用するもの
で特定する為のものではない。更に各走査線に対するト
リガ信号の入力方法にも種々提案されているがここで
は、1波形のトリガ信号の到来によってSCAN動作をする
場合について説明をする。更にまた、SCANにおける走査
の繰返し時間の安定化には掃引長を制御する方法と、各
走査線の起動掃引を時間制御されたトリガ信号によって
制御する方法が提案されているが、いずれも水晶発振器
等による安定な周波数のパルスを計数し、設定した計数
値によって制御するものであり、走査時間の設定動作は
基本的に同一であるので、本発明の説明には、前者の場
合について説明する。前者を掃引長制御方式、後者をト
リガ信号制御方式という。ここで、走査時間とは、掃引
を繰返す時間を言うが、1回の走査動作の開始から終了
迄の時間を言う場合もある。走査時間の数値制御によっ
て、走査線数を増加した場合や、部分拡大等においても
安定な走査時間面を得る事が出来るようにするものであ
る。SWEEPにおいては、各走査線は、観測波形のトリガ
信号によって起動掃引しているので表示時間に連続性が
ないので走査時間の安定化は意味がないので、本発明は
SCANに関するものである。計数器は常時設定数値のパル
スを出力しており、1本目の走査線のトリガ起動と同時
に計数器をクリアし、0から計数を開始し、設定した計
数値の計数を終えると、計数値をクリアし繰返す。この
様な方法によって計数パルスとトリガ信号が同期化され
る。前記、掃引長制御方式ではこの計数パルスは、ある
電位迄(通常、水平の表示幅に対応する電位)掃引波形
が造形するとその電位で造形動作を停止して掃引波形を
復帰し、一定時間後(ホールドオフ期間等)直ちに次ぎ
の掃引が自励的或いは一定時間の終了パルス等によって
行なわれる場合においては、掃引波形に重畳して強制的
に上記のある電位に到来させて造形を停止或いは、上記
のある電位に重畳して強制的に造形を停止させる方法で
の重畳パルスとして使用される。その他、これらの掃引
長制御に関する技術は掃引回路の実施形態により種々存
在する事は周知であり、上記計数パルスの挿入位置は、
適宜変更される。又、前記、トリガ信号制御方式におい
ては、上記計数パルスは、トリガパルスとして、2回目
以降を起動掃引させるために使用される。この様にして
走査時間は、計数パルスによって制御される訳である
が、上記計数値の設定は、測定者によって設定しなけれ
ばならない。例えば、走査時間が1msの場合、設定数値
を1msにする。しかし、走行時間が不明の場合には、掃
引時間と掃引長により走査時間を読取り、後設定する事
になり、この設定操作が繁雑である。そこで本発明は、
この設定操作を自動化するものである。The scanning oscilloscope in the present invention is a generic term for an oscilloscope having a function of ending one operation by scanning. That is, basically, the sweep operation is 2 in one scan.
It is an oscilloscope that is used more than once. However, there are various embodiments in practice, and generally the operation is completed by one sweep operation, that is, it has a function of an ordinary oscilloscope. In addition, for the method of repeating the sweep two or more times (this operation is also referred to as scanning), the sweep bright line displayed by this sweep operation is also called the scan line.
There is a basic scanning method. Here, SWEEP is used to mean a method in which each scanning line starts sweeping and repeats scanning by the arrival of a trigger signal of each scanning line, and does not mean sweeping of a general single-sweep emission line oscilloscope.
SCAN means that the first scan line that starts scanning is activated and swept by an incoming trigger signal, and the second and subsequent scan lines are swept regardless of the incoming trigger signal. Immediately after completion, the next sweep is repeated. When the sweep of the set number of scanning lines is completed, one scan is completed,
Hereinafter, they are used to mean a method of repeating the same operation, and these are merely used for clarifying the description of the present invention, and are not intended to be specified. Further, although various methods of inputting a trigger signal to each scanning line have been proposed, a case where the SCAN operation is performed by the arrival of a trigger signal having one waveform will be described here. Furthermore, in order to stabilize the scan repetition time in SCAN, a method of controlling the sweep length and a method of controlling the start-up sweep of each scan line by a time-controlled trigger signal have been proposed. The number of pulses having a stable frequency is counted and controlled by the set count value, and the setting operation of the scanning time is basically the same. Therefore, the former case will be described in the description of the present invention. The former is called the sweep length control method and the latter is called the trigger signal control method. Here, the scanning time means the time for repeating the sweep, but it may also mean the time from the start to the end of one scanning operation. The numerical control of the scanning time makes it possible to obtain a stable scanning time surface even when the number of scanning lines is increased or when partial enlargement is performed. In SWEEP, each scan line is swept by the trigger signal of the observed waveform, so there is no continuity in the display time, so stabilization of the scan time is meaningless.
It is about SCAN. The counter always outputs the pulse of the set numerical value, clears the counter at the same time when the trigger of the first scanning line is activated, starts counting from 0, and finishes counting the set count value Clear and repeat. By this method, the counting pulse and the trigger signal are synchronized. In the sweep length control method, when the sweep waveform is formed up to a certain potential (usually the potential corresponding to the horizontal display width), the counting pulse stops the shaping operation at that potential and restores the sweep waveform, and after a certain time (Hold-off period, etc.) Immediately when the next sweep is performed by self-excitation or by an end pulse for a certain period of time, etc., it is superimposed on the sweep waveform and forcedly reaches the above-mentioned certain potential to stop modeling, or It is used as a superposition pulse in the method of forcibly stopping the modeling by superimposing it on a certain electric potential. In addition, it is well known that various techniques related to these sweep length control exist depending on the embodiment of the sweep circuit, and the insertion position of the counting pulse is
It is changed appropriately. In the trigger signal control method, the counting pulse is used as a trigger pulse for starting and sweeping the second and subsequent times. In this way, the scanning time is controlled by the counting pulse, but the count value must be set by the measurer. For example, when the scanning time is 1 ms, the set value is 1 ms. However, when the traveling time is unknown, the scanning time is read by the sweep time and the sweep length and is set later, and this setting operation is complicated. Therefore, the present invention
This setting operation is automated.
まず、掃引長制御方式において提案されている、操作
方法について説明する。観測波形は正弦波の1KHzで(但
し、観測前においては周波数は不明)、1現象で観測す
る。(手順1)走査線数を3〜10本程度に設定し、掃引
時間を調整して、管面幅(通常10div)に、正弦波が1
周期(観測目的により、異なる)が表示される様に設定
し、2本目以降の走査線に表示される正弦波が上下に並
ぶように調整する。(手順2)この状態で走査時間を読
取る。読取った数値を1.0msとすると、設定数値は1.0ms
であり、設定を終えると、掃引長を1div程度長くして、
掃引長制御をONにし制御状態に入る。(手順3)観測条
件即ち走査線数の増減、副掃引による部分拡大等により
更に下桁の数値を設定、変更し、操作を終える。この操
作において(手順2)が繁雑であり、特に観測波形の変
更等で走査時間が変る場合が大きい、(手順2)を自動
化するとその他の操作は極めて簡単となる。従って、本
発明の1つの目的は、走査時間の読取りと設定が自動化
された走査型オシロスコープを提供する事にある。First, the operation method proposed in the sweep length control method will be described. The observed waveform is a sine wave of 1 KHz (however, the frequency is unknown before the observation) and one phenomenon is observed. (Procedure 1) Set the number of scanning lines to about 3 to 10 and adjust the sweep time so that the sine wave is 1 in the tube width (usually 10 divisions).
The period (which varies depending on the purpose of observation) is set to be displayed, and adjustment is performed so that the sine waves displayed on the second and subsequent scanning lines are arranged vertically. (Procedure 2) The scanning time is read in this state. If the read value is 1.0 ms, the set value is 1.0 ms.
So, after finishing the setting, increase the sweep length by about 1 div,
Turn on the sweep length control and enter control mode. (Procedure 3) The observation digit, that is, the number of scanning lines is increased / decreased, the partial enlargement by the sub-sweep is performed, and the lower digit is further set or changed, and the operation is completed. In this operation, (procedure 2) is complicated, and in particular, the scanning time is often changed due to a change in the observed waveform. When (procedure 2) is automated, other operations are extremely simple. Accordingly, one object of the present invention is to provide a scanning oscilloscope with automatic scanning time reading and setting.
