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JP2717064B2 - Sealing treatment method for gold plated material - Google Patents
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JP2717064B2 - Sealing treatment method for gold plated material - Google Patents

Sealing treatment method for gold plated material

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JP2717064B2
JP2717064B2 JP5384294A JP5384294A JP2717064B2 JP 2717064 B2 JP2717064 B2 JP 2717064B2 JP 5384294 A JP5384294 A JP 5384294A JP 5384294 A JP5384294 A JP 5384294A JP 2717064 B2 JP2717064 B2 JP 2717064B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は銅合金、鉄、ステンレス
鋼、高ニッケル合金等の金属材料を基材とし、これにニ
ッケルまたはニッケル含有合金めっきを付したものを下
地として具備する金または金合金めっき材の封孔処理方
法及び封孔処理されたコネクタ接触子に関する。特に金
及び金合金めっき厚が薄くても高耐食性、電気的接触性
能の長期安定性を示し、かつ潤滑性に優れる封孔処理
液、封孔処理方法及び封孔処理された接触子に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to gold or gold having a base material made of a metal material such as copper alloy, iron, stainless steel, high nickel alloy and the like and plated with nickel or a nickel-containing alloy as a base material. The present invention relates to a method for sealing a plated alloy material and a connector contact that has been sealed. Particularly, the present invention relates to a sealing solution, a sealing method, and a contact that has been subjected to a sealing treatment that exhibits high corrosion resistance, long-term stability of electrical contact performance even when the thickness of the gold and gold alloy plating is thin, and has excellent lubricity. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器用接続部品としてコネクタは最
も代表的なものであり、多種多様のコネクタが実用化さ
れている。電算機や通信用機器等高度の信頼性が要求さ
れる、いわゆる産業用電子機器に使用されるコネクタ
は、りん青銅、ベリリウム銅等のバネ用銅合金を母材と
し、金めっきをしたものが一般に使用されている。これ
ら高度の信頼性が要求されるコネクタにおいては、高耐
食性、電気的接触性能の長期安定性を有する他に、コネ
クタを挿抜する際の挿抜力が低いことが要求されてい
る。ところで、金は高価であるため、コネクタ製造コス
トを下げる目的で様々な方法が採られている。その代表
的な方法が金めっきの厚みを薄くする方法であるが、金
めっき厚を薄くするとともに、皮膜のピンホールが指数
関数的に増え、耐食性が著しく低下するという問題を抱
えている。この問題を解決する方法のひとつに封孔処理
がある。すなわち、各種の無機性あるいは有機性の薬品
で金めっき表面を処理し、ピンホールを塞ぎ耐食性を向
上させようとするものである。封孔処理には有機系と水
系がある。有機系は一般にはハロゲン系有機溶剤が溶媒
に使用されることから環境汚染の問題が生じる。水系で
はクロメート法が代表的なものであるが、クロメート法
では、耐食性向上の効果はみられても、接触抵抗が上昇
するという場合があり、また潤滑性が低く、コネクタの
挿抜性を損なうものであった。
2. Description of the Related Art A connector is the most typical connector for electronic equipment, and various connectors have been put to practical use. Connectors used in so-called industrial electronic devices that require a high degree of reliability, such as computers and communication devices, are made of a copper alloy for springs such as phosphor bronze and beryllium copper and are plated with gold. Commonly used. In these connectors requiring high reliability, in addition to high corrosion resistance and long-term stability of electrical contact performance, it is required that the insertion / extraction force at the time of insertion / extraction of the connector is low. By the way, since gold is expensive, various methods have been adopted in order to reduce connector manufacturing cost. A typical method is to reduce the thickness of the gold plating. However, there is a problem that the thickness of the gold plating is reduced, the number of pinholes in the film increases exponentially, and the corrosion resistance is significantly reduced. One of the methods for solving this problem is a sealing treatment. That is, the surface of the gold plating is treated with various inorganic or organic chemicals to close the pinholes and improve the corrosion resistance. There are an organic type and an aqueous type in the sealing treatment. In the case of organic solvents, generally, a halogen-based organic solvent is used as a solvent, so that a problem of environmental pollution arises. The chromate method is typical for water systems.However, the chromate method has the effect of improving corrosion resistance, but may increase contact resistance, and also has low lubricity and impairs connector insertion / extraction. Met.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】そこで、環境汚染性に
問題がなく、金めっき材の耐食性、電気的接触性能の長
期安定性に加えて、潤滑性をも同時に向上することので
きる封孔処理液及び封孔処理方法が必要となっている。
本発明はこのような要求を満たすことのできる改善され
た封孔処理液及びそれを用いる封孔処理方法を提供する
ことを目的とし、あわせてそれによって処理されたコネ
クタを提供することを目的としたものである。
Therefore, there is no problem in environmental pollution, and in addition to the corrosion resistance and long-term stability of electrical contact performance of the gold-plated material, a sealing treatment capable of simultaneously improving lubricity. Liquid and sealing methods are required.
An object of the present invention is to provide an improved sealing treatment solution capable of satisfying such a demand and a sealing treatment method using the same, and an object of the present invention to provide a connector treated thereby. It was done.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】かかる状況に鑑み、本発
明者等は鋭意研究を行った結果、以下に示す封孔処理方
法及び封孔処理されたコネクタ接触子を発明するに至っ
た。すなわち、本発明は(1)基材金属にニッケルまた
はニッケルを含有する合金めっきを施した材料を下地と
して具備する金または金合金めっき材の封孔処理方法に
おいて、インヒビター水溶液に自己乳化剤を0.01〜
5.0wt%添加することにより形成されたエマルジョ
ンタイプの封孔処理溶液中で、該メッキ材を陽極として
直流電解するにあたり、陽極電流密度0.05mA/d
2以上、通電量0.05×10-3〜50×10-3クー
ロン/dm2の範囲で実施することを特徴とする金また
は金合金めっき材の封孔処理方法、(2)封孔処理溶液
におけるインヒビターとして、ニッケルまたは基材金属
とのキレート形成性環状窒素化合物の1種類もしくは2
種類以上を合計で10〜1000ppm含有することを
特徴とする上記(1)記載の封孔処理方法、(3)上記
方法で封孔処理されたコネクタ接触子である。又、本発
明の封孔処理方法は、これを換言すれば、封孔処理され
たコネクタ接触子などの金めっき材の製造方法でもあ
る。
In view of such circumstances, the present inventors have conducted intensive studies and as a result, have come to invent a sealing method and a connector contact which has been subjected to the following sealing treatment. That is, the present invention provides (1) a method for sealing gold or a gold alloy plating material having a base metal coated with nickel or an alloy plating containing nickel as a base material, wherein a self-emulsifier is added to the inhibitor aqueous solution in an amount of 0.1%. 01 ~
In the emulsion type sealing treatment solution formed by adding 5.0 wt%, when performing DC electrolysis using the plating material as an anode, the anode current density is 0.05 mA / d.
m 2 or more, gold or sealing treatment method of the gold alloy plating material which comprises carrying out a range of power supply amount 0.05 × 10 -3 ~50 × 10 -3 coulombs / dm 2, (2) sealing One or two of chelating cyclic nitrogen compounds with nickel or base metal as inhibitors in the treatment solution
The sealing method according to the above (1), wherein the connector contactor contains 10 to 1000 ppm in total of at least one kind. In addition, the sealing treatment method of the present invention is, in other words, a method for producing a gold-plated material such as a sealed connector contact.

【0005】本発明は被処理材の電極電位を下地めっき
であるニッケルの酸化領域に保持して直流電解すること
により、金めっきのピンホール内部の下地金属であるニ
ッケルを酸化させ、ニッケルとインヒビターとを反応さ
せ、錯化合物をピンホールに充填させることにより防錆
効果をもたせ、さらに封孔処理液中の自己乳化剤が金め
っき表面に吸着して潤滑効果をもたせることにより封孔
処理効果を持たせる方法である。直流電解するにあたっ
て、陽極電流密度を0.05mA/dm2以上としたの
は、それ未満の陽極電流密度では防錆効果が著しく低く
なるためである。また、通電量を0.05×10-3〜5
0×10-3クーロン/dm2としたのは0.05×10
-3クーロン/dm2未満の通電量では防錆皮膜が充分に
形成されないため、封孔処理効果が小さくなり、また5
0×10-3クーロン/dm2を越えると防錆処理皮膜が
厚くなり、接触抵抗が高くなるためである。
According to the present invention, nickel, which is a base metal in a pinhole of gold plating, is oxidized by holding the electrode potential of a material to be processed in an oxidized region of nickel, which is a base plating, to oxidize nickel and an inhibitor. Has a rust-preventive effect by filling the complex compound into the pinhole, and has a lubricating effect by adsorbing the self-emulsifier in the sealing solution to the gold plating surface and having a lubricating effect. It is a way to make it. The reason why the anode current density is set to 0.05 mA / dm 2 or more in direct current electrolysis is that at a lower anode current density, the rust-preventing effect is significantly reduced. In addition, the amount of electricity is 0.05 × 10 −3 to 5
0 × 10 −3 coulomb / dm 2 is 0.05 × 10
If the amount of electricity is less than -3 coulomb / dm 2 , the rust-preventive film is not sufficiently formed, so that the effect of the sealing treatment is reduced.
If it exceeds 0 × 10 −3 coulomb / dm 2 , the rust preventive film becomes thicker and the contact resistance becomes higher.

