JP2769445B2 - ブートストラップ回路及びデータ出力バッファ - Google Patents
ブートストラップ回路及びデータ出力バッファInfo
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は入力信号の電圧を昇圧さ
せるブートストラップ(bootstrap) 回路に関し、特に入
力信号に対する応答速度を向上させ、雑音の影響を最少
化することができるブートストラップ回路に関する。
せるブートストラップ(bootstrap) 回路に関し、特に入
力信号に対する応答速度を向上させ、雑音の影響を最少
化することができるブートストラップ回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】通常のブートストラップ回路は、入力信
号の電圧を電源電圧以上に昇圧させ後端に接続する回路
が十分に大きい電圧の出力信号を発生するようにする。
前記ブートストラップ回路は、Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
を含む半導体装置のワードライン駆動器及びデータ出力
バッファの前端に用いられ、前記ワードライン駆動器及
びデータ出力バッファに供給される信号の電圧を昇圧さ
せる。
号の電圧を電源電圧以上に昇圧させ後端に接続する回路
が十分に大きい電圧の出力信号を発生するようにする。
前記ブートストラップ回路は、Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
を含む半導体装置のワードライン駆動器及びデータ出力
バッファの前端に用いられ、前記ワードライン駆動器及
びデータ出力バッファに供給される信号の電圧を昇圧さ
せる。
【０００３】しかし、従来のブートストラップ回路は入
力信号に対する応答信号が遅いため、前記ワードライン
駆動器及びデータ出力バッファに十分に昇圧された電圧
を供給することができない問題点を有していた。このよ
うな問題点は入力信号にインパルス成分の雑音が含まれ
ている場合に一層深刻化する。このため、前記ワードラ
イン駆動器及び前記データ出力バッファが正常な出力信
号を発生することができなくなり、さらに半導体装置の
信頼性が低下する。前記した従来のブートストラップ回
路の問題点を添付した図１を参照し考察する。
力信号に対する応答信号が遅いため、前記ワードライン
駆動器及びデータ出力バッファに十分に昇圧された電圧
を供給することができない問題点を有していた。このよ
うな問題点は入力信号にインパルス成分の雑音が含まれ
ている場合に一層深刻化する。このため、前記ワードラ
イン駆動器及び前記データ出力バッファが正常な出力信
号を発生することができなくなり、さらに半導体装置の
信頼性が低下する。前記した従来のブートストラップ回
路の問題点を添付した図１を参照し考察する。
【０００４】図１は、従来のブートストラップ回路を含
む半導体集積回路装置のデータ出力バッファを示す図で
ある。図１において、前記データ出力バッファは第１ノ
ード（Ｎ１）及び第２ノード（Ｎ２）の間に接続した従
来のブートストラップ回路（１０）と、入力ライン（１
１）からのデータ信号（ＲＤ）及び制御ライン（１３）
からの出力イネーブル信号（ＯＥ）を入力する第１ＮＡ
ＮＤゲート（ＧＮ１）とを備える。前記第１ＮＡＮＤゲ
ート（ＧＮ１）は前記出力イネーブル信号（ＯＥ）がハ
イ論理を維持する間、前記入力ライン（１１）からのデ
ータ（ＲＤ）を反転させ、前記反転したデータを前記第
１ノード（Ｎ１）に供給する。
む半導体集積回路装置のデータ出力バッファを示す図で
ある。図１において、前記データ出力バッファは第１ノ
ード（Ｎ１）及び第２ノード（Ｎ２）の間に接続した従
来のブートストラップ回路（１０）と、入力ライン（１
１）からのデータ信号（ＲＤ）及び制御ライン（１３）
からの出力イネーブル信号（ＯＥ）を入力する第１ＮＡ
ＮＤゲート（ＧＮ１）とを備える。前記第１ＮＡＮＤゲ
ート（ＧＮ１）は前記出力イネーブル信号（ＯＥ）がハ
イ論理を維持する間、前記入力ライン（１１）からのデ
ータ（ＲＤ）を反転させ、前記反転したデータを前記第
１ノード（Ｎ１）に供給する。
【０００５】また、前記データ出力バッファは前記第２
ノード（Ｎ２）上の信号を入力されるＮ−ＭＯＳトラン
ジスタ（ＭＮ１）を備える。前記Ｎ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＮ１）は前記第２ノード（Ｎ２）から高電位の信
号が供給される場合に出力ライン（１５）に高電位のデ
ータ（Dout) が発生されるようにする。前記出力ライン
（１５）上の高電位のデータ（Dout) は前記第２ノード
（Ｎ２）上の電圧より前記第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＮ１）の閾電圧だけ小さい電圧を有する。
ノード（Ｎ２）上の信号を入力されるＮ−ＭＯＳトラン
ジスタ（ＭＮ１）を備える。前記Ｎ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＮ１）は前記第２ノード（Ｎ２）から高電位の信
号が供給される場合に出力ライン（１５）に高電位のデ
ータ（Dout) が発生されるようにする。前記出力ライン
（１５）上の高電位のデータ（Dout) は前記第２ノード
（Ｎ２）上の電圧より前記第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＮ１）の閾電圧だけ小さい電圧を有する。
【０００６】また、前記データ出力バッファは前記制御
ライン（１３）からハイ論理の前記出力イネーブル信号
（ＯＥ）が印加される間、前記入力ライン（１１）から
のデータ（ＲＤ）を反転させ、反転したデータを第２Ｎ
−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ２）に供給するための一個
のＮＡＮＤゲート（ＧＮ２）と第１及び第２インバータ
（ＧＩ１、ＧＩ２）とを備える。前記第２Ｎ−ＭＯＳト
ランジスタ（ＭＮ２）は前記第２インバータ（Ｇ１２）
からの反転したデータがハイ論理を有する場合にターン
オンされる。前記第２Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
２）がターンオンされることにより、前記出力ライン
（１５）には基底電圧（Ｖｓｓ）のデータが発生する。
ライン（１３）からハイ論理の前記出力イネーブル信号
（ＯＥ）が印加される間、前記入力ライン（１１）から
のデータ（ＲＤ）を反転させ、反転したデータを第２Ｎ