本発明の他の目的は、設定数値の変更を電気的に可能
にすることにより、設定数値の記憶、呼出し設定や、プ
ログラム化等を可能に出来る、走査型オシロスコープを
提供する事にある。Another object of the present invention is to provide a scanning oscilloscope capable of storing set values, setting recall, programming, etc. by electrically changing set values.
本発明の他の目的及び利点は本発明の好適な実施例に
関する以下の詳細な説明により当業者には明らかであろ
う。しかし、以下の実施例は本発明の全てを開示及び限
定するものではなく、単に当業者が本発明の原理並びに
用途を十分理解する為のものであり、当業者には、適宜
種々の変更及び変形をなし得る事が理解されよう。Other objects and advantages of the invention will be apparent to those skilled in the art from the following detailed description of the preferred embodiments of the invention. However, the following examples do not disclose and limit all of the present invention, but are merely for those skilled in the art to fully understand the principle and application of the present invention, and those skilled in the art can appropriately make various changes and modifications. It will be appreciated that variations can be made.
第1図は、本発明の好適な実施例である走査型オシロ
スコープにおけるフロック図である。第1図において
は、本発明は(24)の1点鎖線の枠の部分に位置する。
垂直軸は(1)と(2)に入力端子があり(1)の入力
端子には時間軸変動即ちジッタを伴うパルスを、(2)
の入力端子には時間軸変動即ちジッタのないパルスが入
力されている。(3)と(5)は各垂直軸の入力減衰、
緩衝部でありこの部分で適度の電圧レベルに変換され
る。(4)と(6)は各垂直軸の増幅部でトリガ信号の
出力を伴う。(7)は表示方式の切替部で、各単独表
示、交互表示(ALT)、時分割表示(CHOP)や加算表示
(ADD)等の切換をする。また、(13)からの階段波を
(7)の切替部で合成し各垂直軸の走査状態を同一にし
ている。(8)はブラウン管(22)の垂直偏向をする為
の出力部である。(9)はトリガ信号選択部で(4)と
(6)からの各トリガ信号、外部トリガ信号(20)の波
形等を選択してトリガ形成部(10)に出力する。トリガ
形成部(10)では主掃引部(11)へのトリガ信号が形成
される。主掃引部(11)では主掃引復帰パルスが階段波
形成部(12)へ、帰線期間のパルスが輝度変調部(15)
へ、主掃引波形は水平出力部(17)へ出力される。副掃
引部(16)は(14)からのトリガ信号わ受けトリガ起動
掃引する。副掃引期間はアンブランキング信号として輝
度変調部(15)に入力される。スイッチ(21)で主掃引
波形と副掃引波形が選択され、水平出力部(17)へ入力
される。ここでブラウン管(22)の水平偏向が可能な電
圧にされる。階段波形成部(12)では主掃引が終了と同
時に階段波を1段づつ造形し、設定した走査線数を造形
すると復帰し1回の造形動作即ち走査を終了する。造形
された階段波は階段波変換部(13)に入力され階段波形
が変形される。変型された階段波は(7)の切替部で垂
直軸と合成する。この様にしてブラウン管面では水平、
垂直の偏向と走査がおこなわれ(23)の観測波形を得
る。(1)からの波形はジッタを伴っているので立下り
部が曲線的に並び(上の部分の観測波形)、(2)から
のジッタのない波形は立下り部が直線的に並ぶ(下の部
分の観測波形)様に観測出来るものであり、この様な走
査型オシロスコープは公知の技術であり、実施形態に因
り適宜種々変形変更される。FIG. 1 is a flock diagram in a scanning oscilloscope which is a preferred embodiment of the present invention. In FIG. 1, the present invention is located in the part of the frame of the chain line (24).
The vertical axis has (1) and (2) input terminals, and the input terminal of (1) is a pulse with time axis fluctuation, that is, jitter (2).
A pulse with no time axis fluctuation, that is, jitter, is input to the input terminal of. (3) and (5) are the input attenuation of each vertical axis,
It is a buffer and is converted to an appropriate voltage level in this part. (4) and (6) are associated with the output of the trigger signal in the amplification section of each vertical axis. (7) is a display mode switching unit for switching between individual display, alternate display (ALT), time division display (CHOP), addition display (ADD), and the like. Further, the staircase waves from (13) are combined by the switching section of (7) to make the scanning states of the vertical axes the same. (8) is an output unit for vertically deflecting the cathode ray tube (22). (9) is a trigger signal selection unit that selects the trigger signals from (4) and (6), the waveform of the external trigger signal (20), etc., and outputs them to the trigger formation unit (10). The trigger forming section (10) forms a trigger signal to the main sweep section (11). In the main sweep section (11), the main sweep return pulse is sent to the staircase wave forming section (12), and the pulse in the blanking period is the brightness modulation section (15).
The main sweep waveform is output to the horizontal output section (17). The sub-sweep section (16) sweeps the trigger signal received from (14). The sub-sweep period is input to the brightness modulation section (15) as an unblanking signal. The main sweep waveform and the sub-sweep waveform are selected by the switch (21) and input to the horizontal output section (17). Here, the voltage is set so that the cathode ray tube (22) can be horizontally deflected. In the staircase wave forming unit (12), at the same time as the main sweep is completed, the staircase wave is modeled one step at a time, and when the set number of scanning lines is modeled, the model is restored to complete one modeling operation, that is, scanning. The shaped staircase wave is input to the staircase wave conversion unit (13) and the staircase waveshape is deformed. The deformed staircase wave is combined with the vertical axis at the switching section (7). In this way, the CRT surface is horizontal,
Vertical deflection and scanning are performed to obtain the observed waveform in (23). Since the waveform from (1) is accompanied by jitter, the falling portions are arranged in a curved line (observed waveform in the upper portion), and in the waveform without jitter from (2), the falling portions are arranged in a straight line (lower portion). The observed waveform of the part (1) can be observed, and such a scanning oscilloscope is a known technique, and various modifications can be appropriately made depending on the embodiment.