【0006】本発明の必須成分であり、潤滑剤として使
用する自己乳化剤は、水中に添加した際に、被乳化剤の
存在がなくてもそれ自身が乳化してエマルジョンを形成
するものであり、金めっき表面に吸着して油性向上剤、
あるいは極圧添加剤として働くものである。本発明に使
用する自己乳化剤は公知の自己乳化剤から1種もしくは
2種以上を適宜選択することができ、何等制限されな
い。例えば、
[0006] The self-emulsifying agent, which is an essential component of the present invention and is used as a lubricant, is capable of emulsifying itself when added to water even in the absence of an emulsifying agent to form an emulsion. Oiliness improver adsorbed on plating surface,
Alternatively, it acts as an extreme pressure additive. The self-emulsifier used in the present invention can be appropriately selected from one or more known self-emulsifiers, and is not limited at all. For example,

【0007】[0007]

【化1】 Embedded image

【0008】(式中、Rはアルキル、置換アルキルを表
わし、Mは水素、アルカリ金属をnは酸化エチレンの平
均付加モル数を表わす)で表わされるアルキルエーテル
りん酸エステル、
Wherein R is an alkyl or substituted alkyl, M is hydrogen, an alkali metal and n is an average addition mole number of ethylene oxide.

【0009】[0009]

【化2】 Embedded image

【0010】(式中、Rはアルキル、置換アルキルを表
し、Mは水素、アルカリ金属を表わす)で表わされるア
ルキルりん酸エステルなどが有効である。前記式で表わ
されるアルキルエーテル燐酸エステルにおけるRで示さ
れるアルキルとしては、例えば炭素数6〜30、好まし
くは8〜18の直鎖状又は分枝状のアルキルが用いられ
る。その置換基としては、例えばアルキルフェノール基
が好ましい。Mがアルカリ金属を示す場合、ナトリウ
ム、カリウム、リチウムが好ましい。アルキルエーテル
燐酸エステルの特に好ましい具体例としては、例えばR
がC817で、MがH,nが1のもの、RがC1225
nが4のものなどがある。
(Wherein, R represents an alkyl or substituted alkyl, M represents hydrogen or an alkali metal), and the like are effective. As the alkyl represented by R in the alkyl ether phosphate represented by the above formula, for example, a linear or branched alkyl having 6 to 30 carbon atoms, preferably 8 to 18 carbon atoms is used. As the substituent, for example, an alkylphenol group is preferable. When M represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred. Particularly preferred specific examples of the alkyl ether phosphate include, for example, R
Is C 8 H 17 , M is H, n is 1, R is C 12 H 25 ,
For example, n is 4.

