JP2701653B2 - 実装基板外観検査装置 - Google Patents
実装基板外観検査装置Info
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- JP2701653B2 JP2701653B2 JP4090513A JP9051392A JP2701653B2 JP 2701653 B2 JP2701653 B2 JP 2701653B2 JP 4090513 A JP4090513 A JP 4090513A JP 9051392 A JP9051392 A JP 9051392A JP 2701653 B2 JP2701653 B2 JP 2701653B2
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- Japan
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- frame memory
- inspected
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- detecting means
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板、ハイブ
リッドＩＣ等に実装されている電子部品の実装状態を自
動検査する実装基板外観検査装置に関する。
リッドＩＣ等に実装されている電子部品の実装状態を自
動検査する実装基板外観検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、プリント基板、ハイブリッドＩＣ
等に実装されている電子部品の実装状態を自動検査する
実装基板外観検査装置としては、図３に示すような構成
が知られている。
等に実装されている電子部品の実装状態を自動検査する
実装基板外観検査装置としては、図３に示すような構成
が知られている。
【０００３】図３において、１は被検査対象基板であ
り、各種の電子部品２が実装されている。３はデータ検
出手段であり、各種の測定原理を応用して被検査対象基
板１上の電子部品２の実装状態のデータを検出する。４
はフレームメモリであり、データ検出手段３で検出され
た実装状態のデータを一旦格納しておく。５は演算手段
であり、フレームメモリ４に格納されているデータを取
り出し、画像処理的な手法を用いて処理し、電子部品２
の実装状態を判定する。
り、各種の電子部品２が実装されている。３はデータ検
出手段であり、各種の測定原理を応用して被検査対象基
板１上の電子部品２の実装状態のデータを検出する。４
はフレームメモリであり、データ検出手段３で検出され
た実装状態のデータを一旦格納しておく。５は演算手段
であり、フレームメモリ４に格納されているデータを取
り出し、画像処理的な手法を用いて処理し、電子部品２
の実装状態を判定する。
【０００４】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。被検査対象基板１上の電子部品２の実装
状態のデータをデータ検出手段３によって検出し、この
検出データをフレームメモリ４に格納する。演算手段５
はデータ検出手段３が検出データをフレームメモリ４に
格納し終えた後に、フレームメモリ４から検出データを
取り出し、画像処理的な手法を用いて処理し、電子部品
２の実装状態を判定する。
いて説明する。被検査対象基板１上の電子部品２の実装
状態のデータをデータ検出手段３によって検出し、この
検出データをフレームメモリ４に格納する。演算手段５
はデータ検出手段３が検出データをフレームメモリ４に
格納し終えた後に、フレームメモリ４から検出データを
取り出し、画像処理的な手法を用いて処理し、電子部品
２の実装状態を判定する。
【０００５】このように、上記従来の実装基板外観検査
装置でも、被検査対象基板１の表面の電子部品２の実装
状態を自動検査することができる。
装置でも、被検査対象基板１の表面の電子部品２の実装
状態を自動検査することができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の実装基板外観検査装置では、データ検出手段３がフ
レームメモリ４にデータを格納し終えるまでは演算手段
５が動作できず、結果として全体の動作時間が長くなる
という問題があった。
来の実装基板外観検査装置では、データ検出手段３がフ
レームメモリ４にデータを格納し終えるまでは演算手段
５が動作できず、結果として全体の動作時間が長くなる
という問題があった。
【０００７】また、被検査対象基板１のうち、最も大き
な基板全体の大きさの分だけフレームメモリ４の容量が
必要になり、非効率的であるという問題もあった。
な基板全体の大きさの分だけフレームメモリ４の容量が
必要になり、非効率的であるという問題もあった。