−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ２）に供給するための一個
のＮＡＮＤゲート（ＧＮ２）と第１及び第２インバータ
（ＧＩ１、ＧＩ２）とを備える。前記第２Ｎ−ＭＯＳト
ランジスタ（ＭＮ２）は前記第２インバータ（Ｇ１２）
からの反転したデータがハイ論理を有する場合にターン
オンされる。前記第２Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
２）がターンオンされることにより、前記出力ライン
（１５）には基底電圧（Ｖｓｓ）のデータが発生する。
【０００７】一方、前記ブートストラップ回路（１０）
は前記第１ノード及び第３ノード（Ｎ３）の間に直列接
続した第３インバータ（ＣＩ３）及びキャパシター（Ｃ
１）と、供給電圧源（Ｖｃｃ）及び前記第３ノード（Ｎ
３）の間に接続された第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｎ３）とを備える。前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＮ３）はゲートをドレインと共に前記供給電圧源
（Ｖｃｃ）に接続されている。さらに、前記第３Ｎ−Ｍ
ＯＳトランジスタ（ＭＮ３）は前記第３ノード（Ｎ３）
の電圧が前記供給電圧（Ｖｃｃ）より自己の閾電圧を減
算した電圧以下の電圧を有する場合、ターンオンされ、
前記供給電圧源（Ｖｃｃ）からの電圧を前記第３ノード
（Ｎ３）側に伝送する。また、前記第３インバータ（Ｇ
Ｉ３）は前記第１ノード（Ｎ１）上の反転されたデータ
を再反転させ、前記再反転したデータを前記キャパシタ
ー（Ｃ１）に印加する。前記キャパシター（Ｃ１）は、
前記第３インバータ（ＧＮ３）の出力信号がロー論理を
有する場合、前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
３）及び前記第３ノード（Ｎ３）を経て供給される前記
供給電圧源（Ｖｃｃ）からの電圧を貯蔵する。この際、
前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧は前記キャパシター
（Ｃ１）に貯蔵される電荷量により“前記供給電圧（Ｖ
ｃｃ）−前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ３）の
閾電圧”の電位まで上昇する。これとは別に、前記第３
インバータ（ＧＩ３）の出力信号がハイ論理（即ち、供
給電圧）を有する場合、前記第３ノード（Ｎ３）の電圧
は“二倍の供給電圧（２Ｖｃｃ）−第３Ｎ−ＭＯＳトラ
ンジスタ（ＭＮ３）の閾電圧”に相当する電圧に上昇す
る。これは前記キャパシター（Ｃ１）の電圧が前記第３
インバータ（ＧＩ３）の出力電圧に加えられることに基
づく。
は前記第１ノード及び第３ノード（Ｎ３）の間に直列接
続した第３インバータ（ＣＩ３）及びキャパシター（Ｃ
１）と、供給電圧源（Ｖｃｃ）及び前記第３ノード（Ｎ
３）の間に接続された第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｎ３）とを備える。前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＮ３）はゲートをドレインと共に前記供給電圧源
（Ｖｃｃ）に接続されている。さらに、前記第３Ｎ−Ｍ
ＯＳトランジスタ（ＭＮ３）は前記第３ノード（Ｎ３）
の電圧が前記供給電圧（Ｖｃｃ）より自己の閾電圧を減
算した電圧以下の電圧を有する場合、ターンオンされ、
前記供給電圧源（Ｖｃｃ）からの電圧を前記第３ノード
（Ｎ３）側に伝送する。また、前記第３インバータ（Ｇ
Ｉ３）は前記第１ノード（Ｎ１）上の反転されたデータ
を再反転させ、前記再反転したデータを前記キャパシタ
ー（Ｃ１）に印加する。前記キャパシター（Ｃ１）は、
前記第３インバータ（ＧＮ３）の出力信号がロー論理を
有する場合、前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
３）及び前記第３ノード（Ｎ３）を経て供給される前記
供給電圧源（Ｖｃｃ）からの電圧を貯蔵する。この際、
前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧は前記キャパシター
（Ｃ１）に貯蔵される電荷量により“前記供給電圧（Ｖ
ｃｃ）−前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ３）の
閾電圧”の電位まで上昇する。これとは別に、前記第３
インバータ（ＧＩ３）の出力信号がハイ論理（即ち、供
給電圧）を有する場合、前記第３ノード（Ｎ３）の電圧
は“二倍の供給電圧（２Ｖｃｃ）−第３Ｎ−ＭＯＳトラ
ンジスタ（ＭＮ３）の閾電圧”に相当する電圧に上昇す
る。これは前記キャパシター（Ｃ１）の電圧が前記第３
インバータ（ＧＩ３）の出力電圧に加えられることに基
づく。
【０００８】また、前記ブートストラップ回路（１０）
は前記第３及び第２ノード（Ｎ３、Ｎ２）の間に接続し
たＰ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ１）と、前記第２ノー
ド（Ｎ２）及び前記基底電源（Ｖｓｓ）の間に接続され
た第４Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ４）とを追加して
備える。前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ１）は、前
記第１ノード（Ｎ１）からロー論理のデータが自己のゲ
ート側に印加される場合、ターンオンされ、前記第３ノ
ード（Ｎ３）上の前記昇圧された電圧が前記第２ノード
（Ｎ２）に接続した前記第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＮ１）のゲート側に伝送されるようにする。前記Ｐ
−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ１）がターンオンされる場
合、前記キャパシター（Ｃ１）に充電された電圧は前記
第３ノード（Ｎ３）、前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｐ１）及び前記第２ノード（Ｎ２）を経て前記第１Ｎ−
ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ１）のゲート側に放電され
る。逆に、前記第１ノード（Ｎ１）上のデータがハイ論
理を有する場合、前記第４Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｎ４）は前記第１ノード（Ｎ１）から自己のゲート側に
印加される前記ハイ論理のデータによりターンオンされ
る。この際、前記第２ノード（Ｎ２）には前記第４Ｎ−
ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ４）を経て印加される基底電
源（Ｖｓｓ）からの電圧により基底電圧を維持すること
になる。
は前記第３及び第２ノード（Ｎ３、Ｎ２）の間に接続し
たＰ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ１）と、前記第２ノー
ド（Ｎ２）及び前記基底電源（Ｖｓｓ）の間に接続され
た第４Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ４）とを追加して
備える。前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ１）は、前
記第１ノード（Ｎ１）からロー論理のデータが自己のゲ
ート側に印加される場合、ターンオンされ、前記第３ノ
ード（Ｎ３）上の前記昇圧された電圧が前記第２ノード
（Ｎ２）に接続した前記第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＮ１）のゲート側に伝送されるようにする。前記Ｐ
−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ１）がターンオンされる場
合、前記キャパシター（Ｃ１）に充電された電圧は前記
第３ノード（Ｎ３）、前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｐ１）及び前記第２ノード（Ｎ２）を経て前記第１Ｎ−
ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ１）のゲート側に放電され
る。逆に、前記第１ノード（Ｎ１）上のデータがハイ論
理を有する場合、前記第４Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｎ４）は前記第１ノード（Ｎ１）から自己のゲート側に
印加される前記ハイ論理のデータによりターンオンされ
る。この際、前記第２ノード（Ｎ２）には前記第４Ｎ−
ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ４）を経て印加される基底電
源（Ｖｓｓ）からの電圧により基底電圧を維持すること
になる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】前記したように、従来
のブートストラップ回路（１０）はキャパシターを用い
入力信号の電圧を昇圧させる。また、前記昇圧電圧は前
記キャパシターの容量値の大きさにより決定される。よ
って、充分高い電圧に入力信号を昇圧するためにはキャ
パシターの容量値が大きくなければならない。
のブートストラップ回路（１０）はキャパシターを用い
入力信号の電圧を昇圧させる。また、前記昇圧電圧は前
記キャパシターの容量値の大きさにより決定される。よ
って、充分高い電圧に入力信号を昇圧するためにはキャ
パシターの容量値が大きくなければならない。
【００１０】しかし、キャパシターの容量値が大きい場
合、キャパシターの充電時間が長くなることにより前記
従来のブートストラップ回路は入力信号に対し、緩やか
に応答するようになる。このような理由により、従来の
ブートストラップ回路はインパルス成分の雑音が入力信
号に含まれる場合、入力信号を充分な大きさの電圧を有
するよう昇圧させることができない。充分な大きさに昇
圧されない前記ブートストラップ回路からの電圧信号に
より、前記プルアップ用Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
１）はデータを正常に出力することができず、さらに半
導体集積回路装置の信頼性を低下させる。
合、キャパシターの充電時間が長くなることにより前記
従来のブートストラップ回路は入力信号に対し、緩やか
に応答するようになる。このような理由により、従来の
ブートストラップ回路はインパルス成分の雑音が入力信
号に含まれる場合、入力信号を充分な大きさの電圧を有
するよう昇圧させることができない。充分な大きさに昇
圧されない前記ブートストラップ回路からの電圧信号に
より、前記プルアップ用Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
１）はデータを正常に出力することができず、さらに半
導体集積回路装置の信頼性を低下させる。
【００１１】よって、本発明の目的は入力信号に対する
出力信号の応答速度を向上させ、インパルス成分の雑音
の影響を最少化することができるブートストラップ回路
を提供することにある。
出力信号の応答速度を向上させ、インパルス成分の雑音
の影響を最少化することができるブートストラップ回路
を提供することにある。
【００１２】本発明の他の目的は入力データにインパル
ス成分の雑音が含まれていても、データを正確に増幅す
ることができるデータ出力バッファを提供することにあ
る。
ス成分の雑音が含まれていても、データを正確に増幅す
ることができるデータ出力バッファを提供することにあ
る。
【００１３】
【課題を解決するための手段】前記した目的を達成する
ため、本発明は、入力ライン及び出力ラインの間に設け
られ、入力ラインからの信号を昇圧する容量性素子と、
前記出力ラインの電位に従い選択的に駆動され、供給電
圧源から前記出力ラインに供給される電荷を開閉する第
１電荷供給通路と、前記第１電荷供給通路と並列接続さ
れ、前記供給電圧源から前記出力ラインに供給される電
荷をＰ−ＭＯＳトランジスタによって開閉する第２電荷
供給通路と、前記入力ラインからの信号により前記第２
電荷供給通路を制御する制御手段とを備え、前記制御手
段は、前記入力ライン及び前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
のゲートの間に接続されると共に前記Ｐ−ＭＯＳトラン
ジスタをオンオフ制御する電流通路制御手段を追加して
備えるブートストラップ回路にある。
ため、本発明は、入力ライン及び出力ラインの間に設け
られ、入力ラインからの信号を昇圧する容量性素子と、
前記出力ラインの電位に従い選択的に駆動され、供給電
圧源から前記出力ラインに供給される電荷を開閉する第
１電荷供給通路と、前記第１電荷供給通路と並列接続さ
れ、前記供給電圧源から前記出力ラインに供給される電
荷をＰ−ＭＯＳトランジスタによって開閉する第２電荷
供給通路と、前記入力ラインからの信号により前記第２
電荷供給通路を制御する制御手段とを備え、前記制御手
段は、前記入力ライン及び前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
のゲートの間に接続されると共に前記Ｐ−ＭＯＳトラン
ジスタをオンオフ制御する電流通路制御手段を追加して
備えるブートストラップ回路にある。
【００１４】前記他の目的を達成するため、本発明は、
二進論理状態を有する二進信号を入力するための入力ラ
インと、前記入力ラインからの前記二進信号の第１論理
の電圧を増幅するよう前記入力ラインに接続されたゲー
トを有するＮ−ＭＯＳトランジスタと、昇圧ノード及び
前記入力ラインの間に設置され、前記入力ラインからの
前記二進信号を昇圧するための容量性素子と、前記昇圧
ノードの電位により選択的に駆動され、供給電圧源から
前記昇圧ノードに供給される電荷を開閉するための第１
電荷供給通路と、前記第１電荷供給通路と並列接続さ
れ、前記供給電圧源から前記昇圧ノードに供給される電
荷を開閉するための第２電荷供給通路と、前記入力ライ
ンの信号により、前記第２電荷供給通路を制御するため
の制御手段と、前記入力ラインからの前記第１論理の二
進信号により、前記昇圧ノードの電圧が前記Ｎ−ＭＯＳ
トランジスタのゲート側に伝送されるよう前記入力ライ
ン、前記昇圧ノード及び前記Ｎ−ＭＯＳトランジスタの
ゲートの間に設けられた切換手段と、前記入力ラインか
らの前記二進信号の第２論理の電圧を増幅するためのＮ
−ＭＯＳトランジスタとを備えるデータ出力バッファに
ある。
二進論理状態を有する二進信号を入力するための入力ラ
インと、前記入力ラインからの前記二進信号の第１論理
の電圧を増幅するよう前記入力ラインに接続されたゲー
トを有するＮ−ＭＯＳトランジスタと、昇圧ノード及び
前記入力ラインの間に設置され、前記入力ラインからの
前記二進信号を昇圧するための容量性素子と、前記昇圧
ノードの電位により選択的に駆動され、供給電圧源から
前記昇圧ノードに供給される電荷を開閉するための第１
電荷供給通路と、前記第１電荷供給通路と並列接続さ
れ、前記供給電圧源から前記昇圧ノードに供給される電
荷を開閉するための第２電荷供給通路と、前記入力ライ
ンの信号により、前記第２電荷供給通路を制御するため
の制御手段と、前記入力ラインからの前記第１論理の二
進信号により、前記昇圧ノードの電圧が前記Ｎ−ＭＯＳ
トランジスタのゲート側に伝送されるよう前記入力ライ
ン、前記昇圧ノード及び前記Ｎ−ＭＯＳトランジスタの
ゲートの間に設けられた切換手段と、前記入力ラインか
らの前記二進信号の第２論理の電圧を増幅するためのＮ
−ＭＯＳトランジスタとを備えるデータ出力バッファに
ある。
【００１５】
【作用】前記構成により、本発明のブートストラップ回
路は入力信号に対する出力信号の応答速度を向上させる
ことができ、さらにインパルス成分の雑音が入力信号に
含まれても安定に昇圧された電圧を発生させることがで
きる。
路は入力信号に対する出力信号の応答速度を向上させる
ことができ、さらにインパルス成分の雑音が入力信号に
含まれても安定に昇圧された電圧を発生させることがで
きる。
【００１６】併せて、本発明のデータ出力バッファは前
記ブートストラップ回路から供給される安定した昇圧電
圧により、入力データを安定に増幅することができる利
点がある。
記ブートストラップ回路から供給される安定した昇圧電
圧により、入力データを安定に増幅することができる利
点がある。
【００１７】
【実施例】図２を参照すると、本発明の実施例によるブ
ートストラップ回路（２０）を含むデータ出力バッファ
が説明されている。図２において、前記データ出力バッ
ファは入力ライン（２１）からのデータ（ＲＤ）及び制
御ライン（２３）からの出力イネーブル信号（ＯＥ）を
入力される第１ＮＡＮＤゲート（ＧＥ３）と、ブートス
トラップ回路（２０）の出力端子である第２ノード（Ｎ
２）と供給電圧源（Ｖｃｃ）と出力ライン（２５）との
間に接続された第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ５）
とを備える。前記第１ＮＡＮＤゲート（ＧＮ３）は、前
記出力イネーブル信号（ＯＥ）がハイ論理を維持する
間、前記データ（ＲＤ）を反転させ、前記反転したデー
タを第１ノード（Ｎ１）に供給する。また、前記第１Ｎ
−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ５）は第２ノード（Ｎ２）
から自己のゲート側に高電位の信号が印加される場合に
ターンオフされ、前記出力ライン（２５）に高電位（即
ち、ハイ論理）のデータ（Dout) が発生されるようにす
る。
ートストラップ回路（２０）を含むデータ出力バッファ
が説明されている。図２において、前記データ出力バッ
ファは入力ライン（２１）からのデータ（ＲＤ）及び制
御ライン（２３）からの出力イネーブル信号（ＯＥ）を
入力される第１ＮＡＮＤゲート（ＧＥ３）と、ブートス
トラップ回路（２０）の出力端子である第２ノード（Ｎ
２）と供給電圧源（Ｖｃｃ）と出力ライン（２５）との
間に接続された第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ５）
とを備える。前記第１ＮＡＮＤゲート（ＧＮ３）は、前
記出力イネーブル信号（ＯＥ）がハイ論理を維持する
間、前記データ（ＲＤ）を反転させ、前記反転したデー
タを第１ノード（Ｎ１）に供給する。また、前記第１Ｎ
−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ５）は第２ノード（Ｎ２）
から自己のゲート側に高電位の信号が印加される場合に
ターンオフされ、前記出力ライン（２５）に高電位（即
ち、ハイ論理）のデータ（Dout) が発生されるようにす
る。
【００１８】さらに、前記データ出力バッファは前記入
力ライン（２１）からの前記データ（ＲＤ）を反転させ
る第１インバータ（ＧＩ４）と、前記制御ライン（２
３）からの前記出力イネーブル信号（ＯＥ）を入力され
る第２ＮＡＮＤゲート（ＧＮ４）と、前記出力ライン
（２５）及び基底電源（Ｖｓｓ）の間に接続された第２
Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ６）を追加して備える。
前記第２ＮＡＮＤゲート（ＧＮ４）は、前記出力イネー
ブル信号がハイ論理を維持する間、前記第１インバータ
（ＧＩ４）からの前記反転されたデータを再反転させ、
前記再反転されたデータを第２インバータ（ＧＩ５）を
経て前記第２Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ６）のゲー