【0011】前記式で表わされるアルキル燐酸エステル
におけるRで示されるアルキルとしては、例えば炭素数
1〜18、好ましくは4〜12の直鎖状又は分枝状のア
ルキルが用いられる。その置換基としては例えばアルキ
ルフェノール基などが好ましい。またMで示されるアル
カリ金属はナトリウム、カリウム、リチウムが好まし
い。アルキル燐酸エステルの特に好ましい具体例として
は、例えばRがC49、MがHのもの、RがC1025
MがNaのものなどがある。等が有効である。これら自
己乳化剤の総量を0.01〜5.0wt%としたのは、
001wt%未満の濃度では、潤滑性改善効果が低く、
また5.0wt%を越える濃度では接触抵抗が上昇する
ためである。本発明においてインヒビターとして使用す
る、銅などの基材金属又はニッケルとキレート化合物を
形成することができる環状窒素化合物としては、例えば
下記式(3)で表わされるベンゾトリアゾール系化合
物、下記式(4)で表わされるインダゾール系化合物、
下記式(5)で表わされるベンズイミダゾール系化合
物、下記式(6)で表わされるインドール系化合物、下
記式(7)で表わされる1,3,5−トリアジンチオー
ル系化合物、下記式(8)で表わされるメルカプトベン
ゾチアゾール系化合物等が有効である。
As the alkyl represented by R in the alkyl phosphate ester represented by the above formula, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 18, preferably 4 to 12 carbon atoms is used. The substituent is preferably, for example, an alkylphenol group. The alkali metal represented by M is preferably sodium, potassium or lithium. Particularly preferred specific examples of the alkyl phosphate include, for example, those wherein R is C 4 H 9 , M is H, R is C 10 H 25 ,
M may be Na. Etc. are effective. The total amount of these self-emulsifiers was set to 0.01 to 5.0 wt%,
If the concentration is less than 001 wt%, the lubricity improving effect is low,
If the concentration exceeds 5.0 wt%, the contact resistance increases. The cyclic nitrogen compound capable of forming a chelate compound with a base metal such as copper or nickel used as an inhibitor in the present invention includes, for example, a benzotriazole-based compound represented by the following formula (3), a benzotriazole-based compound represented by the following formula (4) An indazole compound represented by the formula:
A benzimidazole compound represented by the following formula (5), an indole compound represented by the following formula (6), a 1,3,5-triazinethiol compound represented by the following formula (7), and a compound represented by the following formula (8) The represented mercaptobenzothiazole-based compound is effective.

【0012】[0012]

【化3】 Embedded image

【0013】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アルキル、
置換アルキルを表わす)
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents an alkali metal, hydrogen, alkyl,
Represents a substituted alkyl)

【0014】[0014]

【化4】 Embedded image

【0015】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アシル、ア
ルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein, R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents an alkali metal, hydrogen, acyl, alkyl, or substituted alkyl)

【0016】[0016]

【化5】 Embedded image

【0017】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はアルカリ金属、水素、アシル、ア
ルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein, R 1 represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl, and R 2 represents an alkali metal, hydrogen, acyl, alkyl, or substituted alkyl)

【0018】[0018]

【化6】 Embedded image

【0019】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キルを表わし、R2はカルボキシル基、アルカリ金属、
水素、アルキル、置換アルキルを表わす)
(Wherein R 1 represents hydrogen, alkyl or substituted alkyl, R 2 represents a carboxyl group, an alkali metal,
Represents hydrogen, alkyl, or substituted alkyl)

【0020】[0020]

【化7】 Embedded image

【0021】(式中、R1は−SH、またはアルキル基
又はアリール基で置換されたアミノ基を表わし、M1
2は水素、アルカリ金属を表わす。)
(Wherein R 1 represents —SH, or an amino group substituted with an alkyl group or an aryl group, and M 1 ,
M 2 represents hydrogen or an alkali metal. )

【0022】[0022]

【化8】 Embedded image

【0023】(式中、R1は水素、アルキル、置換アル
キル、ハロゲンを表わし、R2はアルカリ金属、水素、
アルキル、置換アルキル、置換アミノ基を表わす) 前記式(3)で表わされるベンゾトリアゾール系化合物
におけるR1またはR2で示されるアルキルとしては例え
ば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状または分
枝状のアルキルが用いられる。その置換基としては例え
ばカルボキシル基、そのアルカリ金属塩が好ましい。R
2がアルカリ金属を示す場合は、ナトリウム、カリウ
ム、リチウムが好ましい。特に好ましい具体例を挙げる
と例えば
(Wherein, R 1 represents hydrogen, alkyl, substituted alkyl, or halogen; R 2 represents an alkali metal, hydrogen,
The alkyl represented by R 1 or R 2 in the benzotriazole compound represented by the formula (3) is, for example, a straight chain having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Alkyl or branched alkyl is used. As the substituent, for example, a carboxyl group or an alkali metal salt thereof is preferable. R
When 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred. Particularly preferred specific examples include, for example,

【0024】[0024]

【化9】 Embedded image

【0025】などがある。前記式(4)で表わされるイ
ンダゾール系化合物におけるR1またはR2で示されるア
ルキルとしては、例えば炭素数1〜10、好ましくは1
〜3の直鎖状または分枝状のアルキルが用いられる。そ
の置換基としては、例えばフェニル、カルボキシル基な
どが好ましい。R2がアシル基を示す場合、好ましくは
アセチル基、ベンゾイル基である。またR2がアルカリ
金属を示す場合はナトリウム、カリウム、リチウムが好
ましい。インダゾール系化合物の特に好ましい具体例を
挙げれば、例えば
And the like. As the alkyl represented by R 1 or R 2 in the indazole compound represented by the formula (4), for example, the alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 carbon atom
Up to 3 linear or branched alkyls are used. As the substituent, for example, phenyl, carboxyl group and the like are preferable. When R 2 represents an acyl group, it is preferably an acetyl group or a benzoyl group. When R 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred. Specific examples of particularly preferred indazole compounds include, for example,

【0026】[0026]

【化10】 Embedded image

【0027】などがある。And the like.

【0028】前記式(5)で表わされるベンズイミダゾ
ール系化合物におけるR1,R2で示されるアルキルとし
ては、例えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖
状または分枝状のアルキルが用いられる。その置換基と
しては、カルボキシル基、そのアルカリ金属塩などが好
ましい。R2がアシル基を示す場合、好ましくはアセチ
ル基、ベンゾイル基などである。R2がアルカリ金属を
示す場合はナトリウム、カリウム、リチウムが好まし
い。ベンズイミダゾール系化合物の特に好ましい具体例
を挙げれば、例えば
The alkyl represented by R 1 and R 2 in the benzimidazole compound represented by the formula (5) is, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. Is used. As the substituent, a carboxyl group and an alkali metal salt thereof are preferable. When R 2 represents an acyl group, it is preferably an acetyl group, a benzoyl group or the like. When R 2 represents an alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferred. Particularly preferred specific examples of the benzimidazole compound, for example,

【0029】[0029]

【化11】 Embedded image

【0030】などがある。And the like.

【0031】前記式(6)で表わされるインドール系化
合物におけるR1,R2で示されるアルキルとしては、例
えば炭素数1〜10、好ましくは1〜3の直鎖状または
分枝状のアルキルが用いられる。その置換基としては、
カルボキシル基、そのアルカリ金属塩などが好ましい。
2がアルカリ金属を示す場合は、好ましくはナトリウ
ム、カリウム、リチウムである。インドール系化合物の
特に好ましい具体例を挙げれば、
The alkyl represented by R 1 and R 2 in the indole compound represented by the above formula (6) is, for example, a linear or branched alkyl having 1 to 10, preferably 1 to 3 carbon atoms. Used. As the substituent,
Carboxyl groups and alkali metal salts thereof are preferred.
When R 2 represents an alkali metal, it is preferably sodium, potassium or lithium. Particularly preferred specific examples of the indole compound,

【0032】[0032]

【化12】 Embedded image

【0033】などがある。前記式(7)で表わされる
1,3,5−トリアジンチオール系化合物におけるR1
で示される置換アミノ基のアルキル置換基は、例えば炭
素数1〜30、好ましくは4〜18の直鎖状または分枝
状のアルキルが用いられる。またアリール置換基として
は、例えばフェニル、トリルなどが好ましい。M1,M2
がアルカリ金属を示す場合、好ましいのはナトリウム、
カリウム、リチウムである。1,3,5−トリアジンチ
オール系化合物の特に好ましい具体例を挙げると、
And the like. R 1 in the 1,3,5-triazinethiol-based compound represented by the formula (7)
As the alkyl substituent of the substituted amino group represented by formula (1), for example, a linear or branched alkyl having 1 to 30 carbon atoms, preferably 4 to 18 carbon atoms is used. As the aryl substituent, for example, phenyl, tolyl and the like are preferable. M 1 , M 2
When represents an alkali metal, preferred is sodium,
Potassium and lithium. Particularly preferred specific examples of the 1,3,5-triazinethiol-based compound include:

【0034】[0034]

【化13】 Embedded image

【0035】などがある。前記式(8)で表わされるメ
ルカプトベンゾチアゾール系化合物において、R1,R2
で示されるアルキルとしては、例えば炭素数1〜10、
好ましくは1〜3の直鎖状または分枝状アルキルで、ア
ルキルの置換基としては、カルボキシル基、そのアルカ
リ金属塩、フッ化炭素などがある。また置換アミノ基と
しては(C492N−などが好ましい。アルカリ金属
としては、ナトリウム、カリウム、リチウムが好まし
い。メルカプトベンゾチアゾール系化合物としてとくに
好ましいものを挙げると、
And the like. In the mercaptobenzothiazole compound represented by the formula (8), R 1 , R 2
As the alkyl represented by, for example, 1 to 10 carbon atoms,
Preferably, it is a straight-chain or branched alkyl of 1 to 3, and the substituent of the alkyl includes a carboxyl group, an alkali metal salt thereof, and fluorocarbon. As the substituted amino group, (C 4 H 9 ) 2 N— and the like are preferable. As the alkali metal, sodium, potassium and lithium are preferable. Particularly preferred examples of the mercaptobenzothiazole-based compound include:

【0036】[0036]

【化14】 Embedded image

【0037】これらインヒビターの総量を10〜100
0ppmとしたのは、10ppm未満の濃度では防錆効
果が低く、1000ppmをこえる濃度では接触抵抗が
上昇するためである。封孔処理は線材、板材、条材など
素材の段階でめっき後行う場合は、めっき品をプレス加
工後に本発明の封孔処理液及び封孔処理方法で封孔処理
することも有効である。めっき後封孔処理した金属材料
であっても、その後のプレス加工で付着したプレス油等
を洗浄する工程において、封孔処理の効果が低下するこ
とがある。そこで再度の封孔処理が有効となる。プレス
加工後にめっきと封孔処理を施すこともできる。
The total amount of these inhibitors is 10 to 100
The reason why the concentration is set to 0 ppm is that when the concentration is less than 10 ppm, the rust prevention effect is low, and when the concentration exceeds 1000 ppm, the contact resistance increases. In the case where the sealing treatment is performed after plating at the stage of a material such as a wire, a plate, or a strip, it is also effective to perform a sealing treatment with the sealing treatment solution and the sealing treatment method of the present invention after pressing the plated product. Even with a metal material that has been sealed after plating, the effect of the sealing may be reduced in the step of cleaning press oil or the like adhering in the subsequent press working. Therefore, the re-sealing process is effective. After the press working, plating and sealing can be performed.

【0038】その後のコネクタの加工工程においても、
最終の電子機器組立まで、めっき品の洗浄工程があれば
同様に封孔処理効果は低下するため、適宜本発明により
封孔処理することが有効である。従って、本発明は本発
明封孔処理方法によって処理されたコネクタも包含する
ものである。なお、本発明におけるめっき母材となる金
属材料は、銅、黄銅、りん青銅、チタン銅、ベリリウム
銅等の各種銅合金、鉄、ステンレス鋼、高ニッケル合金
等のコネクタの要求特性に従い適宜選択でき、何等制限
されない。めっき材のめっき方法については、電気メッ
キ、無電解めっき、あるいはCVD、PVD等の乾式め
っき等の公知のものを適用でき、制限されない。さらに
めっき条件は公知の方法が適用できる。金合金めっきと
しては金をベースとする合金めっきであって、用途によ
り適宜選ばれる。コネクタ用途では耐摩耗性を向上する
ために、コバルトを微量含む硬質めっきが広く使用され
ている。下地めっきはニッケル、ニッケルにパラジウム
を80〜90%合金化したもの、あるいはニッケルにコ
バルトを60〜80%合金化したもの等が一般的である
が、ニッケルを含有する合金であれば本発明は有効であ
る。
In the subsequent connector processing steps,
If there is a step of washing the plated product until the final assembly of the electronic device, the effect of the sealing treatment is similarly reduced. Therefore, it is effective to appropriately perform the sealing treatment according to the present invention. Therefore, the present invention also includes a connector processed by the sealing method of the present invention. The metal material serving as a plating base material in the present invention can be appropriately selected according to the required characteristics of various copper alloys such as copper, brass, phosphor bronze, titanium copper, beryllium copper, iron, stainless steel, and high nickel alloys. Nothing is restricted. A known plating method such as electroplating, electroless plating, or dry plating such as CVD or PVD can be applied to the plating method, and is not limited. Further, a known method can be applied as plating conditions. The gold alloy plating is an alloy plating based on gold, and is appropriately selected depending on the application. Hard plating containing a small amount of cobalt is widely used in connectors for improving wear resistance. The base plating is generally nickel, nickel-palladium alloyed with 80-90%, nickel-cobalt alloyed with 60-80%, etc., but the present invention is applicable to any alloy containing nickel. It is valid.

【0039】[0039]

【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を詳細に説明す
る。バネ用りん青銅(C5210−H)の厚み0.2m
mの冷間圧延材を用い、雄及び雌の連続端子をそれぞれ
プレス成形した。これらをリール・ツウ・リールの連続
電気めっきラインを通して電気めっきを施した。めっき
ラインにおいては脱脂、酸洗後、ワット浴による1μm
のニッケルめっき、あるいはアンモニア系のめっき液に
よる0.5μmのPd80%−Ni20%合金めっきを
行い、その上に金あるいは金−コバルト合金を0.1μ
mの厚みで接点部に部分めっきした。また、連続めっき
ラインでは、金めっき後に封孔処理工程を設け、連続端
子を通入することにより封孔処理を施した。こうして表
面処理をした雄と雌の端子をキャリアー部から切断しリ
ード線を圧着した後、それぞれを嵌合し評価試験に供し
た。
The present invention will be described in detail below with reference to examples. Phosphor bronze for spring (C5210-H) thickness 0.2m
The male and female continuous terminals were each press-formed using a cold-rolled material of m. These were electroplated through a continuous reel-to-reel electroplating line. In the plating line, after degreasing and pickling, 1 μm by Watt bath
Nickel plating or 0.5 μm Pd80% -Ni20% alloy plating with an ammonia-based plating solution, and then gold or gold-cobalt alloy with 0.1 μm
The contact portion was partially plated with a thickness of m. In the continuous plating line, a sealing process was provided after gold plating, and the sealing process was performed by passing a continuous terminal. The surface-treated male and female terminals were cut from the carrier portion and lead wires were crimped, and then fitted together and subjected to an evaluation test.

【0040】接触抵抗は直流10mA、開放電圧200
mVで測定した。潤滑性は処理後のコネクタ端子の挿抜
力の測定で評価した。腐食条件は次の条件で行った。 ガス組成:H2S 3ppm SO2 10ppm 温度:40±2℃ 湿度:80±5%RH 時間:240時間 結果を表1に示す。
The contact resistance is DC 10 mA, open voltage 200.
It was measured in mV. The lubricity was evaluated by measuring the insertion / extraction force of the connector terminal after the treatment. The corrosion conditions were as follows. Gas composition: H 2 S 3 ppm SO 2 10 ppm Temperature: 40 ± 2 ° C. Humidity: 80 ± 5% RH Time: 240 hours The results are shown in Table 1.

【0041】[0041]

【表1】 [Table 1]

【0042】注1)ただし、表中めっき種類および封孔
処理液の略号は以下の通りである。 N1:Ni N2:Pd−Ni K1:Au K2:Au−Co A−1:前記式(3)で表わされるベンゾトリアゾール
系化合物(R1=R2=H) A−2:前記式(4)で表わされるインダゾール系化合
物(R1=R2=H) A−3:前記式(5)で表わされるベンズイミダゾール
系化合物(R1=R2=H) A−4:前記式(6)で表わされるインドール系化合物
(R1=R2=H) A−5:前記式(7)で表わされる1,3,5−トリア
ジンチオール系化合物(R1=N(C49),M1=H,
2=Na) A−6:前記式(8)で表わされるメルカプトベンゾチ
アゾール系化合物(R1=R2=H) B−1:前記式(1−1)〜(1−3)で表わされるア
ルキルエーテルりん酸エステル(R=C817,M=
H,n=2) B−2:前記式(2−1)〜(2−3)で表わされるア
ルキルりん酸エステル(R=C1021,M=H) 注2)試験の判定基準は次のとおりである。
Note 1) However, the plating type and the abbreviation of the sealing solution in the table are as follows. N1: Ni N2: Pd-Ni K1: Au K2: Au-Co A-1: a benzotriazole-based compound represented by the formula (3) (R 1 = R 2 = H) A-2: a formula (4) in indazole compounds represented (R 1 = R 2 = H ) A-3: wherein formula (5) benzimidazole compound represented by (R 1 = R 2 = H ) A-4: in the formula (6) indole compound represented (R 1 = R 2 = H ) A-5: formula (7) represented by 1,3,5-triazine-thiol compound (R 1 = N (C 4 H 9), M 1 = H,
M 2 = Na) A-6 : the mercaptobenzothiazole compound represented by formula (8) (R 1 = R 2 = H) B-1: represented by the formula (1-1) to (1-3) Alkyl ether phosphate (R = C 8 H 17 , M =
H, n = 2) B-2: Alkyl phosphates represented by the formulas (2-1) to (2-3) (R = C 10 H 21 , M = H) Note 2) The criteria for the test are as follows: It is as follows.

【0043】初期接触抵抗、腐食試験後の接触抵抗
(n=5の平均値) ○:10mΩ以下 △:10〜20mΩ ×:20mΩ以上 腐食試験後の外観 ○:腐食生成物なし △:腐食生成物点在 ×:腐食点が全面に認められる 潤滑性(挿抜力) ○:コンタクト1ピンあたりの挿入力290g以下 抜
去力220g以下 △:コンタクト1ピンあたりの挿入力290〜300g
抜去力220〜230g ×:コンタクト1ピンあたりの挿入力300g以上 抜
去力230g以上
Initial contact resistance, contact resistance after corrosion test (average value of n = 5) ○: 10 mΩ or less △: 10 to 20 mΩ ×: 20 mΩ or more Appearance after corrosion test ○: No corrosion product △: Corrosion product Dotted ×: Corrosion point is observed on the entire surface Lubricity (insertion / extraction force) ○: Insertion force per contact pin 290 g or less Removal force 220 g or less △: Insertion force per contact pin 290 to 300 g
Removal force 220 to 230 g ×: Insertion force per contact pin 300 g or more Removal force 230 g or more

【0044】[0044]

【発明の効果】以上述べたように、本発明により封孔処
理された金めっき材は、封孔処理直後の接触抵抗が低
く、過酷な腐食環境においても接触性能の長期安定性
(高耐食性、低接触抵抗値)を示し、潤滑性が高いとい
う利点を有する。
As described above, the gold-plated material sealed according to the present invention has a low contact resistance immediately after the sealing treatment, and has a long-term stability of the contact performance even in a severe corrosive environment (high corrosion resistance, Low contact resistance) and high lubricity.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基材金属にニッケルまたはニッケルを含
有する合金めっき等を下地として具備する金または金合
金めっき材の封孔処理方法において、インヒビター水溶
液に自己乳化剤を0.01〜5.0wt%添加すること
により形成されたエマルジョンタイプの封孔処理溶液中
で該めっき材を陽極として直流電解するにあたり、陽極
電流密度を0.05mA/dm2以上、通電量を0.0
5×10-3〜50×10-3クーロン/dm2の範囲で実
施することを特徴とする金または金合金めっき材の封孔
処理方法。
1. A method for sealing gold or a gold alloy plating material having a base metal such as nickel or an alloy plating containing nickel as a base, wherein a self-emulsifier is contained in an inhibitor aqueous solution in an amount of 0.01 to 5.0 wt%. In direct current electrolysis using the plating material as an anode in an emulsion type sealing solution formed by adding the anode, the anode current density is 0.05 mA / dm 2 or more and the amount of electricity is 0.0
A method for sealing a gold or gold alloy plating material, wherein the method is performed in a range of 5 × 10 −3 to 50 × 10 −3 coulomb / dm 2 .
【請求項2】 封孔処理溶液におけるインヒビターとし
て、ニッケルまたは基材金属とのキレート形成性環状窒
素化合物の1種類もしくは2種類以上を合計で10〜1
000ppm含有することを特徴とする請求項1記載の
封孔処理方法。
2. An inhibitor in the pore-sealing solution, in which one or two or more of a chelate-forming cyclic nitrogen compound with nickel or a base metal is used in an amount of 10 to 1 in total.
The sealing treatment method according to claim 1, wherein the content is 000 ppm.
【請求項3】 請求項1又は2記載の方法で封孔処理さ
れたコネクタ接触子。
3. A connector contact which has been sealed by the method according to claim 1.
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