【０００８】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
であり、演算手段の動作がデータ検出手段の動作に制限
されないようにして全体の動作時間を短くすることがで
きるとともに、フレームメモリの容量が被検査対象基板
全体の大きさで済み、効率的な実装基板外観検査装置を
提供することを目的とするものである。
であり、演算手段の動作がデータ検出手段の動作に制限
されないようにして全体の動作時間を短くすることがで
きるとともに、フレームメモリの容量が被検査対象基板
全体の大きさで済み、効率的な実装基板外観検査装置を
提供することを目的とするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の技術的手段は、被検査対象基板上の部品の実
装状態のデータを採取するデータ検出手段と、このデー
タ検出手段により採取されたデータを、２つに分けた領
域に交互に格納し、取り出すことができるデュアルポー
トのフレームメモリと、上記データ検出手段により上記
被検査対象基板上の部品の実装状態のデータを採取する
際、上記フレームメモリの２つの領域に対応させて上記
被検査対象基板を２つの領域に分けてデータの採取を行
うことができるように上記被検査対象基板の位置をシフ
トするシフト手段と、上記フレームメモリの一方の領域
に上記データ検出手段によりデータを格納している間に
他方の領域に格納されているデータを取り出し、画像処
理的な手法を用いて処理、判定することができる演算手
段とを備えたものである。
の本発明の技術的手段は、被検査対象基板上の部品の実
装状態のデータを採取するデータ検出手段と、このデー
タ検出手段により採取されたデータを、２つに分けた領
域に交互に格納し、取り出すことができるデュアルポー
トのフレームメモリと、上記データ検出手段により上記
被検査対象基板上の部品の実装状態のデータを採取する
際、上記フレームメモリの２つの領域に対応させて上記
被検査対象基板を２つの領域に分けてデータの採取を行
うことができるように上記被検査対象基板の位置をシフ
トするシフト手段と、上記フレームメモリの一方の領域
に上記データ検出手段によりデータを格納している間に
他方の領域に格納されているデータを取り出し、画像処
理的な手法を用いて処理、判定することができる演算手
段とを備えたものである。
【００１０】
【作用】したがって、本発明によれば、被検査対象基板
上の部品の実装状態のデータを記憶するフレームメモリ
をデュアルポートとしているので、データ検出手段によ
るフレームメモリに対するデータの格納と、演算手段に
よるフレームメモリからのデータの取り出し、処理、判
定を同時に行うことができる。
上の部品の実装状態のデータを記憶するフレームメモリ
をデュアルポートとしているので、データ検出手段によ
るフレームメモリに対するデータの格納と、演算手段に
よるフレームメモリからのデータの取り出し、処理、判
定を同時に行うことができる。
【００１１】また、シフト手段により大きな被検査対象
基板のデータを２つに分け、演算手段の動作とデータ検
出手段の動作を並行して行うことによって、全体の処理
時間を短縮するようにしてもフレームメモリの容量がち
ょうど被検査対象基板全体の大きさで済む。
基板のデータを２つに分け、演算手段の動作とデータ検
出手段の動作を並行して行うことによって、全体の処理
時間を短縮するようにしてもフレームメモリの容量がち
ょうど被検査対象基板全体の大きさで済む。
【００１２】
【実施例】（実施例１） 以下、本発明の第１の実施例について図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【００１３】図１は本発明の第１の実施例における実装
基板外観検査装置を示す機能ブロック図である。
基板外観検査装置を示す機能ブロック図である。
【００１４】図１において、１は被検査対象基板であ
り、各種の電子部品２が実装されている。３はデータ検
出手段であり、各種の測定原理を応用して被検査対象基
板１上の電子部品２の実装状態のデータを採取する。４
は採取されたデータを格納するデュアルポートのフレー
ムメモリであり、２つの領域、この実施例では、ＯＤＤ
領域４１とＥＶＥＮ領域４２に分けられている。５は演
算手段であり、フレームメモリ４に格納されているデー
タを取り出し、画像処理的な手法を用いて処理し、実装
状態を判定する。
り、各種の電子部品２が実装されている。３はデータ検
出手段であり、各種の測定原理を応用して被検査対象基
板１上の電子部品２の実装状態のデータを採取する。４
は採取されたデータを格納するデュアルポートのフレー
ムメモリであり、２つの領域、この実施例では、ＯＤＤ
領域４１とＥＶＥＮ領域４２に分けられている。５は演
算手段であり、フレームメモリ４に格納されているデー
