JP2722866B2 - 粒度分布測定装置 - Google Patents
粒度分布測定装置Info
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- JP2722866B2 JP2722866B2 JP3158171A JP15817191A JP2722866B2 JP 2722866 B2 JP2722866 B2 JP 2722866B2 JP 3158171 A JP3158171 A JP 3158171A JP 15817191 A JP15817191 A JP 15817191A JP 2722866 B2 JP2722866 B2 JP 2722866B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】 本発明は任意の測定原理に基づ
く粒度分布測定装置に関し、特に、粒度分布を連続的に
測定してその時間的変化ないしは変動等を把握する必要
のある粉体プロセス等において使用するのに適した粒度
分布測定装置に関する。
く粒度分布測定装置に関し、特に、粒度分布を連続的に
測定してその時間的変化ないしは変動等を把握する必要
のある粉体プロセス等において使用するのに適した粒度
分布測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】 粉粒体の粒度分布を測定する方法とし
ては、沈降法、レーザ回折法、電気抵抗法、遮光法、ふ
るい分け法、あるいは顕微鏡法等があり、これらのうち
のいずれかの測定原理を利用して、自動的に粒度分布を
測定する装置は既に実用化されている。ところで、粉体
プロセス等においては、製造された粉体や原料として用
いる粉体について、粒度分布の時間的変動を知る必要が
ある。このような粒度分布の時間的変動に係るデータを
表示する機能を持つ粒度分布測定装置についても、従来
から既に存在している。
ては、沈降法、レーザ回折法、電気抵抗法、遮光法、ふ
るい分け法、あるいは顕微鏡法等があり、これらのうち
のいずれかの測定原理を利用して、自動的に粒度分布を
測定する装置は既に実用化されている。ところで、粉体
プロセス等においては、製造された粉体や原料として用
いる粉体について、粒度分布の時間的変動を知る必要が
ある。このような粒度分布の時間的変動に係るデータを
表示する機能を持つ粒度分布測定装置についても、従来
から既に存在している。
【０００３】図５および図６は従来の装置による粒度分
布の時間的変動の表示例を示す図である。図５に示す例
では、縦軸に粒子径、横軸に測定順序（ファイル番号）
をとり、積算分布の例えば８０％径や１０％径あるいは
モード径等が経時的にどのように変化したかを表示する
ように構成している。
布の時間的変動の表示例を示す図である。図５に示す例
では、縦軸に粒子径、横軸に測定順序（ファイル番号）
をとり、積算分布の例えば８０％径や１０％径あるいは
モード径等が経時的にどのように変化したかを表示する
ように構成している。
【０００４】また、図６に示す例では、縦軸に粒子量
を、横軸には測定順序をとって、例えば１μｍの粒子量
や５μｍの粒子量がどのように変化したかを表示するよ
うに構成している。
を、横軸には測定順序をとって、例えば１μｍの粒子量
や５μｍの粒子量がどのように変化したかを表示するよ
うに構成している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】 ところで、以上のよ
うな従来の表示方法では、粒度分布の特定の部分の変化
はわかるが、指定されたパラメータ（ポイント）以外の
情報は示されない。ここで、粒度分布は本来連続のもの
であって、指定されたポイントを外れたところで変化が
生じていることも多く、粉体プロセス等においては特に
連続的な情報が必要である。また、粒子量をパラメータ
とした経時的変化グラフからは粒子径をパラメータとし
た情報を読み取ることはできず、粒子量と粒子径の双方
向からの変化を知ることはできない。
うな従来の表示方法では、粒度分布の特定の部分の変化
はわかるが、指定されたパラメータ（ポイント）以外の
情報は示されない。ここで、粒度分布は本来連続のもの
であって、指定されたポイントを外れたところで変化が
生じていることも多く、粉体プロセス等においては特に
連続的な情報が必要である。また、粒子量をパラメータ
とした経時的変化グラフからは粒子径をパラメータとし
た情報を読み取ることはできず、粒子量と粒子径の双方
向からの変化を知ることはできない。
【０００６】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
ので、特にポイント等を設定することなく、粒度分布の
時間的な変化を粒子量、粒子径の双方から把握すること
のできるデータを表示することのできる粒度分布測定装
置の提供を目的としている。
ので、特にポイント等を設定することなく、粒度分布の
時間的な変化を粒子量、粒子径の双方から把握すること
のできるデータを表示することのできる粒度分布測定装
置の提供を目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】 この目的を達成するた
め、本発明の粒度分布測定装置は、図１にその基本概念
図を示すように、粒度分布測定手段ａによる粒度分布測
定結果を複数組記憶する記憶手段ｂと、この記憶手段ｂ
に記憶されている複数組の粒度分布データを、粒子径、
粒子量および測定順序の３軸により構成されるグラフに
表示し得るよう計算する演算手段ｃと、この演算結果を
粒子径、粒子量および測定順序の３軸からなる３次元グ
ラフに表示する表示手段ｄを備えたことによって特徴付
けられる。
め、本発明の粒度分布測定装置は、図１にその基本概念
図を示すように、粒度分布測定手段ａによる粒度分布測
定結果を複数組記憶する記憶手段ｂと、この記憶手段ｂ
に記憶されている複数組の粒度分布データを、粒子径、
粒子量および測定順序の３軸により構成されるグラフに
表示し得るよう計算する演算手段ｃと、この演算結果を
粒子径、粒子量および測定順序の３軸からなる３次元グ
ラフに表示する表示手段ｄを備えたことによって特徴付
けられる。
【０００８】
【作用】 粒子径と粒子量とを２軸とする連続的な粒度
分布曲線を、この２軸に直交する軸上に測定順序に従っ
て並べると、連続的な粒度分布全体を時系列的に表すこ
とが可能となり、注目すべきポイントを設定することな
く、これら３軸上の項目のうち任意の１軸上のものと他
の軸上の項目との関係が判明し、粒度分布の変化に関す
る情報は飛躍的に多くなる。
分布曲線を、この２軸に直交する軸上に測定順序に従っ
て並べると、連続的な粒度分布全体を時系列的に表すこ
とが可能となり、注目すべきポイントを設定することな
く、これら３軸上の項目のうち任意の１軸上のものと他
の軸上の項目との関係が判明し、粒度分布の変化に関す
る情報は飛躍的に多くなる。
【０００９】
【実施例】 図２は本発明の全体構成を示すブロック図
である。粒度分布測定部１は例えばレーザ回折式や遠心
沈降式等の任意の原理に基づく測定系であって、ここで
測定されたデータは入出力インターフェース２を介して
コンピュータ３に送られる。この粒度分布測定部１から
のデータは粒度分布の形にしたデータであってもよい
し、あるいは生の測定データであってもよい。コンピュ
ータ３は、前者のデータであればその粒度分布データ
を、また、後者のデータであれば粒度分布データに変換
した後、測定順序の情報と併せてメモリ４内に格納す
る。
である。粒度分布測定部１は例えばレーザ回折式や遠心
沈降式等の任意の原理に基づく測定系であって、ここで
測定されたデータは入出力インターフェース２を介して
コンピュータ３に送られる。この粒度分布測定部１から
のデータは粒度分布の形にしたデータであってもよい
し、あるいは生の測定データであってもよい。コンピュ
ータ３は、前者のデータであればその粒度分布データ
を、また、後者のデータであれば粒度分布データに変換
した後、測定順序の情報と併せてメモリ４内に格納す
る。
【００１０】以上の動作は複数回にわたって繰り返さ
れ、メモリ４内には時系列的な粒度分布データが蓄積さ
れていく。入出力インターフェース２には、コンピュー
タ３に対する指令等を入力するための入力端末５が接続
されており、また、コンピュータ３には後述する３次元
的な粒度分布変化のグラフを表示するための表示装置６
が接続されている。そして、入力端末５から出力条件等
を入力することにより、コンピュータ３はメモリ４内に
蓄積された粒度分布データを３次元グラフに表示可能な
ように演算し、表示装置６に表示させるよう構成されて
いる。
れ、メモリ４内には時系列的な粒度分布データが蓄積さ
れていく。入出力インターフェース２には、コンピュー
タ３に対する指令等を入力するための入力端末５が接続
されており、また、コンピュータ３には後述する３次元
的な粒度分布変化のグラフを表示するための表示装置６
が接続されている。そして、入力端末５から出力条件等