走査開始点のパルスは経路(28)を通り計数部(18)
に入力される。このパルスは走査線の1本目の主掃引開
始点を抽出できる波形であれば形状は自由である。主掃
引期間のパルス即ち主掃引帰線消去パルスが経路(25)
を通り同じく計数(18)に入力されている。第1図では
走査時間の安定化は掃引長制御方式であるので、計数値
パルスが(18)の計数部から出力された経路(26)を通
り主掃引部(11)の掃引長が制御される。(18)の計数
部の計数用基準パルスと主掃引開始パルスは経路(27)
を通り遅延計数部(19)に入力される。遅延計数部(1
9)で設定した計数値を計数後、遅延パルスとして経路
(29)を通り遅延トリガ形成部に入力される。従って副
掃引部(16)は数値設定された遅延パルスでトリガ起動
掃引するので走査期間中は回路内で生じるスイッチング
ジッタのみとなり、一般のオシロスコープのトリガピッ
クオフ回路におけるジッタが無くなり全走査線の副走査
において安定な遅延時間が設定される。この様にして、
観測面において主掃引部、副掃引部が数値制御された安
定な走査面が得られる。上述の安定化方式は公知の技術
であり、実施形態に因り適宜種々変形変更される。本発
明は上述の数値設定の自動化に関するものであり、好適
な実施例である第2図で詳細に説明する。第2図は略線
的回路図であり、第3図は、各波形の時間的経過図であ
り左一部は時間を拡大したものである。これらも単に本
発明の原理を設定するものであること等は前述の通りで
ある。(30)は周波数を変化出来るクロック発振部で抵
抗(31)で周波数を微変化する。この微調整によってカ
ウントによる点続的な走査時間の調整をカバーし連続的
な調整が出来る様にしている。クロック周波数は水晶発
振器による20.0000MHzとする(以下単に20MHzと略
す)。最小設定桁は50nsで最大設定桁を1s(秒の単位
桁)とする。又自動設定の最小設定値は100nsとしてい
る。これらの数値は以下の説明を容易に理解出来る為の
ものであり、これらの数値によっても回路や設定条件等
が異なる事は明らかであろう。(32)はフリップフロッ
プ(以下単にFFという)で(33)のNANDゲートの入力を
10MHz(10.0000MHzを略したもの)にする。(34)(3
5)(36)(37)は計数部で(41)(42)(43)の設定
数値で連続計数している。(34)はFFで最下位桁を計数
し、(35)(36)(37)は10進計数器で0.1μs、1μ
s、1sの桁を計数する。(36)と(37)の間にはその他
の中間桁があり平行点線内で省略している。他の部分も
同様に省略を意味する。(38)(39)(40)は10進のイ
コールコンパレータで(41)(42)(43)のデータと
(35)(36)(37)の計数値が合致すると論理正の合致
パルスが経路(44)に現れる。NANDゲート(45)(46)
と(48)のNANDゲートは2進のイコールコンパレータで
数値設定用FF(47)のデータと計数FF(34)の数値が合
致すると経路(49)に合致パルスが出力され、(51)の
インバータと(50)のNANDゲートによってクリア可能な
最小パルス幅に成形し、計数器(34)〜(37)及び逓倍
復元器(170)が計数器をクリアする。この様にして経
路(52)には計数パルスが現れ、このパルスによって掃
引長が制御される。しかしこのままでは掃引部と同期が
とられない、そこでNANDゲート(48)に入力端子(53)
から第3図の走査開始パルス(308)を入力し、走査開
始点で計数器を(311)のパルスで無条件でクリアす
る。これによって走査開始から計数を開始するので周期
とられる。(303)観測波形で第1図においては(1)
への入力波形である。(304)は観測波形(303)による
トリガ信号で第1図においてはトリガ形成部(10)の出
力波形である。(305)は主掃引波形で(301)のトリガ
点でSCANを開始し5回掃引即ち5本の走査線で走査して
いる。トリガ起動点は(301)の走査開始点でありSCAN
動作中の(304)のトリガ信号は無視される。(306)は
階段波で主掃引(305)の各主掃引終了点で造形動作す
る。各階段位の立上がり点には(302)の様なオーバシ
ュート波形を混在させて掃引途中で階段位が切換られる
のを抑止する(この部分で階段数の設定等も行なわれる
ので走査線数の調整も確実に1本毎に設定される)。第
1図においては階段波形成部(12)の出力波形である。
第3図の(307)は主掃引期間中のパルスで即ち帰線消
去パルスである。第1図においては主掃引部(11)で取
出される。(307)の主掃引期間中パルスは第2図の入
力端子(54)に入力される。ポジティブエッジクロック
でRS型のFF(55)は抵抗RとコンデンサCと共動してワ
ンショットマルチを構成し、(309)の様な短時間のパ
ルスに成形され経路(57)に出力される。スイッチ(5
6)は抵抗RとコンデンサCと共動してスイッチ(56)
が押されると正の微分パルスが経路(58)に現れるので
FF(59)はスイッチ(56)の操作によって反転し、経路
(60)が論理正のとき発光ダイオード(61)が点灯す
る。経路(60)が論理負のときNANDケート(62)(63)
は他のケートの論理通過を防止する。従って出力端子
(64)(65)は論理正である。従って経路(60)が論理
負の定常時、即ち発光ダイオード(61)が消灯している
時、経路(75)は論理正、経路(57)の(309)の波形
によってセットプリセット付きのFF(69)の出力である
経路(71)は論理負、経路(72)は論理正となる。この
とき、NANDゲート(82)は20MHzを出力し、アップダウ
ンカウンタ(41)〜(43)で設定されている数値で計数
パルスを経路(52)に出力する。しかし出力端子(65)
には、経路(60)の論理負によって出力は阻止されてい
る。一方、経路(71)の論理負によって、NANDゲート
(33)では、10MHzが出力されないので、アップダウン
カウンタ(41)〜(43)は経路(78)のパルスで計数さ
れる。次ぎに、スイッチ(56)を押して、FF(59)を反
転すると、RS型のFF(66)は経路(60)によるロックが
解除され(状態は保持されている)、又NANDゲート(6
7)は経路(73)に入力される波形(308)を待期する。
波形(308)のパルス(311)が到来するとNANDゲート
(67)を通過しFF(69)は反転し、経路(71)は論理
正、経路(72)は論理負となる。論理負から論理正の立
上がりによって点線枠(70)では論理負の短いパルスを
出力し経路(77)を通り、アップダウンカウンタ(41)
〜(43)は瞬時にデータセットされカウント出来る状態
になる。データ値は0であるので、セット数値は0であ
る。経路(71)の論理正によってNANDゲート(33)は10
MHzを出力し、アップダウンカウンタ(41)〜(43)は
0から計数を開始する。このとき、経路(71)の論理正
は、NORゲート(81)を通過し、アップダウンカウンタ
(41)〜(43)をUPにしている。一方経路(72)の論理
負はNANDゲート(82)の20MHzの通過を阻止し、計数器
(34)〜(37)は計数停止する。点線枠(170)は周波
数逓倍、復元器であり入力パルスの立上がりと立下りで
更に半周期のパルスを造形し周波数を2倍或いはさらに
逓倍して4倍にしてFF等によって元の20MHzに復元す
る。この部分ではECL等の高速のICを使用し、FF等の復
元カウンタは他のカウンタのクリアパルスを経路(52)
から受ける。クリアパルスは更に短時間に成形する。即
ち点線枠(170)によって計数周波数を上げてトリガ起
動点で生じるカウントジッタを少なくしている。点線枠
(68)では論理正から論理負の変化であるので経路(8
3)は変化が無いのでFF(66)も反転しない。経路(5
7)の波形(309)の(310)のパルスが到来すると、FF
(69)は反転し経路(71)は論理負となる。点線枠(7
0)は論理正から論理負への変化であるのでその出力は
変化しない。またNORゲート(81)は他端子の入力を受
付ける。又同時に、NANDゲート(33)では10MHzの出力
が阻止され、アップダウンカウンタ(41)〜(43)はUP
の計数を停止し、計数値は停止した状態の数値となる。
一方経路(72)では、論理正となりNANDゲート(82)は
20MHzを出力するので、経路(52)には、アップダウン
カウンタ(41)〜(43)が計数した(312)の計数値で
計数パルスが出力される。又点線枠(68)では論理負か
ら論理正の変化であるので経路(83)は論理負を出力し
FF(66)を反転する。従って経路(79)は論理正とな
り、経路(60)の論理正によってNANDゲート(63)は経
路(52)計数パルスを出力する。この計数パルスは掃引
長制御信号として出力端子(65)に出力される。FF(6
9)は経路(57)からの波形(309)が掃引毎に入力する
が、既に経路(72)は論理正となっているので状態は変
化しない。以降発光ダイオード(61)が点灯している間
継続する。即ちスイッチ(56)を押して、発光ダイオー
ド(61)が点灯すると(312)の時間を計数し、2回目
以降の掃引長は1回目の掃引で計数した計数値で制御さ
れることになる。同様に出力端子(64)にはNANDゲート
(62)によって波形(313)が出力されるので、この制
御信号によって掃引長の回路を解放或いは、制御状態の
掃引長より長く動作出来る状態にする。即ち掃引長制御
されるときの掃引長は、制御前の掃引長よりも長く動作
する状態にしなければ、安定な制御が出来ないからであ
る。これは掃引長を設定している回路においてある一定
の到達電位(通常管面幅の10divに相当する電位)を、
この制御信号によって増加させる事により容易に可能で
ある。この様にして掃引中に掃引長が安定に制御され
る。掃引長制御方式では、掃引長が制御されている時、
走査線の1本目と2本目以降とでは掃引長の長さ即ち走
査線の長さが異なる。波形(316)は掃引長制御パルス
で一定間隔である。波形(315)の1本目の掃引長はト
リガ開始点(301)からで(318)の時間掃引する。しか
し2本目以降は帰線期間が含まれるので、掃引時間は
(319)となり短くなるのが遅延時間(320)では時間的
ズレは生じない。波形(321)は遅延パルスである。再
度スイッチ(56)を押すと経路(60)は論理負となる。
従って出力端子(65)の掃引長制御信号は阻止され、又
出力端子(64)の制御信号も停止し、掃引長は掃引回路
で設定されている状態(通常管面幅の10div)に戻る。
又FF(66)の出力経路(74)は論理正にロックされる。
NANDゲート(67)は経路(60)の論理負によって出力は
阻止される。この状態が発光ダイオードが消灯している
時であり、掃引長が制御されていない時である。この様
にして、スイッチ(56)によって掃引長の制御/停止が
行なわれ、制御中は発光ダイオード(61)は点灯し、停
止によって発光ダイオード(61)は消灯する。更に制御
ONによって制御停止中の掃引時間(312)が掃引長の制
御時間として自動設定される。次ぎに、自動設定後の数
値変更について説明する。FF(86)はRSタイブのFFでス
イッチ(84)(85)によって押された状態を保持する。
即ち、スイッチ(84)を押すと経路(87)は論理正とな
り、アップダウンカウンタ(41)〜(43)はアップ計数
をする状態となる。以降スイッチ(84)を押してもFF
(86)は変化しない。またスイッチ(85)を押すとFF
(86)が反転し経路(87)は論理負となりアップダウン
カウンタ(41)〜(43)は、ダウン計数をする状態とな
る。以降スイッチ(85)を押してもFF(86)変化しな
い。点線枠(171)はスイッチ(84)(85)を押し続け
ていると一定時間後連続して短時間の論理正のパルスが
経路(173)に出力される。従ってスイッチ(84)(8
5)を一定時間押し続けていると、自動的に計数パルス
が出力される。これは、論理正から論理負に転じた時に
1秒程度のワンショットマルチを起動しこのパルスと論
理負のAND構成をし1秒を経過したとき10Hz程度のマル
チバイブレータを発振させ、これをカウントパルスとす
る等その他スイッチを押し続けていると連続してパルス
を出力する方法は周知の技術である。FF(90)はスイッ
チ(88)で反転をし、NANDゲート(91)〜(93)とNAND
ゲート(94)〜(96)の通過/阻止を制御する。ここで
点線枠(97)は主掃引用の計数部であり、点線枠(98)
は副掃引用の計数部である。従ってFF(90)即ちスイッ
チ(88)によって主掃引用と副掃引用とが切替えられ
る。(101)はアップダウンカウンタでFF(103)の出力
によってアップ/ダウンが切替えられる。スイッチ(9
9)はFF(103)の出力を論理正にしアップダウンカウン
タ(101)をアップ状態にする。このスイッチの操作に
よってコンデンサCを通してアップダウンカウンタ(10
1)はアップ計数をする。又スイッチ(100)はFF(10
3)の出力を論理負にしアップダウンカウンタ(101)は
ダウン計数の状態となり、同じスイッチ(100)の操作
によってコンデンサCを通してダウン計数をする。アッ
プダウンカウンタ(101)の計数テータはデータセレク
タ(102)によってNANDゲート(104)〜(106)のゲー
トの1つが論理正となる。このとき、スイッチ(84)
(85)の操作によってコンデンサCを通して正の微分パ
ルスがNANDゲート(80)に入力される。経路(79)は掃
引長が制御中論理正となっているのでNANDゲート(80)
の出力スイッチ(84)又は(85)の操作パルスが出力さ
れる。この操作パルスはセレクトされたNANDゲート(10
4)〜(106)の1つを通過し経路(111)に現れる。こ
のときスイッチ(88)によって経路(105)を論理正に
したとき経路(78)に操作パルスが出力される。データ
セレクタ(102)から経路(78)迄は省略図であり、NAN
Dゲート(106)はNANDゲート(91)と接続しNORゲート
(107)を通りアップダウンカウンタ(43)に接続して
いる。他方、NANDゲート(104)はNANDゲート(93)と
接続しFF(47)に接続している。他の中間桁は省略す
る。点線枠(98)は副掃引用のトリガ信号を数値設定に
よって出力するもので、主走査部の計数部である点線枠
(97)と同様の回路を構成している。NANDゲート(11
2)はNANDゲート(48)と同じでNANDゲート(48)は経
路(73)を受けるがNANDゲート(112)は論理正と接続
し、その出力は経路(114)に出力し出力端子(115)に
出力している。FF(113)はFF(34)と同じで20MHzのク
ロックを受ける。経路(49)の波形は(314)で自動設
定をする最初の主掃引は20MHzが入力されないので(31
7)のパルスは出力されない。自動設定をした2回目の
走査では(316)の波形となり1回目の主掃引から掃引
長制御される。この場合1回目の主掃引の掃引長制御は
(301)のトリガ開始転からの計数値で制御され、2回
目以降の掃引長制御は帰線期間を含めた時間となるので
観測管面上の掃引長は前述の通り帰線期間分短くなる。
点線枠(98)は設定した数値で計数をすることは点線枠
(97)の前述の説明と同じである。FF(116)(117)
(118)はセットリセット付きFFである。経路(57)に
は掃引長制御のON/OFFに関係なく波形(309)が主掃引
毎に出力されるので、波形(309)の主掃引開始点であ
る論理正のパルスによってインバータを通り経路(12
5)は論理正となる。又経路(114)は計数パルスが出力
し計数値の到来によって論理負を出力する。この計数パ
ルスの論理負によってFF(118)は反転し経路(125)を
論理負にする。この論理負のパルスによって計数器(11
3)以下のデータをクリアし、クリアの状態が保持され
るので0の状態で計数動作が停止する。次ぎの波形(30
9)論理正即ち主掃引開始によって経路(120)は論理負
となりFF(118)が反転し経路(125)が論理正となり、
クリア状態が解除され、0から計数を開始する。そして
計数値が到来すると計数が停止しクリアされFF(118)
が反転しクリア状態がロックされる。従ってこの計数パ
ルスは主掃引の開始と同時に0から計数を開始し計数設
定値でパルスを経路(114)に出力するので、この計数
パルスによって副掃引をトリガ起動掃引することによっ
て、副掃引は遅延掃引されることになる。計数パルスは
1回の主掃引の期間に1回しか出力されないので主掃引
1回に副掃引が1回行なわれる。これは、遅延時間の設
定によって、少ない数値設定のときや、副掃引時間が短
い時等に計数パルスが2回以上出力される場合があり、
副掃引はトリガ即ち計数パルスの到来によって副掃引す
るので副掃引の掃引時間によっては、前後の時間の観測
波形が交錯する場合があるのでこれを防止する。又、遅
延時間の設定数値は主掃引時間を超過して設定する場合
があり、この様なとき副掃引による走査線が飛越して表
示されない事になる。点線枠(124)はNANDゲート(5
0)とインバータ(51)と同様の構成をしている。FF(1
16)(117)は経路(125)の波形即ち主掃引開始点で論
理負から論理正に立ちあがった時、点線枠(124)によ
って論理負を出力するので、経路(122)は論理負、経
路(123)は論理正となり出力端子(121)では論理正と
なる。主掃引時間内に遅延パルスが発生すると経路(11
4)が論理負となるのでFF(117)は反転し経路(123)
は論理負となり、出力端子(121)は論理正で変化しな
い。しかし、主掃引時間外即ち主掃引が終了してから遅
延パルスが出力されると経路(52)のクリアパルスによ
って経路(122)が論理正となり、経路(123)は論理正
を保持しているので出力端子(121)では論理負とな
る。この様にして遅延時間を主掃引時間外に設定された
とき遅延パルスの出力を停止させたり、表示燈等で測定
者に注意を促す事ができる。上述では主掃引では自動設
定後、副掃引では任意に数値変更出来るのであるが、設
定した数値を記憶しその数値を呼出す方法について述べ
る。(126)は主掃引分の走査時間記憶部で経路(128)
からデータを受け経路(129)の論理正によってデータ
セットされる。遅延時間の数値は(127)で記憶し、(1
26)の主掃引部の走査時間記憶部と同様の構成をしてい
る。第4図に各記憶部の代表的な実施例における、略線
的回路図を示す。第4図のメモリは、主走査時間、遅延
時間は共に4つを記憶するもので、記憶素子としての
(156)〜(159)はTTL−ICでは74670とし中間桁は省略
する。スイッチ(136)〜(139)は抵抗Rを通して論理
正の電位に接続されている。(132)はセットリセット
付きFFで、点線枠(131)はコンデンサC抵抗Rと共動
して経路(168)にスイッチ(136)を押すことによって
定常状態の論理負から、論理正の短時間のパルスを発生
する。点線枠(133)〜(135)は点線枠(131)と同一
の構成をし各スイッチを押す事によって定常状態の論理
負から、論理正の短時間のパルスを発生する。NORゲー
ト(141)の各ゲートは論理負であるので経路(142)の
定常状態は論理正である。インバータ(143)(144)と
抵抗RコンデンサCと共動して経路(142)のパルスを
遅らせる。(145)はRS型FFで有る。点線枠(131)〜
(133)〜(135)の出力の定常状態は論理負であるの
で、NANDゲート(150)(151)の出力は論理正となり、
経路(175)(176)が論理正である。経路(175)(17
6)はメモリ(156)〜(159)のメモリアドレスに接続
しているので“11"のアドレスが動作状態となる。出力
端子(163)は主掃引部の第2図におけるアップダウン
カウンタ(41)〜(43)のデータ入力に接続している。
又出力端子(164)は第2図における経路(128)と接続
し主走査時間を記憶設定する。(158)(159)は遅延時
間の記憶設定部で主掃引部と同様で第2図における点線
枠(98)と接続し出力端子(166)はデータの出力で、
出力端子(167)データ入力である。出力端子(165)は
第2図における出力端子(130)と接続しているので第
2図におけるスイッチ(88)の操作でNANDゲート(15
2)〜(155)の動作が選択される。従って第2図におけ
るスイッチ(88)によって主掃引部が選択されている
と、経路(181)は論理正であるので、NANDゲート(15
2)(154)の他ゲートの入力を受付ける。又同じくスイ
ッチ(88)によって遅延時間部が選択されていると経路
(181)は論理負となり、NANDゲート(153)(155)は
他ゲートの入力を受付ける。この様にして第2図におけ
るスイッチ(88)によって主走査部と遅延時間部が選択
される。定常状態では経路(179)は論理負であるので
経路(177)(178)は論理正である。経路(177)はメ
モリ(156)(157)のリード命令の入力に、また経路
(178)はメモリ(156)(157)のライト命令の入力に
接続している。遅延時間記憶部(158)(159)も同様で
ある。さてスイッチ(136)が押されると経路(168)に
は短時間の論理正のパルスが出力され、経路(179)に
は短時間の論理正のパルスが出力され、経路(180)(1
81)は論理正であるので経路(177)は短時間の論理負
となる。従って出力端子(163)には“11"のアドレスの
データが出力される。定常状態では経路(179)は論理
負であるので経路(172)は論理正であり、スイッチ(1
36)を押したときの経路(142)に現れるれる負の短時
間パルスによって経路(172)は短時間の負のパルスを
出力する。出力端子(162)は第2図における経路(12
9)に接続しているので経路(77)は論理負が短時間出
力され、メモリ(156)(157)のデータがアップダウン
カウンタ(41)〜(43)にロードされる。即ちスイッチ
(88)で主走査部に設定されているとスイッチ(136)
を押すと事によって“11"のアドレスデータが主走査時
間に設定される事になる。同様に、スイッチ(88)で遅
延時間部に設定されていると、スイッチ(136)を押す
と事によって“11"のアドレスデータが遅延時間部に設
定される。インバータ(146)(147)、NANDゲート(14
8)(149)、NORゲート(150)(151)は、スイッチ(1
37)(138)(139)のアドレスを設定し、各スイッチは
01.10.00のアドレスを経路(175)(176)に出力する。
従って、スイッチ(88)で走査時間部に設定されている
と、スイッチ(137)を押すと事によって“01"のアドレ
スデータが走査時間部に設定される。同様に、スイッチ
(138)を押すと“10"のアドレスが、スイッチ(139)
を押すと“00"のアドレスが設定される。次ぎにスイッ
チ(140)を押してFF(145)を反転すると経路(169)
が論理正となり発光ダイオード(161)が点灯し、NAND
ゲート(154)(155)が他ゲートの入力を受付ける。こ
こでスイッチ(136)を押すと経路(179)には短時間の
論理正のパルスが現れ経路(178)に短時間の論理負の
パルスが出力される。出力端子(164)は第2図におけ
る経路(128)に接続しているので、アップダウンカウ
ンタ(41)(42)(43)のデータが、メモリ(156)(1
57)に入力されている。又経路(178)はメモリ(156)
(157)のライト命令の端子に接続しているので“11"の
アドレスに走査時間が記録される。一方、経路(142)
の短時間の論理負のパルスはインバータ(143)(144)
とコンデンサC抵抗Rとのよって時間遅れの論理負のパ
ルスが出力されFF(145)が反転し発光ダイオード(16
1)は消灯し元に戻る。従ってスイッチ(140)は記憶ス
イッチであり、発光ダイオード(161)が点灯している
時、スイッチ(136)〜(139)を押すと押したスイッチ
に対応するアドレスに走査時間が記憶され、記憶後は、
読みだし状態に復帰する。遅延時間設定部についても同
様で、第2図におけるスイッチ(88)を押してFF(90)
を反転し経路(105)を論理負にするとNANDゲート(15
3)(155)が他ゲートの入力を受付ける。従って走査時
間部と同様な動作によって、スイッチ(136)〜(139)
のうち1つのスイッチを押すとスイッチに対応したアド
レスに出力端子(167)から入力されているデータがメ
モリ(158)(159)に記録される。そして短時間のうち
に読みだし状態である元の状態に復帰する。尚、短時間
のパルス幅は、メモリの書込み、読みだし時間と、各ゲ
ートのタイミングを加算した時間以上のパルス幅であ
る。スィッチ(136)〜(139)が同時に押されても、押
されていないスイッチがあればそのスイッチのアドレス
が読み書きされる確率が少なくなるよう、短時間のパル
ス幅(例えば10μs等)とする。又、インバータ(14
3)(144)とコンデンサC抵抗Rによる遅延時間はメモ
リのライト可能時間以上であればよい。実施において
は、走査時間、遅延時間の数値がデジタル表示される様
に、出力端子(164)(167)からデータを取出す。又走
査時間の表示と遅延時間の表示切換信号は出力端子(16
5)から入力する。この様にして走査時間と遅延時間は
それぞれ4つの時間を記憶し、呼出し設定出来るように
なる。設定後の数値変更も自由に出来、設定桁の変更も
でき、かつその桁から数値変更でき、桁上げ行なわれ
る。更に、単位ステップ(10μsでは、15、25、35、45
μs等)の設定が出来るので遅延時間の変更においては
有効な設定方法ともなる。The pulse at the scanning start point passes through the path (28) and the counter (18)
Is input to This pulse may have any shape as long as it has a waveform capable of extracting the first main sweep start point of the scanning line. Main sweep period pulse, that is, main sweep blanking pulse is routed (25)
It is also input to the count (18) through. In Fig. 1, since the scan time is stabilized by the sweep length control method, the sweep length of the main sweep unit (11) is controlled through the route (26) where the count value pulse is output from the counting unit (18). It The reference pulse for counting and the main sweep start pulse of the counting unit of (18) are routed (27)
And is input to the delay counting section (19). Delay counter (1
After counting the count value set in 9), it is input to the delay trigger forming unit as a delay pulse through the path (29). Therefore, the sub-sweep section (16) trigger-sweep with the delay pulse set numerically, so only the switching jitter that occurs in the circuit during the scanning period is eliminated, and the jitter in the trigger pick-off circuit of a general oscilloscope is eliminated, and the sub-scanning of all scanning lines is performed. At, a stable delay time is set. In this way,
In the observation plane, a stable scanning plane is obtained in which the main sweep section and the sub-sweep section are numerically controlled. The above-described stabilization method is a known technique, and can be variously modified and changed depending on the embodiment. The present invention relates to automation of the above-mentioned numerical value setting, which will be described in detail with reference to FIG. 2 which is a preferred embodiment. FIG. 2 is a schematic circuit diagram, FIG. 3 is a time course diagram of each waveform, and the left part is an enlarged view of time. As described above, these also merely set the principle of the present invention. Reference numeral (30) is a clock oscillator capable of changing the frequency, and the resistance (31) finely changes the frequency. This fine adjustment covers the continuous scanning time adjustment by counting and enables continuous adjustment. The clock frequency is set to 20.0000MHz by the crystal oscillator (hereinafter simply referred to as 20MHz). The minimum setting digit is 50 ns and the maximum setting digit is 1 s (second unit digit). The minimum value for automatic setting is 100ns. These values are for the purpose of easily understanding the following description, and it will be apparent that the circuits and setting conditions also differ depending on these values. (32) is a flip-flop (hereinafter simply referred to as FF), and the input of the NAND gate of (33)
Set to 10MHz (abbreviation of 10.0000MHz). (34) (3
5) (36) and (37) are the counting units that continuously count the set values of (41), (42) and (43). (34) is the FF to count the least significant digit, and (35), (36) and (37) are decimal counters for 0.1 μs and 1 μs.