トに供給する。前記第２インバータ（ＧＩ５）は前記第
２ＮＡＮＤゲート（ＧＮ４）の出力信号を反転させる機
能を果す。また前記第２Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
６）は、前記第２インバータ（ＧＩ５）の出力信号がハ
イ論理を維持する場合、前記出力ライン（２５）を前記
基底電源（Ｖｓｓ）に接続させる。これにより、前記出
力ライン（２５）にはロー論理（即ち、基底電圧）を有
するデータ（Dout) が発生する。
力ライン（２１）からの前記データ（ＲＤ）を反転させ
る第１インバータ（ＧＩ４）と、前記制御ライン（２
３）からの前記出力イネーブル信号（ＯＥ）を入力され
る第２ＮＡＮＤゲート（ＧＮ４）と、前記出力ライン
（２５）及び基底電源（Ｖｓｓ）の間に接続された第２
Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ６）を追加して備える。
前記第２ＮＡＮＤゲート（ＧＮ４）は、前記出力イネー
ブル信号がハイ論理を維持する間、前記第１インバータ
（ＧＩ４）からの前記反転されたデータを再反転させ、
前記再反転されたデータを第２インバータ（ＧＩ５）を
経て前記第２Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ６）のゲー
トに供給する。前記第２インバータ（ＧＩ５）は前記第
２ＮＡＮＤゲート（ＧＮ４）の出力信号を反転させる機
能を果す。また前記第２Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
６）は、前記第２インバータ（ＧＩ５）の出力信号がハ
イ論理を維持する場合、前記出力ライン（２５）を前記
基底電源（Ｖｓｓ）に接続させる。これにより、前記出
力ライン（２５）にはロー論理（即ち、基底電圧）を有
するデータ（Dout) が発生する。
【００１９】一方、前記ブートストラップ回路（２０）
は前記第１及び第２ノード（Ｎ１，Ｎ２）の間に接続さ
れ、前記第１ノード（Ｎ１）上のデータの電圧を昇圧さ
せる機能を果す。このため、前記ブートストラップ回路
（２０）は前記第１ノード及び第３ノード（Ｎ３）の間
に直列接続された第３インバータ（ＧＩ６）及びキャパ
シター（Ｃ２）と、前記供給電源（Ｖｃｃ）及び前記第
３ノード（Ｎ３）の間に並列接続された第１Ｐ−ＭＯＳ
及び第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ２，ＭＮ７）と
を備える。
は前記第１及び第２ノード（Ｎ１，Ｎ２）の間に接続さ
れ、前記第１ノード（Ｎ１）上のデータの電圧を昇圧さ
せる機能を果す。このため、前記ブートストラップ回路
（２０）は前記第１ノード及び第３ノード（Ｎ３）の間
に直列接続された第３インバータ（ＧＩ６）及びキャパ
シター（Ｃ２）と、前記供給電源（Ｖｃｃ）及び前記第
３ノード（Ｎ３）の間に並列接続された第１Ｐ−ＭＯＳ
及び第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ２，ＭＮ７）と
を備える。
【００２０】前記第３Ｎ−ＮＯＳトランジスタ（ＭＮ
７）は、前記供給電源（Ｖｃｃ）に共通に接続されたド
レイン及びゲートを備え、一方向性電流通路の機能を果
す。このため、前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
７）は前記第３ノード（Ｎ３）の電圧が前記供給電圧
（Ｖｃｃ）−自己の閾電圧より小さい電位を有する場合
にターンオフされ、前記供給電圧源（Ｖｃｃ）からの前
記供給電圧を前記第３ノード（Ｎ３）側に伝送する。ま
た、前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧が前記供給電圧
（Ｖｃｃ）−前記閾電圧より大きい電位を維持する場
合、前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ７）はター
ンオフされ、前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧が前記供
給電圧源（Ｖｃｃ）側に放電されないようにする。
７）は、前記供給電源（Ｖｃｃ）に共通に接続されたド
レイン及びゲートを備え、一方向性電流通路の機能を果
す。このため、前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
７）は前記第３ノード（Ｎ３）の電圧が前記供給電圧
（Ｖｃｃ）−自己の閾電圧より小さい電位を有する場合
にターンオフされ、前記供給電圧源（Ｖｃｃ）からの前
記供給電圧を前記第３ノード（Ｎ３）側に伝送する。ま
た、前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧が前記供給電圧
（Ｖｃｃ）−前記閾電圧より大きい電位を維持する場
合、前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ７）はター
ンオフされ、前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧が前記供
給電圧源（Ｖｃｃ）側に放電されないようにする。
【００２１】前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ
２）は第４ノード（Ｎ４）に接続されたゲートを備え、
前記一方向性電流通路の機能を果す。このため、前記第
１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ２）は、前記第４ノー
ド（Ｎ４）の電圧が前記供給電圧（Ｖｃｃ）−自己の閾
電圧より小さい電位を有する場合にターンオンされ、前
記供給電圧源（Ｖｃｃ）からの前記供給電圧を前記第３
ノード（Ｎ３）側に伝送する。
２）は第４ノード（Ｎ４）に接続されたゲートを備え、
前記一方向性電流通路の機能を果す。このため、前記第
１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ２）は、前記第４ノー
ド（Ｎ４）の電圧が前記供給電圧（Ｖｃｃ）−自己の閾
電圧より小さい電位を有する場合にターンオンされ、前
記供給電圧源（Ｖｃｃ）からの前記供給電圧を前記第３
ノード（Ｎ３）側に伝送する。
【００２２】これとは別に、前記第４ノード（Ｎ４）上
の電圧が前記供給電圧（Ｖｃｃ）−前記閾電圧より大き
い電位を維持する場合、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＰ２）はターンオフされ、前記第３ノード（Ｎ
３）上の電圧が前記供給電圧源（Ｖｃｃ）側に放電され
ないようにする。
の電圧が前記供給電圧（Ｖｃｃ）−前記閾電圧より大き
い電位を維持する場合、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＰ２）はターンオフされ、前記第３ノード（Ｎ
３）上の電圧が前記供給電圧源（Ｖｃｃ）側に放電され
ないようにする。
【００２３】前記第３インバータ（ＧＩ６）は、前記第
１ノード（Ｎ１）上の前記反転されたデータを再反転さ
せ、さらに前記再反転されたデータを前記キャパシター
（Ｃ２）に印加する。その際、前記第３インバータ（Ｇ
Ｉ６）は、自己の伝搬遅延時間に相当する所定時間だけ
入力信号を遅延させるため、入力ライン（２１）からの
信号を緩衝するための緩衝手段として機能する。前記キ
ャパシター（Ｃ２）は前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＰ２）及び前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
７）と前記第３ノード（Ｎ３）を経て供給される前記供
給電圧源（Ｖｃｃ）からの電圧により充電される。ま
た、前記キャパシター（Ｃ２）は、前記第３インバータ
（ＧＩ６）からのデータがロー論理を維持する間、前記
第３ノード（Ｎ３）の電圧を自己内に充電された電圧と
同じ電位に維持させる。これとは別に、前記第３インバ
ータ（ＧＩ６）の出力信号がハイ論理（即ち、供給電圧
（Ｖｃｃ））を有する場合、前記キャパシター（Ｃ２）
は前記第３インバータ（ＧＩ６）の出力信号の電圧（Ｖ
ｃｃ）に自己内に充電された電圧（即ち、供給電圧（Ｖ
ｃｃ）を加えた電圧（即ち、２Ｖｃｃ）が前記第３ノー
ド（Ｎ３）に誘起されるようにする。結局、前記第３ノ
ード（Ｎ３）は、前記第３インバータ（ＧＩ６）の出力
信号がロー論理を維持する間、前記キャパシター（Ｃ
２）に充電される電圧により“０Ｖ”から前記供給電圧
（Ｖｃｃ）まで漸進的に増加する電圧を有する。また、
前記第３インバータ（ＧＩ６）の出力信号がハイ論理を
維持する場合、前記第３ノード（Ｎ３）は前記第３イン
バータ（ＧＩ６）の出力信号の電圧（Ｖｃｃ）に、前記
キャパシター（Ｃ２）の充電電圧（Ｖｃｃ）が加えられ
て昇圧した電圧（即ち、２Ｖｃｃ）を維持するようにな
る。
１ノード（Ｎ１）上の前記反転されたデータを再反転さ
せ、さらに前記再反転されたデータを前記キャパシター
（Ｃ２）に印加する。その際、前記第３インバータ（Ｇ
Ｉ６）は、自己の伝搬遅延時間に相当する所定時間だけ
入力信号を遅延させるため、入力ライン（２１）からの
信号を緩衝するための緩衝手段として機能する。前記キ
ャパシター（Ｃ２）は前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＰ２）及び前記第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
７）と前記第３ノード（Ｎ３）を経て供給される前記供
給電圧源（Ｖｃｃ）からの電圧により充電される。ま
た、前記キャパシター（Ｃ２）は、前記第３インバータ
（ＧＩ６）からのデータがロー論理を維持する間、前記
第３ノード（Ｎ３）の電圧を自己内に充電された電圧と
同じ電位に維持させる。これとは別に、前記第３インバ
ータ（ＧＩ６）の出力信号がハイ論理（即ち、供給電圧
（Ｖｃｃ））を有する場合、前記キャパシター（Ｃ２）
は前記第３インバータ（ＧＩ６）の出力信号の電圧（Ｖ
ｃｃ）に自己内に充電された電圧（即ち、供給電圧（Ｖ
ｃｃ）を加えた電圧（即ち、２Ｖｃｃ）が前記第３ノー
ド（Ｎ３）に誘起されるようにする。結局、前記第３ノ
ード（Ｎ３）は、前記第３インバータ（ＧＩ６）の出力
信号がロー論理を維持する間、前記キャパシター（Ｃ
２）に充電される電圧により“０Ｖ”から前記供給電圧
（Ｖｃｃ）まで漸進的に増加する電圧を有する。また、
前記第３インバータ（ＧＩ６）の出力信号がハイ論理を
維持する場合、前記第３ノード（Ｎ３）は前記第３イン
バータ（ＧＩ６）の出力信号の電圧（Ｖｃｃ）に、前記
キャパシター（Ｃ２）の充電電圧（Ｖｃｃ）が加えられ
て昇圧した電圧（即ち、２Ｖｃｃ）を維持するようにな
る。
【００２４】そして、前記ブートストラップ回路（２
０）は前記第１及び第４ノード（Ｎ１，Ｎ４）の間に接
続された電流通路制御部（２２）を追加して備える。前
記電流通路制御部（２２）は前記第１ノード（Ｎ１）上
のデータ論理により前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＰ２）をターンオン及びターンオフさせる。このた
め、前記電流通路制御部（２２）は前記第４ノード（Ｎ
４）及び前記基底電源（Ｖｓｓ）の間に接続された第４
Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ８）と、前記第４ノード
（Ｎ４）及び第３ノード（Ｎ３）の間に接続された第２
Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ３）とを備える。
０）は前記第１及び第４ノード（Ｎ１，Ｎ４）の間に接
続された電流通路制御部（２２）を追加して備える。前
記電流通路制御部（２２）は前記第１ノード（Ｎ１）上
のデータ論理により前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
（ＭＰ２）をターンオン及びターンオフさせる。このた
め、前記電流通路制御部（２２）は前記第４ノード（Ｎ
４）及び前記基底電源（Ｖｓｓ）の間に接続された第４
Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ８）と、前記第４ノード
（Ｎ４）及び第３ノード（Ｎ３）の間に接続された第２
Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ３）とを備える。
【００２５】前記第４Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ
８）は、前記第１ノード（Ｎ１）からハイ論理のデータ
が自己のゲートに印加される場合、前記第１ノード（Ｎ
４）の電圧を基底電圧（Ｖｓｓ）に変化させる。前記第
４ノード（Ｎ４）上の前記基底電圧は前記第１Ｐ−ＭＯ
Ｓトランジスタ（ＭＰ２）をターンオンさせ、前記供給
電圧（Ｖｃｃ）が前記第３ノード（Ｎ３）側に伝送され
るようにする。
８）は、前記第１ノード（Ｎ１）からハイ論理のデータ
が自己のゲートに印加される場合、前記第１ノード（Ｎ
４）の電圧を基底電圧（Ｖｓｓ）に変化させる。前記第
４ノード（Ｎ４）上の前記基底電圧は前記第１Ｐ−ＭＯ
Ｓトランジスタ（ＭＰ２）をターンオンさせ、前記供給
電圧（Ｖｃｃ）が前記第３ノード（Ｎ３）側に伝送され
るようにする。
【００２６】前記第２Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ
３）は、前記第１ノード（Ｎ１）からの自己のゲート側
にロー論理のデータが印加される場合、ターンオンさ
れ、前記第３ノード（Ｎ３）上の前記昇圧された電圧
（２Ｖｃｃ）を前記第４ノード（Ｎ４）側に伝送する。
この際、前記第４ノード（Ｎ４）に供給された前記昇圧
電圧（２Ｖｃｃ）により、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジ
スタ（ＭＰ２）はターンオフされ、前記第３ノード（Ｎ
３）上の前記昇圧された電圧（Ｖｃｃ）が前記供給電圧
源（Ｖｃｃ）側に放電されないようにする。
３）は、前記第１ノード（Ｎ１）からの自己のゲート側
にロー論理のデータが印加される場合、ターンオンさ
れ、前記第３ノード（Ｎ３）上の前記昇圧された電圧
（２Ｖｃｃ）を前記第４ノード（Ｎ４）側に伝送する。
この際、前記第４ノード（Ｎ４）に供給された前記昇圧
電圧（２Ｖｃｃ）により、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジ
スタ（ＭＰ２）はターンオフされ、前記第３ノード（Ｎ
３）上の前記昇圧された電圧（Ｖｃｃ）が前記供給電圧
源（Ｖｃｃ）側に放電されないようにする。
【００２７】結果的に、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＰ２）は、前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧が前
記供給電圧源（Ｖｃｃ）の電圧より小さい場合、前記第
３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ７）と共にターンオン
される。これにより、前記供給電圧源（Ｖｃｃ）及び前
記第３ノード（Ｎ３）間の抵抗は非常に小さくなり、前
記第３ノード（Ｎ３）に供給される電流量を大きく増加
させる。その結果、第３ノード（Ｎ３）の電圧は非常に
速く昇圧される。また、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＰ２）は前記供給電圧源（Ｖｃｃ）の電圧が前記
第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ７）の閾電圧と係わ
りなく減少せず伝送されるようにし、前記第３ノード
（Ｎ３）の電圧を一層高く昇圧させる。
タ（ＭＰ２）は、前記第３ノード（Ｎ３）上の電圧が前
記供給電圧源（Ｖｃｃ）の電圧より小さい場合、前記第
３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ７）と共にターンオン
される。これにより、前記供給電圧源（Ｖｃｃ）及び前
記第３ノード（Ｎ３）間の抵抗は非常に小さくなり、前
記第３ノード（Ｎ３）に供給される電流量を大きく増加
させる。その結果、第３ノード（Ｎ３）の電圧は非常に
速く昇圧される。また、前記第１Ｐ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＰ２）は前記供給電圧源（Ｖｃｃ）の電圧が前記
第３Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ７）の閾電圧と係わ
りなく減少せず伝送されるようにし、前記第３ノード
（Ｎ３）の電圧を一層高く昇圧させる。
【００２８】また、前記ブートストラップ回路（２０）
は前記第３及び第２ノード（Ｎ３，Ｎ２）の間に接続さ
れた第３Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ４）と、前記第
２ノード（Ｎ２）及び前記基底電源（Ｖｓｓ）の間に接
続された第５Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ９）とを備
える。前記第３Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ４）は前
記第１ノード（Ｎ１）から自己のゲート側にロー論理の
データが印加された場合、ターンオンされ、前記第３ノ
ード（Ｎ３）上の前記昇圧された電圧（２Ｖｃｃ）を、
前記第２ノード（Ｎ２）に接続された前記第１Ｎ−ＭＯ
Ｓトランジスタ（ＭＮ５）のゲートに印加する。これに
より、前記出力ライン（２５）には前記昇圧された電圧
（２Ｖｃｃ）より前記第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｎ５）の閾電圧だけ小さい電圧を有する高電位のデータ
（Dout) が発生する。
は前記第３及び第２ノード（Ｎ３，Ｎ２）の間に接続さ
れた第３Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ４）と、前記第
２ノード（Ｎ２）及び前記基底電源（Ｖｓｓ）の間に接
続された第５Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＮ９）とを備
える。前記第３Ｐ−ＭＯＳトランジスタ（ＭＰ４）は前
記第１ノード（Ｎ１）から自己のゲート側にロー論理の
データが印加された場合、ターンオンされ、前記第３ノ
ード（Ｎ３）上の前記昇圧された電圧（２Ｖｃｃ）を、
前記第２ノード（Ｎ２）に接続された前記第１Ｎ−ＭＯ
Ｓトランジスタ（ＭＮ５）のゲートに印加する。これに
より、前記出力ライン（２５）には前記昇圧された電圧
（２Ｖｃｃ）より前記第１Ｎ−ＭＯＳトランジスタ（Ｍ
Ｎ５）の閾電圧だけ小さい電圧を有する高電位のデータ
（Dout) が発生する。
【００２９】その反面、前記第５Ｎ−ＭＯＳトランジス
タ（ＭＮ９）は、前記第１ノード（Ｎ１）から自己のゲ
ート側にハイ論理のデータが供給される場合、ターンオ
ンされ、前記基底電源（Ｖｓｓ）を前記第２ノード（Ｎ
２）側に伝送する。これにより、前記第１Ｎ−ＭＯＳト
ランジスタ（ＭＮ５）はターンオフされる。
タ（ＭＮ９）は、前記第１ノード（Ｎ１）から自己のゲ
ート側にハイ論理のデータが供給される場合、ターンオ
ンされ、前記基底電源（Ｖｓｓ）を前記第２ノード（Ｎ
２）側に伝送する。これにより、前記第１Ｎ−ＭＯＳト
ランジスタ（ＭＮ５）はターンオフされる。
【００３０】
【発明の効果】上述したように、本発明のブートストラ
ップ回路は充電通路の抵抗値を最小化し、キャパシター
に供給される電流を大きく増加させる。その結果、前記
プートストラップ回路は入力信号に対する出力信号の応
答速度を向上させることができ、さらにインパルス成分
の雑音が入力信号に含まれても安定に昇圧した電圧を発
生させることができる利点がある。
ップ回路は充電通路の抵抗値を最小化し、キャパシター
に供給される電流を大きく増加させる。その結果、前記
プートストラップ回路は入力信号に対する出力信号の応
答速度を向上させることができ、さらにインパルス成分
の雑音が入力信号に含まれても安定に昇圧した電圧を発
生させることができる利点がある。
【００３１】さらに、本発明のデータ出力バッファは前
記ブートストラップ回路から供給される安定した昇圧電
圧により、入力データを安定に増幅することができる利
点がある。これにより、前記データ出力バッファは半導
体集積回路装置の信頼性を向上させることができる。
記ブートストラップ回路から供給される安定した昇圧電
圧により、入力データを安定に増幅することができる利
点がある。これにより、前記データ出力バッファは半導
体集積回路装置の信頼性を向上させることができる。
【図１】図１は、データ信号バッファに適用された従来
のブートストラップ回路を示す図である。
のブートストラップ回路を示す図である。
【図２】図２は、データ出力バッファに適用された本発
明の実施例によるブートストラップ回路を示す図であ
る。
明の実施例によるブートストラップ回路を示す図であ
る。
１０，２０ ブートストラップ回路 ２２ 電流通路制御部 ＧＮ１乃至ＧＮ４ ＮＡＮＤゲート ＧＩ１乃至ＧＩ６ インバータ Ｃ１，Ｃ２ キャパシター ＭＮ１乃至ＭＮ９ Ｎ−ＭＯＳトランジスタ ＭＰ１乃至ＭＰ５ Ｐ−ＭＯＳトランジスタ
Claims (7)
- 【請求項１】 入力ライン及び出力ラインの間に設けら
れ、入力ラインからの信号を昇圧する容量性素子と、 前記出力ラインの電位に従い選択的に駆動され、供給電
圧源から前記出力ラインに供給される電荷を開閉する第
１電荷供給通路と、 前記第１電荷供給通路と並列接続され、前記供給電圧源
から前記出力ラインに供給される電荷をＰ−ＭＯＳトラ
ンジスタによって開閉する第２電荷供給通路と、 前記入力ラインからの信号により前記第２電荷供給通路
を制御する制御手段とを備え、 前記制御手段は、前記入力ライン及び前記Ｐ−ＭＯＳト
ランジスタのゲートの間に接続されると共に前記Ｐ−Ｍ
ＯＳトランジスタをオンオフ制御する電流通路制御手段
を追加して備えたことを特徴とするブートストラップ回
路。 - 【請求項２】 前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタが、前記供
給電圧源からの電圧を減少させずに前記出力ラインに供
給されるようにすることを特徴とする請求項１記載のブ
ートストラップ回路。 - 【請求項３】 前記制御手段が、前記入力ラインから高
電位の信号が印加される場合に基底電源から低電圧を前
記Ｐ−ＭＯＳトランジスタのゲートに伝え前記Ｐ−ＭＯ
Ｓトランジスタをターンオンさせる第１切換手段と、 前記入力ラインから低電位の信号が印加される場合に出
力ライン上の電圧を前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタのゲー
トに伝え前記Ｐ−ＭＯＳトランジスタをターンオフさせ
る第２切換手段とを備えたことを特徴とする請求項２記
載のブートストラップ回路。 - 【請求項４】 前記第１電荷供給通路が、前記出力ライ
ンの電圧が所定電圧よりも小さい場合に前記供給電圧源
からの電荷が前記出力ライン側に伝送されるようにす
る、一方向性電流伝送素子を備えたことを特徴とする請
求項１記載のブートストラップ回路。 - 【請求項５】 前記一方向性電流伝送素子が、前記供給
電圧源に接続されたゲート及びドレインと前記出力ライ
ンに接続されたソースとを有するＮ−ＭＯＳトランジス
タを備えたことを特徴とする請求項４記載のブートスト
ラップ回路。 - 【請求項６】 前記入力ライン及び前記容量性素子の間
に接続され、前記入力ラインからの信号を緩衝するため
の緩衝手段とを追加して備えたことを特徴とする請求項
５記載のブートストラップ回路。 - 【請求項７】 二進論理状態を有する二進信号を入力す
るための入力ラインと、 前記入力ラインからの前記二進信号の第１論理の電圧を
増幅するよう前記入力ラインに接続されたゲートを有す
るＮ−ＭＯＳトランジスタと、 昇圧ノード及び前記入力ラインの間に設置され、前記入
力ラインからの前記二進信号を昇圧するための容量性素
子と、 前記昇圧ノードの電位により選択的に駆動され、供給電
圧源から前記昇圧ノードに供給される電荷を開閉するた
めの第１電荷供給通路と、 前記第１電荷供給通路と並列接続され、前記供給電圧源
から前記昇圧ノードに供給される電荷を開閉するための
第２電荷供給通路と、 前記入力ラインの信号により、前記第２電荷供給通路を
制御するための制御手段と、 前記入力ラインからの前記第１論理の二進信号により、
前記昇圧ノードの電圧が前記Ｎ−ＭＯＳトランジスタの
ゲート側に伝送されるよう前記入力ライン、前記昇圧ノ
ード及び前記Ｎ−ＭＯＳトランジスタのゲートの間に設
けられた切換手段と、 前記入力ラインからの前記二進信号の第２論理の電圧を
増幅するためのＮ−ＭＯＳトランジスタとを備えたこと
を特徴とするデータ出力バッファ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR94-9309 | 1994-04-29 | ||
| KR1019940009309A KR0154157B1 (ko) | 1994-04-29 | 1994-04-29 | 반도체 소자의 부스트랩 회로 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0855482A JPH0855482A (ja) | 1996-02-27 |
| JP2769445B2 true JP2769445B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=19382116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7105341A Expired - Fee Related JP2769445B2 (ja) | 1994-04-29 | 1995-04-28 | ブートストラップ回路及びデータ出力バッファ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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