タを取り出し、画像処理的な手法を用いて処理し、実装
状態を判定する。
【００１５】６はシフト手段であり、このシフト手段６
によってデータ検出手段３のデータ採取領域として被検
査対象基板１の上下２つの領域の何れかを選択すること
ができるものである。
によってデータ検出手段３のデータ採取領域として被検
査対象基板１の上下２つの領域の何れかを選択すること
ができるものである。
【００１６】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。まず、シフト手段６はデータ検出手段３
により被検査対象基板１の下半分の領域の電子部品２の
実装状態のデータを採取できるように動作する。これに
よりデータ検出手段３は被検査対象基板１の下半分の領
域の電子部品２の実装状態のデータを採取し、フレーム
メモリ４のＯＤＤ領域４１にデータを格納する。次に、
シフト手段６はデータ検出手段３により被検査対象基板
１の上半分の領域の電子部品２の実装状態のデータを採
取できるように動作する。これによりデータ検出手段３
は被検査対象基板１の上半分の領域の電子部品２の実装
状態のデータを採取し、フレームメモリ４のＥＶＥＮ領
域４２にデータを格納する。この間、演算手段５は既に
フレームメモリ４のＯＤＤ領域４１に格納されているデ
ータを取り出し、処理、判定を行い、判定結果を出力す
る。以後はシフト手段６が上記動作を繰り返して被検査
対象基板１の領域を切り換え、データ検出手段３による
データの格納と、演算手段５によるデータの取り出し、
処理、判定を、フレームメモリ４のＯＤＤ領域４１とＥ
ＶＥＮ領域４２とを交互に使用しながら並行して行う。
いて説明する。まず、シフト手段６はデータ検出手段３
により被検査対象基板１の下半分の領域の電子部品２の
実装状態のデータを採取できるように動作する。これに
よりデータ検出手段３は被検査対象基板１の下半分の領
域の電子部品２の実装状態のデータを採取し、フレーム
メモリ４のＯＤＤ領域４１にデータを格納する。次に、
シフト手段６はデータ検出手段３により被検査対象基板
１の上半分の領域の電子部品２の実装状態のデータを採
取できるように動作する。これによりデータ検出手段３
は被検査対象基板１の上半分の領域の電子部品２の実装
状態のデータを採取し、フレームメモリ４のＥＶＥＮ領
域４２にデータを格納する。この間、演算手段５は既に
フレームメモリ４のＯＤＤ領域４１に格納されているデ
ータを取り出し、処理、判定を行い、判定結果を出力す
る。以後はシフト手段６が上記動作を繰り返して被検査
対象基板１の領域を切り換え、データ検出手段３による
データの格納と、演算手段５によるデータの取り出し、
処理、判定を、フレームメモリ４のＯＤＤ領域４１とＥ
ＶＥＮ領域４２とを交互に使用しながら並行して行う。
【００１７】このように、上記第１の実施例によれば、
フレームメモリ４に２つの領域を持ったデュアルポート
メモリを用いているので、データ検出手段３と演算手段
５が同時に動作でき、装置全体の処理時間を短縮するこ
とができるとともに、シフト手段６により被検査対象基
板１のデータを２つの領域に分け、演算手段５の動作と
データ検出手段３の動作を並行して行うことによって、
フレームメモリ４の容量がちょうど被検査対象基板１の
全体の大きさで済み、効率的である。
フレームメモリ４に２つの領域を持ったデュアルポート
メモリを用いているので、データ検出手段３と演算手段
５が同時に動作でき、装置全体の処理時間を短縮するこ
とができるとともに、シフト手段６により被検査対象基
板１のデータを２つの領域に分け、演算手段５の動作と
データ検出手段３の動作を並行して行うことによって、
フレームメモリ４の容量がちょうど被検査対象基板１の
全体の大きさで済み、効率的である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
検査対象基板上の部品の実装状態のデータを記憶するフ
レームメモリをデュアルポートとしているので、データ
検出手段によるフレームメモリに対するデータの格納
と、演算手段によるフレームメモリからのデータの取り
出し、処理、判定を同時に行うことができ、したがっ
て、全体の処理時間を短縮することができる。
検査対象基板上の部品の実装状態のデータを記憶するフ
レームメモリをデュアルポートとしているので、データ
検出手段によるフレームメモリに対するデータの格納
と、演算手段によるフレームメモリからのデータの取り
出し、処理、判定を同時に行うことができ、したがっ
て、全体の処理時間を短縮することができる。
【００１９】また、シフト手段により大きな被検査対象
基板のデータを２つに分け、演算手段の動作とデータ検
出手段の動作を並行して行うことによって、全体の処理
時間を短縮するようにしてもフレームメモリの容量がち
ょうど被検査対象基板全体の大きさで済み、したがっ