Count the digits of s and 1s. There are other intermediate girders between (36) and (37), and they are omitted in the parallel dotted line. Similarly, the other parts are omitted. (38), (39) and (40) are decimal equal comparators. When the data of (41), (42) and (43) and the count values of (35), (36) and (37) match, a logical positive matching pulse is routed. Appears in (44). NAND gate (45) (46)
The NAND gates of (48) and (48) are binary equal comparators, and when the data of the value setting FF (47) and the value of the counting FF (34) match, a matching pulse is output to the path (49) and the inverter of (51) And (50) form a minimum pulse width that can be cleared by the NAND gates, and the counters (34) to (37) and the multiplier / restore (170) clear the counter. In this way, a counting pulse appears on the path (52), and this pulse controls the sweep length. However, if it remains as it is, it will not be synchronized with the sweep section, so there will be an input terminal (53) to the NAND gate (48).
Then, the scanning start pulse (308) of FIG. 3 is input, and the counter is unconditionally cleared by the pulse of (311) at the scanning start point. As a result, counting is started from the start of scanning, so that a cycle is set. (303) Observed waveform (1) in Fig. 1
Is the input waveform to. Reference numeral (304) is a trigger signal based on the observed waveform (303), which is the output waveform of the trigger forming unit (10) in FIG. The main sweep waveform (305) starts SCAN at the trigger point (301) and sweeps five times, that is, scans with five scanning lines. The trigger start point is the scan start point of (301) and SCAN
The (304) trigger signal during operation is ignored. (306) is a staircase wave, and the shaping operation is performed at each main sweep end point of the main sweep (305). The overshoot waveform like (302) is mixed at the rising point of each staircase to prevent the staircase from being switched during the sweep. (Since the number of stairs is set in this part, the number of scanning lines can be changed. Adjustment is surely set for each line). In FIG. 1, it is the output waveform of the staircase wave forming unit (12).
(307) in FIG. 3 is a pulse during the main sweep period, that is, a blanking pulse. In FIG. 1, it is taken out by the main sweep section (11). During the main sweep period of (307), the pulse is input to the input terminal (54) of FIG. With a positive edge clock, RS type FF (55) cooperates with resistor R and capacitor C to form a one-shot multi, and is shaped into a short-time pulse like (309) and output to path (57). . Switch (5
6) is a switch (56) in cooperation with resistor R and capacitor C
When is pressed, a positive differential pulse appears in the path (58).
The FF (59) is inverted by the operation of the switch (56), and the light emitting diode (61) lights up when the path (60) is logically positive. NAND gate (62) (63) when the path (60) is logically negative
Prevents the logical passage of other gates. Therefore, the output terminals (64) and (65) are logically positive. Therefore, when the path (60) is in a logic negative steady state, that is, when the light emitting diode (61) is off, the path (75) is a logic positive, and the waveform of the path (57) (309) has a preset FF ( The path (71) that is the output of 69) is logically negative, and the path (72) is logically positive. At this time, the NAND gate (82) outputs 20 MHz and outputs counting pulses to the path (52) with the numerical values set by the up / down counters (41) to (43). But the output terminal (65)
The output is blocked by the logic negative of path (60). On the other hand, since the NAND gate (33) does not output 10 MHz due to the negative logic of the path (71), the up / down counters (41) to (43) are counted by the pulse of the path (78). Next, when the switch (56) is pressed and the FF (59) is inverted, the RS type FF (66) is unlocked by the path (60) (the state is maintained), and the NAND gate (6) is released.
7) waits for the waveform (308) input to the route (73).
When the pulse (311) of the waveform (308) arrives, it passes through the NAND gate (67), the FF (69) is inverted, the path (71) becomes logically positive, and the path (72) becomes logically negative. The rising edge from the logic negative to the logic positive outputs a short pulse of the logic negative in the dotted frame (70), passes through the path (77), and goes up / down counter (41).
~ (43) is instantly data set and ready for counting. Since the data value is 0, the set numerical value is 0. NAND gate (33) is turned on by logic positive of path (71)
MHz is output, and the up / down counters (41) to (43) start counting from 0. At this time, the logic positive of the path (71) passes through the NOR gate (81) and the up / down counters (41) to (43) are set to UP. On the other hand, the logic negative of the path (72) blocks the passage of 20 MHz through the NAND gate (82), and the counters (34) to (37) stop counting. The dotted line frame (170) is a frequency multiplier and a restorer, which forms a half-cycle pulse at the rising and falling edges of the input pulse, doubles the frequency, or further multiplies it by 4 to restore it to the original 20MHz by FF. To do. In this part, high-speed IC such as ECL is used, and the restoration counter such as FF passes the clear pulse of other counter (52).
Receive from The clear pulse is formed in a shorter time. That is, the dotted line frame (170) increases the counting frequency to reduce the count jitter generated at the trigger activation point. In the dotted frame (68), there is a change from logic positive to logic negative, so the route (8
Since 3) is not changed, FF (66) is not reversed. Route (5
When the pulse of (310) of waveform (309) of 7) arrives, FF
(69) is inverted and the path (71) is logically negative. Dotted frame (7
Since 0) is a change from logic positive to logic negative, its output does not change. The NOR gate (81) receives the input of other terminals. At the same time, the NAND gate (33) blocks the output of 10 MHz, and the up-down counters (41) to (43) are up.
Counting is stopped, and the count value becomes the value in the stopped state.
On the other hand, in the path (72), it becomes logically positive and the NAND gate (82)
Since 20 MHz is output, the counting pulse is output to the path (52) at the count value of (312) counted by the up / down counters (41) to (43). Further, in the dotted line frame (68), since the change is from logic negative to logic positive, the route (83) outputs logic negative.
Invert FF (66). Therefore, the path (79) becomes logically positive, and the NAND gate (63) outputs the counting pulse of the path (52) by the logical positive of the path (60). This counting pulse is output to the output terminal (65) as a sweep length control signal. FF (6
The waveform (309) from the path (57) is input for each sweep in 9), but the status does not change because the path (72) is already logic positive. After that, the operation continues while the light emitting diode (61) is lit. That is, when the switch (56) is pressed to turn on the light emitting diode (61), the time of (312) is counted, and the sweep length after the second sweep is controlled by the count value counted in the first sweep. Similarly, since the waveform (313) is output to the output terminal (64) by the NAND gate (62), the circuit of the sweep length is released by this control signal or the operation is made longer than the sweep length of the control state. That is, the sweep length when the sweep length is controlled cannot be controlled stably unless it is in a state of operating longer than the sweep length before the control. This is a certain reaching potential in the circuit that sets the sweep length (potential equivalent to 10 division of the tube surface width),
This can be easily done by increasing the number with this control signal. In this way, the sweep length is stably controlled during the sweep. In the sweep length control method, when the sweep length is controlled,
The length of the sweep length, that is, the length of the scanning line is different between the first and second scanning lines. Waveform (316) is a sweep length control pulse at regular intervals. The first sweep length of the waveform (315) is from the trigger start point (301) to the time sweep of (318). However, since the blanking period is included in the second and subsequent lines, the sweep time becomes (319) and becomes shorter, but the delay time (320) does not cause a time shift. Waveform (321) is a delayed pulse. When the switch (56) is pressed again, the path (60) becomes logically negative.
Therefore, the sweep length control signal at the output terminal (65) is blocked, the control signal at the output terminal (64) is also stopped, and the sweep length returns to the state set by the sweep circuit (normally 10 divisions of the tube surface width).
The output path (74) of the FF (66) is locked to the logic positive.
The output of the NAND gate (67) is blocked by the negative logic of the path (60). This state is when the light emitting diode is off, and the sweep length is not controlled. In this way, the sweep length is controlled / stopped by the switch (56), the light emitting diode (61) is turned on during the control, and the light emitting diode (61) is turned off by the stop. Further control
When turned on, the sweep time (312) during control stop is automatically set as the sweep length control time. Next, the change of the numerical value after the automatic setting will be described. FF (86) is an RS type FF that holds the state of being pressed by the switches (84) (85).
That is, when the switch (84) is pressed, the path (87) becomes logically positive, and the up / down counters (41) to (43) enter a state of counting up. After that, even if you press the switch (84), FF
(86) does not change. Press the switch (85) to select FF
(86) is inverted, the path (87) becomes logically negative, and the up / down counters (41) to (43) are in a state of counting down. After that, pressing the switch (85) does not change FF (86). When the switches (84) (85) are continuously pressed in the dotted line frame (171), a short period of positive logic pulse is output to the path (173) after a certain period of time. Therefore, switch (84) (8
If you press and hold 5) for a certain period of time, counting pulses will be output automatically. This is to activate the one-shot multi for about 1 second when it changes from the logic positive to the logic negative, and make the AND configuration of this pulse and the logic negative, and oscillate the multi-vibrator of about 10Hz when 1 second elapses, and count it. It is a well-known technique to continuously output a pulse when the switch is kept pressed, such as when a pulse is applied. The switch (88) inverts the FF (90) and NANDs it with the NAND gates (91) to (93).
Controls passage / blocking of gates (94)-(96). Here, the dotted line frame (97) is the counting part of the main sweep quote, and the dotted line frame (98)
Is a sub-quote counting unit. Therefore, the main sweep reference and the sub sweep reference are switched by the FF (90), that is, the switch (88). (101) is an up / down counter, and up / down is switched by the output of FF (103). Switch (9
9) sets the output of the FF (103) to the logical positive and sets the up-down counter (101) to the up state. By operating this switch, the up / down counter (10
1) counts up. The switch (100) is FF (10
The output of 3) is made logically negative, and the up-down counter (101) is in the down-counting state, and the same switch (100) is operated to down-count through the capacitor C. As for the counting data of the up / down counter (101), one of the gates of the NAND gates (104) to (106) becomes logically positive by the data selector (102). At this time, switch (84)
The positive differential pulse is input to the NAND gate (80) through the capacitor C by the operation of (85). The path (79) is a NAND gate (80) because the sweep length is logically positive during control.
The operation pulse of the output switch (84) or (85) is output. This operation pulse is applied to the selected NAND gate (10
It passes through one of 4) to (106) and appears on the route (111). At this time, when the path (105) is made logically positive by the switch (88), an operation pulse is output to the path (78). The diagram from the data selector (102) to the route (78) is an abbreviated figure.
The D gate (106) is connected to the NAND gate (91) and is connected to the up / down counter (43) through the NOR gate (107). On the other hand, the NAND gate (104) is connected to the NAND gate (93) and is connected to the FF (47). The other middle digits are omitted. The dotted line frame (98) outputs a trigger signal for sub-scan reference by setting a numerical value, and constitutes the same circuit as the dotted line frame (97) which is the counting unit of the main scanning unit. NAND gate (11
2) is the same as the NAND gate (48), the NAND gate (48) receives the path (73), but the NAND gate (112) is connected to the logic positive, and its output is output to the path (114) and the output terminal (115). ) Is output. FF (113) is the same as FF (34) and receives a 20MHz clock. The waveform of the path (49) is automatically set in (314). Since 20MHz is not input in the first main sweep, (31)
The pulse of 7) is not output. The waveform of (316) is obtained in the second scan automatically set, and the sweep length is controlled from the first main sweep. In this case, the sweep length control of the main sweep for the first time is controlled by the count value from the trigger start rotation of (301), and the sweep length control for the second and subsequent times is the time including the blanking period, so The sweep length is shortened by the blanking period as described above.
It is the same as the above description of the dotted line frame (97) that the dotted line frame (98) counts with the set numerical value. FF (116) (117)
(118) is an FF with set reset. The waveform (309) is output to the path (57) for each main sweep regardless of whether the sweep length control is ON or OFF. Therefore, a logical positive pulse, which is the main sweep start point of the waveform (309), is used to pass through the inverter. (12
5) is logically positive. The path (114) outputs a count pulse and outputs a logical negative when the count value arrives. The logic negative of this counting pulse causes the FF (118) to invert, making the path (125) logic negative. The counter (11
3) The following data is cleared and the cleared state is retained, so the counting operation stops when it is 0. Next waveform (30
9) Logic positive, that is, the path (120) becomes logic negative due to the start of the main sweep, FF (118) is inverted and path (125) becomes logic positive,
The clear state is released and counting starts from 0. When the count value arrives, the count is stopped and cleared, and FF (118)
Is reversed and the clear state is locked. Therefore, this counting pulse starts counting from 0 at the same time as the start of the main sweep and outputs the pulse to the path (114) with the count setting value. Therefore, the sub-sweep is delayed by trigger-triggering the sub-sweep by this counting pulse. Will be swept. Since the counting pulse is output only once in the period of one main sweep, one sub-sweep is performed once for each main sweep. This is because, depending on the delay time setting, the count pulse may be output twice or more when a small numerical value is set or when the sub-sweep time is short.
Since the sub-sweep is triggered by the arrival of a trigger, that is, a counting pulse, the observed waveforms before and after the time may intersect depending on the sweep time of the sub-sweep, and this is prevented. In addition, the set value of the delay time may be set to exceed the main sweep time, and in such a case, the scanning lines due to the sub-sweep will be skipped and not displayed. The dotted line frame (124) is the NAND gate (5
0) and the inverter (51). FF (1
16) (117) outputs the logic negative by the dotted line frame (124) when the signal rises from the logic negative to the logic positive at the main sweep start point, that is, the path (122) is the logic negative, (123) becomes logically positive at the output terminal (121). If a delayed pulse occurs within the main sweep time, the path (11
4) becomes logically negative, so FF (117) is inverted and the path (123)
Is a logic negative, and the output terminal (121) is a logic positive and does not change. However, if the delay pulse is output outside the main sweep time, that is, after the main sweep is completed, the path (122) becomes logically positive due to the clear pulse of the path (52), and the path (123) holds the logical positive. Therefore, the output terminal (121) is logically negative. In this way, when the delay time is set outside the main sweep time, the output of the delay pulse can be stopped, or the indicator light or the like can alert the measurer. In the above, after the automatic setting in the main sweep, the numerical value can be arbitrarily changed in the sub-sweep, but a method of storing the set numerical value and calling the numerical value will be described. (126) is the scanning time storage part for the main sweep and the path (128)
The data is received from and is set by the logic positive of the route (129). The numerical value of the delay time is stored in (127) and (1
It has the same configuration as the scanning time storage section of the main sweep section in 26). FIG. 4 shows a schematic circuit diagram in a typical embodiment of each storage unit. The memory of FIG. 4 stores four main scanning times and four delay times, and (156) to (159) as storage elements are 74670 in the TTL-IC and the middle digit is omitted. The switches (136) to (139) are connected to a logic positive potential through a resistor R. (132) is an FF with set / reset, and the dotted line frame (131) is a short time from a logic negative in a steady state to a logic positive by pushing the switch (136) to the path (168) in cooperation with the capacitor C resistance R. Generate a pulse of. The dotted line frames (133) to (135) have the same configuration as the dotted line frame (131), and each switch is pressed to generate a short pulse of logic positive from logic negative in the steady state. Since each gate of NOR gate (141) is logic negative, the steady state of path (142) is logic positive. The inverters (143) (144) and the resistor R capacitor C cooperate to delay the pulse of the path (142). (145) is an RS type FF. Dotted frame (131) ~
Since the steady states of the outputs of (133) to (135) are logically negative, the outputs of the NAND gates (150) and (151) are logically positive,
Paths (175) (176) are logically positive. Route (175) (17
Since 6) is connected to the memory addresses of the memories (156) to (159), the address of "11" becomes active. The output terminal (163) is connected to the data inputs of the up-down counters (41) to (43) in the main sweep section in FIG.
The output terminal (164) is connected to the path (128) in FIG. 2 to store and set the main scanning time. (158) and (159) are delay time memory setting sections, which are similar to the main sweep section and are connected to the dotted frame (98) in FIG. 2, and the output terminal (166) is for outputting data.
Output terminal (167) is a data input. Since the output terminal (165) is connected to the output terminal (130) in FIG. 2, operation of the switch (88) in FIG.
The operations of 2) to (155) are selected. Therefore, when the main sweep section is selected by the switch (88) in FIG. 2, the path (181) is logically positive, and the NAND gate (15
2) Accept the input of the other gate of (154). Similarly, when the delay time section is selected by the switch (88), the path (181) becomes logically negative, and the NAND gates (153) (155) receive the inputs of other gates. In this way, the main scanning section and the delay time section are selected by the switch (88) in FIG. In the steady state, the path (179) is logically negative, so the paths (177) and (178) are logically positive. The path (177) is connected to the input of the read command of the memories (156) and (157), and the path (178) is connected to the input of the write command of the memories (156) and (157). The same applies to the delay time storage units (158) and (159). When the switch (136) is pressed, a short-time logical positive pulse is output to the route (168), a short-time logical positive pulse is output to the route (179), and the route (180) (1
Since (81) is logically positive, the path (177) becomes logically negative for a short time. Therefore, the data of the address "11" is output to the output terminal (163). In steady state, path (179) is logically negative, so path (172) is logically positive and switch (1)
Path (172) outputs a short duration negative pulse due to the negative short duration pulse appearing on path (142) when 36) is pressed. The output terminal (162) is connected to the path (12
Since it is connected to 9), a logical negative is output for a short time on the path (77), and the data in the memories (156) (157) are loaded into the up / down counters (41) to (43). That is, if the switch (88) is set to the main scanning section, the switch (136)
By pressing, the address data of "11" is set to the main scanning time. Similarly, when the switch (88) is set to the delay time section, pressing the switch (136) sets the address data of "11" to the delay time section. Inverter (146) (147), NAND gate (14
8) (149), NOR gate (150) (151), switch (1
Set the address of 37) (138) (139), and each switch
The address of 01.10.00 is output to the routes (175) and (176).
Therefore, if the switch (88) is set to the scanning time section, pressing the switch (137) sets the address data "01" to the scanning time section. Similarly, when the switch (138) is pressed, the address "10" is displayed on the switch (139).
Press to set the address of "00". Next, press switch (140) to invert FF (145) and route (169)
Becomes a logic positive, the light emitting diode (161) lights up, and the NAND
Gates (154) and (155) receive inputs from other gates. When the switch (136) is pressed here, a short time logical positive pulse appears on the path (179) and a short time logical negative pulse is output to the path (178). Since the output terminal (164) is connected to the path (128) in FIG. 2, the data of the up / down counters (41) (42) (43) is stored in the memory (156) (1).
57) has been entered. In addition, the route (178) is the memory (156)
Since it is connected to the write command terminal of (157), the scanning time is recorded at the address "11". Meanwhile, the route (142)
Short time logic negative pulse of the inverter (143) (144)
And the capacitor C and the resistor R output a time-delayed logic negative pulse, and the FF (145) is inverted and the light emitting diode (16
1) goes out and returns to the original state. Therefore, the switch (140) is a memory switch, and when the light emitting diode (161) is lit, when the switches (136) to (139) are pressed, the scanning time is stored in the address corresponding to the pressed switch. Is
Return to the read state. The same applies to the delay time setting section, so press the switch (88) in Fig. 2 to select FF (90).
And the path (105) is logically negative, the NAND gate (15
3) (155) accepts input from other gate. Therefore, the switches (136) to (139) are operated by the same operation as the scanning time section.
When one of the switches is pressed, the data input from the output terminal (167) to the address corresponding to the switch is recorded in the memories (158) (159). Then, in a short time, the original state of the reading state is restored. The short-time pulse width is a pulse width that is equal to or longer than the sum of the memory writing / reading time and the timing of each gate. Even if the switches (136) to (139) are pressed at the same time, if there is a switch that is not pressed, the pulse width (for example, 10 μs) of a short time is set so that the probability of reading or writing the address of the switch is reduced. In addition, the inverter (14
3) The delay time due to (144) and the capacitor C resistance R may be longer than the writable time of the memory. In practice, data is taken out from the output terminals (164) (167) so that the numerical values of scanning time and delay time are digitally displayed. In addition, the scan time display and delay time display switching signals are output terminal (16
Enter from 5). In this way, the scanning time and the delay time can store four times each and can be set for calling. After setting, you can change the value freely, you can change the set digit, you can change the value from that digit, and carry is performed. In addition, the unit step (15, 25, 35, 45 at 10 μs
(μs etc.) can be set, which is an effective setting method when changing the delay time.
上述の様に走査時間を自動計数し自動設定する事によ
り、前述における(手順2)が自動化出来るので、走査
時間の設定操作が極めて簡単になり、その設定回路を利
用する事により設定した数値を記憶したり、呼出して設
定することが自由に出来る様になる、数値設定の自動化
が出来るのでこれを利用してプログラム化する事等も容
易に可能であろう。従って上述の本発明の原理による構
成を付帯する事によって操作性等が向上した、走査型オ
シロスコープを提供出来るものである。尚上述は走査線
の1本目で走査時間の計数をし以降の走査時間を自動設
定しているが、数値制御していないときには1本目の走
査時間は2本目以降の走査時間と時間的ズレが生じる場
合があり、この様なときには、安定となる2本目以降或
いは最終走査線の走査時間を計数して2回目の走査から
自動設定する事等は、本発明により周知の技術で容易に
可能であり、本発明の要旨を逸脱するものではない。By automatically counting and automatically setting the scanning time as described above, the above-mentioned (Procedure 2) can be automated, so that the setting operation of the scanning time becomes extremely simple, and the numerical value set by using the setting circuit can be set. It will be possible to freely store and recall it and set it. It is possible to automate the setting of numerical values, so it will be possible to easily program it. Therefore, it is possible to provide a scanning oscilloscope having improved operability and the like by adding the configuration according to the principle of the present invention. In the above description, the scanning time is counted by the first scanning line and the subsequent scanning time is automatically set. However, when numerical control is not performed, the scanning time of the first scanning line is different from the scanning time of the second scanning line and thereafter. In such a case, it is possible to count the scanning time of the second and subsequent stable scanning lines and automatically set the scanning time from the second scanning. However, it does not depart from the gist of the present invention.
第1図は本発明の代表的な実施例である走査型オシロス
コープのブロック図と2現象での観測波形例。第2図は
本発明の自動走査時間設定部の略線的回路図で遅延時間
設定部を含む。第3図は波形経過図。第4図は記憶部の
略線的回路図。FIG. 1 is a block diagram of a scanning oscilloscope, which is a typical embodiment of the present invention, and examples of observed waveforms in two phenomena. FIG. 2 is a schematic circuit diagram of the automatic scanning time setting unit of the present invention, which includes a delay time setting unit. FIG. 3 is a waveform chart. FIG. 4 is a schematic circuit diagram of the storage unit.
Claims (1)
階波生成回路を含む掃引部と、掃引周期よりも十分高い
周期のクロック信号発生部と、走査線の1本目の掃引が
開始すると同時に上記クロックの計数を開始し1本目の
掃引が終了すると計数動作を停止しこの停止した計数値
を数値設定部に設定をして2本目以降の掃引では設定数
値で計数パルスを連続して出力できる数値設定回路を含
む計数部と、2本目以降の掃引に対して上記計数パルス
で掃引の開始或は停止をして繰返しの掃引時間即ち走査
時間を制御出来る掃引制御部とから成る構成を含み、走
査線の2本目以降の走査時間を走査線の1本目で計数し
た時間に設定して走査させる事にょって走査時間の設定
操作を自動化する手段を含み、上記構成と上記手段によ
って走査時間の設定操作を自動化したところに特徴を持
つ走査型オシロスコープ。1. A sweep section including a step wave generation circuit for starting sweeping and scanning by a trigger signal, a clock signal generating section having a cycle sufficiently higher than the sweep cycle, and the clock at the same time when the first sweep of a scanning line is started. The counting operation is stopped when the first sweep is completed and the counting operation is stopped, and the stopped count value is set in the numerical setting section. In the second and subsequent sweeps, the counting pulse can be output continuously with the set numerical value. The scanning line includes a configuration including a counting unit including a circuit and a sweep control unit capable of controlling the sweep time, that is, the scanning time by starting or stopping the sweep for the second and subsequent sweeps by the counting pulse. The second and subsequent scanning times are set to the time counted by the first scanning line and scanning is performed, and means for automating the setting operation of the scanning time is included. Scanning oscilloscope having characterized in that the automated operation.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21428388A JP2676382B2 (en) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | Scanning oscilloscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21428388A JP2676382B2 (en) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | Scanning oscilloscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0261565A JPH0261565A (en) | 1990-03-01 |
| JP2676382B2 true JP2676382B2 (en) | 1997-11-12 |
Family
ID=16653171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP21428388A Expired - Lifetime JP2676382B2 (en) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | Scanning oscilloscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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-
1988
- 1988-08-29 JP JP21428388A patent/JP2676382B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0261565A (en) | 1990-03-01 |
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