を入力することにより、コンピュータ３はメモリ４内に
蓄積された粒度分布データを３次元グラフに表示可能な
ように演算し、表示装置６に表示させるよう構成されて
いる。
【００１１】図３は本発明実施例を用いて粒度分布の時
間的変動を求める場合の手順を示すフローチャートで、
以下、この図を参照しつつ本発明実施例の使用方法およ
び作用を述べる。粒度分布測定部１において必要な回数
だけ粒度分布を測定した後、必要に応じて入力端末５か
ら出力条件および出力命令を入力する。これにより、コ
ンピュータ３はメモリ４内から対応するデータを呼び出
し、これらを粒子径、粒子量、および測定順序をそれぞ
れ軸とするグラフに表示できるようにデータ処理を施
し、表示装置６に供給する。
間的変動を求める場合の手順を示すフローチャートで、
以下、この図を参照しつつ本発明実施例の使用方法およ
び作用を述べる。粒度分布測定部１において必要な回数
だけ粒度分布を測定した後、必要に応じて入力端末５か
ら出力条件および出力命令を入力する。これにより、コ
ンピュータ３はメモリ４内から対応するデータを呼び出
し、これらを粒子径、粒子量、および測定順序をそれぞ
れ軸とするグラフに表示できるようにデータ処理を施
し、表示装置６に供給する。
【００１２】図４は本発明実施例の表示装置６による表
示例を示すグラフで、縦軸に相対粒子量％、横軸に粒子
径μｍをとった微分形の粒度分布曲線が、これらの各軸
と直交する軸上に測定順序に従って並べられた、３次元
的な粒度分布の経時的変化を表すグラフとなっている。
この図４に示す本発明実施例によるグラフでは、連続的
な粒度分布そのものの時間的変化が一目でわかり、特に
注目するポイントを設定することなく、粒子径と粒子
量、および測定順序のどの項目に関しても他の項目との
関係を即座に読み取ることが可能である。
示例を示すグラフで、縦軸に相対粒子量％、横軸に粒子
径μｍをとった微分形の粒度分布曲線が、これらの各軸
と直交する軸上に測定順序に従って並べられた、３次元
的な粒度分布の経時的変化を表すグラフとなっている。
この図４に示す本発明実施例によるグラフでは、連続的
な粒度分布そのものの時間的変化が一目でわかり、特に
注目するポイントを設定することなく、粒子径と粒子
量、および測定順序のどの項目に関しても他の項目との
関係を即座に読み取ることが可能である。
【００１３】なお、表示装置６としてＣＲＴ等を使用す
ることにより、粒度分布測定部１で測定するごとに、そ
の粒度分布データをメモリ４に記憶すると同時に、その
データを表示装置６上にリアルタイムで追加表示するよ
うに構成することもできる。また、図４の例では、粒度
分布曲線として縦軸に相対粒子量をとった微分形の曲線
としているが、縦軸に積算粒子量をとった積算形の粒度
分布曲線を用いることもできる。
ることにより、粒度分布測定部１で測定するごとに、そ
の粒度分布データをメモリ４に記憶すると同時に、その
データを表示装置６上にリアルタイムで追加表示するよ
うに構成することもできる。また、図４の例では、粒度
分布曲線として縦軸に相対粒子量をとった微分形の曲線
としているが、縦軸に積算粒子量をとった積算形の粒度
分布曲線を用いることもできる。
【００１４】更に、３軸のとりかた（各パラメータと各
方向の軸との対応関係）は図４に限定されることなく、
任意の方向の軸に各項目をとったグラフとし得ることは
勿論である。
方向の軸との対応関係）は図４に限定されることなく、
任意の方向の軸に各項目をとったグラフとし得ることは
勿論である。
【００１５】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、複数回にわたって測定された粒度分布データをメモ
リ内に蓄積し、そのデータを、粒子径、粒子量および測
定順序の３軸グラフに表示するように構成したので、連
続的な粒度分布の時間的変化が一目で把握できる。その
結果、従来のように特に注目ポイントを設定する必要が
なく、従って変化を見逃すこともなく、全体的な粒度分
布の変化を知ることができる。このように、粒子径、粒
子量、測定順序３項目の相互の関係を一目で把握できる
ことは、従来の２次元的なグラフに比して粒度分布の変
化に関する情報が飛躍的に多くなっていることを意味
し、特に粉体プロセスの粒度分布管理には最適な装置と
なり得る。
ば、複数回にわたって測定された粒度分布データをメモ
リ内に蓄積し、そのデータを、粒子径、粒子量および測
定順序の３軸グラフに表示するように構成したので、連
続的な粒度分布の時間的変化が一目で把握できる。その
結果、従来のように特に注目ポイントを設定する必要が
なく、従って変化を見逃すこともなく、全体的な粒度分
布の変化を知ることができる。このように、粒子径、粒
子量、測定順序３項目の相互の関係を一目で把握できる
ことは、従来の２次元的なグラフに比して粒度分布の変
化に関する情報が飛躍的に多くなっていることを意味
し、特に粉体プロセスの粒度分布管理には最適な装置と
なり得る。
【図１】 本発明の構成を示す基本概念図
【図２】 本発明実施例の全体構成を示すブロック図
【図３】 その測定手順を示すフローチャート
【図４】 本発明実施例による粒度分布変化の表示例を
示すグラフ
示すグラフ
【図５】 従来装置による粒度分布変化の表示例を示す
グラフ
グラフ
【図６】 同じく従来装置による粒度分布変化の表示例
を示すグラフ
を示すグラフ
１・・・・粒度分布測定部 ２・・・・入出力インターフェース ３・・・・コンピュータ ４・・・・メモリ ５・・・・入力端末 ６・・・・表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】 試料粉粒体の粒度分布を測定する装置に
おいて、粒度分布測定結果を複数組記憶する記憶手段
と、この記憶手段に記憶されている複数組の粒度分布デ
ータを、粒子径、粒子量および測定順序の３軸により構
成されるグラフに表示し得るよう計算する演算手段と、
この演算結果を上記３軸からなる３次元グラフに表示す
る表示手段を備えたことを特徴とする粒度分布測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3158171A JP2722866B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3158171A JP2722866B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 粒度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0518882A JPH0518882A (ja) | 1993-01-26 |
| JP2722866B2 true JP2722866B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=15665832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3158171A Expired - Lifetime JP2722866B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2722866B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5310255B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-10-09 | 株式会社島津製作所 | 粒度分布測定装置 |
| JP2018155671A (ja) * | 2017-03-21 | 2018-10-04 | 日立アプライアンス株式会社 | 粒子測定装置および空気清浄機 |
| JPWO2020026873A1 (ja) * | 2018-08-02 | 2021-08-02 | シャープ株式会社 | 表示データ生成装置、表示データ生成方法、プログラム、及び、プログラムの記録媒体 |
| CN113574360A (zh) * | 2019-04-02 | 2021-10-29 | 杰富意钢铁株式会社 | 粒度分布监视装置、粒度分布监视方法、计算机程序、炉、高炉、炉的控制方法以及高炉操作方法 |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP3158171A patent/JP2722866B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0518882A (ja) | 1993-01-26 |
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Legal Events
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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