て、効率的である。
基板のデータを２つに分け、演算手段の動作とデータ検
出手段の動作を並行して行うことによって、全体の処理
時間を短縮するようにしてもフレームメモリの容量がち
ょうど被検査対象基板全体の大きさで済み、したがっ
て、効率的である。
【図１】本発明の第１の実施例における実装基板外観検
査装置を示す機能ブロック図
査装置を示す機能ブロック図
【図２】従来の実装基板外観装置を示す機能ブロック図
１ 被検査対象基板 ２ 電子部品 ３ データ検出手段 ４ フレームメモリ ５ 演算手段 ６ シフト手段 ４１ フレームメモリ４のＯＤＤ領域 ４２ フレームメモリ４のＥＶＥＮ領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 瀬田 順三 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番 １号 松下通信工業株式会社内 (72)発明者 小関 洋子 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番 １号 松下通信工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平３−202707（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−282632（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】 被検査対象基板上の部品の実装状態のデ
ータを採取するデータ検出手段と、このデータ検出手段
により採取されたデータを、２つに分けた領域に交互に
格納し、取り出すことができるデュアルポートのフレー
ムメモリと、上記データ検出手段により上記被検査対象
基板上の部品の実装状態のデータを採取する際、上記フ
レームメモリの２つの領域に対応させて上記被検査対象
基板を２つの領域に分けてデータの採取を行うことがで
きるように上記被検査対象基板の位置をシフトするシフ
ト手段と、上記フレームメモリの一方の領域に上記デー
タ検出手段によりデータを格納している間に他方の領域
に格納されているデータを取り出し、画像処理的な手法
を用いて処理、判定することができる演算手段とを備え
た実装基板外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4090513A JP2701653B2 (ja) | 1992-04-10 | 1992-04-10 | 実装基板外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4090513A JP2701653B2 (ja) | 1992-04-10 | 1992-04-10 | 実装基板外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05291800A JPH05291800A (ja) | 1993-11-05 |
| JP2701653B2 true JP2701653B2 (ja) | 1998-01-21 |
Family
ID=14000549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4090513A Expired - Fee Related JP2701653B2 (ja) | 1992-04-10 | 1992-04-10 | 実装基板外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2701653B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4852516B2 (ja) * | 2007-11-22 | 2012-01-11 | パナソニック株式会社 | 基板の検査方法及び基板の検査装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01282632A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-14 | Fujitsu Ltd | ディジタル動画像表示方式 |
| JP2840347B2 (ja) * | 1989-12-29 | 1998-12-24 | キヤノン株式会社 | 基板実装検査装置 |
-
1992
- 1992-04-10 JP JP4090513A patent/JP2701653B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05291800A (ja) | 1993-11-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |